Ⅰ 环境监测里面,如果你要测一个污染物,比如说二氧化硫,怎么找到他的监测方法叻
实验十七
大气二氧化硫的测定
一、甲醛缓冲溶液吸收-盐酸副玫瑰苯胺分光光度法(
A
1
)
1
实验目的
1.1
掌握本方法的基本原理
1.2
巩固大气采样器及吸收液采集大气样品的操作技术。
1.3
学会用比色法测定
SO
2
的方法。
2
实验原理
二氧化硫被甲醛缓冲溶液吸收后,生成稳定的羟基甲磺酸加成化合物。在样品溶液
中加入氢氧化钠使加成化合物分解,释放出的二氧化硫与盐酸副玫瑰苯胺、甲醛作用,
生成紫红色化合物,根据颜色深浅,用分光光度计在
577nm
处进行测定。
本方法的主要干扰物为氮氧化物、臭氧及某些重金属元素。加入氨磺酸钠可消除氮
氧化物的干扰;采样后放置一段时间可使臭氧自行分解;加入磷酸及环己二胺四乙酸二
钠盐可以消除或减少某些金属离子的干扰。在
10mL
样品中存在
50µ
g
钙、镁、铁、镍、
锰、铜等离子及
5µ
g
二价锰离子时不干扰测定。
本方法适宜测定浓度范围为
0.003
~
1.07mg/m
3
。最低检出限为
0.2µ
g/10mL
。当用
10mL
吸收液采气样
10L
时,最低检出浓度为
0.02mg/m
3
;当用
50mL
吸收液,
24h
采气
样
300L
取出
10mL
样品测定时,最低检出浓度为
0.003mg/m
3
。
3
实验试剂
除非另有说明,
分析时均使用符合国家标准的分析纯试剂和蒸馏水或同等纯度的水。
3.1
氢氧化钠
(NaOH)
溶液,
1.5mo1/L
称取
60g NaOH
溶于
1000mL
水中。
3.2
环已二胺四乙酸二钠
(CDTA-2Na)
溶液,
0.05mo1/L
称取
1.82g
反式
1
,
2-
环已二胺四乙酸
[(trans-l
,
2-cyclohexylenedinitrilo)tetra-acetic acid,
简称
CDTA]
,加入氢氧化钠溶液
(3.1)6.5mL
,用水稀释至
100mL
。
3.3
甲醛缓冲吸收液贮备液:
1
(
A
)本方法与
GB/T15262
-
94
等效。
吸取
36
%~
38
%甲醛溶液
5.5mL
,
CDTA-2Na
溶液
(3.2)20.00mL
;称取
2.04g
邻苯二甲
酸氢钾,溶于少量水中;将三种溶液合并,再用水稀释至
100mL
,贮于冰箱可保存
1
年。
3.4
甲醛缓冲吸收液
用水将甲醛缓冲吸收液贮备液
(3.3)
稀释
100
倍而成。临用现配。
3.5
氨磺酸钠溶液,
6g/L
称取
0.60g
氨磺酸
(H
2
NS0
3
H)
置于
100mL
容量瓶中,加入
4.0mL
氢氧化钠溶液
(3.1)
,
用水稀释至标线,摇匀。此溶液密封保存可用
10
天。
3.6
碘贮备液,
C(1/2I
2
) =0.1mol/L
称取
12.7g
碘
(I
2
)
于烧杯中,加入
40g
碘化钾
(KI)
和
25mL
水,搅拌至完全溶解,用水
稀释至
1000mL
,贮存于棕色细口瓶中。
3.7
碘溶液,
C(1/2I
2
)
=
0.05mol/L
量取碘贮备液
(3.6)250mL
,用水稀释至
500mL
,贮于棕色细口瓶中。
3.8
淀粉溶液,
5g/L
称取
0.5g
可溶性淀粉,用少量水调成糊状,慢慢倒入
100mL
沸水中,继续煮沸至溶
液澄清,冷却后贮于试剂瓶中。临用现配。
3.9
碘酸钾标准溶液,
C(1/6KIO
3
)
=
0.1000mol/L
。
称取
3.5667g
碘酸钾
(
KIO
3
优级纯,
经
110
℃干燥
2h
)溶于水,移入
1000m1
