㈠ led高精度闪光测速仪怎么使用
闪光测速仪*操作指南
1, 测速
(1) 在被测物近中心部分作上标记或认定已有的特征标记 ( 宜作非对称的标记 ) 。
(2) 把电源插头插入插座,按下尾部的电源开关,按通电源,数码管显示屏即显示该档的闪光速值。
(3) 若待测物体转速值的大致范围未知时,先将按键开关置于“ ”档。 细调旋纽 ( 带动十圈电位器 ) 。先顺时针转到头,把闪光对准标记,一边把细调旋钮逆时针微凋整,一边观察标记,当第一次出现稳定的单象时,数码管显示的读数就是被测物的每分钟转数。若“ ”档不出现单定象时,用类似上述的方法。在“ ”档内寻找。
(4) 若被测物转速的范围已知,则将按键开关置于包含此速值的某档,用细调旋钮使闪光从高速向低速变化,第一次出现稳定的单象时,从数码管显示屏上读出被测物的每分钟转速。
2 动态观测
方法同 l 。在出现第一个单象时,调节细调旋钮,让闪光频率与转速略有差异。这样,单象就不是静止而是以慢速转动,象的旋转方向和速度受微调旋钮控制,视需要而定。
3 旋转方向判别
方法同 1 。在出现第一个单象时,调节细调旋钮让闪光频率略低于转速,这时单象就不是静止不动而是慢速旋转。象的旋转方向就是转动物体的旋转方向。速度测量法则 闪光测速仪实际提供了一个频率可调,持续时间极短的脉冲光源。假如电风扇以每分钟 1300 转的速度旋转,闪光频率也是每分钟 1300 次,由于两者速度相等 ( 同步 ) 。显然每次闪光时,电扇叶片必将位于上次闪光时所在的位置上。因此,借助于人的视觉暂留,电扇的叶片似乎根本不动。这就是说,当仪器的闪光频率与被测物的转动频率相等时,转动物体看起来好象静止一样,呈现一个静止的图象。这时,闪光频率就是物体的转速,这就是闪光测速原理。 假定风扇的转速仍旧是每分钟 1300 转,而闪光的速度变为每分钟 1301 次,由于闪光速度比电扇转速快,所以每次闪光时,电扇的叶片还没有到达上次闪光照射时所在的位置而略有滞后。这种现象在视觉上会觉得电扇在缓慢地向后转动。反之,当闪光速度是每分钟 1299 次时,人眼就会觉得电扇在缓慢地向前转动。这就是说,当仪器的闪光频率与被测物的转动频率略有不同时,就会出现比实际速度慢得多的频闪图象,而且它恰恰是高速运动的真实翻版。利用这个现象就可以对高速运动进行仔细观察和测量。
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㈡ 光谱仪分析仪怎么调
扫描、波长编程及时间驱动各项方法可根据显示的参数表,逐项按需要选用或填入,并可参考提示。
浓度方法窗口下方标签较多,说明做浓度测定时需要参数较多。用鼠标指按每一标签,可翻出下页,其上有一些需要测定的参数。必须逐页设定。
光谱仪分类和原理
根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器,经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。
调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收,由发射光谱被减弱的程度,进而求得样品中待测元素的含量。
它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度,I0为发射光强度,T为透射比,L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。
㈢ 荧光定量PCR分析仪校准方法有哪些
两个方面:
一是每个孔的温度是否和标定温度符合
二是每个孔的PMT是否维持稳定,有厂家提供的校准盘
㈣ 荧光分析仪保养及使用
荧光光谱法具有灵敏度高、选择性强、用样量少、方法简便、工作曲线线形范围宽等优点,可以广泛应用于生命科学、医学、药学和药理学、有机和无机化学等领域。
荧光分光光度计的发展经历了手控式荧光分光光度计,自动记录式荧光分光光度计,计算机控制式荧光分光光度计。
光分光光度计三个阶段;荧光分光光度计还可分为单光束式荧光分光光度计和双光束式荧光分光光度计两大系列。其他的还有低温激光Sh p ol’skill荧光分光光度计,配有寿命和相分辩测定的荧光分光光度计等
荧光分光光度计操作步骤
1.开机:接通电源,打开主机开关,点燃(打开)光源后,根据说明书要求启动计算机。
2.检测前准备:参照仪器说明书,在20天内至少进行一次激发校准和发射校准,检测前仪器应预热。
3.工作条件的选择:环境温度应在20℃±5℃;相对湿度不大于70%;电源稳定,无磁场、电场干扰。根据样品的特性及荧光强度,选择合适的仪器工作条件(如狭缝、PM增益、响应时间等)。
(1)荧光激发光谱测定
设置仪器参数,扫描发射波长,找到maxλem,以此为发射波长,记录发射强度作为激发波长的函数,便得到激发光谱。
(2)荧光发射光谱测定
设置仪器参数,扫描激发波长,找到maxλex,以此为激发波长,记录发射强度与发射波长间的函数关系,便得到荧光发射光谱。
(3)差谱测定
设置仪器参数,选择合适的工作方式,测定背景溶液的发射光谱并储存起来,在一定的工作方式下,扫描样品溶液的发射波长,得到当时的光度值和储存的背景值之间的差示值,即差谱。
(4)峰面积积分
