㈠ 什么是膜厚仪
膜厚仪也叫涂层测厚仪，厚度测试仪，涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业等。FRU
㈡ 膜层厚度非均匀性如何计算
薄膜测厚仪。
方法如下：1，打开测厚仪电源开关，设置试验模式及统计数量等参数信息。2，通过零点或者标准量块自校一下设备，截取一定尺寸的试样，将试样平铺在测试面上。3，点击试验选项，通过控制系统调节测量头降落于试样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。
㈢ x射线镀层测厚仪的使用原理有辐射吗
若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：
1.不破坏的测量下具高精密度。
2.极小的测定面积。
3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。
4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。
5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。
而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。
二.主要特点
1.无损、精确、快速测量各种电镀层的厚度.
2.电镀层可以是单层/双层/三层
3.镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量
4.有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件
5.易操作/易维护
6.准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 。
㈣ x荧光光谱仪怎么样测量膜厚
不会是买了机器不会用吧？呵呵！卖仪器的应该会教你的啊！
首先要知道被测量产品的底材、上面的覆盖层的材质是什么，覆盖层有几层，覆盖层的先后覆盖顺序是什么，然后在光谱仪器里面自带软件里面，找相应的底材跟覆盖层顺序的那一个测量软件（如果找不到，要跟卖仪器的要针对这款材质的软件），然后仪器上面校准基准片跟机器，把产品平稳放在测量平台上面，调好镜头光线（配套的电脑屏幕显示类似于放大镜能很清楚的看清产品测量点就行了），然后点击测量，多测量几个点，然后取中间值为结果！我们用的是德国菲希尔的20几万的那种，就是这样测量的！小于1um微米的测量也是有误差的！
㈤ 高手赐教：电镀铁丝的镀层厚度的测量方法和计算方法是什么渴望能说详细点。
1）膜厚仪，好一点的是X荧光测厚仪。
2）截面显微镜法，用带有刻度尺的显微镜观察铁丝的截面，能看到镀层并读出镀层厚度。
3）千分尺，比较粗糙一点的测量手段。
4）称重法，电镀前和电镀后的重量差，按照这个差值，计算。
㈥ 膜厚仪测出来的数怎么算百分比
首先你得有个基准数值，其次你得根据膜厚仪给出的误差范围公式来算，比如80um厚误差值是±(3%H+1），误差值是这么算的80*3%+1=2.4+1=3.4，那么80um厚的工件最终误差值就是+-3.4，我接触东儒（东如）的仪器是这么算的，别的牌子会不会有所差异就不清楚了。
㈦ 阳极氧化槽膜厚产生计算方式
膜厚的理论计算公式为：d=KItc
式中：
d——氧化膜厚度(μm)； I——电流密度(A/dm2)； t——氧化持续时间(min)； c——电解效率，c取0.68～0.77； K——成膜系数，K取0.25～0.36。
从公式中可看出，氧化膜厚由K、I、t这3个因素所决定。K是成膜系数，从理论上讲，K值主要取决于氧化槽液温度，当I确定后，氧化膜厚d主要由K、t来决定。
㈧ 薄膜在线测厚仪的有哪些测量原理
薄膜在线测厚仪的测量原理有4种：射线技术，X射线技术，近红外技术和光学透过率技术
2.1 射线技术
射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术，在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。
2.2 X射线技术
这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量由多种元素构成的聚合物，信号源放射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。
2.3 近红外技术
近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信 号源无放射性，设备维护难度相对较低。
2.4光学涂层技术
对于透光的材料，材料一定的情况下，透过率和测量的厚度成一一对应关系，所有通过测量材料的光学透过率（光密度）来达到测量材料厚度的目的，在卷绕式镀膜行业，如镀铝膜，各种包装膜，通过在线监测薄膜的透过率来在线监测生产的品质，已经是一种非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152真空镀膜在线测厚仪就是利用光学透过率的原理来实现非接触式的在线测厚，该仪器支持RS485通讯接口和MODBUS通讯协议，可以与镀膜机上的PLC进行通讯实现闭环控制。