芯片检测方法

① PS3芯片的检测方法

SD2000全系列芯片测试方法 (用户版)
一. 测试设备要求
双踪示波器 20MHZ以上 一台
高精度频率计(八位数显) 误差<1ppm,最好<0.1ppm 一台
数字万用表(四位半),电流档误差<=0.1uA 一台
直流5V电源 一台

二. 测试环境:
环境温度:摄氏25度正负2度
三. 测试指标:
(1) 静态工作电流测试
在SD2000的VBAT脚通过万用表(电流最小mA档)接+5V电源,GND接电源地,其它脚悬空不接,测得电流值应小于3.0uA,正常值应在2.0uA~3.0uA之间.超过3.0uA应视为不合格.
(2) 电池漏电测试
将除GND及TEST以外的脚并接(TEST脚悬空),然后与GND之间串接万用表(电流最小mA档),测试得到的漏电电流应小于0.3uA,超过0.3uA应视为不合格.
注意:TEST脚在实际应用中时应悬空,因其到地之间的漏电有0.3uA.
(3) 时钟功能及精度测试
在我公司提供的SD2000评估板上(或用户自己的测试板),软件可设置INT1/INT2脚输出32768hz的固定频率方波信号,同时四个数码管显示时间的小时和分钟.
用示波器双踪测INT1和INT2的输出,频率计测INT1的输出,正常情况下:
功能: INT1/INT2脚均输出32768hz的固定频率方波信号; 四个数码管显示时间的小时和分钟,并且秒指示灯在闪烁.否则不合格.(在之前要确认评估板的功能正常)
精度:INT1的频率显示范围为32767.87HZ~32768.13HZ,如大于32768.14HZ及小于32767.82HZ应视为不合格.
(4) 内部电池电压的测量:
利用SD2000测试脚-TEST脚(pin3)可以测量内部电池的电压,方法是:
a. 在VDD脚没加电时, 拿万用表测得TEST脚电压,记为V1
b. 给SD2000的VDD脚外电源(通常VDD为5.0v),拿万用表测得TEST脚电压,记为V2(此电压值针对某一只万用表可以只测一次)
则内部电池电压VBAT=VDD*V1/V2
通常内部电池电压>1.7v时都可以保证时钟的工作.而新的SD2000或充满电的SD20001内部电池电压>2.5v,否则为不合格产品.

② 如何检验各种芯片的好坏

众所周知，目前DIY市场中的内存品牌和产品型号众多，而且质量良莠不齐，大量低价杂牌内存充斥市场，导致很多消费者在选择内存时难以下手。为了方便广大读者暑期能够买到优质内存产品，笔者特意总结出以下几点注意事项：

●内存芯片

内存上最重要的组件就是PCB电路板上焊接的芯片了，它的品质好坏对内存模组影响几乎是举足轻重的。

镁光着名的D9内存芯片

首先，尽量挑选原厂原字芯片，这样可以获得最好的品质和检测，例如：Hynix（海力士）、Samsung（三星）、Qimonda（奇梦达）、Micron（镁光）等。只有经过严格的材料筛选、性能检测、兼容测试的芯片才会被打上原厂原字的LOGO。

名牌大厂通常在内存芯片上打着自己的品牌

其次，目前很多一线大厂为了品牌形象统一，特意将内存芯片上面的字迹改写成自有品牌。对于名厂产品来讲，用户完全可以放心选购，因为一线大厂内存芯片全部委托晶圆厂代工或者直接购买A级芯片，品质上也经过了严格的检测。然而，市场上也有很多劣质产品将次品芯片字迹改写，给用户制造了“障眼法”，笔者推荐入门用户选购国际大厂产品。

③ 快速检测硬件芯片型号的方法

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详细检测你的硬件配置
得到部件的品牌和型号以后
就可以直接上相应的官方网站查询产品的详细信息和可扩充性
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这个链接是电源功率计算，很实用的

④ 用万用表检测IC芯片的几种简易方法

2.在线检测 1)直流电阻的检测法同离线检测.但要注意: (a)要断开待测电路板上的电源; (b)万能表内部电压不得大于6V; (c)测量时,要注意外围的影响.如与IC芯片相连的电位器等. 2)直流工作电压的测量法 测得IC芯片各脚直流电压与正常值相比即可.但也要注意： (a)万能表要有足够大的内阻,数字表为首选; (b)各电位器旋到中间位置; (c)表笔或探头要采取防滑措施,可用自行车气门芯套在笔头上,并应长出笔尖约5mm; (d)当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压,对IC芯片正常值有无影响以及其它引脚电压的相应变化进行分析; (e)IC芯片引脚电压会受外围元器件的影响.当外围有漏电,短路,开路或变质等; (f)IC芯片部分引脚异常时,则从偏离大的入手.先查外围元器件,若无故障,则IC芯片损坏; (g)对工作时有动态信号的电路板,有无信号IC芯片引脚电压是不同的.但若变化不正常则IC芯片可能已坏; (h)对多种工作方式的设备,在不同工作方式时IC脚的电压是不同的。 3)交流工作电压测试法 用带有dB档的万能表,对IC进行交流电压近似值的测量.若没有dB档,则可在正表笔串入一只0.1-0.5μF隔离直流电容。该方法适用于工作频率比较低的IC.但要注意这些信号将受固有频率,波形不同而不同。所以所测数据为近似值,仅供参考。 4)总电流测量法 通过测IC电源的总电流,来判别IC的好坏.由于IC内部大多数为直流耦合,IC损坏时(如PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化.所以测总电流可判断IC的好坏。在线测得回路电阻上的电压,即可算出电流值来。 以上检测方法,各有利弊.在实际应用中最好将这些方法结合来运用。

