1. 测试技术和表征方法有啥区别
首先是目的不同。测试技术是指一项具体的方法，其目的是把这项测试做完，得出结果；表征方法是为了得到你要的结果，可以用多种测试方法。比如要量长度，用米尺量就是测试技术，而为了说明白其长短，可以用米尺量，也可以用手比划，只要别人明白了就行，就是表征方法。表征方法可以包含多种测试技术。
再比如对一个化合物的分析，用红外可以分析基本结构，这是测试技术。但是你为什么要做红外呢？要表达其结构可以用红外、紫外、核磁、滴定等等，而要表达反应过程也可以用红外。同一种测试技术可以做不同的表征，而同一种表征可以用多种测试。明白？
2. 简述控制测量技术设计的程序和方法
一，观测顺序：
1，掌握四等水准测量观测、记录计算
2，掌握水准测量闭合差调整及求待定点高程
二，计划与设备：
1，实验数安排3实验组由4 ~ 5组
2，实验设备每组水准仪台水准尺2根尺垫2记录板1块测伞13．实验场选择条闭合水准路线间设置三坚固点A、B、C作水准点A点已知高程点假定高程10.000m 由A点发测定B、C点高程并测A点组闭合水准路线闭合差进行调整求待定点高程记录计算实验报告八每交份实验报告
三、步骤：
1，已知点A发固定点A、B、C间设置若干转点
2，每测站观测程序：
（1）视黑面尺水准器气泡居读、、丝读数
（2）前视黑面尺水准器气泡居读、、丝读数
（3）前视红面尺水准器气泡居读丝读数
（4）视红面尺水准器气泡居读丝读数3．每测站各读数按四等水准表格记录
计算校核计算要求：
（1）视线≤100m
（2）前、视距差d ≤±5m
（3）红、黑面读数差≤±3mm
（4）h黑—h红≤±5mm
（5）视距差累计值∑d ≤±10m
四、注意事项
1，每测站观测完毕要立即进行计算校核符合要求搬站否则需要重测
2，本站∑d接近10m 站要调整前、视距使减少超5m 展开@_@水准仪使用操作基本程序安置仪器,粗略整平,瞄准水准尺读数
方法与步骤：
1，水准仪的认识 DS3水准仪的外形和主要部件的名称，应了解其作用及使用方法
2，安置脚架时，应使架头大致水平，对泥土地面，应将三脚架的脚尖踩入土中，以防仪器下 沉,
3，对水泥地面，要采取防滑措施,
4，对倾斜地面，应将三脚架的一个脚安放在高处，另两只脚安置在低处,
5，对于倒像望远镜，则是从上往下数。
3. 测量技术包括检验和
测量技术是在机械加工车间工作的机械加工工人必须掌握的技术，此外还有同名图书《测量技术》。
中文名
测量技术
外文名
Measurement technology
类型
科技术语
用于
测量
快速
导航
测量分类
变换测量技术
减小不确定度
技术措施
测量介绍
测量中所采用的原理、方法和技术措施。电子测量的对象是材料、元件、器件、整机和系统的特征电磁量。这些电磁量大致包括：①基本参量，如电压、功率、频率、阻抗、衰减和相移等;②综合参量,如网络参量、信号参量、波形参量和晶体管参量等；③特殊频段的参量，如激光频率、光纤电特性、亚毫米波参量和甚低频参量等。
对于某一测量对象，一般有多种测量技术可供选择，而某一种测量技术又往往可用于不同的测量对象。用于同一测量对象，不同测量技术的效果可能大致相同，也可能大不相同。在电子测量中，对于不同参量、不同量程、不同频段以至不同传输线形式，往往要采用不同的测量技术。
测量分类
按照测量的实测对象
按照测量的实测对象，测量技术可分为以下两种。
①直接测量技术：在测量中，无需通过与被测量成函数关系的其他量的测量而直接取得被测量值。如用电压表直接测量电压。其测量不确定度主要取决于测量器具的不确定度，在一般测量中普遍采用。
测量技术图书
②间接测量技术：在测量中, 通过对与被测量成函数关系的其他量的测量而取得被测量值。如通过测量电阻R 两端的电压υ和流经电阻R的电流I，然后利用R=υ/I 的关系求得电阻值。其测量不确定度分量的数目要多一些，一般在被测量不便于直接测量时采用。
按照测量的进行方式