容量瓶
中,用水稀释至标线,摇匀。
3.10
盐酸溶液,
(1
+
9)
量取
1
份盐酸(
HCl
)和
9
份水混合均匀。
3.11
硫代硫酸钠
(Na
2
S
2
O
3
)
贮备液,
0.10mol/L
。
称取
25.0g
硫代硫酸钠
(Na
2
S
2
O
3
·
5H
2
O)
,溶于
1000mL
新煮沸但已冷却的水中,加入
0.2g
无水碳酸钠,贮于棕色细口瓶中,放置一周后备用。如溶液呈现混浊,必须过滤。
3.12
硫代硫酸钠
(Na
2
S
2
O
3
)
标准溶液,
0.05mol/L
。
取
250mL
硫代硫酸钠贮备液
(3.11)
置于
500mL
容量瓶中,用新煮沸但已冷却的水稀
释至标线,摇匀。
标定方法:吸取三份
10.00mL
碘酸钾标准溶液
(3.9)
分别置于
250mL
碘量瓶中,加
70mL
新煮沸但已冷却的水,
加
1g
碘化钾,
振摇至完全溶解后,
加
10mL
盐酸溶液
(3.10)
,
立即盖好瓶塞,摇匀。于暗处放置
5min
后,用硫代硫酸钠标准溶液
(3.12)
滴定溶液至浅
黄色,加
2mL
淀粉溶液
(3.8)
,继续滴定溶液至蓝色刚好褪去为终点。硫代硫酸钠标准溶
液的浓度按式
(1)
准确计算:
C
=
v
10.00
0.1000
(
1
)
式中:
C
—
—
硫代硫酸钠标准溶液的浓度,
mol/L
;
V
—
—
滴定所耗硫代硫酸钠标准溶液的体积,
mL
。
3.13
乙二胺四乙酸二钠盐
(EDTA-2Na)
溶液,
0.5g/L
称取
0.25g EDTA[
-
CH
2
N(CH
2
COONa)CH
2
COOH]
2
·
H
2
O
溶于
500mL
新煮沸但已冷却的水
中。临用现配。
3.14
二氧化硫标准待标液。
称取
0.200g
亚硫酸钠
(Na
2
SO
3
)
,
溶于
200mL EDTA·
2Na
溶液
(3.13)
中,
缓缓摇匀以防
充氧,使其溶解。放置
2
~
3h
后标定。此溶液每毫升相当于
320
~
400µ
g
二氧化硫。
3.15
标定方法
吸取三份
20.00mL
二氧化硫标准待标液
(3.14)
,
分别置于
250mL
碘量瓶中,
加入
50mL
新煮沸但已冷却的水,
20.00mL
碘溶液
(3.7)
及
1mL
冰乙酸,
盖塞,
摇匀。
于暗处放置
5min
后,
用硫代硫酸钠标准溶液
(3.12)
滴定溶液至浅黄色,
加入
2mL
淀粉溶液
(3.8)
,
继续滴定
至溶液蓝色刚好褪去为终点。记录滴定硫代硫酸钠标准溶液的体积
V
,
mL
。
另吸取三份
EDTA-2Na
溶液
(3.13)20mL
,用同法进行空白试验。记录滴定硫代硫酸
钠标准溶液
(3.12)
的体积
V
0
,
mL
。
平行样滴定所耗硫代硫酸钠标准溶液体积之差应不大于
0.04mL
。取其平均值。二氧
化硫标准溶液浓度按式
(2)
计算:
C
=
1000
20.00
32.02
C
V)
-
Vo
(
)
3
2
2
(Na
O
S
(
2
)
式中:
C
—
—
二氧化硫标准待标液的浓度,
µ
g/mL
;
V
0
——
空白滴定所耗硫代硫酸钠标准溶液的体积平均值,
mL
;
V
——
二氧化硫标准待标液滴定所耗硫代硫酸钠标准溶液的体积平均值,
mL
;
C
(Na2S2O3)
——
硫代硫酸钠标准溶液
(3.12)
的浓度,
mol/L
;
32.02
——
二氧化硫
(1/2SO
2
)
的摩尔质量。
3.16
二氧化硫的标准溶液贮备液
标定出二氧化硫标准待标液(
3.14
)
的准确浓度后,
立即用吸收液
