❶ 为何几何光学分析方法不适合用于分析单模光纤中光的传播
因为单模光纤中光的传播涉及波的传播还有光纤效应,其结构给了光很多的变量
❷ 光纤测温原理和国内都有什么方法
你好澈澈44G1,光纤温度传感器工作原理为: 在低温区(400℃以下), 辐射信号较弱, 系统开启发光二极管(LED)使荧光测温系统工作。 发光二极管发射调制的激励光, 经聚光镜耦合到Y型光纤的分支端, 由Y型光纤并通过光纤耦合器耦合到光纤温度传感头。 光纤传感头端部受激励光激发而发射荧光, 荧光信号由光纤导出, 并通过光纤耦合器从Y型光纤的另一分支端射出, 由光电探测器接收。 光电探测器输出的光信号经放大后由荧光信号处理系统处理, 计算荧光寿命并由此得到所测温度值。 而在高温区(400℃以上), 辐射信号足够强, 辐射测温系统工作, 发光二极管关闭。 辐射信号通过蓝宝石光纤并通过Y型光纤输出, 由探测器转换成电信号, 系统通过检测辐射信号强度计算得到所测温度。
光纤传感头端部由Cr3+离子掺杂, 实现光激励时的荧光发射。 掺杂部分光纤长度为8~10 mm。 端部光纤的外表面同时镀覆黑体腔, 用于辐射测温。 (这时,光纤黑体腔长度与直径之比大于10,可以满足黑体腔表观辐射率恒定的要求)。 值得注意的是, 避免或减少荧光发射部分与热辐射部分的相互干扰, 对保证整个系统的性能十分重要。
经过分析, 可以发现这种干扰主要表现为:
1) 荧光信号中辐射背景信号对荧光寿命检测精度的影响,
2) 光纤表面镀覆对荧光强度的影响,
3) 光纤内Cr3+离子掺杂对黑体腔热辐射信号的影响。
❸ 简要说明对光纤熔接连接质量有哪些评价方法
外观目测检查、连接损耗估测、张力测定。
光纤涂面层的剥除,要掌握平、稳、快三字剥纤法。“平”,即持纤要平。左手拇指和食指捏紧光纤,使之成水平状,所露长度以5cm为宜,余纤在无名指、小拇指之间自然打弯,以增加力度,防止打滑。
“稳”,即剥纤钳要握得稳。“快”,即剥纤要快,剥纤钳应与光纤垂直,上方向内倾斜一定角度,然后用钳口轻轻卡住光纤,右手随之用力,顺光纤轴向平推出去,整个过程要自然流畅,一气呵成。
(3)光纤分析方法扩展阅读:
熔接前根据光纤的材料和类型,设置好最佳预熔主熔电流和时间及光纤送入量等关键参数。熔接过程中还应及时清洁熔接机“V”形槽、电极、物镜、熔接室等,随时观察熔接中有无气泡、过细、过粗、虚熔、分离等不良现象。
注意OTDR跟踪监测结果,及时分析产生上述不良现象的原因,采取相应的改进措施。如多次出现虚熔现象,应检查熔接的两根光纤的材料、型号是否匹配,切刀和熔接机是否被灰尘污染,并检查电极氧化状况,若均无问题,则应适当提高熔接电流。
❹ 光纤光谱仪的操作步骤和使用方法
据我所用过的高利通的光纤光谱仪的使用方法:
开机步骤
1 开光谱仪电源
2 开计算机电源
3 在文件管理器中用鼠标指到对应图标,此时出现应用窗口,仪器已准备好,可选用适 当方法进行分析操作
更多详细信息可直接留言咨询,或者请问博越仪器官网咨询,20年实战工程师24小时在线为您服务。官网地址:https://www.byfxy.com/
❺ 光纤测试的步骤是什么
对光纤参数的测试方法参照国标中相关的试验方法进行,下面列举出一些光纤基本参数的测试方法。光纤的特性参数中,几何特性参数对光纤的包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法做出相关说明;光学特性参数对模场直径、单模光纤的截止波长、成缆单模光纤的截止波长的测试方法做出相关说明;传输特性参数对光纤的衰减、波长色散的测试方法做出相关说明。2.1、光纤几何特性参数测试光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法。测量包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法是折射近场法、横向干涉法和近场光分布法(横截面几何尺寸测定)。光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法有三种。●折射近场法折射近场法是多模光纤和单模光纤折射率分布测定的基准试验方法(RTM),也是多模光纤尺寸参数测定的基准试验方法和单模光纤尺寸参数测定的替代试验方法(ATM)。折射近场测量是一种直接和精确的测量。它能直接测量光纤(纤芯和包层)横截面折射率变化,具有高分辨率,经定标可给出折射率绝对值。由折射率剖面图可确定多模光纤和单模光纤的几何参数及多模光纤的最大理论数值孔径。●横向干涉法横向干涉法是折射率剖面和尺寸参数测定的替代试验方法(ATM)。横向干涉法采用干涉显微镜,在垂直于光纤试样轴线方向上照明试样,产生干涉条纹,通过视频检测和计算机处理获取折射率剖面。