精度分析方法

Ⅰ 分析方法简介

花岗岩样品采集于野外花岗岩体新鲜露头，无后期蚀变。岩石样品由中国地质大学地球科学学院岩石教研室进行锆石分离鉴定与锆石样品靶的制备。

锆石U-Pb年龄测定和微量元素分析在西安大学（大陆动力学教育部重点实验室，激光剥蚀系统为德国MicroLas公司生产的GeoLas200M）激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（LAICP-MS）上进行。该实验室的ICP-MS为Perkin Elmer/SCIEX公司带有动态反应池（dynamic reaction cell，缩写为DRC）的四极杆ICP-MS Elan6100DRC，仪器可在标准模式和DRC模式下运行（四极杆质谱测定此强度能够得到准确度和精度都较好的结果。所以此灵敏度对于常规的锆石定年研究已经足够）。

锆石年龄采用国际标准锆石91500作为外标标准物质（Wiedenbeck et a1.,1995），元素含量采用NIST SRM610作为外标，²⁹Si作为内标元素（锆石中SiO₂的含量为32.8%）。样品的同位素比值及元素含量计算采用GLITTER（ver4.0,Macquarie University）程序，年龄计算及谐和图的绘制采用Isoplot（ver3.0）（Ludwig et al.,1991）完成。样品点的普通Pb含量及普通铅校正用Excel宏程序ComPbCorr#3-151（Andersen,2002）计算获得。

每个锆石微区原位测试点的同位素比值和U-Pb年龄由专用的Glitter（ver4.0,Mac quarie U n I－versity）软件计算，锆石的La-ICP-M S U-Pb分析定年结果见表2-1～表2-20；用Isop lo t2.49a（Ludwig,1991）进行了锆石的谐和曲线和加权平均年龄的投影和计算。考虑到锆石中放射性成因²⁰⁷Pb比放射性成因的²⁰⁶Pb的丰度低约20倍，使前者在测量中的精度较差，导致²⁰⁷Pb/²⁰⁶Pb和²⁰7Pb/²³⁵U年龄往往不能反映岩体的真实年龄。因此，对放射性成因组分积累较少的年轻锆石而言，²⁰⁶Pb/²³⁸U年龄更能反映锆石的结晶时间，且不受²⁰⁷Pb的影响；而对于放射性成因组分积累较多的古老锆石而言，²⁰⁷Pb/²⁰⁶Pb年龄可有效地估计锆石的形成年龄（Comp ston et al.,1992；徐夕生等，2003；袁洪林等，2003）。

肖龙教授完成了从岩石样品锆石分离与鉴定→锆石样品靶的制备→锆石U-Pb年龄测定和微量元素分析→测年数据处理成图的主体操作与全程监控，测年数据质量可靠。

Ⅱ 获得尺寸精度的方法是什么

获取尺寸精度，最直接的方法就是用仪器进行测量。

目前尺寸测量，方便又快捷的测量仪器就是VX系列闪测仪。

VX系列闪测仪：测量只需一键 即可得出全部尺寸。

简单：按一键即可测出全部尺寸，无需建立坐标或摆正，自动输出报表；

快速：3秒内即可完成所有参数测量；

高效：最多可同时测量100个工件或512个特征；

准确：精度最高可达0.7um,不同人员测量数据一致，结果稳定统一。

Ⅲ 方法精密度和准确度的计算

精
示所测得的一系列数据之间的接近程度。
X=A-B（X为
；A为单次测量的数值；B为这一系列数的平均值）

Ⅳ 中深层资料高精度速度分析方法

（一）影响速度谱能量聚焦的因素分析

通过对道集资料和速度谱的分析研究，可以把影响中深层速度谱质量的主要因素归纳为两个方面：地震资料因素和地质因素。其中，地震资料因素又包括近地表因素、信噪比、偏移距、覆盖次数等；地质因素包括陡倾构造、复杂断块、岩性突变、地层各向异性等。下面分别对每种因素进行分析并研究针对性的处理技术和方法。

