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等厚干涉实验误差分析方法

发布时间:2023-03-20 01:15:10

❶ 迈克尔逊干涉仪的调整与使用实验 的误差分析

迈克尔逊干涉仪的调整与使用实验的误差分析

①实验中空程没能完全消除;

②实验对每一百条条纹的开始计数点和计数结束点的判定存在误差;

③实验中读数时存在随机误差;

④实验器材受环境中的振动等因素的干扰产生偏差。

迈克尔逊干涉仪的调整与使用实验目的

(1)了解迈克尔逊干涉仪的光学结构及干涉原理,学习其调节和使用方法

(2)学习一种测定光波波长的方法,加深对等倾、等厚干涉的理解;

(3)测量He-Ne激光波长。

(1)等厚干涉实验误差分析方法扩展阅读

迈克尔逊干涉仪的调整与使用实验的实验步骤

观察扩展光源的等倾干涉条纹并测波长:

①点燃钠光灯,使之与分光板G1等高并且位于沿分光板和M1镜的中心线上,转动粗调手轮,使M1镜距分光板G1的中心与M1镜距分光板G1的中心大致相等(拖板上的标志线在主大悉尺32 cm位置)。

②在光源与分光板G1之间插入针孔板,用眼睛透过G1直视M2镜,可看到2组针孔像。细心调节M1镜后面的3个调节螺钉,使2组针孔像重合,如果难以重合,可略微调节一下M2镜后的3个螺钉。当2组针孔像完全重合时,就可去掉针孔板,换上毛玻璃,将看到有明暗相间的干涉圆环。

③再仔细调节M1镜的2个拉簧螺丝,直到把干涉环中心调到视场中央,并且使干涉环中心随观察者的困稿眼睛左右、上下移动而移动,但干涉环不发生“涌出”或“陷入”现象,这滚尺乎时观察到的干涉条纹才是严格的等倾干涉。

④测钠光D双线的平均波长。先调仪器零点,方法是:将微调手轮沿某一方向(如顺时针方向)旋至零,同时注意观察读数窗刻度轮旋转方向;保持刻度轮旋向不变,转动粗调手轮,让读数窗口基准线对准某一刻度,使读数窗中的刻度轮与微调手轮的刻度轮相互配合。

⑤始终沿原调零方向,细心转动微调手轮,观察并记录每“涌出”或“陷入”100个干涉环时,M1镜位置,连续记录5次。

❷ 等厚干涉实验步骤

等厚干涉实验步骤:

工具/原料:

方法/步骤:

1、准备好仪器,了解仪器的使用方法。

2、取下读数显微镜目镜帽。打开钠灯,如图摆放。

6、对实验数缺含好据进行整理。

注意事项:

❸ 求用牛顿环测透镜的曲率半径实验的误差分析

1、R20-10 、R25-15、R30-20 会有很大的差异。

原因:在数暗环时计数错误或计算中带错数据都可导致此结果。

在转动读数显微镜副尺档则时,有正转、反转交叉转动的现象。

目镜中的纵丝没有压到暗环的中央,而是与暗环内切或外切。

2、 实验中测出的R持续偏小

原因:读数显微镜中看到的明暗相间的条纹不清晰。

把中心的暗斑数做第一环。

在平凸透镜的凸面与玻璃片之间,有一空气薄层其厚度由中心接触点到边缘逐渐增大。若以平行单色光S垂直照射,则经空气层上下表面反射的两束光线有一光程差,在平凸透镜凸面相遇后,将发生干涉。

用读数显微镜观察,便可以清楚的看到中心为陵闭一小暗斑,周围是明暗相间宽度逐渐减小的许多同心圆环。此即等厚干涉条纹。这种等厚环形干涉条纹称为牛顿环。

(3)等厚干涉实验误差分析方法扩展阅读

实验注意事项

1、 聚焦时,G的位置距物镜约为1厘米处,不要盲目操作,以免压断反光玻璃片。

2、 测量时不能振动,读数显微镜不可摇晃,且勿数错数。

3、 不可用手抚摸牛顿环仪光学表面,若不清洁,要用专门的揩镜纸揩试。

4、 牛顿环仪上三支螺丝不要拧得过紧,以免发生形变,严重时会损坏牛顿环仪。

❹ 在光的等厚干涉实验中,测量时为避免空程误差,应该怎么

1视差:光学测量仪器的视差是由于被测物的像与进行度量的标尺不处于同一平面,因此当观察者旦宏的眼睛移动时,像与标尺之间会产生相对位移。读数显微镜由目镜和物镜组成,标线位于目镜与物镜之间,为消除视差,应先调节目镜,使十字准线的像清晰,再调节升降旋钮,使被测物的像也清晰,移动眼睛,如果被测物的像与十字准线像没有相对位移,则表明它们已处于同一成像面。
2螺模哪册距误差:由于任何螺旋测量装置的内螺纹与外螺纹之间必有间隙,故不同旋转方向所对应的读数必有差别,这种差别称为螺距误差。因此在使用读数显微镜进行长度测量时应使十字准线沿同一个缓扒方向前进,与被测物两端对齐,中途不要倒退,从而消除螺距误差。

❺ 等厚干涉试验中如何避免读数显微镜存在的空回误差

测量桐念时,所有相关点的位置读数必须在测微螺旋往某个方向的某次 转动过岩轮档程中逐个读出,以消除读数显微镜长度测量装置存在的系统误差粗乱——空回误差。
读数显微镜由于齿轮咬合纯在空隙,所以有空程现象,为了避免读数时存在的空间误差,必须在实验测量时向一个方向移动镜头,不能回头。

读数显微镜读数显微镜是光学精密机械仪器中的一种读数装置,适用于有关计量单位,工厂的计量室或精密刻度车间对分划尺或度盘的刻线进行对准检查和测定工作
等厚干涉
薄膜干涉分为两种一种叫等倾干涉,另一种称做等厚干涉。等厚干涉是由平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜上、下表面而形成的干涉条纹.薄膜厚度相同的地方形成同条干涉条纹,故称等厚干涉.(牛顿环和楔形平板干涉都属等厚干涉.)

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