⑤ IC芯片的检测鉴别

1、检测前要了解集成电路及其相关电路的工作原理检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外围元件组成电路的工作原理。如果具备以上条件，那么分析和检查会容易许多。
2、测试不要造成引脚间短路电压测量或用示波器探头测试波形时，表笔或探头不要由于滑动而造成集成电路引脚间短路，最好在与引脚直接连通的外围印刷电路上进行测量。任何瞬间的短路都容易损坏集成电路，在测试扁平型封装的CMOS集成电路时更要加倍小心。
3、严禁在无隔离变压器的情况下，用已接地的测试设备去接触底板带电的电视、音响、录像等设备严禁用外壳已接地的仪器设备直接测试无电源隔离变压器的电视、音响、录像等设备。虽然一般的收录机都具有电源变压器，当接触到较特殊的尤其是输出功率较大或对采用的电源性质不太了解的电视或音响设备时，首先要弄清该机底盘是否带电，否则极易与底板带电的电视、音响等设备造成电源短路，波及集成电路，造成故障的进一步扩大。
4、要注意电烙铁的绝缘性能不允许带电使用烙铁焊接，要确认烙铁不带电，最好把烙铁的外壳接地，对MOS电路更应小心，能采用6~8V的低压电路铁就更安全。
5、要保证焊接质量焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，最好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。
6、不要轻易断定集成电路的损坏不要轻易地判断集成电路已损坏。因为集成电路绝大多数为直接耦合，一旦某一电路不正常，可能会导致多处电压变化，而这些变化不一定是集成电路损坏引起的，另外在有些情况下测得各引脚电压与正常值相符或接近时，也不一定都能说明集成电路就是好的。因为有些软故障不会引起直流电压的变化。
7、测试仪表内阻要大测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。
8、要注意功率集成电路的散热功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。
9、引线要合理如需要加接外围元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其是要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。 1、不在路检测
这种方法是在IC未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的IC进行必较。
2、在路检测
这是一种通过万用表检测IC各引脚在路（IC在电路中）直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换IC的局限性和拆卸IC的麻烦，是检测IC最常用和实用的方法。
3、直流工作电压测量
这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量；检测IC各引脚对地直流电压值，并与正常值相较，进而压缩故障范围，出损坏的元件。测量时要注意以下八点：
(1)万用表要有足够大的内阻，少要大于被测电路电阻的10倍以上，以免造成较大的测量误差。
(2)通常把各电位器旋到中间位置，如果是电视机，信号源要采用标准彩条信号发生器。
3)表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏IC。可采取如下方法防止表笔滑动：取一段自行车用气门芯套在表笔尖上，并长出表笔尖约0．5mm左右，这既能使表笔尖良好地与被测试点接触，又能有效防止打滑，即使碰上邻近点也不会短路。
(4)当测得某一引脚电压与正常值不符时，应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析， 能判断IC的好坏。
(5)IC引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时，或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器，则电位器滑动臂所处的位置不同，都会使引脚电压发生变化。
(6)若IC各引脚电压正常，则一般认为IC正常；若IC部分引脚电压异常，则应从偏离正常值最大处入手，检查外围元件有无故障，若无故障，则IC很可能损坏。
(7)对于动态接收装置，如电视机，在有无信号时，IC各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大，该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化，就可确定IC损坏。
(8)对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，IC各引脚电压也是不同的。
4．交流工作电压测量法
为了掌握IC交流信号的变化情况，可以用带有db插孔的万用表对IC的交流工作电压进行近似测量。检测时万用表置于交流电压挡，正表笔插入db插孔；对于无db插孔的万用表，需要在正表笔串接一只0．1～0．5μf隔直电容。该法适用于工作频率较低的IC，如电视机的视频放大级、场扫描电路等。由于这些电路的固有频率不同，波形不同，所以所测的数据是近似值，只能供参考。
5．总电流测量法
该法是通过检测IC电源进线的总电流，来判IC好坏的一种方法。由于IC内部绝大多数为直接耦合，IC损坏时（如某一个pn结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判IC的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降，用欧姆定律计算出总电流值。

⑥ 芯片功能的常用测试手段或方法有几种

最好的也是最正确的方法就是，看芯片的datasheet 既芯片数据手册，（你没必要测试芯片功能）正确使用就行，另可以用万用表简单测试一下芯片是否坏了，正常情况都是上电看 是否正常工作的！

⑦ 芯片检测

呵呵，这个问题我也碰到过。后来我才知道检测芯片的设备非常昂贵只有芯片制造厂才有，能买到的芯片测试仪都是只能判断其好坏是不能做功能性测试的。一般芯片出厂后都是不作功能性测试，其质量通过进货渠道控制，毕竟芯片生产也就那几家世界上的大公司，有造假的能力还不如进行正规生产。

⑧ 芯片检测流程是怎样的

我刚买了台置富科 技的测试设备，基本就是系 统化软件操作，还能有图表显示颗 粒的情况，比较容 易上手。

⑨ 芯片要怎么测试

芯片测试需要使用ATE测试机进行测试，但是测试代码需要自己根据产品spec进行开发，不同产品是不一样的，所以你需要了解测试原理，然后制定测试flow，根据测试flow开发测试代码，ATE的测试机有很多种，需要选择合适的ATE设备才能事半功倍，我做芯片测试10年+，哪位同学有需要，可以报名给我进行1v1培训.

⑩ 如何测试一颗芯片

有专业的检测设备可以测试，看你测试的标准要求而定