1.地震资料因素

1）近地表因素的影响

在地表条件复杂地区，炮、检波点高程、炮点深度变化大，变观施工多，会产生较严重的静校正问题，从而影响速度谱精度。

2）信噪比的影响

由于大地吸收衰减等因素的影响，中深层资料有效信号能量较弱、信噪比较低，在速度谱分析时，噪声成分对速度谱精度产生不利影响，造成速度谱能量弱、能量团分散、速度拾取精度较差，从而影响了中深层资料的成像质量示。

3）覆盖次数的影响

覆盖次数对速度谱的影响可分为两个方面：覆盖次数低，对老资料而言偏移距较小。两者造成覆盖次数低，同时中深层叠加能量对速度变化不敏感，速度谱能量弱、能量团不集中，影响速度分析精度。

2.地质因素

地下介质往往存在许多复杂构造，如陡倾构造、复杂断层、岩性突变等。特别在陡倾构造的地方速度变化较剧烈，导致速度谱聚焦性变差。在断裂系统发育区域，由于存在较强的断面波，影响速度谱聚焦性，如图4-47所示。

图4-47 复杂断块对速度谱成像精度的影响

中深层古潜山、复杂断块、火成岩、砂砾岩体等复杂构造具有较强的非均质性，造成非双曲时差现象。随着新采集地震数据的炮检距逐步增大（4500m左右），以及入射角的增大，地震波传播射线路径长，各向异性表现的更突出。当各向异性较强时，常规速度分析方法，不能满足高精度速度分析的要求，如图4-48所示。

图4-48 各向异性造成的非双曲时差现象

（二）提高中深层速度分析精度技术

针对信噪比及覆盖次数对速度谱质量的影响，通过对道集优化处理技术、面元组合方式等深入研究和分析，提出针对速度分析的道集优化处理技术和方法。

1.提高信噪比处理

1）异常振幅噪声压制

地表一致性区域异常振幅衰减（ZAP）是压制异常振幅的重要手段之一。压制异常振幅的基本原理是对时窗内的振幅统计值进行地表一致性分解，分解成CMP项、炮点项、检波点项和偏移距项，对每个分量进行动态时空变加权处理。压制异常振幅后合成新的模型数据，然后通过合成数据与原始数据的比值确定加权系数，分时窗压制异常振幅。

2）随机噪声衰减

叠前随机噪声衰减（RNA）是用于叠后三维数据体上，通过叠前数据重构，可以应用于叠前数据上。处理时首先在时间长度、纵线宽度和横线宽度的长方体窗口内进行傅立叶变换，然后用相干信号预测的原理来增强反射波，削弱随机干扰。

3）多次波衰减

采用Radon变换和F-K变换相结合的方法来压制多次波。首先用有效波的速度对道集进行动校正，动校后多次波不能校平仍表现为双曲线，Radon变换对双曲线形的多次波压制效果较好，小偏移距数据中的多次波近似为直线，Radon变换不能完全将多次波消除。在Radon变换的基础上采用F-K变换对小偏移距数据中的多次波进行压制，取得了良好效果，如图4-49所示。

图4-49 多次波压制前（左）、后（右）的速度谱对比

4）优势频带能量加强

当中深层资料信噪比低、有效反射能量弱时，采用全频带资料产生速度谱的效果会比较差。首先通过频率扫描和频谱分析确定有效波的优势频段范围，采用优势频带范围内的资料进行速度扫描叠加，得到的速度谱能量团更集中。

2.速度分析面元的优化组合

通过优化速度分析面元的组合，可以增加覆盖次数，提高速度谱质量。研究对比了矩形、十字形、椭圆形三种组合方式。从分辨率和能量两个方面考虑，由于椭圆形组合既能保证一定的覆盖次数，又舍去了部分远道的影响，效果更好，如图4-50所示。

图4-50 不同组合图形的速度谱对比

3.提高分辨率处理

不同频率地震资料产生的速度谱也不同，高频速度分析对速度的分辨能力比低频强。因此，理论上采用高频数据进行速度分析可以得到更为准确的速度，通过对超道集进行反褶积处理，提高了道集的分辨率，速度谱的分辨率也有所提高，如图4-51所示。