(3.4)
稀释为每毫升
含
10.00µ
g
二氧化硫的标准溶液贮备液,可稳定
6
个月。
2 :
固定污染源废气-二氧化硫测定方法建议
固定源废气中二氧化硫的检测方法主要有:碘量法、定电位电解法、非分散红外吸收法,目前,环境监测部门对烟道内二氧化硫浓度的测定普遍采用定电位电解法来完成。其主要原理是二氧化硫气体在传感器的电解槽内发生氧化还原反应,通过产生的扩散电流确定二氧化硫浓度,此方法快捷、简便,但准确程度却受到多方面因素影响。 一、定电位电解法的工作原理
烟气中SO2 扩散通过传感器渗透膜,进入电解槽,在定电位电极上发生氧化还原反应:
SO2 + 2H2O = SO4-2 + 4H+ + 2e
由此产生极限扩散电流i,在一定范围内,其电流大小与SO2浓度成正比。即:
在规定工作条件下,电子转移常数Z、法拉第常数F、扩散面积S、扩散系数D 和扩散层厚度δ 均为常数,所以SO2 浓度由 极限电流i 决定。 二、 影响因素
影响SO2检测结果的主要因素:湿度、负压、干扰气体,其中干扰气体主要有:HF、H2S、NH3 、NO2、CO,其中CO对SO2检测结果的干扰最大。关于CO气体对SO,传感器的正干扰,国外传感器技术说明书指出:在300 ppm(375 mg/m³ )CO标气作用下,SO:输出“交叉干扰”值<5 ppm(14 mg/m³ )但固定污染源排放烟气中,CO的含量往往大于
void function(e,t){for(var n=t.getElementsByTagName("img"),a=+new Date,i=[],o=function(){this.removeEventListener&&this.removeEventListener("load",o,!1),i.push({img:this,time:+new Date})},s=0;s< n.length;s++)!function(){var e=n[s];e.addEventListener?!e.complete&&e.addEventListener("load",o,!1):e.attachEvent&&e.attachEvent("onreadystatechange",function(){"complete"==e.readyState&&o.call(e,o)})}();alog("speed.set",{fsItems:i,fs:a})}(window,document);
375 mg/m³ 、甚至远远大于375 mg/m³。从检测的数据中,有的CO浓度超过10 000 mg/m³。这种情况下,由于CO的存在导致SO:传感器显示的浓度比实际值增加,不能忽略不计了。CO与SO2在检测过程中的对比图如下:
从对比图可以看出一氧化碳对二氧化硫浓度测试的影响值是正值,影响率在3%左右。一般情况下,有燃烧过程的烟道排气中都含有不同浓度的一氧化碳气体,并随着工况的改变而改变。比如,锅炉在正常情况下,一氧化碳的浓度值差别也很大,从零到几千毫克/标立方米不等,所以对二氧化硫的干扰也从零到几十毫克,标立方米不等,正常情况下,目前所用烟气分析仪可以通过软件扣除一氧化碳对二氧化硫浓度的影响值,但在一氧化碳浓度波动很快的情况下,生物质锅炉在给料过多、配风过小、压负荷的情况下,一氧化碳浓度可以在这极短的时间内迅速从0上升到几万毫克,标立方米,这时仪器的软件
var cpro_psid ="u2572954"; var cpro_pswidth =966; var cpro_psheight =120;
