多参数根轨迹分析方法

Ⅰ 自动控制原理的线性系统的时域分析法，根轨迹法和频域分析法比较他们的不同（原理，方法的不同）

时域分析是通过直接求解系统在典型输入信号作用下的时域响应来分析系统系能的。方法就是按一些公式求上升时间、最大超调量等参数来分析系统，也可用劳斯判据。一般需要复杂的高阶微分方程运算。
根轨迹法是根据反馈控制系统开环和闭环传递函数之间的关系，由开环传递函数求闭环特征根。这种方法是用图解的方式表示特征根与系统参数的全部数值关系，适用于高阶系统，避免了复杂的运算。
频域法根据系统的频率特性间接地揭示系统的动态特性和稳态特性，可以简单迅速地判断某些环节或者参数对系统的动态特性和稳态特性的影响，并能指明改进系统的方向。与前两种方法相比，主要优点有不需要复杂运算、能对系统动态性能作出分析。方法是奈氏稳定判据，作出奈氏图，根据曲线与（-1.0）点的关系，作出相应判断。
可参考自动控制原理教材，胡寿松的不错。
答得不完善，欢迎继续交流。

Ⅱ 根轨迹法适用于哪类系统的分析

结构与参数已知的闭环系统

Ⅲ 根轨迹分离点有复数根情况吗

有。

分离点不一定都在实轴上，所以肯定存在复数根的情况。

根轨迹是开环系统某一参数从零变到无穷时，闭环系统特征方程式的根在s平面上变化的轨迹。根轨迹是分析和设计线性定常控制系统的图解方法，使用十分简便，特别在进行多回路系统的分析时，应用根轨迹法比用其他方法更为方便，因此在工程实践中获得了广泛应用。

根轨迹不仅用于分析系统的稳定性，而且是设计控制系统的一种简便而实用的工具。

根轨迹与系统稳定性

1.如果根轨迹全部位于s平面左侧，就表示无论增益怎么改变，特征根全部具有负实部，则系统就是稳定的。

2.如果根轨迹在虚轴上，表示临界稳定，也就是不断振荡。

3.如果根轨迹根轨迹全部都在s右半平面，则表示无论选择什么参数，系统都是不稳定的。

也就是说增益在一定范围内变化时，系统可以保持稳定，但是当增益的变化超过这一阈值时，系统就会变得不稳定，而这一阈值就是出现在根轨迹与虚轴的交点上，在这一点系统临界稳定。最终可由增益的取值范围判断系统的稳定性。

Ⅳ 根轨迹分析的问题

第二问确实不对，四阶以上或者有零点三阶系统，没办法笔算分离点，可以用高阶近似，三阶可以算，所以不能近似

第三问应该是相位滞后校正吧，当系统稳态误差误差达标而稳定性不达标时用相位滞后校正

Ⅳ 时域分析法，根轨迹法和频域分析法有什么区别

时域分析法是以闭环主导极点为思想,目的在于分析系统的动态性能,即各种调节时间、超调量等等.根轨迹法是以闭环特征方程在s平面的分布,研究系统稳定性的(因为当极点跑到右半平面,系统将会不稳定)频域分析法则是针对不同频率正弦波输入的响应的,其思想在于任何的输入信号,经过傅里叶变换都可以分解成许多谐波之和,它分析的就是对每一个频率的谐波的.其本身并无太大的意义,但其衍生出来的许多方法,如奈氏图判稳、Bode图(会在校正中用到)、稳定裕度等十分有用。

Ⅵ 《自动控制原理》根轨迹分析法

没有哪个更稳定的问题，都是稳定的。
说的应该是相对稳定性、就是稳定裕度，或者平稳性，主要看二阶环节的阻尼比，蓝色的复数极点远离虚轴、阻尼比大，稳定裕度大平稳性更好。

Ⅶ 自动控制原理 根轨迹分析法问题，求详细过程

很简单。因为根轨迹是上下对称的，如果s1=0.5+j3是一个特征根，那么s2=0.5-j3也是特征根，根据根之和规律，闭环极点之和等于开环极点之和，s1+s2+s3=-6,得出s3=-7，然后待定系数
（s-s1(s-s2)(s-s3)=s(s+2)(s+4)+K* 结果是左右两边系数不相符，所以那一点不在根轨迹上。

Ⅷ 求解：详细论述根轨迹分析与伯德图（Bode图）分析方法中如何判断自动控制系统的稳定性、快速性和稳态精度

系统低频段伯德图主要影响系统稳定性（增大增益和积分环节个数可以增加系统稳定性）

中频段主要影响动态性和稳定性（影响较小）

高频段主要影响抗干扰能力，幅值衰减特性越强，系统的抗干扰能力（抗噪声能力）越强

Ⅸ 自动控制原理，根轨迹分析，如何判断根轨迹的分离点和汇合点

这是需要结合题目分析的.
根轨迹中有一条准则是"根轨迹起始于开环极点,终止于开环零点"
同时根据实轴根轨迹的结论,容易知道其变化如下:
根轨迹从-4和0出发,绘制出实轴根轨迹[-4,0]区域
经过欠阻尼部分,最终向2及∞进发.
所以根轨迹是"相遇"在[-4,0]上的,又分离在[2,∞]上,判断所解出的两个点所处的范围,即可知道分别对应哪一个.

事实上,简单地讲,<<一般情况下>>(除了特别奇怪的题目),两个挨着的实轴零点之间必然有一个分离点(因为根轨迹要走向零点),两个挨着的实轴极点之间必然有一个汇合点(因为根轨迹要从极点出发)