图4-51 反褶积前(左)和反褶积后(右)的速度谱

4.共散射点道集（CSP）速度分析

在等价偏移距理论框架下，与某一散射点有关的散射能量是沿双曲线分布的。因此，根据时距关系可以把原始叠前地震数据映射到一种新的叠前偏移道集，即CSP道集上，这个变换过程不改变旅行时。在这些道集上通过叠加速度谱对速度进行更新。分析过程迭代进行，可以得到较合理的均方根速度场（图4-52）。新的速度场一方面改善了CSP道集成像效果，另一方面还可为叠前偏移提供较可靠的初始速度模型。

图4-52 常规CMP道集及速度谱（左）和CSP道集及速度谱（右）

5.共成像点道集（CIP）速度分析

通过叠前时间偏移得到的CIP道集，来自地下同一个反射点，消除了地层倾角、绕射波等因素的影响，能更好地实现同相叠加。在CMP道集速度分析基础上，利用CIP道集进行速度分析，速度谱能量更集中，速度分析精度得到进一步提高（图4-53）。

图4-53 同一地面位置CMP道集速度谱（左）和CIP道集速度谱（右）对比

6.综合处理后的效果对比

经过复合多域噪声衰减、面元优化组合、优势频带能量加强、提高超道集分辨率等技术综合处理后，道集品质及速度谱质量明显改善，中深层速度谱的能量团向下拓展了1s以上，达到了项目设计的要求（图4-54）。

图4-54 优化处理技术应用前后速度谱对比

Ⅳ 化学分析工如何提高分析的精度及准确度

1、选定优化分析方法，操作规范，不投机取巧
2、校准和消除仪器系统误差
3、标准样或管理样加密跟踪测试，未知样双份或多份平行测定，或与他人平行测定，必要时外检对照。
4、数据处理和质量控制科学规范
5、事业心和责任心必不可少

Ⅵ 粒度分析方法

粒度分析方法视碎屑岩颗粒大小和岩石致密程度而异。

1.砾岩的粒度分析方法

砾岩的粒度分析主要在野外进行，一般采用筛析和直接测量两种方法。对胶结不太坚固的砾石和疏松的砾石层，先用孔径为10 mm和1 mm的筛子过筛，小于1 mm的基质和胶结物，可带回室内进行再细分；10～1 mm的细砾部分若是含量多且差异大者，要用筛析方法进行细分；10 mm以上的砾石，一般在野外用尺子直接测量，然后将各粒级的砾石分别称重，记录于粒度分析表中。采样过程中应选择有代表性的取样地点，而且样品质量不少于25～30 kg，否则误差就会相当大。对于胶结坚固的砾岩，可在风化带上进行粒度测量；或采标本回室内，先进行胶结处理，将砾石分开，再进行粒度测量。

2.砂岩和粉砂岩的粒度分析方法

砂岩和粉砂岩的粒度分析常采用筛析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿兹尼法、沙巴宁法和罗宾逊法等。筛析法和沉速法适用于未固结的疏松岩石，如粗碎屑岩一般只用筛析法；而中—细粒碎屑岩由于常常含有较多的粉砂和黏土，常将沉速法与筛析法结合使用。薄片法主要用于固结坚硬的岩石。一般来说，筛析法适用于大于0.25 mm的颗粒，亦可用于大于0.1 mm的颗粒，而沉速法适用于小于0.25 mm的颗粒。

3.颗粒粒级的划分

一般采用伍登-温德华标准，它是以毫米为单位的一种分类方案，后来克鲁宾（1934）提出了一种对数换算（表3-1），称其为Φ值：

沉积学原理

其中，D为颗粒直径。

表3-1 粒级划分标准对比表

4.薄片粒度分析

筛析法只适用于现代沉积的沙和古代固结疏松的砂岩，对不能松解的砂岩不再适用。固结的岩石，特别是硅质胶结岩石的粒度分析，只能在薄片内进行。薄片粒度分析的精度较筛析法差，因薄片内计算的颗粒比筛析的量少得多，同时分析速度慢，分析结果不能与筛析法直接对比。下面简单介绍一下薄片粒度分析的方法，薄片的制备与普通岩石薄片的制备方法相同，疏松的砂岩用胶浸煮后磨片。用作粒度分析的薄片要稍大些（3.0 cm×2.0 cm），尤其是粗粒砂岩，以便在薄片内可测量到足够的颗粒数。用作磨制薄片的标本，必须在所采集的岩层内是有代表性的。

