Ⅰ 测站校核常用的方法是
测站校核常用的方法是:双面尺法
水准测量的测站校核方法一般有双仪器法双面尺法改变仪高法。准测量,最备稿后附合到另外一个已知高程的水准点BM2上,其检核条件为:
水准测量方法:铅搏在进行连续水准测量时仿激孝,如果任何一测站的后视读数或前视读数有错误,都将影响所测高差的正确性。在每一测站的水准测量中,为了能及时发现观测中的错误,通常采用两次仪器高法或双面尺法进行观测,以检核高差测量中可能发生的错误,这种检核称测站检核。
两次仪器高法在每一测站上用两次不同仪器高度的水平视线(改变仪器高度应在250px以上)来测定相邻两点间的高差;如果两次高差观测值不相等,对图根水准测量,其差的绝对值应小于5mm,否则应重测。
Ⅱ 水准测量的校核方法
1.掌握水准测量的原理。
2.掌握水准仪、水准尺的结构及用法。
3.学会高差测量及高程计算的方法,掌握水准路线测量的方法。
4.学会水准仪的检验与校正方法。
教学重点:1、水准测量原理
2、路线校核
3、水准仪的检验与校正方法
教学难点:1、路线校核
2、水准仪的检验与校正方法
教学资料:测量学教材、教学课件。
教学方法:讲授法、演示法。
讲授新课:
第二章 水准测量
高程是确定地面点位置的一个要素,水准测量是测定地面点高程的主要方法之一。
第一节 水准测量原理
一、水准测量原理
水准测量的原理是借助水准仪提供的水平视线,配合水准尺测定地面上两点间的高差,然后根据已知点的高程来推求未知点的高程。
如右图所示,已知A点高程为HA,要测出B点高程HB,在A、B两点间安置一架能提供水平视线的仪器—水准仪,并在A、B两点各竖立水准尺,利用水平视线分别读出A点尺子上的读数α及B点尺子上的读数b,则A、B两点间的高差为
HAB= a-b (2—1)
如果测量是由A→B的方向前进,则A点称为后视点,B点称为前视点,a及b分别为后视读数和前视读数,两点间的高差就等于后视读数减去前视读数。如果B点高于A点,则高差为正,反之,高差为负。
二、计算高程的方法
(一)由高差计算高程
B点(未知点)的高程等于A点(已知点)的高程加上两点间的高差,即
HB=HA+HAB=HA+(a-b) (2—2)
(二)由视线高程计算高程
由图可知,A点高程加后视读数等于仪器视线的高程,设视线高程为Hi,即Hi=HA+a
则B点高程等于视线高程减去前视读数,即
HB=Hi-b=(HA+a)-b (2—3)
(备注:利用课件采取启发式教学手段,调动同学分析问题、解决问题的能力)
第二节水准仪和水准尺
Ⅲ 在水准测量中如何进行计算校核,测站校核和路线校核
水准测量的计算校核、测站校核和路线校核分别如下:
计算校核:
待定点B的高程是根据A点和沿线各测站所测的高差计算出来的。为了确保观测高差正确无误,须对各测站的观测高差进行检核,这种检核称为测站检核。常用的检核方法有两次仪器高法和双面尺法两种。
(1)两次仪器高法:两次仪器高法是在同一测站上用两次不同的仪器高度,两次测定高差。即测得第一次高差后,改变仪器高度约10cm以上,再次测定高差。若两次测得的高差之差未超过6mm,则取其平均值作为该测站的观测高差。否则需重测。
(2)双面尺法:双面尺法是在一测站上,仪器高度不变,分别用双面水准尺的黑面和红面两次测定高差。若两次测得高差之差未超过6mm,则取其平均值作为该测站的高差。否则需要重测。
测站校核:
虽然每一测站都进行了检核,但一条水准路线是否有错还是没有保证。例如,在前、隐档后视某一转点时,水准尺未放在同一点上,利用该转点计算的相邻两站的高差虽然精度符合要求,但这一条水准路线却含有错误。
路线校核:
虽然每一测站都进行了检核,灶察乱但一条水准路线是否有错还是没有保证。例如,在前、后视某一转点时,水准尺未放没孝在同一点上,利用该转点计算的相邻两站的高差虽然精度符合要求,但这一条水准路线却含有错误。
Ⅳ 施工测量中常用的测量校核方法有哪三种
一、水准路线有几种,校核时有所不同:在闭合水准路线中,起始点和终止点都是同一个点,将各段高差求和,与理论值0进行比较。在附合水准路线总,用终点高程和起点高程之间的差值作为高差理论值,将高程求和,求误差。支水准路线用往返来测量的方法,比较往返测量的高差绝对值进行检核。
二、优缺点:闭合路线对于起自始点的精度过于依赖,一旦点位变动,无法发现;附合水准路线因为需要两个水准点,其精度可靠性好,控制点有问题时容易发现;支水准路线可靠性和精度稍差,如果不往返测量,就很难确定精度,往返测量时,与闭合水准路线类似。
三、校核时,高差测量值的限差有两种方法计算:其一是根据测站数进行计算,比如±12√n,其二是根据路线长度进行计算,比如±12√L。
前者缺点是:如果每站视距较小,则n多,限差偏大,适合坡度大的地方和山地进行测量。后者适合多种情况。
四、每站测量的方法有两种:两次仪器高法和双面尺法。各有优缺点,前者测量时间长,后者更快速;前者适合于单面尺,后者适合红黑尺和基辅分划尺。