分析方法样品要求

① 高效液相色谱法对测试样品有什么要求

含量=[（浓度X稀释倍数）/供试品称样量]X100%

首先确定样品成分，获取该成分的纯品（对照品），将对照品溶液配制成与样品成分浓度相当的浓度（比如样品浓度是10mg/ml左右，对照品溶液就配制成10mg/ml）。

对照品溶液和供试品溶液分别进样，进行色谱分析，获得对照品成分峰面积与供试品溶液峰面积

此时已知对照溶液峰面积，对照溶液浓度，求供试品溶液浓度，因为成分在液相中响应值不变，故对照品溶液浓度/对照品溶液峰面积=F（即响应因子）=供试品溶液浓度/供试品溶液峰面积，求得供试品溶液浓度。

高效液相色谱法有“四高一广”的特点：

1、高压：流动相为液体，流经色谱柱时，受到的阻力较大，为了能迅速通过色谱柱，必须对载液加高压。

2、高速：分析速度快、载液流速快，较经典液体色谱法速度快得多，通常分析一个样品在15～30分钟，有些样品甚至在5分钟内即可完成，一般小于1小时。

3、高效：分离效能高。可选择固定相和流动相以达到最佳分离效果，比工业精馏塔和气相色谱的分离效能高出许多倍。

4、高灵敏度：紫外检测器可达0.01ng，进样量在μL数量级。

5、应用范围广：百分之七十以上的有机化合物可用高效液相色谱分析，特别是高沸点、大分子、强极性、热稳定性差化合物的分离分析，显示出优势。

② X射线衍射分析的粉末样品时的要求是什么

1. 粉末样品的制备
虽然很多固体样品本身已处于微晶状态，但通常却是较粗糙的粉末颗粒或是较大的集结块，更多数的固体样品则是具有或大或小晶粒的结晶织构或者是可以辨认出外形的粗晶粒，因此实验时一般需要先加工成合用的细粉末。因为大多数固体颗粒是易碎的，所以最常用的方法是研磨和过筛，只有当样品是十分细的粉末，手摸无颗粒感，才可以认为晶粒的大小已符合要求。持续的在研钵或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足够细的颗粒。制备粉末需根据不同的具体情况采用不同的方法。对于一些软而不便研磨的物质（无机物或者有机物），可以用干冰或液态空气冷却至低温，使之变脆，然后进行研磨。若样品是一些具有不同硬度和晶癖的物质的混合物，研磨时较软或易于解理的部分容易被粉化而包裹较硬部分的颗粒，因此需要不断过筛，分出已粉化的部分，最后把全部粉末充分混合后再制作实验用的试样。样品中不同组分在各粒度级分中可能有不同的含量，因此对多相样品不能只筛取最细的部分来制样（除非是进行分级研究）。如果样品是块状而且是由高度无序取向的微晶颗粒组成的话，例如某些岩石、金属以及蜡和皂类样品，在粉末照相法中可以直接使用，在衍射仪中也可以直接使用，不过需加工出一个平面。金属和合金样品常可碾压成平板使用，但是在这种冷加工过程中常会引起择优取向，需要考虑适当的退火处理。退火的时间和温度，以仅发生复原过程为原则。过高的退火温度有可能导致重结晶过程的发生，某些挥发性组分的损失以及其它的物理化学的变化。岩石以及金属或合金块内常常可能存在织构，为了结果的可靠，还是应该磨成粉末或锉成细屑。锉制金属细屑可以用细的整形锉刀，锉刀要清洁，锉时锉程要小，力量要轻，避免样品发热，制得的锉屑还应考虑退火处理以消除锉削过程冷加工带来的点阵应力。
样品粉末的制备方法还可以根据样品的物理化学性质来设计，例如NaCl 粉末可以利用酒精使NaCl 从它的饱和溶液中析出的办法制得，由此得到的样品衍射分析效果极佳。
一些样品本身的性质会影响衍射的图谱，工作时亦应予以注意。例如，有些软的晶态物质经长时间研磨后会造成点阵的某些破坏，导致衍射峰的宽化，此时可采用退火处理；有的样品在空气中不稳定，易发生物理化学变化（例如易潮解、风化、氧化、挥发等），则需有专门的制样器具和必要的保护、预防措施；对于一些各向异性的晶粒，采用混入各向同性物质的方法，同时还可进行内标。