则不能准确快速跟踪扣除干扰值,故此时二氧化硫的测量值则偏差极大,表2所列为几种不同浓度的一氧化碳气体对二氧化硫传感器的干扰数值。
三、碘量法检测原理
烟气中的SO2被氨基磺酸铵混合溶液吸收,用碘标准溶液滴定。按滴定量计算SO2的浓度,反应式如下:
四、非分散红外吸收法工作原理
二氧化硫气体在6.82~9μm波长红外光谱具有选择性吸收,一束恒定波长为7.3μm的红外光通过二氧化硫气体时,其光通量的衰减与二氧化硫的浓度符合朗伯-比尔定律。
综上所述,由于二氧化硫电化学传感器自身性能原因,不可避免地受到诸多因素干扰,所以在生物质锅炉SO2检测过程中建议采用碘量法或非分散红外吸收法减少CO对SO2检测值得干扰。 参考资料:
《国家环境保护总局标准固定污染源排气中二氧化硫的测定-定电位电解法》HJ/T57-2000
Ⅱ 双波长法扣除干扰物质的原理
双波长分光光度法在单位时间内有两条波长不同的单色光以一定的频率交替照射同一吸收池的溶液,然后经过检测器和电子控制系统,计算出这两个波长下吸收度的差值A,与被测定物质的浓度成正比,这个方法称双波长分光光度法。
双波长分光光度法的关键是正确选择两波长,要求被测组分合适。在两波长处的QA足够大,而干扰组分G和背景在两波长应有相同的吸光度(DA =0)。为满足上述要求,一般是将a2选在待测组分的最大吸收波长,入:是选在干扰组分等吸收波长。此法可测定浑浊样品,也可测定吸收光谱相互重叠的混合物样品,也是当杂质使主峰产生肩峰时测定主峰物质的较好定量方法。
Ⅲ 次氯酸钠检测干扰物质有哪些
次氯酸钠消毒检测余氯通常DPD方法就可以二氧化氯消毒的话,检测残余二氧化氯在DPD的基础上需要加甘氨酸来排除干扰。快速检测二氧化氯的方法有:1光度计LamotteDC1200HANNAHACH都有这类仪器2二氧化氯快速检测试纸0-0.40-1.60-10ppm,ITS,Selectivemiro,Lamotte试纸滴定方法可以参考国标。
Ⅳ 怎么测家里的电磁干扰
EMC问题常常是制约中国电子产品出口的一个原因,本文主要论述EMI的来源及一些非常具体的抑制方法。
· EMC问题来源
· 金属屏蔽效率
· EMI抑制策略
· 屏蔽设计难点
· 衬垫及附件
· 结论
电磁兼容性(EMC)是指“一种器件、设备或系统的性能,它可以使其在自身环境下正常工作并且同时不会对此环境中任何其它设备产生强烈电磁干扰(IEEE C63.12-1987)。”对于无线收发设备来说,采用非连续频谱可部份实现EMC性能,但是很多有关的例子也表明EMC并不总是能够做到。例如在笔记本计算机和测试设备之间、打印机和台式计算机之间以及行动电话和医疗仪器之间等都具有高频干扰,我们把这种干扰称为电磁干扰(EMI)。
EMC问题来源
所有电器和电子设备工作时都会有间歇或连续性电压电流变化,有时变化速率还相当快,这样会导致在不同频率内或一个频带间产生电磁能量,而相应的电路则会将这种能量发射到周围的环境中。
EMI有两条途径离开或进入一个电路:辐射和传导。信号辐射是借由外壳的缝、槽、开孔或其它缺口泄漏出去;而信号传导则借由耦合到电源、信号和控制线上离开外壳,在开放的空间中自由辐射,从而产生干扰。
很多EMI抑制都采用外壳屏蔽和缝隙屏蔽结合的方式来实现,大多数时候下面这些简单原则可以有助于实现EMI屏蔽:从源头处降低干扰;借由屏蔽、过滤或接地将干扰产生电路隔离以及增强敏感电路的抗干扰能力等。EMI抑制性、隔离性和低敏感性应该作为所有电路设计人员的目标,这些性能在设计阶段的早期就应完成。