●近场光分布法这种方法是多模光纤几何尺寸测定的替代试验方法(ATM)和单模光纤几何尺寸(除模场直径)测定的基准试验方法(RTM)。通过对被测光纤输出端面上近场光分布进行分析,确定光纤横截面几何尺寸参数。可以采用灰度法和近场扫描法。灰度法用视频系统实现两维(x-y)近场扫描,近场扫描法只进行一维近场扫描。由于纤芯不圆度的影响,近场扫描法与灰度法得出的纤芯直径可能有差别。纤芯不圆度可以通过多轴扫描来确定。一般商用仪表折射率分布的测试方法是折射近场法。测试中使用的仪表是光纤几何参数和折射率分布测量仪。测试步骤如下:①试样制备时应注意试样端面清洁、光滑并垂直于光纤轴。②测量包层时,端面倾斜角应小于1°。控制端面损伤,使其对测量精度的影响最小。③注意避免光纤的小弯曲。④将被测光纤剥除被覆层,用专用光纤切割刀切割出平整的端面, 放入光纤样品盒中,样品盒中注入折射率稍高于光纤包层折射率的折射率匹配液。⑤将光纤样品盒垂直放在光纤折射率分布测量仪的光源和光探测器之间,进行x-y方向的扫描测试。⑥通过分析得到光纤折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试数据。2.2、光纤光学特性参数测试(1)单模光纤模场直径的测试方法模场直径是单模光纤基模(LP01)模场强度空间分布的一种度量,它取决于该光纤的特性。模场直径(MFD)可在远场用远场光强分布Pm(θ)、互补孔径功率传输函数α(θ)和在近场用近场光强分布f2(r)来测定。模场直径定义与测量方法严格相关。单模光纤模场直径的测试方法有三种。●直接远场扫描法直接远场扫描法是测量单模光纤模场直径的基准试验方法(RTM)。它直接按照柏特曼(Petermann)远场定义,通过测量光纤远场辐射图计算出单模光纤的模场直径。●远场可变孔径法远场可变孔径法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法(ATM)。它通过测量光功率穿过不同尺寸孔径的两维远场图计算出单模光纤的模场直径,计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。●近场扫描法近场扫描法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法(ATM)。它通过测量光纤径向近场图计算出单模光纤的模场直径,计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。一般商用仪表模场直径测试方法是远场变孔径法(VAFF)。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下:●准备2m(±0.2m)的光纤样品,两端剥除被覆层,放在光纤夹具中,用专用光纤切割刀切割出平整的端面。●将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端,检查光接收端的聚焦状态,如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰,则需要进行位置和焦距的调整。●在光源的输出端保持测试光纤的注入条件不变,打一个半径30mm的小环,滤除LP11模的影响,进行模场直径的测试。通过分析得到光纤模场直径的测试数据。(2)单模光纤截止波长和成缆单模光纤截止波长的测试方法测量单模光纤的截止波长和成缆单模光纤的截止波长的测试方法是传输功率法。当光纤中的模大体上被均匀激励情况下,包括注入较高次模在内的总光功率与基模光功率之比随波长减小到规定值(0.1dB)时所对应的较大波长就是截止波长。传输功率法根据截止波长的定义,在一定条件下,把通过被测光纤(或光缆)的传输功率与参考传输功率随波长的变化相比较,得出光纤(或光缆)的截止波长值。一般商用仪表模场直径测试方法是传输功率法。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下:①在样品制备时,单模光纤的截止波长的测试使用2m(±0.2m)的光纤样品,成缆单模光纤的截止波长的测试使用22m的已成缆单模光纤。②将测试光纤的两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中,用专用光纤切割刀切割出平整的端面。③将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端, 检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在其屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。④先在测试光纤不打小环的情况下,测试参考传输功率。