2. 制作粉末衍射仪试片的技巧
粉末衍射仪要求样品试片具有一个十分平整的平面，而且对平面中的晶粒的取向常常要求是完全无序的，不存在择优取向（在粘土分析中有时又要求制作定向的试片）。 制作合乎要求的衍射仪试片常用的方法。
通常很细的样品粉末（手摸无颗粒感），如无显着的各相异性且在空气中又稳定，则可以用“压片法”来制作试片。先把衍射仪所附的制样框用胶纸固定在平滑的玻璃片上（如镜面玻璃，显微镜载玻片等），然后把样品粉末尽可能均匀地洒入（最好是用细筛子—360 目筛入）制样框的窗口中，再用小抹刀的刀口轻轻剁紧，使粉末在窗孔内摊匀堆好，然后用小抹刀把粉末轻轻压紧，最后用保险刀片（或载玻片的断口）把多余凸出的粉末削去，然后，小心地把制样框从玻璃平面上拿起，便能得到一个很平的样品粉末的平面。此法所需样品粉末量较多，约需0.4cm3。
“涂片法”所需的样品量最少。把粉末撒在一片大小约 25×35×1mm3 的显微镜载片上（撒粉的位置要相当于制样框窗孔位置），然后加上足够量的丙酮或酒精（假如样品在其中不溶解），使粉末成为薄层浆液状，均匀地涂布开来，粉末的量只需能够形成一个单颗粒层的厚度就可以，待丙酮蒸发后，粉末粘附在玻璃片上，可供衍射仪使用，若样品试片需要永久保存，可滴上一滴稀的胶粘剂。
上述两种方法很简便，最常用，但仍很难避免在样品平面中晶粒会有某种程度的择优取向。
制备几乎无择优取向样品试片的专门方法：
喷雾法。把粉末筛到一只玻璃烧杯里，待杯底盖满一薄层粉末后，把塑料胶喷成雾珠落在粉末上，这样，塑料雾珠便会把粉末颗粒敛集成微细的团粒，待干燥后，把这些细团粒自烧杯扫出，分离出细于115 目的团粒用于制作试片，试片的制作类似上述的涂片法，把制得的细团粒撒在一张涂有胶粘剂的载片上，待胶干后，倾去多余的颗粒。用喷雾法制得的粉末细团粒也可以用常规的压片法制成试片。或者直接把样品粉末喷落在倾斜放置的涂了胶粘剂的载片上，得到的试片也能大大地克服择优取向，粉末取向的无序度要比常规的涂片法好得多。 塑合法。把样品粉末和可溶性硬塑料混合，用适当的溶剂溶解后，使其干固，然后再磨碎成粉。所得粉末可按常规的压片法或涂片法制成试片。
无择优取向粘土试片的制作方法，可参考C.S.Huthison，1974《Laboratory Handbook of Petrographic Techniques》P226，上面介绍了四种重现性较好的方法。I.Bajwa 和D.Jenkins 的压滤法（Clay Minerals，1978，13，127）效果很好，省时、快捷，制备一个样品通常只需五分钟，但需用一个特制的压滤器。上述这些方法也可参考用于制作其它具有强烈择优取向物质的试片。

③ 样品采集和分析方法

9.1.1 样品采集

样品采集遵循两个原则：一是从已知到未知的原则，即以已知的呷村矿床为参考；二是以地质为基础的原则，即在矿床矿化和蚀变分带特征的基础上，进行原生晕地球化学测量。

根据以上原则，首先在呷村矿床坑道中重点挑选两条有代表性的穿脉进行系统采样，其中4100m中段11线穿脉西矿带发育良好，东矿带出露低品位的矿体；4050m中段6线穿脉西矿带不发育，但东矿带发育良好。采样间距10～20m，每样重1～2kg。矿体附近适当加密，按矿化和结构不同分别采集。采样目的是确定是否存在隐伏矿化体的前缘晕（或边缘晕），建立隐伏矿原生晕的判别标志，为有热矿区地球化学测量提供参考标尺。

在此基础上，对有热矿区钻孔进行系统的全孔样品采集，无矿地段采样间距放稀至30～50m（其结果可以作为参考背景值），但含矿层位采样间距仍然为10～20m，矿体附近也需要加密，按矿化和结构不同分别采集。单个样品由基本等距的8～10块岩矿石组成，以保证代表性。

本次工作共采集样品412个，重复样19个。

9.1.2 分析方法

所采岩石样品在野外粗加工到120目左右的粉末样（由矿山实验室承担），再送澳实分析检测（广州）有限公司（ALS Chemex（Guangzhou）Co Ltd）进行进一步的样品制备。首先将粗加工好的粉末样品在63℃左右低温干燥，然后用无污染钵在振动研磨机上将样品重新研磨达到约75μm（200目）。样品制备加工损失率控制在＜2%，缩分误差控制在＜3%。最后对制备好的样品进行分析，由于对Ba的分析要求质量较高，因此分别采用两种方法进行分析。