（1）在薄片上测定粒度的方法

在薄片上采用什么方法选择欲测量的颗粒称为抽样方法，一般常用的系统抽样方法为点计法和线计法，此外，还有一种方法为带记法。

点计法 常用有网格的目镜进行测量，每一方格的边长应大于薄片中颗粒的最大视直径，应用机械台使薄片通过显微镜视域，测量网格结点所触遇的颗粒粒径（图3-1）。

线计法 用机械台在垂直目镜微尺的方向移动薄片，凡为十字丝竖丝触遇的颗粒都要测量。量完一行，平行横丝将薄片移动一定距离，再按上述方法测量，一直测到足够的颗粒为止。测线间隔要大于薄片内颗粒的最大视直径（图3-2）。

不同抽样方法所得出的结果不同，线计法测量时，与测线相交的颗粒的概率与测线垂直方向上的颗粒直

图3-1 薄片粒度分析的点计法

径成比例；点计法测量时，与点相遇的颗粒的概率与颗粒的可见表面积成比例。

带计法 将薄片放在机械台上，固定横坐标，使薄片垂直目镜微尺慢慢移动，凡是颗粒中心在目镜微尺一定读数之间的颗粒，都要按大小分类计数（图3-3）。这个带的宽度应等于或大于样品内颗粒的最大视直径。有人通过实验证明，带计法测得的结果最近似于样品内真正的粒度分布。

图3-2 薄片粒度分析的线计法

图3-3 薄片粒度分析的带计法

由于不同抽样方法所得的结果不能直接对比，因而不同的样品要用统计方法比较的话，必须在每个细节上使用同样的抽样方法和测定方法。最后，将测得结果填入薄片粒度统计表（表3-2）。

表3-2 薄片粒度统计表

（2）各种测定直径的对比与换算

用粒度资料解释沉积环境的工作开始于对现代沉积物的研究。对于古代岩石的沉积环境分析，也可借助于岩石粒度分析同现代沉积物粒度分析加以比较。

现代沉积物的粒度分析一般采用常规筛析法，所得结果为不同粒度的颗粒质量百分比。而古代岩石目前大部分只能用薄片分析法，所得结果为不同粒度的颗粒数百分比。两者不能直接对比，如果需要对比则必须进行换算。即使在同一方法中，也只能进行统计对比，绝不能进行单颗粒对比。

筛析直径与沉速分析直径之间，平均值偏差＜0.1Φ，两种方法一般不经换算可以互相使用，但在精确研究工作中则必须换算。薄片分析视直径与筛析直径之间的偏差可达到0.25Φ或更大，在任何情况下均不可互用或直接对比。将视直径换算为筛析直径的方法很多，其中G.M.Friedman通过统计分析进行的线性回归换算较为简便、准确，任意粒度的回归换算方程为

沉积学原理

式中：D是换算后的筛析直径；d是薄片中测定的视长直径，均以Φ值计。经换算后，换算值同实际筛析值的平均直径最大偏差一般不超过0.25Φ，这个精度高于0.25Φ分组间隔，可满足一般沉积学研究。

对于切片视直径与真直径的对比，根据实验可知，等直径的球状集合体的切面上所测得的视直径平均值为真直径的0.765倍，即在颗粒集合体的切片中，颗粒视直径平均值小于真直径，这种现象称为切片效应。

（3）薄片粒度测量的要求

粒度测量是粒度分析的基础，故对其测量要求很高，而测量工作却非常烦琐、效率很低。薄片粒度分析是研究固结样品的唯一方法，可使用偏光显微镜和扫描电子显微镜。近年来出现的图像分析仪使薄片粒度分析基本实现自动化，效率大为提高。薄片统计数据为颗粒数。

在沉积环境研究中使用薄片粒度分析时，对岩石样品的基本要求是：砂岩中石英碎屑含量应大于70%，至少石英和长石含量要大于70%，溶蚀交代与次生加大现象越弱越好，切片方向可垂直层面或平行层面，随研究目的和要求的精度而定。在碳酸盐岩研究中，取样密度可达1 点/cm，可平行纹层切片。测定时一般采用线计法抽取颗粒，凡在线上的颗粒都要测量，不能有任何主观取舍，每个薄片计200～500颗粒即可，碳酸盐岩需测1000颗粒以上。

