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线轮廓度计算方法

发布时间:2023-09-22 19:27:23

‘壹’ 谁看得懂面轮廓度计算公式,基值是不是图纸上给的理论数啊 供参考; 极值-基值)X 2

是得,基值就是图纸上的基本尺寸,加方框的那种。几何公差轮廓度给的是一个公差带,0.4的轮廓度,即在基本尺寸的位置向两边各放0.2的宽度,加上长度方向延伸,成为一条宽带,然后实际测量的线或面的位置在这条宽带之内,就合格,之外就超公差。这是简单判定。但测量报告中是要有数值的。所以拿实际测量值到理论值的距离(极值-基值),这应该是个绝对值。
比方:基本尺寸10,轮廓度0.4,公差带-9.8~+10.2。实际测量位置9.85,那么9.85-10=0.15,,0.15*2是实际公差带=0.3,是合格的。
如果实际测量位置9.75,9.75-10=0.25,0.25*2=0.5,那么这个公差带已经超出0.4轮廓度的范围了就不合格。
乘2的作用应该理解了吧。

‘贰’ 请教轮廓度计算方法

轮廓度手动无法计算。

轮廓度是一种较难定义的几何要素,它不像一般规则几何要素那样,能用少量的参数给出精确定义,所以自由曲面加工精度的检验也变得较为复杂,主要表现在无法直接利用被测曲面本身作为测量基准,从而使测量结果中包含由于测量坐标系与设计坐标系不重合而造成的系统性误差。

(2)线轮廓度计算方法扩展阅读:

线轮廓度传统误差检测方法

传统的面轮廓度测量误差的测量方法包括仿形装置测量、截面轮廓样板测量、光学跟踪轮廓测量仪测量以及三坐标测量装置测量等。前3种测量方法要求做出理论轮廓样板后才能测量。由于理论轮廓样板制作非常困难,因此该测量方法适合于一种零件大批量生产过程中的检验。

而采用三坐标测量装置进行测量时无需轮廓样板,只需要零件的CAD数学模型(零件的三维设计图形),因此该测量方法可应用于任何场合且测量数据可靠。目前,用来采集物体表面三维坐标的测量设备和方法多种多样,其原理也各不相同。

根据测量测头是否和零件表面接触可分为接触式与非接触式两类。接触测量法以三坐标测量为典型代表。三坐标测量机的测量精度高,对环境(如:温度、湿度、防振等)要求也高。由于测量时测头在工件上要逐点测量,所以测量速度较慢。

另外还要求被测零件的材质不能太软、尺寸不宜过大且不易变形。非接触测量法以结构光法为典型代表。该测量方法一次获取物体表面的数据(点坐标)多,测量范围大,对被测量物体的材质没有要求,特别适合于面积大且易变形的覆盖件类零件的测量。

‘叁’ 图纸线轮廓度怎么测量求高手解答,可以不要基准,说的好的给分

图纸中要求测量的是线轮廓度,也就是这个件周长的一个轮廓度,首先后面要求基准ADE了, 就必须把基准评价进去,不然值是完全不一样的。线轮廓度可以用SJ5700轮廓测量仪测量,该轮廓测量仪可测量工件的半径、角度、坐标、距离、圆、圆截面。

常用的测量方法有:样板检验法 样板是量规的一种形式,有“对合”样板与“叠合”样板之分。


(3)线轮廓度计算方法扩展阅读:

无基准的线轮廓误差检测-透光法注意:尽量采用自然光或光线柔和的日光灯光源以保证光隙的清晰度。测量的准确度与接触面的粗糙度密切相关,应尽量选择表面粗糙度较小的表面进行测量。由于是凭视觉观察。

在经验不足的情况下,可通过与标准光隙比较估读误差值的大小。将轮廓样板按规定的方向放置在被测零件上,根据透过光线的强弱判断间隙大小,取最大间隙作为该零件的线轮廓度误差。

测量仪器:偏摆仪、百分表、数据采集仪。测量原理:数据采集仪会从百分表中自动读取测量数据,然后由数据采集仪软件里的计算软件自动计算出所测产品的面轮廓度误差。

最后数据采集仪会自动判断所测零件的面轮廓度误差是否在面轮廓度公差范围内,如果所测面轮廓度误差大于面轮廓度公差值,采集仪会自动发出报警功能,提醒相关操作人员该产品不合格。

‘肆’ 轮廓度的计算公式

轮廓度手动无法计算。

轮廓度是一种较难定义的几何要素,它不像一般规则几何要素那样,能用少量的参数给出精确定义,所以自由曲面加工精度的检验也变得较为复杂,主要表现在无法直接利用被测曲面本身作为测量基准,从而使测量结果中包含由于测量坐标系与设计坐标系不重合而造成的系统性误差。

(4)线轮廓度计算方法扩展阅读:

线轮廓度传统误差检测方法:

传统的表面轮廓术误差测量方法包括轮廓仪测量、剖面轮廓仪测量、光学跟踪轮廓仪测量和三坐标测量。前三种测量方法在测量前需要一个理论轮廓模板。由于理论轮廓样的制作比较困难,因此该测量方法适用于批量生产过程中对一类零件的检验。

该三维坐标测量装置不需要轮廓模板,只需要CAD数学模型(零件的三维设计图),测量方法适用于任何场合,测量数据可靠。目前,采集物体表面三维坐标的测量装置和方法多种多样,原理也各不相同。

根据探头是否与零件表面接触,可分为接触型和非接触型。接触测量方法通常用三坐标测量机表示。CMM测量精度高,对环境(如:温度、湿度、抗振动等)要求也高。由于探头是在工件上逐点测量的,所以测量速度很慢。

另外,被测零件的材料不能太软,尺寸不能太大,不能容易变形。非接触测量通常用结构光来表示。该测量方法一次获得物体表面的数据较多(点坐标),测量范围大,对被测物体的材质没有要求。特别适用于大面积易变形覆盖件的测量。

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