⑤再将测试光纤在注入端打一个半径30mm的小环,滤除LP11模的影响,测试此时的传输功率。⑥将两条传输功率测试曲线相比较,通过数据分析处理,得到光纤(或光缆)的截止波长值。2.3、光纤传输特性参数测试(1)衰减的测试方法衰减是光纤中光功率减少量的一种度量,它取决于光纤的性质和长度,并受测量条件的影响。衰减的主要测试方法如下:●截断法截断法是测量光纤衰减特性的基准试验方法(RTM),在不改变注入条件时测出通过光纤两横截面的光功率,从而直接得到光纤衰减。●插入损耗法插入损耗法是测量光纤衰减特性的替代试验方法(ATM),原理上类似于截断法,但光纤注入端的光功率是注入系统输出端的出射光功率。测得的光纤衰减中包含了试验装置的衰减,必须分别用附加连接器损耗和参考光纤段损耗对测量结果加以修正。●后向散射法后向散射法是测量光纤衰减特性的替代试验方法(ATM),它测量从光纤中不同点后向散射至该光纤始端的后向散射光功率。这是一种单端测量方法。一般商用仪表衰减的测试方法是截断法和后向散射法。截断法测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下:①准备不短于1km或更长一些(一般一个光纤盘长:25km)的光纤样品,两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中,用专用光纤切割刀切割出平整的端面。②将测试光纤盘的外端光纤通过专用夹具连接仪表的发射端,将测试光纤盘的内端光纤通过专用夹具连接仪表的接收端,检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。③在光纤注入端打一个半径30mm的小环,滤除LP11模的影响,测试此时的传输功率。④保持光源的注入状态不变(在光纤注入端打一个半径30mm的小环),将测试光纤样品截断为2m的试样,光纤通过专用夹具连接仪表的接收端,检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰,则需要进行位置和焦距的调整。测试此时的传输功率。将两条传输功率测试曲线相比较,通过数据分析处理,得到光纤在1310nm和1550nm波段的衰减谱特性。后向散射法测试中使用的仪表是光时域反射计。测试步骤如下:①将测试光纤盘的外端通过熔接光纤连接器或裸纤适配器,接入光时域反射计进行测试。②测试中光时域反射计使用最小二乘法(LSA)计算光纤的衰减,此方法可忽略光纤中可能的熔接或接头损耗对光纤链路测试造成的影响。③如需分段测试光纤链路的衰减可使用两点法进行测试。④光纤衰减测试中,应选择光纤测试曲线中的线性区域,避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域,测试两点间的光纤衰减(dB/km)。⑤更改光时域反射计的测试波长,分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析。实际测试中,可以通过截断法和后向散射法两种测试方法验证光纤衰减的测试数据。对于带有光纤连接器的测试光纤样品,为了不破坏已安装的光纤连接器,则只能使用后向散射法进行单端非破坏性测试。(2)波长色散的测试方法波长色散是由组成光源谱的不同波长的光波以不同群速度传输引起的光纤中每单位光源谱宽的光脉冲展宽,用ps/nm表示。它取决于该光纤的特性和长度。波长色散的主要测试方法如下:●相移法相移法是测量光纤波长色散的基准试验方法(RTM)。它在频域中通过检测、记录和处理不同波长正弦调制信号的相移来测量不同波长信号的群时延,从而推导出光纤波长色散。●脉冲时延法脉冲时延法是测量光纤波长色散的替代试验方法(ATM)。它在时域中通过直接检测、记录和处理不同波长脉冲信号的群时延,从而推导出光纤波长色散。●微分相移法微分相移法是测量光纤波长色散的替代试验方法(ATM)。它在1000nm~1700nm波长范围内由两个相近波长间的微分群时延来测量特定波长上的波长色散系数。一般商用仪表波长色散的测试方法是相移法。测试中使用的设备是色散测量仪。测试步骤如下:①测试光纤样品应不短于1km。光纤两端做好光纤连接器。②在色散测试时应先用两根标准光纤跳线分别连接色散测量仪的输入端和输出端,通过法兰盘连接两根光纤跳线的另一端,将色散测量仪自环,测试此时的参考值。③再将测试光纤通过法兰盘接入光纤环路。④根据测试光纤样品,设定光纤类型;数据拟合方式;光纤测试中的群折射率;测试光纤长度;;测试波长范围;波长间隔等。⑤测试光纤的零色散波长、零色散斜率和色散系数等。通过对测试数据的分析处理得到光纤的色散特性。光纤参数测试中的不确定度评定方法:光纤参数测试中的不确定度评定一般参考下面提到的方法进行。主要考虑测量仪器引入的不确定度和测量重复性两方面因素。3、光纤参数测试中普遍存在的问题以单模光纤B1.1类(即非色散位移单模光纤)、B1.3类(即波长段扩展的非色散位移单模光纤)和B4类(即非零色散位移单模光纤)为例说明光纤参数测试中普遍存在的问题。光纤参数测试中普遍存在的问题是单模光纤的截止波长指标超标的问题。