按照测量的进行方式，测量技术可分为以下两种。
①直接比较测量技术：在测量中，将被测量与已和其值的同一种量相比较。其测量不确定度主要取决于标准量值的不确定度和比较器的灵敏度和分辨力，它可克服由于测量装置的动态范围不够和频率响应不好所引入的非线性误差。替代法、换位法等属于这一类。
②非直接比较测量技术：不是将被测量的全值与标准量值相比较的比较测量。微差法、符合法、补偿法、谐振法、衡消法等属于这一类。
在建立计量标准的测量中，经常采用基本测量技术，即绝对测量技术。这是通过对有关的基本量的测量来确定被测量值。其测量不确定度一般是通过实验、分析和计算得出，精度高，但所需装置复杂。
按照测量对象的性质
按照测量对象的性质，测量技术可分为以下两种。
①无源参量测量技术：无源参量表征材料、元件、无源器件和无源电路的电磁特性，如阻抗、传输特性和反射特性等。它只在适当信号激励下才能显露其固有特性时进行测量。这类测量技术常称为激励与响应测量技术。由于测量时必需使用激励源，它又称为有源测量技术。
②有源参量测量技术：有源参量表征电信号的电磁特性，如电压、功率、频率和场强等。它的测量可以采用无源测量技术，即让被测的有源参量以适当方式激励一个特性已知的无源网络，通过后者的响应求得被测参量的量值，如通过回路的谐振测量信号频率。有源参量的测量也可采用有源测量技术，即把作为标准的同类有源参量与它相比较，从而求得其量值。
4. 放射性同位素分析测定技术与方法
要利用放射性同位素体系测定岩石矿物的年龄就必须获得准确的母体、子体的量。由于岩石矿物是几乎含有周期表中83 个自然产出元素的复杂体系,尽管现代分析方法技术能较为精确地分析这些元素的含量,但一方面相对于年龄测定的准确度与精确度的要求来说,含量分析给出的精确度还是非常低的,另一方面这些元素分析给出的结果无法获得有关子体同位素的准确量值。如果微量元素平行样品分析最佳精确度≤10%,在放射性同位素定年中,以埃迪卡拉-寒武纪分界 542Ma 为例,年龄测定误差在±54Ma,那么测定的地质事件可能属于寒武纪/奥陶纪边界或新元代埃迪卡拉纪。显然这种分析误差在放射性同位素定年中是不可接受的。同时自然界一些放射成因子体存在同量异位素,它们叠加在一起将造成对放射成因子体的错误定量。
对岩石矿物的放射性定年,首先须将它们完全分解。对于硅酸盐类矿物一般用氢氟酸+硝酸、硫化物与自然金属类用硝酸或王水、碳酸盐类用盐酸,在聚四氟乙烯密封溶样罐中加热分解。由于即使是优级纯的化学试剂本身也含有一定的杂质元素,为了降低这些杂质元素及其同位素对样品结果的影响,所用试剂均应亚沸蒸馏为超纯试剂。同时因为空气中也含有低浓度的金属元素,实验室的空气需进行过滤并保持较室外环境稍高的压力。所用器皿多由纯石英或聚四氟乙烯制成。完全分解后的样品溶液根据测定对象的不同,要转移到不同的离子交换树脂上将待测元素与其他元素分离开,如 Rb-Sr与其他元素的分离由阳离子交换树脂;Sm-Nd先由阳离子交换树脂与其他元素分离,而后再由涂有己基二乙基磷酸氢 (HDEHP)的聚四氟乙烯粉末柱上由盐酸淋洗将 Sm 与 Nd 分离开;Pb 由氢溴酸加载到阴离子交换树脂上,通过盐酸淋洗与其他元素分离。其他定年系统,依元素化学性质的不同而采用不同的分离方法,如 Re-Os 在 Carius 管中由盐酸、硝酸分解样品,使Os 转化为 OsO4 由蒸馏而与 Re 分离;Re 则通过萃取与阳离子交换与其他元素分离(杜安道等,2001;屈文俊等,2003)。
为了准确获得母体、子体元素含量,通过在样品中定量加入人工富集某一同位素的相应元素稀释剂后进行分离测定,这种方法称为同位素稀释法 (陈岳龙等,2005),由这种方法测得的母体、子体元素含量精确度可达千分之几,远较其他分析方法的精确度高。