对设计工程师而言,采用屏蔽材料是一种有效降低EMI的方法。如今已有多种外壳屏蔽材料得到广泛使用,从金属罐、薄金属片和箔带到在导电织物或卷带上喷射涂层及镀层(如导电漆及锌线喷涂等)。无论是金属还是涂有导电层的塑料,一旦设计人员确定作为外壳材料之后,就可着手开始选择衬垫。
金属屏蔽效率
可用屏蔽效率(SE)对屏蔽罩的适用性进行评估,其单位是分贝,计算公式为
SEdB=A+R+B
其中 A:吸收损耗(dB) R:反射损耗(dB) B:校正因子(dB)(适用于薄屏蔽罩内存在多个反射的情况)
一个简单的屏蔽罩会使所产生的电磁场强度降至最初的十分之一,即SE等于20dB;而有些场合可能会要求将场强降至为最初的十万分之一,即SE要等于100dB。
吸收损耗是指电磁波穿过屏蔽罩时能量损耗的数量,吸收损耗计算式为
AdB=1.314(f×σ×μ)1/2×t
其中 f:频率(MHz) μ:铜的导磁率 σ:铜的导电率 t:屏蔽罩厚度
反射损耗(近场)的大小取决于电磁波产生源的性质以及与波源的距离。对于杆状或直线形发射天线而言,离波源越近波阻越高,然后随着与波源距离的增加而下降,但平面波阻则无变化(恒为377)。
相反,如果波源是一个小型线圈,则此时将以磁场为主,离波源越近波阻越低。波阻随着与波源距离的增加而增加,但当距离超过波长的六分之一时,波阻不再变化,恒定在377处。
反射损耗随波阻与屏蔽阻抗的比率变化,因此它不仅取决于波的类型,而且取决于屏蔽罩与波源之间的距离。这种情况适用于小型带屏蔽的设备。
近场反射损耗可按下式计算
R(电)dB=321.8-(20×lg r)-(30×lg f)-[10×lg(μ/σ)] R(磁)dB=14.6+(20×lg r)+(10×lg f)+[10×lg(μ/σ)]
其中 r:波源与屏蔽之间的距离。
SE算式最后一项是校正因子B,其计算公式为
B=20lg[-exp(-2t/σ)]
此式仅适用于近磁场环境并且吸收损耗小于10dB的情况。由于屏蔽物吸收效率不高,其内部的再反射会使穿过屏蔽层另一面的能量增加,所以校正因子是个负数,表示屏蔽效率的下降情况。
EMI抑制策略
只有如金属和铁之类导磁率高的材料才能在极低频率下达到较高屏蔽效率。这些材料的导磁率会随着频率增加而降低,另外如果初始磁场较强也会使导磁率降低,还有就是采用机械方法将屏蔽罩作成规定形状同样会降低导磁率。综上所述,选择用于屏蔽的高导磁性材料非常复杂,通常要向EMI屏蔽材料供货商以及有关咨询机构寻求解决方案。
在高频电场下,采用薄层金属作为外壳或内衬材料可达到良好的屏蔽效果,但条件是屏蔽必须连续,并将敏感部份完全遮盖住,没有缺口或缝隙(形成一个法拉第笼)。然而在实际中要制造一个无接缝及缺口的屏蔽罩是不可能的,由于屏蔽罩要分成多个部份进行制作,因此就会有缝隙需要接合,另外通常还得在屏蔽罩上打孔以便黏着与附加卡或装配组件的联机。
设计屏蔽罩的困难在于制造过程中不可避免会产生孔隙,而且设备运行过程中还会需要用到这些孔隙。制造、面板联机、通风口、外部监测窗口以及面板黏着组件等都需要在屏蔽罩上打孔,从而大大降低了屏蔽性能。尽管沟槽和缝隙不可避免,但在屏蔽设计中对与电路工作频率波长有关的沟槽长度作仔细考虑是很有好处的。
任一频率电磁波的波长为: 波长(λ)=光速(C)/频率(Hz)
当缝隙长度为波长(截止频率)的一半时,RF波开始以20dB/10倍频(1/10截止频率)或6dB/8倍频(1/2截止频率)的速率衰减。通常RF发射频率越高衰减越严重,因为它的波长越短。当涉及到最高频率时,必须要考虑可能会出现的任何谐波,不过实际上只需考虑一次及二次谐波即可。