9.1.2.1 微量多元素分析（王水消解、等离子质谱测试，方法代码：mE－MS41）

（1）检测仪器：电感耦合等离子体质谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪。

（2）方法描述：试样用王水消解，待溶液冷却后，用去离子水定容，摇匀，然后用电感耦合等离子体发射光谱仪检测；若Bi、Hg、Mo、Ag等含量较高，需要做相应稀释；对于结果较低的元素，再用等离子体质谱仪检测。元素之间的光谱干扰得到矫正后，即是最后分析结果。

（3）主要测试目标及检出限：该方法的目标主要是Ag、As、Bi、Cu、Mo、Ni、Pb、Zn等成矿元素及微量元素Hg、Cd、Sr等；适用于岩石样品及土壤样品，但不适用于含碳高的样品。对于目标元素，该方法的检出下限基本上低于1：50 000化探所要求的检出限，完全可以满足1：50 000化探规范的要求。

该方法可检测的元素及检测范围如表9.1所示，带∗号的元素可能消解不完全，仅供参考：

表9-1mE-MS41方法检测元素及检测范围w（B）/10^-6

注：Al、Ca、Fe、K、Mg、Na、S、Ti检出限单位为%，其他为10^-6。

该方法检出下限及要求检出下限如表9.2所示，可见方法检出下限大大低于1：50 000化探所要求的检出下限。

表9.2mE-MS41方法检出下限w（B）/10^-6

（4）质量控制：首先，测试过程有空白样、标准样、重复样控制过程质量。其次，在系统设定上，方法的精密度按“相对标准偏差（RSD）＜10%”来控制，准确度按“相对误差（RE）＜10%”来控制，实际的数据更小，根据不同的元素及含量水平有所差别。

该批样品主要元素的精密度控制即“相对标准偏差（RSD）”和准确度控制即“相对误差（RE）”实际数据如表9.3所示，两者均小于1：50 000化探规范所要求的允许值。

表9.3 相对标准偏差（RSD）和相对误差（RE）实际值一览表单位：%

（5）报出率：该方法采用精密的仪器来测试，且若有失败，必须重测。故对所有元素，在目标范围内，报出率均是100%。对于低于方法检出限的，由于方法检出限已经低于规范要求的检出限，不再用其他方法继续测试；而对于高出方法检出上限的，也不再进一步检测。

9.1.2.2 微量钡元素分析——制片X 荧光光谱定量（方法代码：Ba－XRF05）

（1）检测仪器：波长色散X射线荧光光谱仪。

（2）方法描述：将制好的粉末样品（200目）在铝模中压实制片，用荧光光谱仪直接测试目标元素。

（3）主要测试目标及检出限：Ba分析（微量），检出范围10×10^-6～10000×10^-6，检出下限10×10^-6，要求检出下限60×10^-6，可见该方法检出下限大大低于1：50 000化探所要求的检出下限。

（4）质量控制：同9.1.2.1 节的mE-MS41 方法。该批样品精密度控制即“相对标准偏差（RSD）”实际值为0.65%，允许值为＜25%；准确度控制即“相对误差（RE）”实际值为0.39%，允许值为＜35%。可见两者均小于1：50 000化探规范所要求的允许值。

（5）报出率：同9.1.2.1节的ME-MS41方法。

9.1.3 分析质量

本次工作利用重复采样及分析对化验室的化验质量进行监控。采取重复样19件，通过利用两次分析结果统计其相对偏差

，所有元素要求RE≤50～66.6。通过统计（表9.4），发现除了Ge、Na、Se、Ta超差数相对偏多，合格率无法满足要求外（合格率≥80%为合格），其余元素合格率满足分析要求。

同时，化验室在本批样品分析过程中利用空白-标准样按“相对标准偏差（RSD）”和准确度控制即“相对误差（RE）”进行了监控，经过统计（见表9.3）表明两者均小于1：50 000化探规范所要求的允许值，说明本次分析质量较为可靠。