此外,一些特别的同位素体系可以通过样品先在反应堆中照射,将母体中的某一同位素转换成同量异位素,从而将母体、子体的测定在一次处理中完成。如将钾在反应堆中照射后,其中的39 K 转变为39 Ar,由于在自然界中39 K、40 K 的丰度比是恒定的,测定出39 K的含量也就确定了40 K的含量。而39 Ar可与40 K 的放射成因40 Ar 子体在同一体系中完成测定。类似地还有Re-Os体系。
分离纯化后的单个元素要准确获得母体、子体元素的含量及子体中相应同位素的量就必须进行质谱分析。质谱分析就是将纯化后的单一元素加载在质谱计离子源的灯丝上,这种灯丝一般为铼带或钽带,通过增高灯丝电流使加载在其上的被分析元素发生电离形成带电粒子。这些带电粒子通过静电分析系统后到达扇形磁场中,通过磁场将不同质/荷比的粒子分离开,在信号接收端由法拉第杯或光电倍增管、电子倍增器记录不同质/荷比的离子流强度,即可得到相应同位素的量值。其原理如图6-2、式 (6-11)所示。
图6-2 扇形磁场质谱计基本结构示意图
实心圆与空心圆分别代表元素的轻、重同位素
地球化学
式中:r为质荷比为m/e的带电粒子运动半径;H为磁场强度;V为静电分析系统的电压。
质谱计一般发射出来的是正离子,通常称为热离子质谱计 (TIMS)。某些难电离为正离子的元素,如锇,形成氧化物后更容易电离为负离子。这种对负离子进行静电分析的极性与热离子质谱计相反,称为负热离子质谱计 (N-TIMS)。
离子源电离过程中,由于较轻的同位素相对于重同位素具较低的电离能,从而优先电离,造成测定过程随时间轻同位素电离越来越少、重同位素越来越多,这就是仪器测定过程中的同位素分馏效应。这种效应不校正,将会造成同位素分析中高达 1%的不可接受误差。这种分馏效应对于具有三个以上同位素,且其中两个自地球形成以来没有其他因素造成其同位素丰度发生变化的元素,可利用这两个同位素的理论值与实际测定值之间的差别进行分馏校正,称为内部分馏校正。以锶为例,在自然界有84 Sr、86 Sr、87 Sr、88 Sr 这 4 个同位素,其中87 Sr由87 Rb 的衰变而造成丰度有变化,但自地球形成以来86 Sr、88 Sr 的丰度没有其他因素使其增加或减少,因此86 Sr/88 Sr 是恒定的,国际上公认值为0.1194。将质谱测量中每次观测到的86Sr/88Sr比值与0.1194的偏差再除以相应同位素的质量差即可得到分馏因子 (F),即:
地球化学
86 Sr、88 Sr的质量差为1.996 ,获得86 Sr/88 Sr的观测值即可计算出单位质量分馏因子F ,由实测的( 87 Sr/86 Sr) obs可由式(613)计算出真实的( 87 Sr/86 Sr) true ,式中86 Sr、87 Sr的质量差Δmass=1.000。
地球化学
这种分馏校正可使87 Sr/86 Sr比值的内部分析精确度从大约1%提高到优于0.01%。这种分馏校正方式称为线性规律校正,对于一些更轻的同位素由指数分馏规律校正更为符合实际 (陈岳龙等,2005)。
对铅同位素分析或铷同位素稀释法测定无法使用内部分馏校正,这是因为铅的4 个同位素中有3 个具放射成因组分的影响,而不具固定的同位素比值;而铷只有 2 个同位素,加入稀释剂后这两个同位素的比值不同于天然体系的。在这种情况下,必须使用外部分馏校正。外部校正有两种方法,一是通过标准样品;二是通过加入双稀释剂到样品中达到间接的内部分馏校正。
由于同位素比值可以方便地校正测定过程中的同位素分馏影响,对于式 (6-10)在实际应用过程中均除以相应子体的某一稳定同位素而表示为同位素比值的关系。以 Sr 为例,可以表示为
地球化学
如果一组样品 (3 个以上)是同时形成的且具共同来源,它们形成后直到分析测定时体系始终处于封闭状态,它们在以母体/子体元素某同位素比值为横坐标、放射成因子体同位素/子体元素某同位素比值为纵坐标的图上应形成线性分布,该线性分布的斜率m (=eλt-1)即可解出这一组样品的年龄,因此称为等时线;截距即为它们共同的初始子体同位素比值。
5. 三维测量技术的方法及应用
光学主动式三维测量