一旦知道了屏蔽罩内RF辐射的频率及强度,就可计算出屏蔽罩的最大允许缝隙和沟槽。例如如果需要对1GHz(波长为300mm)的辐射衰减26dB,则150mm的缝隙将会开始产生衰减,因此当存在小于150mm的缝隙时,1GHz辐射就会被衰减。所以对1GHz频率来讲,若需要衰减20dB,则缝隙应小于15 mm(150mm的1/10),需要衰减26dB时,缝隙应小于7.5 mm(15mm的1/2以上),需要衰减32dB时,缝隙应小于3.75 mm(7.5mm的1/2以上)。
可采用合适的导电衬垫使缝隙大小限定在规定尺寸内,从而实现这种衰减效果。
屏蔽设计难点
由于接缝会导致屏蔽罩导通率下降,因此屏蔽效率也会降低。要注意低于截止频率的辐射其衰减只取决于缝隙的长度直径比,例如长度直径比为3时可获得100dB的衰减。在需要穿孔时,可利用厚屏蔽罩上面小孔的波导特性;另一种实现较高长度直径比的方法是附加一个小型金属屏蔽物,如一个大小合适的衬垫。上述原理及其在多缝情况下的推广构成多孔屏蔽罩设计基础。
多孔薄型屏蔽层:多孔的例子很多,比如薄金属片上的通风孔等等,当各孔间距较近时设计上必须要仔细考虑。下面是此类情况下屏蔽效率计算公式
SE=[20lg (fc/o/σ)]-10lg n 其中 fc/o:截止频率 n:孔洞数目
注意此公式仅适用于孔间距小于孔直径的情况,也可用于计算金属编织网的相关屏蔽效率。
接缝和接点:电焊、铜焊或锡焊是薄片之间进行永久性固定的常用方式,接合部位金属表面必须清理干净,以使接合处能完全用导电的金属填满。不建议用螺钉或铆钉进行固定,因为紧固件之间接合处的低阻接触状态不容易长久保持。
导电衬垫的作用是减少接缝或接合处的槽、孔或缝隙,使RF辐射不会散发出去。EMI衬垫是一种导电介质,用于填补屏蔽罩内的空隙并提供连续低阻抗接点。通常EMI衬垫可在两个导体之间提供一种灵活的连接,使一个导体上的电流传至另一导体。
封孔EMI衬垫的选用可参照以下性能参数: ‧特定频率范围的屏蔽效率 ‧黏着方法和密封强度 ‧与外罩电流兼容性以及对外部环境的抗腐蚀能力。 ‧工作温度范围 ‧成本
大多数商用衬垫都具有足够的屏蔽性能以使设备满足EMC标准,关键是在屏蔽罩内正确地对垫片进行设计。
垫片系统:一个需要考虑的重要因素是压缩,压缩能在衬垫和垫片之间产生较高导电率。衬垫和垫片之间导电性太差会降低屏蔽效率,另外接合处如果少了一块则会出现细缝而形成槽状天线,其辐射波长比缝隙长度小约4倍。
确保导通性首先要保证垫片表面平滑、干净并借由必要处理以具有良好导电性,这些表面在接合之前必须先遮住;另外屏蔽衬垫材料对这种垫片具有持续良好的黏合性也非常重要。导电衬垫的可压缩特性可以弥补垫片的任何不规则情况。
所有衬垫都有一个有效工作最小接触电阻,设计人员可以加大对衬垫的压缩力度以降低多个衬垫的接触电阻,当然这将增加密封强度,会使屏蔽罩变得更为弯曲。大多数衬垫在压缩到原来厚度的30%至70%时效果比较好。因此在建议的最小接触面范围内,两个相向凹点之间的压力应足以确保衬垫和垫片之间具有良好的导电性。
另一方面,对衬垫的压力不应大到使衬垫处于非正常压缩状态,因为此时会导致衬垫接触失效,并可能产生电磁泄漏。与垫片分离的要求对于将衬垫压缩控制在制造商建议范围非常重要,这种设计需要确保垫片具有足够的硬度,以免在垫片紧固件之间产生较大弯曲。在某些情况下,可能需要另外一些紧固件以防止外壳结构弯曲。
压缩性也是转动接合处的一个重要特性,如在门或插板等位置。若衬垫易于压缩,那么屏蔽性能会随着门的每次转动而下降,此时衬垫需要更高的压缩力才能达到与新衬垫相同的屏蔽性能。在大多数情况下这不太可能做得到,因此需要一个长期EMI解决方案。
