⑴ 稳态平板法测不良导体的导热系数装置能否测量良导体的导热系数
可以。但要加长良导体的长度，其长度至少要大于其直径，并在良导体外面包裹绝缘物。
⑵ 稳态法测良导体导热系数和测不良导体有什么不同
稳态法测量导热系数所依据的是傅立叶传热定律（λ＝Qd／ΔT），其中Q是热流密度，d是热流方向上的长度，ΔT表示对应长度上的温度差。
在理论上，傅立叶传热定律适应于所有材料，包括良导体和不良导体，但在具体测量中为了保证导热系数的测量精度，则需要针对良导体和不良导体区别对待，由此形成了不同的测量方法和测量装置。
在实际测试中，试样温度测量一般采用温度传感器，如热电偶和热电阻，而温度传感器都有一定的系统误差。因此为了保证温度测量精度，需要ΔT尽可能的大，一般ΔT在5℃～20℃范围内。对于不良导体材料来说，平板状试样就很容易在试样厚度上形成这样的温度差；而对于良导体来说，就需要增大试样长度来实现较大温差。所以，一般来说，良导体的导热系数测量一般都采用长棒状或长条状试样，热流方向在棒状试样的轴向上；而不良导体的导热系数测量则多采用平板状试样，热流方向在平板的厚度方向上。
由此可见，试样形状的不同对应着要采用不同的加热方式和加热形状使得试样上形成稳定的一维热流和温度梯度场。所有这些都决定了不同的测试手段、测试设备和测试方法。