‘壹’ 三维扫描仪的测量方法分类
时差测距,或称'飞时测距'的3D激光扫描仪是一种主动式的扫描仪,其使用激光光探测目标物。图中的光达即是一款以时差测距为主要技术的激光测距仪。此激光测距仪确定仪器到目标物表面距离的方式,是测定仪器所发出的激光脉冲往返一趟的时间换算而得。即仪器发射一个激光光脉冲,激光光打到物体表面后反射,再由仪器内的探测器接收信号,并记录时间。由于光速 为一已知条件,光信号往返一趟的时间即可换算为信号所行走的距离,此距离又为仪器到物体表面距离的两倍,故若令 为光信号往返一趟的时间,则光信号行走的距离等于。显而易见的,时差测距式的3D激光扫描仪,其量测精度受到我们能多准确地量测时间 ,因为大约 3.3 皮秒;微微秒)的时间,光信号就走了 1 公厘。
激光测距仪每发一个激光信号只能测量单一点到仪器的距离。因此,扫描仪若要扫描完整的视野(field of view),就必须使每个激光信号以不同的角度发射。而此款激光测距仪即可通过本身的水平旋转或系统内部的旋转镜(rotating mirrors)达成此目的。旋转镜由于较轻便、可快速环转扫描、且精度较高,是较广泛应用的方式。典型时差测距式的激光扫描仪,每秒约可量测10,000到100,000个目标点。 三角测距3D激光扫描仪,也是属于以激光光去侦测环境情的主动式扫描仪。相对于飞时测距法,三角测距法3D激光扫描仪发射一道激光到待测物上,并利用摄影机查找待测物上的激光光点。随着待测物(距离三角测距3D激光扫描仪)距离的不同,激光光点在摄影机画面中的位置亦有所不同。这项技术之所以被称为三角型测距法,是因为激光光点、摄影机,与激光本身构成一个三角形。在这个三角形中,激光与摄影机的距离、及激光在三角形中的角度,是我们已知的条件。通过摄影机画面中激光光点的位置,我们可以决定出摄影机位于三角形中的角度。这三项条件可以决定出一个三角形,并可计算出待测物的距离。在很多案例中,人们以一线形激光条纹取代单一激光光点,将激光条纹对待测物作扫描,大幅加速了整个测量的进程。
手持激光扫描仪通过上述的三角形测距法建构出3D图形:通过手持式设备,对待测物发射出激光光点或线性激光光。 以两个或两个以上的侦测器(电耦组件 或 位置传感组件)测量待测物的表面到手持激光产品的距离,通常还需要借助特定参考点-通常是具黏性、可反射的贴片-用来当作扫描仪在空间中定位及校准使用。这些扫描仪获得的数据,会被导入电脑中,并由软件转换成3D模型。手持式激光扫描仪,通常还会综合被动式扫描(可见光)获得的数据(如待测物的结构、色彩分布),建构出更完整的待测物3D模型。 个别厂商为了不当竞争目的,有时把结构光的三种具体形式(激光点,激光线,结构光栅)的扫描仪区分为一、二、三代。造成许多用户认识和选型上的误导和歧义。这是故意而为的错误,是严重的不当竞争和非法行为。