如果屏蔽罩或垫片由涂有导电层的塑料制成,则添加一个EMI衬垫不会产生太多问题,但是设计人员必须考虑很多衬垫在导电表面上都会有磨损,通常金属衬垫的镀层表面更易磨损。随着时间成长这种磨损会降低衬垫接合处的屏蔽效率,并给后面的制造商带来麻烦。
如果屏蔽罩或垫片结构是金属的,那么在喷涂抛光材料之前可加一个衬垫把垫片表面包住,只需用导电膜和卷带即可。若在接合垫片的两边都使用卷带,则可用机械固件对EMI衬垫进行紧固,例如带有塑料铆钉或压敏黏结剂(PSA)的“C型”衬垫。衬垫黏着在垫片的一边,以完成对EMI的屏蔽。
衬垫及附件
目前可用的屏蔽和衬垫产品非常多,包括铍-铜接头、金属网线(带弹性内芯或不带)、嵌入橡胶中的金属网和定向线、导电橡胶以及具有金属镀层的聚氨酯泡沫衬垫等。大多数屏蔽材料制造商都可提供各种衬垫能达到的SE估计值,但要记住SE是个相对数值,还取决于孔隙、衬垫尺寸、衬垫压缩比以及材料成分等。衬垫有多种形状,可用于各种特定应用,包括有磨损、滑动以及带铰链的场合。目前许多衬垫带有黏胶或在衬垫上面就有固定装置,如挤压插入、管脚插入或倒钩装置等。
各类衬垫中,涂层泡沫衬垫是最新也是市面上用途最广的产品之一。这类衬垫可做成多种形状,厚度大于0.5mm,也可减少厚度以满足UL燃烧及环境密封标准。还有另一种新型衬垫即环境/EMI混合衬垫,有了它就可以无需再使用单独的密封材料,从而降低屏蔽罩成本和复杂程度。这些衬垫的外部覆层对紫外线稳定,可防潮、防风、防清洗溶剂,内部涂层则进行金属化处理并具有较高导电性。最近的另外一项革新是在EMI衬垫上装了一个塑料夹,同传统压制型金属衬垫相比,它的重量较轻,装配时间短,而且成本更低,因此更具市场吸引力。
结论
设备一般都需要进行屏蔽,这是因为结构本身存在一些槽和缝隙。所需屏蔽可借由一些基本原则确定,但是理论与现实之间还是有差别。例如在计算某个频率下衬垫的大小和间距时还必须考虑信号的强度,如同在一个设备中使用了多个处理器时的情形。表面处理及垫片设计是保持长期屏蔽以实现EMC性能的关键因素。
电磁波吸收材料系利用软磁铁氧体在高频下损耗增大的现象来达到吸收电磁波的目的。在工程上的实际应用中,除要求材料在很宽(从RF到微波)的频率范围内有高的电磁波能量吸收率外,尚要求材料机械强度好、涂层薄、重量轻、耐温耐湿、抗辐射和抗腐蚀。目前实用的材料有Ni—Zn铁氧体和六角晶系铁氧体等。在工程应用上,为提高对电磁波的吸收率和扩展吸收频率范围,多制成掺有金属短纤维和有机高分子材料的复合物。此外,为克服早期吸收材料寄生于雷达目标表面从而增加了重量之不足,近来国外还研制出一种用吸收材料与工程塑料复合而成的新型结构型载荷体吸收材料,可用于飞机发动机的整流罩,已在美国F—111战斗机上运行数万小时。北美罗克未尔公司也为喷气发动机进气口研制成一种复杂的蜂窝式结构型吸收体,有很高的吸收率及机械强度。 吸收材料的形状 尖劈形。微波暗室采用的吸收体常做成尖劈形,它是在泡沫塑料中掺入碳精粉然后再在外面包上一层高强度型泡沫塑料做保护层,这样吸收体即使受到外界碰撞也不致损坏。但频率降低(波长增长),吸收体长度也大为增加,普通尖劈形吸收体有近似关系式L/λ≈1,所以在100MHz时,尖劈长度达3cm;在60MHz时,尖劈长度达5cm,这不但工艺上难以实现,而且微波暗室有效可用空间也大为减少。 单层平板形。国外最早研制成的吸收体就是单层平板形,后来制成的吸收体都是直接贴在金属屏蔽层上,其厚度薄、重量轻,但工作频率范围较窄。 双层或多层平板形。该种吸收体可在很宽的工作频率范围内工作,且可做成任意形状。如日本NEC公司将铁氧体和金属短纤维均匀分散在合适的有机高分子树脂中做成的复合材料,工作频带可宽达40—50%左右。