在薄片内，需要测定多少颗粒才能代表全薄片的粒度分布，这在开始分析之前必须确定。测定的颗粒太少，不能代表薄片内的粒度分布；测定的颗粒太多，又会浪费时间，而且对精确度无所增益。根据砂岩样品的实验，分别测量100、200、300、400、500颗粒，绘制粒度累积频率曲线，从计数400颗粒起，粒度累积曲线的形状基本保持不变，因而可确定薄片内计数400～500颗粒是达到精度要求的最小计数。

薄片分析视直径换算成筛析直径时，还要考虑“杂基”的存在。薄片分析若不做杂基校正，往往无悬浮总体尾端，而是跳跃总体直接穿过3～4Φ的截点呈直线延伸，不出现转折，在平均值小于2Φ的中细砂岩、粉砂岩中经常出现这种情况，这是因为4～7Φ的颗粒细小，被测机会增多，或者全被归并到4.5Φ或5Φ的颗粒而造成细粒数增加，实质上是一种统计截尾效应（截尾点不同，其分布也不同）（图3-4）。

图3-4 截尾效应

杂基校正的方法是将显微镜调至6Φ后测定或估计出杂基含量。薄片杂基量由于切片效应和成岩后生作用，值一般偏高，取其2/3～1/2为校正值，假定为Δ，将各累积频率乘以（100—Δ），重新绘一曲线。对于弱固结岩石，可用同一标本既做筛析，又做薄片分析，通过实验求出校正系数（100—Δ）的数值。

Ⅶ 加工精度都有哪些测量方法

加工精度根据不同的加工精度内容以及精度要求，采用不同的测量方法。一般来说有以下几类方法：
1、按是否直接测量被测参数，可分为直接测量和间接测量。
直接测量：直接测量被测参数来获得被测尺寸。例如用卡尺、比较仪测量。间接测量：测量与被测尺寸有关的几何参数，经过计算获得被测尺寸。
显然，直接测量比较直观，间接测量比较繁琐。一般当被测尺寸或用直接测量达不到精度要求时，就不得不采用间接测量。
2、按量具量仪的读数值是否直接表示被测尺寸的数值，可分为绝对测量和相对测量。
绝对测量：读数值直接表示被测尺寸的大小、如用游标卡尺测量。
相对测量：读数值只表示被测尺寸相对于标准量的偏差。如用比较仪测量轴的直径，需先用量块调整好仪器的零位，然后进行测量，测得值是被侧轴的直径相当于量块尺寸的差值，这就是相对测量。一般说来相对测量的精度比较高些，但测量比较麻烦。
3、按被测表面与量具量仪的测量头是否接触，分为接触测量和非接触测量。
接触测量：测量头与被接触表面接触，并有机械作用的测量力存在。如用千分尺测量零件。
非接触测量：测量头不与被测零件表面相接触，非接触测量可避免测量力对测量结果的影响。如利用投影法、光波干涉法测量等。
4、按一次测量参数的多少，分为单项测量和综合测量。
单项测量；对被测零件的每个参数分别单独测量。
综合测量：测量反映零件有关参数的综合指标。如用工具显微镜测量螺纹时，可分别测量出螺纹实际中径、牙型半角误差和螺距累积误差等。
综合测量一般效率比较高，对保证零件的互换性更为可靠，常用于完工零件的检验。单项测量能分别确定每一参数的误差，一般用于工艺分析、工序检验及被指定参数的测量。
5、按测量在加工过程中所起的作用，分为主动测量和被动测量。
主动测量：工件在加工过程中进行测量，其结果直接用来控制零件的加工过程，从而及时防治废品的产生。
被动测量：工件加工后进行的测量。此种测量只能判别加工件是否合格，仅限于发现并剔除废品。
6、按被测零件在测量过程中所处的状态，分为静态测量和动态测量。
静态测量；测量相对静止。如千分尺测量直径。
动态测量；测量时被测表面与测量头模拟工作状态中作相对运动。
动态测量方法能反映出零件接近使用状态下的情况，是测量技术的发展方向。