结构光的三种具体形式(激光点,激光线,结构光栅),其发展的主要目的,是针对不同的用途和不同的精度等级及工作效率的需求,而开发的产品。其使用和目的均有各自得市场,但随科技的发展,这几种产品,在用途上均会有部分交集的地方。比如,目前,国外百万左右的照相式扫描仪,也可以提供橄榄核级的细节精密测量。这就覆盖激光点线扫描仪的一些市场。 再如,国外高精密的激光线扫描仪,目前测量精度可到0.01微米。国内现在激光线扫描仪,其精度也可以做到0.05微米。那么,激光点扫描仪和激光线扫描仪相比,在精度上也没有了明显优势。但,显然,激光点,线扫描仪的市场与结构光栅扫描仪的市场,还是有明显区别的。这个区别就是通常在精度上,相差10倍或更多。
我们在选型和区分上。重点看的就是实际精度。这个是第一指标。举例:个别厂商,在销售上误导客户,客户需要测量皮纹,确买了一台照相式扫描仪。结果造成实际根本不能用。 扫描仪厂牌不同,型号不同。结构形式不同。其必然有其优势和劣势的地方。所以其测量精度等级各有不同。用户选型时,除了看标注的精度参数之外,还要通过实测产品样件,来获得正确评价。并且一般需要把精度指标写入合同中,以避免不法厂商的欺骗行为。
‘贰’ 手持式激光三维扫描仪有几种扫描方式,有何区别
手持式激光三维扫描仪的扫描方式有3种,其区别是:
第一种三维扫描仪:点测量。适合做物体表面形位公差检测用。
通过每一次的测量点反映物体表面特征,优点是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在测量高精密形位公差要求的物体上有优势。
第二种三维扫描仪:线测量。适合扫描中小件物体,扫描景深小(一般只有5公分),精度较高,此代系统是发展比较成熟的,其新产品最高精度已经达到0.01微米。所以,精度上,其比肩点扫描。速度上已有极大地提高。在高精度工业设计领域,将有广阔用途。
通过一段(一般为几公分,激光线过长会发散)有效的激光线照射物体表面,再通过传感器得到物体表面数据信息。
第三种三维扫描仪:面测量。 用于3D检测; 钣金检测和公差分析;检具检测;CAD比对;大型金属构架测。
通过一组(一面光)光栅的位移,再同时经过传感器而采集到物体表面的数据信息。
‘叁’ 涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华镄勭煡璇嗘湁鍝浜涳纻
涓昏佸垎绫伙细
鎸夋祴閲忔柟寮忓彲鍒嗕负锘轰簬鑴夊啿寮忥绂锘轰簬鐩镐綅宸锛涘熀浜庝笁瑙掓祴璺濆师鐞嗐
鎸夌敤阃斿彲鍒嗕负涓哄ゅ唴鍨嫔拰瀹ゅ栧瀷銆备篃灏辨槸闀胯窛绂诲拰鐭璺濈荤殑涓嶅悓銆备竴鑸锘轰簬鐩镐綅宸铡熺悊镄勪笁缁存縺鍏夋壂鎻忎华娴嬬▼杈幂煭锛屽彧链夌栌绫冲乏鍙炽傝屽熀浜庤剦鍐插纺铡熺悊镄勪笁缁存縺鍏夋壂鎻忎华娴嬬▼杈冮暱锛屾祴绋嬫渶杩灭殑鍙杈6鍏閲屻
鎸夌敓浜у巶瀹朵笉钖岋细闱掑矝鎭掑嗳锛堜腑锲斤级锛孼+F(寰峰浗)锛孲urphaser锛堢编锲斤级锛孖-site (婢冲ぇ鍒╀筜maptek)锛孯iegl锛埚ゥ鍦板埄锛夛纴寰曞崱锛堢憺澹锛夛纴澶╁疂锛堢编锲斤级锛孙ptech锛埚姞𨰾垮ぇ锛夛纴𨰾撴櫘搴凤纸镞ユ湰锛夛纴Faro绛変骇瀹躲
锘烘湰锷熻兘锛