其缺点是厚度大、工艺复杂、成本较高。 涂层形。在飞行器表面只能用涂层形吸收材料,为展宽频率带,一般都采用复合材料的涂层。如锂镉铁氧体涂层厚2.5—5m m时,在厘米波段可衰减8.5dB;尖晶石铁氧体涂层厚2.5m m时,在9GHz可衰减24dB;铁氧体加氯丁橡胶涂层厚1.7—2.5m m时,在5—10GHz衰减达30dB左右。 结构形。将吸收材料掺入工程塑料使其既具有吸收特性,又具有载荷能力,这是吸收材料发展的一个方向。 近年来,为进一步提高吸收材料的性能,国外还发展了由几种形状组合的复杂形吸收体。如日本采用该类吸收体做成的微波暗室,其性能为:136MHz,25dB;300MHz,30dB;500MHz,40dB;1—40GHz,45dB。 吸收材料的工程应用 在日益重要的隐身和电磁兼容(EMC)技术中,电磁波吸收材料的作用和地位十分突出,已成为现代军事中电子对抗的法宝和“秘密武器”。其工程应用主要有: 隐身技术。在飞机、导弹、坦克、舰艇、仓库等各种装备和军事设施上面涂敷吸收材料,就可以吸收掉侦察电波、衰减反射信号,从而突破敌方雷达的防区,这是反雷达侦察的一种有力手段,减少武器系统遭受红外制导导弹和激光武器袭击的一种方法。此外,电磁波吸收材料还可用来隐蔽着落灯等机场导航设备及其它地面设备、舰船桅杆、甲板、潜艇的潜望镜支架和通气管道等设备。 改善整机性能。飞机机身对电磁波反射产生的假信号,可能导致高灵敏机载雷达假截获或假跟踪;一驾飞机或一艘舰船上的几部雷达同时工作时,雷达收发天线间的串扰有时十分严重,机上或舰上自带的干扰机也会干扰自带的雷达或通讯设备……。为减少诸如此类的干扰,国外常应用吸收材料优良的磁屏蔽来提高雷达或通讯设备的性能。如在雷达或通讯设备机身、天线和周围一切干扰物上涂敷吸收材料,则可使它们更灵敏、更准确地发现敌方目标;在雷达抛物线天线开口的四周壁上涂敷吸收材料,可减少副瓣对主瓣的干扰和增大发射天线的作用距离,对接收天线则起到降低假目标反射的干扰作用;在卫星通信系统中应用吸收材料,将避免通信线路间的干扰,改善星载通讯机和地面站的灵敏度,从而提高通讯质量。 安全防护。由于高功率雷达、通讯机、微波加热等设备的应用,防止电磁辐射或泄漏、保护操作人员的身体健康是一个全新而复杂的课题,吸收材料就可达到这一目的。另外,目前的家用电器普遍存在电磁辐射问题,通过合理使用吸收材料及其元器件也可以有效地加以抑制。 微波暗室。由吸收体装饰的壁面构成的空间称为微波暗室。在暗室内可形成等效无反射的自由空间(无噪音区),从四周反射回来的电磁波要比直射电磁能量小得多,并可忽略不计。微波暗室主要用于雷达或通讯天线、导弹、飞机、飞船、卫星等特性阻抗和耦合度的测量、宇航员用背肩式天线方向图的测量以及宇宙飞船的安装、测试和调整等,这既可消除外界杂波干扰和提高测量精度与效率(室内可全天候工作),还可保守秘密。
Ⅳ 化学分离法针对哪些干扰物质
化学分离法针对溶剂萃取、离子交换。分离是指将待测元素对测定有干扰的元素分开,以利于准确测定,富集是指将分散的待测微量元素集中起来以利于测定。磺化法和皂化法是除去油脂的一种方法,常用于农药分析中样品的净化。
Ⅵ 简述水中溶解氧测定的方法原理,写出反应方程式,干扰物质有哪些如何消除
当水样中含有亚硝酸盐时会干扰测定,可加入叠氮化钠使水中的亚硝酸盐分解而消除干扰。其加入方法是预先将叠氮化钠加入碱性碘化钾溶液中。
2、如水样中含氧化性物质(如游离氯等),应预先加入相当量的硫代硫酸钠去除。
3、如水样中含Fe3+达100—200mg/L时,可加入1mL40%氟化钾溶液消除干扰。