电连接器的检测方法

① 如何进行连接器产品的温升测试有哪些参考的标准

1、让连接器处于模拟工作的电路中，一般为串联电路，测试其温升；
2、EIA-367-70B-2012

② 什么是接触电阻连接器接触阻抗测试方法是什么

接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻.

测试方法

接触电阻的测量一般都采用开尔文四线法原理。 开尔文四线法连接有两个要求：对于每个测试点都 有一条激励线F和一条检测线S，二者严格分开，各 自构成独立回路；同时要求S线必须接到一个有极 高输入阻抗的测试回路上，使流过检测线S的电流 极小，近似为零.

见图1。图1中r表示引线电阻和探 针与测试点的接触电阻之和。由于流过测试回路的 电流为零，在 r3，r4上的压降也为零，而激励电流 I在r1，r2上的压降不影响I在被测电阻上的压降，所 以电压表测出的电压降即为Rt两端的电压值。从而 准确测量出R t的阻值。测试结果和r无关,有效地减 小了测量误差。

接触电阻测量原理:由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的 恒流源，故测量接触电阻的实质是测量微动接触电 压。

使用Chroma毫欧姆表测量接触电阻的原理见 图2：

接触电阻测量原理:图2所测电阻即为接点接触时的电阻，其中的恒 流源用来为接触区域提供电流I，电压表用来测量 P+和P-之间的电压降V，由于电压表内阻相对于所 测接触电阻来说相当大(大到使电压表上分得的电流 可以忽略不计)，可以认为电压表所测电压V即为P+ 和P-之间的电压值，从而电压V与电流I的比值即为 电阻值。但由于接触区域非常小，按图中的接线得 到的是P+和P-之间的电阻值。为了使测得的数据尽 量接近真实的接触电阻值，应使得P+和P-接线端尽 量靠近接触区域 ，避免在测量结果中计入测试引线 和体积电阻产生的电压降 。

③ 电脑电源线测试好坏

我们在使用电脑的过程中，经常会出现各种各样的故障，其实很多故障都跟电源有关。电源故障不仅仅是指电脑无法启动，电源故障还可能引起死锁，间歇性启动等问题。所以，我们在检查电脑故障前，可以先用万用表来测试电源的好坏，具体操作方法如下。

准备工作：

由于有许多品牌的万用表可用，我无法向你提供如何使用特定品牌万用表的说明。所以在你开始之前，确信你已经彻底理解了如何使用你的万用表。非正确地使用可能会导致你受到强烈电击，或者可能会破坏你的万用表。

电源常识：

电源的目的是通过一个插座将220伏的交流电（AC）转化为PC 可用的直流电。通常，电源将AC转化为12伏特，5伏特，或3.3伏特的直流电。12伏特的直流电被用来驱动有电动机的设备，例如硬盘和CD-ROM驱动器。5伏特和3.3伏特的输出被用来供给系统主板上各种不同的部件。

几乎所有目前使用的PC电源都是AT或ATX架构的电源。这两者的主要区别是连接电线的连接器的数量。但是如果不考虑你正在使用的电源类型，所有的电源都具有一些基本的部件。首先是电源连接器，它将电源连接到插座上。接着是主板电源，它通过一组从电源中延伸出的电缆传输。电源还有一个风扇（通过查看其是否旋转正常就可以轻松的发现并解决问题）。

测试电源连接器：

要开始诊断过程，确信PC已经断电、关闭了电源。下一步，检查PC背面靠近风扇的电压选择器以确保它在220伏特的位置。你可以在图1中看到一个例子。

图6：用红色探针连接一个黄色电线，用黑色探针连接一个黑色电线

在探针连接之后，你的万用表应该显示11到13VDC之间的一个电压。如果电源老化并且造成我上面描述的某类问题，电压将低于这个标准。如果你看到的电压介于10.5到11VDC之间，那么你的PC需要一个新电源。如果你看到的电压低于10.5VDC，那么只有更换电源，你的PC才可能重新启动。你还应该注意5-VDC和3.3-VDC电路的电压下降。但是由于你开始的电源比较小，所以这些电压下降更小。因此，我建议在12-VDC电路上进行测试。

结论：

有问题的电源并不是最容易就能检测出的PC组件，在发现并处理故障的过程中，多数IT专业人员喜欢首先检测更加常见的PC硬件问题，所以电源经常被忽视。然而，如果有一个万用表，你可以快速地检测所有连接的正确电流。多数电源的主要问题在于功率输入和主板，所以通过像我上面提到地那样检测这些方面，你现在应该可以排除电源出问题的可能性。

结语：

以上就是使用万用表测试电脑电源好坏的方法，大家在排查电脑故障的时候，不妨先检查电脑的电源是否存在故障。

④ 接触电阻的测量

除用毫欧计外,也可用伏-安计法，安培-电位计法。
在连接微弱信号电路中，设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。因为接触表面会附有氧化层，油污或其他污染物，两接触件表面会产生膜层电阻。由于膜层为不良导体，随膜层厚度增加，接触电阻会迅速增大。膜层在高的接触压力下会机械击穿，或在高电压、大电流下会发生电击穿。但对某些小型连接器设计的接触压力很小，工作电流电压仅为mA和mV级，膜层电阻不易被击穿，接触电阻增大可能影响电信号的传输。
在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法” 规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。
在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻” 和“接触电阻”两种试验方法。其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。所加开路试验电压不超过20mV，试验电流应限制在100mA。在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定；测量时电流为1A，接触对串联后，测量每对接触对的电压降，取其平均值换算成接触电阻值。