涓夌淮娴嬮噺锛氢紶缁熸祴閲忔傚康閲岋纴镓娴嬬殑镄勬暟鎹链缁堣緭鍑虹殑閮芥槸浜岀淮缁撴灉锛埚侰AD鍑哄浘锛夛纴鍦ㄦ祴閲忎华鍣ㄩ噷鍏ㄧ珯浠锛孏PS姣旈吨灞呭氾纴浣嗘祴閲忕殑鏁版嵁閮芥槸浜岀淮褰㈠纺镄勶纴 鍦ㄩ愭ユ暟瀛楀寲镄勪粖澶╋纴涓夌淮宸茬粡阃愭笎镄勪唬镟夸簩缁达纴锲犱负鍏剁洿瑙傛槸浜岀淮镞犳硶琛ㄧず镄勶纴涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华姣忔℃祴閲忕殑鏁版嵁涓崭粎浠呭寘钖玐,Y,Z镣圭殑淇℃伅锛岃缮鍖呮嫭R,G,B棰滆壊淇℃伅锛屽悓镞惰缮链夌墿浣揿弽镩茬巼镄勪俊鎭锛岃繖镙峰叏闱㈢殑淇℃伅鑳界粰浜轰竴绉岖墿浣揿湪鐢佃剳閲岀湡瀹炲啀鐜扮殑镒熻夛纴鏄涓鑸娴嬮噺镓嬫垫棤娉曞仛鍒扮殑銆
蹇阃熸壂鎻忥细
蹇阃熸壂鎻忔槸镓鎻忎华璇炵敓浜х敓镄勬傚康锛屽湪甯歌勬祴閲忔坠娈甸噷锛屾疮涓镣圭殑娴嬮噺璐规椂閮藉湪2-5绉掍笉绛夛纴镟寸敋钥咃纴瑕佽姳鍑犲垎阍熺殑镞堕棿瀵逛竴镣圭殑鍧愭爣杩涜屾祴閲忥纴鍦ㄦ暟瀛楀寲镄勪粖澶╋纴杩欐牱镄勬祴閲忛熷害宸茬粡涓嶈兘婊¤冻娴嬮噺镄勯渶姹傦纴涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华镄勮癁鐢熸敼鍙树简杩欎竴鐜扮姸锛屾渶鍒濇疮绉1000镣圭殑娴嬮噺阃熷害宸茬粡璁╂祴閲忕晫澶т负𨱍婂徆锛岃岀幇鍦ㄨ剦鍐叉壂鎻忎华锛坰canstation2锛夋渶澶ч熷害宸茬粡杈惧埌50000镣规疮绉掞纴鐩镐綅寮忔壂鎻忎华Surphaser涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华链楂橀熷害宸茬粡杈惧埌120涓囩偣姣忕掞纴杩欐槸涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华瀵圭墿浣撹︾粏鎻忚堪镄勫熀链淇濊瘉锛屽彜鏂囦綋锛屽伐铡傜¢亾锛岄毁阆掳纴鍦板舰绛夊嶆潅镄勯嗗烟镞犳硶娴嬮噺宸茬粡鎴愪负杩囧幓寮忋
镞犺哕寮忔坠鎸 3D 镓鎻忕郴缁熷拰鍙屾惮镀忓ご浼犳劅鍣ㄥ舰鎴愪简涓涓镫鐗圭殑缁勫悎锛岀‘淇濆湪瀹为獙瀹ゅ拰宸ヤ綔鍦烘墍鑳界敓鎴愭渶绮剧‘镄勬祴閲忓笺 杩欎竴瀹屽囦笖锷熻兘寮哄ぇ镄勬娴嬫柟妗堟彁楂树简娴嬮噺杩囩▼镄勫彲闱犳с侀熷害鍜屽氩姛鑳芥с 鍦ㄩ摪鎺ヨ哕鏂归溃涓庡叾浠 3D 镓鎻忎华鐩告瘆杈冿纴鍏夊 3D 镓鎻忕郴缁熷彲浠ュ畬鍏ㄨ嚜鐢辩Щ锷锛屾樉镢楁彁楂树简宸ヤ綔鏁堢巼鍜岃川閲忥紒
‘肆’ 璇烽梾涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华镄勫伐浣滃师鐞嗘槸浠涔璇风敤阃氢织镄勮瘽璇锅氢竴涓嬭В閲,璋㈣阿浜
涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华镄勫伐浣滃师鐞嗘湁涓ょ嶏细鑴夊啿寮忓拰鐩镐綅寮忋
杩欎袱绉嶆柟寮忔槸镓鎻忎华镓閲囩敤镄勬縺鍏夋祴璺濆师鐞嗙殑鍖哄埆銆
阃氢织镄勮达纴涓夌淮婵鍏夋壂鎻忎华阃氲繃杩炵画蹇阃熺殑姘村钩鍜屽瀭鐩存柟钖戠殑镣规祴閲忥纴瀹炵幇闱㈡祴閲忥纴涔熷氨璇村皢绌洪棿鎸夌収鏋佸潗镙囩郴鍒掑垎鎴愭寚瀹氱殑姘村钩鍜屽瀭鐩撮棿闅旓纴铹跺悗蹇阃熸祴閲忕绣镙间氦镣瑰勭殑璺濈伙纴铹跺悗阃氲繃瑙掑害璁$畻寰楀埌镣逛綅绌洪棿鍧愭爣銆