表9.4 重复样相对偏差统计表

④ 分析测试方法的通用要求

地球化学找矿是通过对各种载体中的元素含量的测定、评价来获知异常，寻找矿床的，而各种载体中元素的含量通常是微量(10^{－ 6})或痕量(10^{－ 9})级的。显然要获取这些元素的含量采用常规的分析测试手段是无法得到的，加之地球化学找矿样品所需测定的元素众多(如 1∶ 20 万化探扫面就要求分析 39 种元素)，这些对应用于化探样品测试的方法提出了较高的要求，而对一种分析测试方法能否满足地球化学找矿分析测试要求的标准是: 是否具有合乎规范要求的检出限、精密度和准确度。

1.检出限

检出限为某特定分析方法在给定的置信度内可从样品中检出待测物质的最小浓度或最小量。所谓 “检出”是指定性检出，即判定样品中存有浓度高于空白的待测物质。检出限除了与分析中所用试剂和水的空白有关外，还与仪器的稳定性及噪声水平有关。国际分析化学相关组织规定: 重复分析(10 次以上)元素含量产生的讯号相当于 10 倍噪声水平的试样(或试液)，其标准偏差 3 倍对应的元素的量，定义为该方法的检出限。检出限与灵敏度之间的关系为: 检出限越低，灵敏度越高。地球化学找矿样品分析测试方法的检出限应满足表 6 1 的要求。

表6-1 1∶5 万和 1∶20 万化探样品元素检出限要求

表中的检出限是指一般要求，由于不同的 1∶ 5 万和 1∶ 20 万图幅元素背景值不一样，有的呈现为低背景，因此所选用的分析方法的检出限除了应满足上述要求外，还应以该图幅各元素的报出率来衡量其检出限能否满足要求，凡能报出全图幅 90% 以上试样分析数据(置信水平 95%)的，说明所用方法的检出限满足要求; 凡能报出全图幅 80% 以上试样分析数据(置信水平 95%)的，说明检出限基本满足要求; 低于 80% 时，说明检出限尚不能满足要求，应采取有效措施降低方法检出限或选择其他更有效的分析方法。

2.精密度

精密度就是在规定条件下，相互独立的测试结果之间的一致程度。实际工作中常采用两次分析结果的相对偏差(RE)来表示分析数据的精密度:

地球化学找矿方法

式中: c1，c2分别代表第一和第二次的分析结果。

当分析次数较多时，精密度也常采用标准偏差(σ)和相对标准偏差(RSD)的方法来表示:

地球化学找矿方法

式中: c_i为第 i 次分析结果; c为分析结果的平均值; N 为分析次数。

3.准确度

准确度是指测定结果与样品中真实含量接近的程度。在实际工作中通常是采用对标准样品进行多次测定后与其推荐值相比较而得的，而这一量化过程通常是采用相对误差(RE)(当误差成正态分布时)，或对数偏差平均值(Δlgc)(当误差呈对数正态分布时)来表示:

地球化学找矿方法

式中: c_s为标准样品推荐值，其余各项含义与前面相同。

地球化学分析测试方法除了对检出限、精密度和准确度的要求外，还要求分析测试方法尽可能快速、简便、经济和便捷。一个化探扫面分析测试样品经常是上千件，有时会达到万件以上，而分析测试周期常常又要求在一个月左右完成，这都必然要求化探分析测试方法的快速与简便，这常常通过分析测试方法的优化来获得，如: 多元素的同时测定、各种分析测试手段的不同组合、分析前处理的简化等。

⑤ 用电子能谱进行表面分析对样品有何一般要求有哪些清洁表面的常用制备方法

由于电子能谱测量要在超高真空中进行，测量从样品表面出射的光电子或俄歇电子。所以对检测的试样有一定的要求：即样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无磁性，无挥发性。另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候，对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。
常用清洁表面的制备方法有：真空解理、断裂，稀有气体离子溅射，真空刮削，高温蒸发，真空制备薄膜等。

⑥ 一般热分析法对样品有什么要求为什么

固体样品，在所检测的温度范围内不会分解或升华，也无挥发物产生。
样品量：单次检测无机或有机材料不少于 20mg ，药物不少于5mg 。
送样时请注明检测条件（包括检测温度范围，升、降温速率，恒温时间等）。

⑦ 测定红外光谱时对样品有什么要求

（1）样品必须预先纯化，以保证有足够的纯度；
（2）样品须预先除水干燥，避免损坏仪器，同时避免水峰对样品谱图的干扰；
（3）易潮解的样品，应放置在干燥器内；
（4）对易挥发、升华、对热不稳定的样品，请用带密封盖或塞子的容器盛装并盖紧，同时必须注明；
（5）对于有毒性和腐蚀性的样品，用户必须用密封容器装好。送样时必须分别在样品瓶标签的明显位置上注明。