x射线膜厚仪检测方法

⑴ x荧光光谱仪怎么样测量膜厚

不会是买了机器不会用吧？呵呵！卖仪器的应该会教你的啊！
首先要知道被测量产品的底材、上面的覆盖层的材质是什么，覆盖层有几层，覆盖层的先后覆盖顺序是什么，然后在光谱仪器里面自带软件里面，找相应的底材跟覆盖层顺序的那一个测量软件（如果找不到，要跟卖仪器的要针对这款材质的软件），然后仪器上面校准基准片跟机器，把产品平稳放在测量平台上面，调好镜头光线（配套的电脑屏幕显示类似于放大镜能很清楚的看清产品测量点就行了），然后点击测量，多测量几个点，然后取中间值为结果！我们用的是德国菲希尔的20几万的那种，就是这样测量的！小于1um微米的测量也是有误差的！

⑵ 膜厚仪测量方法

你好，因为使用的是油漆喷涂，最后的干膜厚度比较薄，为减少误差，最好是在毛坯件上进行一个归零，然后在一个划定的区域内多点测量，取平均值，这是罪常用的检测方法。
希望我的回答你能解决你的疑问，
深圳成企鑫 专业涂层检测仪器制造商为你解答

⑶ 如何测试物理沉积（PVD）薄膜的膜厚

业内有两种主流方法：
其一，是Cola Test，就是用一定直径的钢球，滚动摩擦被检测工件的表面，得到一组基材、涂层的同心圆，然后用显微镜测量尺寸，通过公式计算得出涂层厚度。这种方法为有损检测，但是比较准确
其二，采用X射线衍射的方法（XRF），测量涂层厚度。这种方法无损、快速，准确度也可以

⑷ 膜厚测试仪的萤光X射线装置（XRF）

X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
（1） 萤光X射线
（2） 散乱X射线
（3） 透过X射线
的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。

⑸ 什么是膜厚仪

膜厚仪也叫涂层测厚仪，厚度测试仪，涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业等。FRU

⑹ XRF镀层测厚仪的原理是什么

1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

⑺ 膜厚测试仪的介绍

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·

⑻ 涂层测厚仪测量厚度方法具体有那些

涂层测厚仪是一种便携式测厚仪，能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度；可用于工程现场，也可用于实验室，通过不同探头的使用，更可满足多种测量需求，涂层测厚仪广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业必备的仪器。涂层测厚仪它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能jing确地测量出它的厚度。F型探头可直接测量导磁材料(如铁 、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如： 油漆 、塑料 、搪瓷 、铜 、铝、锌 、铬等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层 、 铝瓦 、铜 瓦 、巴氏合金瓦 、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油 漆及水下结构件的附着物的厚度测量。NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝 缘覆盖层厚度，如铝、铜、锌、无磁不锈钢等材料表面上的油漆、塑料、橡胶涂层，也可测量铝或铝合金材料的阳极氧化层厚度。下面就为大家介绍涂层测厚仪测量厚度的5种方法：
1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量jing确
2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。
4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法：此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。

⑼ x射线镀层测厚仪的使用原理有辐射吗

若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：
1.不破坏的测量下具高精密度。
2.极小的测定面积。
3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。
4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。
5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。
而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。
二.主要特点
1.无损、精确、快速测量各种电镀层的厚度.
2.电镀层可以是单层/双层/三层
3.镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量
4.有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件
5.易操作/易维护
6.准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 。

⑽ 常规膜厚仪都有哪些测量法呢求科普

常规的膜厚仪有涡流法、电磁法、电解法、X荧光、超声波、电磁超声等。林上的膜厚仪就是常用的磁性和涡流测厚法。