目前，主动式光学三维测量测量技术已广泛用于工业检测、反求工程、生物医学、机器视觉等领域。例如，复杂的叶轮和叶片的面形检测，汽车车身的检测，人类口腔牙型测量，整形外科效果评价，用于制鞋CAD的鞋楦三维数据采集，各种实物模型的三维信息记录与仿形等。三维高速度、高精度测量技术将随着测量方法的完善和信息获取与处理技术的改进而进一步发展，在新的更加广阔的研究和应用领域中发挥重要作用。
主动式光学非接触测量技术大体上可分为飞行时间法、主动三角法、莫尔轮廓术、投影结构光法、自动聚焦法、离焦法、全息干涉测量法、相移测量法等。以下对几种主要的方法进行以下简单介绍。
3.2.1.飞行时间法
飞行时间法是基于三维面形对结构光束产生的时间调制，一般采用激光，通过测量光波的飞行时间来获得距离信息，结合附加的扫描装置使光脉冲扫描整个待测对象就可以得到三维数据。飞行时间法以对信号检测的时间分辨率来换取距离测量精度，要得到高的测量精度，测量系统必须要有极高的时间分辨率，常用于大尺度远距离的测量。
3.2.2.干涉法
干涉测量是将一束相干光通过分光系统分成测量光和参考光，利用测量光波与参考光波的相干叠加来确定两束光之间的相位差，从而获得物体表面的深度信息。这种方法测量精度高，但测量范围受到光波波长的限制，只能测量微观表面的形貌和微小位移，不适于大尺度物体的检测。
3.2.3.主动三角法
光学三角法是最常用的一种光学三维测量技术，以传统的三角测量为基础，通过待测点相对于光学基准线偏移产生的角度变化计算该点的深度信息。根据具体照明方式的不同，光学三角法可分为两大类：被动三角法和基于结构光的主动三角法。双目视觉是典型的被动三维测量技术，它的优点在于其适应性强，可以在多种条件下灵活地测量物体的立体信息，缺点是需要大量的相关匹配运算以及较为复杂的空间几何参数的校准等问题，测量精度低，计算量较大，不适于精密计量，常用于三维目标的识别、理解以及位形分析等场合，在航空领域应用较多。主动三维测量技术根据三维面形对于结构光场的调制方式不同，可分为时间调制和空间调制两大类。飞行时间法是典型的时间调制方法，激光逐点扫描法、光切法和光栅投射法是典型的空间调制方法。
3.2.4.相移测量法
相移测量法是一种重要的三维测量方法，它采用正弦光栅投影和相移技术，投影在物体上的光栅，根据物体的高度而产生变形，变形的光栅图像叫做条纹图，它包含了三维信息。
相移法是一种在时间轴上的逐点运算，不会造成全面影响，计算量少。另外，这种方法具有一定抗静态噪声的能力。缺点是不能消除条纹中高频噪声引起的误差。在传统相移系统中，精确移动光栅的需要增加了系统的复杂性。而在数字相移系统中，用软件控制精确地实现相位移动。某些应用场合不允许测量多幅图像，但只要没有以上限制，相移法仍然是首选方案。
6. 测量技术与仪器专业学什么
测控技术与仪器专业主要课程:
精密机械与仪器设计、精密机械制造工程、模拟电子技术基础、数字电子技术基础，微型计算机原理与应用、控制工程基础、信号分析与处理、精密测控与系统等。
测控技术与仪器专业主干学科：光学工程、仪器科学与技术。
测控技术与仪器专业主要实践性环节：包括军训、金工、电工、电子实习，认识实习，生产实习，社会实践，课程设计，毕业设计（论文）等。
拓展资料：
测控技术与仪器专业培养具备精密仪器设计制造以及测量与控制方面基础知识与应用能力，能在国民经济各部门从事测量与控制领域内有关技术、仪器与系统的设计制造、科技开发、应用研究、运行管理等方面的高级工程技术人才。
测控技术与仪器专业培养学生学习精密仪器的光学、机械与电子学基础理论，测量与控制理论和有关测控仪器的设计方法，受到现代测控技术和仪器应用的训练，具有本专业测控技术及仪器系统的应用及设计开发能力。
7. 技术测量与先进测量技术区别 和 质量控制的方法与手段及其意义
BC是桥面,AD是桥墩,设计大桥时工程师要求斜拉的钢绳AB等于AC，大桥建成后，工程技术人员要对大桥质量进行验收，由于桥墩AD很高，无