电子显微分析方法题目

Ⅰ 选用电子显微分析仪时应从哪几方面考虑（另有关于X射线，电镜，电子探针的几个题目，打对了多加分）

X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.
X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。它是当今国内最先进的X射线衍射系统。它的设计精密，软件和硬件功能齐全，能灵活的适应物质微观结构的各种测试。Y-2000型衍射仪采用多CPU系统完成X射线发生器，测角仪的控制及数据采集。配有高性能微机及软件，精确的测定物质的晶体结构，点阵常数，完成定性分析和定量分析。安装相应的附件能完成织构及应力的测定，广泛应用于工业、农业、国防和科研等领域。

Ⅱ 显微构造分析技术与方法有哪些

近年来显微构造学学科的迅猛发展，与相邻学科或相关学科在理论和技术上的飞跃是分不开的。因而作为现代理论（例如金属学的位错理论等）和技术（主要包括透射电子显微镜技术（TEM）、扫描电子显微镜技术（SEM）、阴极发光技术和电子计算机分析技术等）引入的结果，构造地质学在近年的研究中取得了由宏观构造分析，至小型构造分析、微型构造分析乃至超微构造分析方面的全面发展；实现了对于显微构造的研究由简单的定性描述阶段发展到定量分析阶段的飞跃；进而推动了目前对于构造岩和变质岩成因、地壳岩石圈动力学结构和流变学结构、成矿作用理论以及灾害地震孕震与发震机制的深入研究或重新认识。由于意识到现代技术方法的重要地位和作用，许多构造地质学家在深入开展构造地质学研究的同时，还正开展着现代技术方法的应用研究。这一方面促进了现代技术和方法在构造地质学科的更加广泛运用，也推动了现代构造地质学的飞速发展。具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞；会反射、折射或衍射出多种不同形式的粒子。其中，99%以上的入射电子能量转变成样品热能，而其余约1%的入射能量从样品中激发出各种信号，包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、阴极荧光、X射线等（见图7-1），借此发展了电子显微镜、阴极发光显微摄像系统及X-射线接收系统。

本文简单介绍几种目前人们在构造地质学研究中应用最为广泛的技术和方法，包括阴极发光分析技术、透射和扫描电镜技术、EBSD技术等。关于各种方法的基本原理、技术和应用范围，请参考相关教材和文献。

Ⅲ 电子显微分析技术中，电子的波长有什么决定 作业

电子是实物粒子（静止质量不为0的微观粒子），根据德布罗意的物质波理论，实物粒子也具有波粒二象性。实物粒子的波动性可由下方程描述：

上式中：h为布朗克常数，P为粒子的动量，m为粒子的质量，v为粒子的速度。

因此，在任何情况下，电子的波长是由其速度决定的（电子本身的质量是不变的）。

在显微镜等利用电子束的设备中：利用电子枪中阴极所产生的电子在阴阳极间的高压（25-300kV）加速电场作用下被加速至很高的速度（0.3-0.7倍光速）。也即通过控制电场强度，控制电子的速度，进而控制电子的波长。

Ⅳ 材料现代分析测试方法的介绍

本书着重介绍了材料现代分析测试方法的基本原理、试验方法、仪器设备及其应用。内容包括：X射线衍射分析原理、X射线多晶衍射方法及应用、透射电子显微分析、扫描电子显微分析与电子探针、光电子能谱与俄歇电子能谱、光谱分析技术、热分析技术、动态力学实验技术。此外，还对一些较新的其他显微分析方法的原理和应用进行了简要介绍。各章附有相应的习题与思考题。

Ⅳ 下列是几种细胞亚显微结构模式图，请据图回答问题．（1）需借助电子显微镜才可以看到如图所示各结构，图

（1）分析题图可知，甲乙是真核细胞，丙是原核细胞，真核细胞与原核细胞共有的细胞器是核糖体．
（2）分析题图可知图甲的④是内质网，⑥是线粒体，⑦高尔基体，②是细胞膜，⑨是核膜，它们共同构成细胞的生物膜系统．
（3）核糖体是由RNA和蛋白质组成，真核细胞中的RNA通过核孔进入细胞质．
（4）分析题图乙可知，该细胞是成熟的植物细胞，植物细胞能通过主动运输的方式吸收K⁺和NO₃-，因此若将图乙所示的一个活细胞放入高于细胞液浓度的KNO₃溶液中，一段时间后用显微镜观察发现该细胞未发生质壁分离，其原因最可能是该细胞先发生了质壁分离，然后又自动复原．
（5）分析题图甲乙丙可知，图乙含有叶绿体，能进行光合作用．
故答案应为：
（1）核糖体
（2）生物膜系统
（3）RNA 核孔
（4）质壁分离后又自动复原
（5）乙 叶绿体

Ⅵ 在扫描电子显微分析中，有哪几种成像方法它们各自采用何种探测器

①背散射电子。背散射电于是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。背散射电子的产生范围深，由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成分分析。②二次电子。二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-500 的区域，能量为0-50 eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。③吸收电子。入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。若在样品和地之间接入一个高灵敏度的电流表，就可以测得样品对地的信号。若把吸收电子信号作为调制图像的信号，则其衬度与二次电子像和背散射电子像的反差是互补的。④透射电子。如果样品厚度小于入射电子的有效穿透深度，那么就会有相当数量的入射电子能够穿过薄样品而成为透射电子。样品下方检测到的透射电子信号中，除了有能量与入射电子相当的弹性散射电子外，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子。其中有些待征能量损失E的非弹性散射电子和分析区域的成分有关，因此，可以用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。⑤特征X射线。特征X射线是原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。如果用X射线探测器测到了样品微区中存在某一特征波长，就可以判定该微区中存在的相应元素。⑥俄歇电子。如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量E不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。俄歇电子是由试样表面极有限的几个原于层中发出的，这说明俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。背散射电子，二次电子和透射电子，主要应用于扫描电镜和透射电镜，特征X射线可应用于能谱仪，电子探针等，俄歇电子可应用于俄歇电子能谱仪，吸收电子也可应用于扫描电镜，形成吸收电子像。

Ⅶ 如何制备4，4'

样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置。由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200 nm为宜。此外，所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道影响的方式和程度。透射电镜样品制备是一个涉及面很广的题目，方法也很多。选择哪种方法，则取决于材料的类型和所要获取的信息。透射电镜样品可分为间接样品和直接样品．本章仅介绍应用较广的复型、电解双喷、离子薄化等样品制备技术

Ⅷ 电子显微分析的特点是什么什么是电子显微分析

电子显微分析是利用聚焦电子束与式样相互作用所产生的各种物理信号，分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成的分析方法，包括透射电子显微分析、扫描电子显微分析和电子探针X射线显微分析。
电子显微分析的特点
1、可以在极高的放大倍率(最高可达107倍)下直接观察试样的形貌、结构，选择分析区域；
2、具有很高的分辨率(透射电子显微镜的分辨率已达0.2~0.1nm)，可直接观察原子的排列与分布，进行纳米尺度的结构分析和化学成分分析；
3、各种电子显微分析仪器日益向多功能、综合化方向发展，可以同时进行形貌、物相、晶体结构和化学成分的综合分析。

Ⅸ 材料分析测试技术-材料X射线衍射与电子显微分析（第二版）第三章课后习题第四、第五题不知道怎样解答

大哥你这个问题估计只有你老师能回答了……

Ⅹ 材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析 哈尔滨工业大学出版社课后习题答案哪里有啊

晕，这也能求？？！