根据国内光纤光缆标准,截止波长可分为光缆截止波长λCC、光纤截止波长λC和跳线光缆截止波长λCj,光纤光缆的截止波长指标应符合表二中的相应规定。光缆使用长度不小于22m时应符合表二中λCC规定,使用长度小于22m但不小于2m时应符合表二中λCj规定,使用长度小于2m时应符合表二中 λC规定,以防止传输时可能产生的模式噪声。
❻ 怎样检测光纤线
方法:
安排两个工作人员,分别在确定故障的光纤的两端,一段的人带上光笔,另外一段无须携带东西;
携带光笔的工作人员,先将光笔与光纤跳线(如图所示)对应的两个头接上。然后打开光电源开关;
如果不出现红光,还可以在夜晚,光线比较暗的时候,顺着光纤寻线,发现线上哪里有红光,就可以找出断点。
❼ 光纤检测缺陷原理
光纤是光导纤维的简写,是一种由玻璃或塑料制成的纤维,可作为光传导工具。
传输原理是“光的全反射”。
前香港中文大学校长高锟和George A. Hockham首先提出光纤可以用于通讯传输的设想,高锟因此获得2009年诺贝尔物理学奖。
微细的光纤封装在塑料护套中,使得它能够弯曲而不至于断裂。通常,光纤的一端的发射装置使用发光二极管(light emitting diode,LED)或一束激光将光脉冲传送至光纤,光纤的另一端的接收装置使用光敏元件检测脉冲。
在日常生活中,由于光在光导纤维的传导损耗比电在电线传导的损耗低得多,光纤被用作长距离的信息传递。
通常光纤与光缆两个名词会被混淆。多数光纤在使用前必须由几层保护结构包覆,包覆后的缆线即被称为光缆。光纤外层的保护层和绝缘层可防止周围环境对光纤的伤害,如水、火、电击等。
光缆分为:缆皮、芳纶丝、缓冲层和光纤。光纤和同轴电缆相似,只是没有网状屏蔽层。中心是光传播的玻璃芯。
在多模光纤中,芯的直径是50μm和62.5μm两种, 大致与人的头发的粗细相当。而单模光纤芯的直径为8μm~10μm,常用的是9/125μm。芯外面包围着一层折射率比芯低的玻璃封套, 俗称包层,包层使得光线保持在芯内。再外面的是一层薄的塑料外套,即涂覆层,用来保护包层。光纤通常被扎成束,外面有外壳保护。 纤芯通常是由石英玻璃制成的横截面积很小的双层同心圆柱体,它质地脆,易断裂,因此需要外加一保护层。
说明:9/125μm指光纤的纤核为9μm,包层为125μm,9/125μm是单模光纤的一个重要的特征,50/125μm指光纤的纤核为50μm,包层为125μm,50/125μm是多模光纤的一个重要的特征。
其中金砖国家光缆计划是直接连通5个金砖国家的海底光缆项目,将于2014年初开工,2015年中启用。该项目总长3.4万千米,其中直接连通5个金砖国家的海底光缆长约2.4万千米。
2013年,全球100G光纤的收入预计将首次超过10亿美元。该公司分析了2013年一季度全球光网络市场的财务结果,发现了一些趋势,包括一个令人失望的趋势,即市场的总体增长仍然是困难的,只有日本的富士公司利润逐年增长。
虽然光纤市场在第一季度出现衰退的情况并不少见,但这次下降令人担忧是因为这已经是连续第五个季度市场有所下降,并且季度收入达到六年来的最低值。
100G光纤的情况较为乐观,不管环比、同比都表现出强劲增长。2013年一季度,100G光纤的出货量较2012年四季度增长了41%,收入较2012年四季度增长了24%。以此计算,年收入有望首次超过10亿美元。2013年一季度,有20家供应商出售100G光纤,将有更多的厂商加入市场竞争。供应商持谨慎乐观的态度,短期订单量看涨,长期订单量并不乐观。
❽ 光纤怎样测量
用宽带光源和光谱分析仪测损耗
❾ 光纤中SPR的分析
讨论了光纤表面等离子体波传感器的工作原理, 并对将其用于监测以甲基橙为代表的环境污水降解过程的可行性进行了探讨。 用光纤SPR传感器监测了50 mL初始浓度为30 mg?L-1的甲基橙原溶液在降解过程浓度的变化, 对降解过程中光纤SPR传感器的光谱进行了详细的分析; 同时采用紫外-分光光度计对降解过程中溶液浓度的变化进行了监测, 并对2种方法所测的数据进行了分析对比。 结果表明, 光纤SPR同常规方法的测量结果一致, 随着降解时间的增加, 甲基橙溶液的吸光度和浓度逐渐减小, 光纤SPR传感器的共振波长逐渐发生蓝移, 同初始标定的甲基橙原溶液共振光谱比较, 说明甲基橙逐渐被降解, 且在2 h内降解率达到73%, 说明用光纤SPR传感器监测污水降解过程是完全可行的。 研究结果不仅为环境污水降解过程提供了一种新的监测方法, 同时促进了我国SPR传感技术与环保监测研究结合, 为光纤SPR技术走向实用, 并最终实现产业化积累了经验。