纳米薄膜的检测方法

‘壹’ 手机纳米镀膜是什么原理

工作原理：

手机表面虽然在肉眼的观察下是平整的，但是在高倍显微镜观察事实上却是凹凸不平的，在将主要成分纳米二氧化硅这些坑洼之处填充后进行固化，先进的纳米蓝光阻断剂可有效色散固蓝光缓解眼疲劳。

膜结手机纳米防护六大功能功效：

1、提升屏幕的耐摩擦程度，色散蓝光缓解眼疲劳保护眼睛，手感顺滑 触控灵敏。

2、疏水易清洁 油污轻轻一抹干净如新，增亮高清 阳光下看手机依然清晰，不起泡不翘边折叠弧度曲面柔性屏完美贴合。

3、间接性的延长手机的使用寿命，增加了对手机的爱护感。对手机屏幕流畅性进行很大的提升。

(1)纳米薄膜的检测方法扩展阅读：

纳米镀膜类型

一、 纳米硅油

它属于一种油类，摸上去有点黏黏的感觉，这种油类可以达到纳米级，但是油类始终是油类。一般来说，做了纳米硅油的手机屏幕以后，可以起到一层很好的疏水的效果，不沾水

二、（乳白色液体）也叫汽车镀晶

它属于是一种工业范畴，不是什么纳米技术的产品。它可以做在汽车的玻璃表面和漆面表面，具有增光增亮的功效，坐在手机上也不错。

三、 防指纹涂层

做到手机屏幕上，必须要经过高温烧阶的环节。如果说不经过高温烧阶，这个防指纹涂层是做不上去的，难以达到良好的附着力。

四、液体玻璃

透明无色二氧化硅，从石英砂中提取出来再无需其他添加剂，据制造商说这种液体玻璃的抑菌效果很持久，液体玻璃喷雾 喷涂在物体表面能防尘抗菌，且无毒无害。

‘贰’ 求助！！！！太阳能纳米薄膜的表征测试

SEM可以看断面啊州团昌。300纳米够厚了。把你的样品弄断，然后放在斜面的载物台上，扫描电镜册扒那里都可以做。SEM里带能谱的话可以测到表面的化学元素。SEM你做表面形貌或氏是神马也看不出来的。

‘叁’ 用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构，为什么有的峰值测不到

两个晶面当然是平行的，取段宴向完全一致，所以硅片没问题。

后宏首者要握绝银通过观察其它弱衍射峰来确定到底是六方还是立方。一般来说硫化镉六方多一点。

‘肆’ 纳米材料粒度测试方法大全

纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级 (1~100 nm)，或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪最重要的战略性高技术材料之一”。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效应将为新材料的开发应用提供崭新思路。

目前，纳米材料已成为材料研发以及产业化最基本的构成部分，其中纳米材料的粒度则是其最重要的表征参数之一。本文根据不同的测试原理阐述了8种纳米材料粒度测试方法，并分析了不同粒度测试方法的优缺点及适用范围。

1.电子显微镜法

电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法, 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径, 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。

优点： 该方法是一种颗粒度观测的绝对方法, 因而具有可靠性和直观性。

缺点： 测量结果缺乏整体统计性；滴样前必须做超声波分散；对一些不耐强电子束轰击的纳米颗粒样品较难得到准确的结果。

2.激光粒度分析法

激光粒度分析法是基于Fraunhofer衍射和Mie氏散射理论，根据激光照射到颗粒后，颗粒能使激光产生衍射或散射的现象来测试粒度分布的。因此相应的激光粒度分析仪分为激光衍射式和激光动态散射式两类。一般衍射式粒度仪适于对粒度在5μm以上的样品分析，而动态激光散射仪则对粒度在5μm以下的纳米、亚微米颗粒样品分析较为准确。所以纳米粒子的测量一般采用动态激光散射仪。

优点： 样品用量少、自动化程度高、重复性好, 可在线分析等。

缺点： 不能分析高浓度的粒度及粒度分布，分析过程中需要稀释，从而带来一定误差。

3.动态光散射法

动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径、温度和黏度系数等因素。在恒定温度和黏度条件下, 通过光子相关谱法测定颗粒的扩散系数就可获得颗粒的粒度分布，其适用于工业化产品粒径的检测，测量粒径范围为1nm~5μm的悬浮液。

优点： 速度快，可获得精确的粒径分布。

缺点： 结果受样品的粒度大小以及分布影响较大, 只适用于测量粒度分布较窄的颗粒样品；测试中应不发生明显的团聚和快速沉降现象。

4.X射线衍射线宽法（XRD）

XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。对于具体的晶粒而言, 衍射hkl的面间距dhkl和晶面层数N的乘积就是晶粒在垂直于此晶面方向上的粒度Dhkl。试样中晶粒大小可采用Scherrer公式进行计算:

式中：λ-X射线波长;θ-布拉格角 (半衍射角) ;βhkl-衍射hkl的半峰宽。

优点： 可用于未知物的成分鉴定。

缺点： 灵敏度较低；定量分析的准确度不高；测得的晶粒大小不能判断晶粒之间是否发生紧密的团聚；需要注意样品中不能存在微观应力。

5.X射线小角散射法 (SAXS)

当X射线照到材料上时，如果材料内部存在纳米尺寸的密度不均匀区域，则会在入射X射线束的周围2°~5°的小角度范围内出现散射X射线。当材料的晶粒尺寸越细时，中心散射就越漫散，且这种现象与材料的晶粒内部结构无关。SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。SAXS可用于纳米级尺度的各种金属、无机非金属、有机聚合物粉末以及生物大分子、胶体溶液、磁性液体等颗粒尺寸分布的测定；也可对各种材料中的纳米级孔洞、偏聚区、析出相等的尺寸进行分析研究。

优点： 操作简单；对于单一材质的球形粉末, 该方法测量粒度有着很好的准确性。

缺点： 不能有效区分来自颗粒或微孔的散射，且对于密集的散射体系，会发生颗粒散射之间的干涉效应，导致测量结果有所偏低。

6.X射线光电子能谱法（XPS）

XPS法以X射线作为激发源，基于纳米材料表面被激发出来的电子所具有的特征能量分布（能谱）而对其表面元素进行分析，也称为化学分析光电子能谱（ESCA）。由于原子在某一特定轨道的结合能依赖于原子周围的化学环境，因而从X射线光电子能谱图指纹特征可进行除氢、氦外的各种元素的定性分析和半定量分析。

优点： 绝对灵敏度很高，在分析时所需的样品量很少。

缺点： 但相对灵敏度不高, 且对液体样品分析比较麻烦；影响X射线定量分析准确性的因素相当复杂。

7.扫描探针显微镜法（SPM）

SPM法是利用测量探针与样品表面相互作用所产生的信号, 在纳米级或原子级水平研究物质表面的原子和分子的几何结构及相关的物理、化学性质的分析技术，尤以原子力显微镜 （AFM）为代表, 其不仅能直接观测纳米材料表面的形貌和结构, 还可对物质表面进行可控的局部加工。

优点： 在纳米材料测量和表征方面具有独特性优势。

缺点： 由于标准物质的缺少，在实际操作中缺乏实施性。

8.拉曼光谱法

拉曼光谱法低维纳米材料的首选方法。它基于拉曼效应的非弹性光散射分析技术, 是由激发光的光子与材料的晶格振动相互作用所产生的非弹性散射光谱, 可用来对材料进行指纹分析。拉曼频移与物质分子的转动和振动能级有关, 不同的物质产生不同的拉曼频移。拉曼频率特征可提供有价值的结构信息。利用拉曼光谱可以对纳米材料进行分子结构、键态特征分析、晶粒平均粒径的测量等。

优点： 灵敏度高、不破坏样品、方便快速。

缺点： 不同振动峰重叠和拉曼散射强度容易受光学系统参数等因素的影响；在进行傅里叶变换光谱分析时，常出现曲线的非线性问题等。

小结

纳米材料粒度的测试方法多种多样，但不同的测试方法对应的测量原理不同，因而不同测试方法之间不能进行横向比较。不同的粒度分析方法均有其一定的适用范围以及对应的样品处理方法，所以在实际检测时应综合考虑纳米材料的特性、测量目的、经济成本等多方面因素，确定最终选用的测试方法。

参考资料

1.汪瑞俊，《纳米材料粒度测试方法及标准化》；

2.谭和平等，《纳米材料的表征与测试方法》；

3.王书运，《纳米颗粒的测量与表征》。

‘伍’ 请问纳米多孔薄膜的厚度如何测量以及孔壁厚度如何测量

参考答携差案 16、上帝把所有人都骗了，高乎因为地狱才是最美的！佛知道真相，所以佛说：“我不入地狱，谁入地狱？”辩念皮

‘陆’ 二氧化钛纳米薄膜的性质与表征技术

性质：光催化降解，超亲裤蔽水等
XRD测试晶型，XPS测试里面胡贺州的元素成分，TEM观察薄膜拍链的形态

‘柒’ 纳米材料的表征手段有哪些

1、形貌，电子显微镜（TEM），普通的是电子枪发射光电子，还有场发射的，分辨率和适应性更好。

2、结构，一般是需要光电电子显微镜，扫描电子显微镜不行。

3、晶形，单晶衍射仪，XRD，判断纳米粒子的晶形及结晶度。

4、组成，一般是红外，结合四大谱图，判断核壳组成，只作为佐证。

5、性能，光，紫外，荧光；电原子力显微镜，拉曼；磁原子力显微镜或者专用的仪器。

(7)纳米薄膜的检测方法扩展阅读

纳米结构：纳米结构包括纳米阵列体系、介孔组装体系、薄膜嵌镶体系。对纳米阵列体系的研究集中在由金属纳米微粒或半导体纳米微粒在一个绝缘的衬底上整齐排列所形成的二位体系上。