选择适当的工作方式,对样品溶液进行积分操作,即得到峰面积积分。
(5)荧光强度
选择合适的测量参数,设置λex、λem,采用定点读数或扫描方式,即可测得所选波长处的荧光强度。
(6)定量测定
配制一系列已知浓度的标准溶液,在一定的测定条件下,设置λex、λem,按照由稀至浓的次序,测定标准溶液的荧光强度,绘制荧光强度—浓度的工作曲线,不改变仪器参数测定未知溶液的荧光强度,由工作曲线即可求出未知溶液的浓度。
㈤ 网络分析仪的校准操作步骤是什么
1、首先设置频率:按CENTER键(假如设置中心频率为506M的滤波器,就直接设置为506M)。
2、在设置带宽(显示带宽):按SPAN键,一般设置为100M。
3、再按CAL键→CALIBRATEMENU(第三个键)→RESPONSE(再第二个键)→THRU
4、再按MARKER键设置第一个标记点,再按MARKER设置第二点,在依次内推(一般设置5个标记点。比如说设计414M(带宽16M)的滤波器各MARKER应如下标记。
希望以上内容可以帮到你。
㈥ JPBJ-608便携式溶解氧分析仪 怎么校准
一起校验由计量局进行,定期校准由专人进行。步骤如下:
7.2仪器校准:
7.2.1电极的校准:每月校准一次仪器,或怀疑数字不稳定时随时校准。
7.2.2零氧校准:将电极插头插好,打开溶氧仪开关,极化电极30分钟。将电极放入5%亚硫酸钠溶液内,按“模式/测量” 键,仪器进入模式选择状态,选择“ZERO”(显示在液晶屏幕左下角)。按“确认/打印”键即进入零氧校准状态。 待读数稳定后按“确认/打印”键,仪器自动退出“ZERO”状态,进入模式选择状态,零氧校准结束。
7.2.3满度校准:把溶解氧电极从溶液中取出,用水冲洗干净,用滤纸小心吸干薄膜表面的水分,并放入空气中,按“▲”或“▼”键选择“Full”模式状态,按“确认/打印”键进入满度校准状态。待读数稳定后按“确认/打印”键,仪器自动退出“Full”状态,进入模式选择状态,满度校准结束。7.2.4然后,按“模式/测量”键取消校准状态,进入测量状态,校准完成。
㈦ 常用频闪仪怎样检验呢
DT-311N频闪仪本身可以发出短暂又频密的闪光,当我们调节其闪光速率与被检测物体的转速或振动速率同步时,在视觉上会感到该运动物体呈现静止状态,就此可以判定频闪仪的闪速即为被检测物体(例如马达)之转速,也可以利用频闪仪分析物体振动情况,高速移动物体的动作分析以及高速摄影等。
DT-311N频闪仪的应用:
检查印刷机的印刷错差
检查生产线上的盒子、瓶装物
检测工业机器的传动带
检查织机振动
检查旋转装置的测量、发动机、齿轮、滑轮、风扇等转轴的离心运动
检查涡轮、引擎等的高速运转
㈧ 功率分析仪用什么来校准
功率分析仪属于高精密测量仪器,所以对于相应校准源的要求也比较高,通常都是用FLUKE、Agilent的源,如FLUKE 5720A/5520A和Agilent 3458A用来校准电压、电流的精度、主要是针对增益与频响及全球至高标准的FLUKE 6105A用来校准功率等,不过这些仪器的售价是比较高的。
㈨ 矢量网络分析仪的校准方法有哪些
以R&SZVB矢量网络分析仪2端口的TOSM校准为例(网络分析仪校准),操作步骤为先按CAL键激活校准菜单,然后按‘StartCal’键进入下一级校准菜单,按‘Two-PortP1P2’键选择2端口校准,并进入下一级菜单按‘TOSM’键选择TOSM校准方式,选择正确的接头形式,以及正确的校准件的型号,最后点击“Next”键,进入校准菜单,TOSM校准共有7个步骤,这里就不做更详细的说明了。尽管一般VNA的UserGuider上都有仪器校准的方法,但是还有很多细节需要注意的:
A、设定测试参数--选择测试频率范围:一般的频率范围要稍微大于测试指标规定的范围,选择VNAPort激励功率,对于无源器件,可以选择稍微大的激励功率,如果对于多端口VNA,还需要选择测试port。
B、选择校准件,选择校准方法,通过仪器校准的Guide完成校准--每个公司都有不同的规格的校准件,例如N型的,SMA型的,这个在校准之前一定要选择好,这个是因为厂家提供的校准件,开路短路负载等也不是理想的反射系数分别为1,-1和0。同公司的VNA中会定义校准件,将校准件的特性预先存入VNA,以便校准时求解误差方程。因此,如果校准件选择不当,校准的意义也就没有了。
C、校准结果检查--这一步不是必须的,但个人觉得作为一个优秀的射频工程师,这一步是至关重要的,主要是开路校准特性的检查、负载校准特性的检查、直通检查三大方面。
㈩ 光谱分析仪的测试标准参数及方法和注意事项是什么
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如第一层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有无限厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。这样误差看你每层的厚度了,如果每层都很薄,比如几个微米那么影响会较小。如果每一层达到几十比如50微米以上,那么影响就会较大。
晶体成分没什么,只要是均匀分布就可以,因为即便有分光等现象,也是等概率的,因为是均匀分布。