而纳米微粒与介孔固体组装体系由于微粒本身的特性，以及与界面的基体耦合所产生的一些新的效应，也使其成为了研究热点，按照其中支撑体的种类可将它划分为无机介孔复合体和高分子介孔复合体两大类，按支撑体的状态又可将它划分为有序介孔复合体和无序介孔复合体。

‘捌’ 塑料薄膜厚度如何测量用什么仪器好

对涂层厚度的检测将有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。比较经济的方式是对部分价格昂贵的涂层材料进行涂层厚度的检测，同时加强对薄膜整体厚度的测试以达到有效控制其他各层材料厚度均匀性的作用。
对于薄膜厚度测量，深圳大成精密一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。大成精密光学干涉测厚仪专为透明薄膜开发的光学干涉测厚仪能够良好地实现单层或多层透明薄膜的厚度测量。精度极其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。

‘玖’ 如何测量薄膜的厚度

薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。薄膜的厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。
目前测量薄膜的厚度的方法有在线测厚和非在线测厚
在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。
β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术。在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。
X射线技术
这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量多种元素构成的聚合物，信号源发射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。
近红外技术
近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信号源无放射性，设备维护难度相对较低。
非在线测厚
非在线测厚技术主要有一触式测量法和非接触式测量法两类，接触式测量法主要是机械测量法，非接触式测量法包括光学测量法，电涡流测量法、超声波测量法等。由于非在线测厚仪设备价格便宜、体积小等原因，应用领域广阔。
涡流测厚仪和磁性测厚仪
涡流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和电磁感应原理。专用于各种特定涂层厚度的测量，用于测量薄膜、纸张的厚度时有出现误差的可能。
超声波厚度仪
超声波厚度仪也多是小型便携带设备，利用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波良导体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对检测试样的种类具有选择性。
光学测厚仪
从测量原理上来说光学测厚仪可达到极高的测试精度，但是这类测厚仪在使用及维护上要求极高；必须远离振源；严格防尘；专业操作及维护等。使用范围较窄，仅适用于复合层数较少的复合膜。
机械测厚仪
机械测厚仪可以分为点接触式和面接触式两类，是一种接触式测厚方法，它与非接触式测量方法有着本质的区别——能够在进行厚度测量前给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩力、表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。
所以具体要选择哪一类测厚仪设备还需根据软包装材料的种类，厂家对厚度均匀性的要求、以及设备的测试范围等因素而定。
本答案源于PP论坛

‘拾’ 纳米材料的表征方法有哪些

主要包括纳米粒子的XRD表征、纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析、纳米粒子的扫描透射电子显微术、纳米团簇的扫描探针显微术、纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。

纳米技术的广义范围可包括纳米材料技术及纳米加工技术、纳米测量技术、纳米应用技术等方面。

其中纳米材料技术着重于纳米功能性材料的生产（超微粉、镀膜、纳米改性材料等），性能检测技术（化学组成、微结构、表面形态、物、化、电、磁、热及光学等性能）。纳米加工技术包含精密加工技术（能量束加工等）及扫描探针技术。

(10)纳米薄膜的检测方法扩展阅读

自20世纪70年代纳米颗粒材料问世以来，从研究内涵和特点大致可划分为三个阶段：

第一阶段：主要是在实验室探索用各种方法制备各种材料的纳米颗粒粉体或合成块体，研究评估表征的方法，探索纳米材料不同于普通材料的特殊性能；研究对象一般局限在单一材料和单相材料，国际上通常把这种材料称为纳米晶或纳米相材料。

第二阶段：人们关注的热点是如何利用纳米材料已发掘的物理和化学特性，设计纳米复合材料，复合材料的合成和物性探索一度成为纳米材料研究的主导方向。

第三阶段：纳米组装体系、人工组装合成的纳米结构材料体系正在成为纳米材料研究的新热点。国际上把这类材料称为纳米组装材料体系或者纳米尺度的图案材料。它的基本内涵是以纳米颗粒以及它们组成的纳米丝、管为基本单元在一维、二维和三维空间组装排列成具有纳米结构的体系。