微观测量方法

1. 测量微观距离的方法

400万+工程师在用
从微观到宏观来说说距离测量中的知识点

2. 求：QJ2507-93碳素材料微观结构参数测定方法

石墨化度的测量与计算方法-Graphite
一 实验原理
理想石墨的晶体结构为密排六方,点阵常数a=0.2461nm,c=0.6708nm,即使是天然石墨,其晶体结构中也存在很多缺陷,点阵常数与理想石墨的相比也有差别。
所谓石墨化度,即碳原子形成密排六方石墨晶体结构的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的点阵参数,石墨化度就愈高。
碳晶体的点阵参数可直接用来表征其石墨化度。富兰克林推导出人造石墨材料的晶格常数与石墨化度的关系式
g=[(0.3440-c0/2)/0.0086]×100%
其中:g为石墨化度,%;c0为六方晶系石墨c轴的点阵常数,nm。
当c0=0.6708nm时,g=100%;当c0=0.6880nm时,g=0%。
标准QJ2507-93规范了XRD测定炭素材料结构参数的方法.将由其测得的碳(002),(004)
面间距d002和d004值代入上式,可计算试样的化度g。

二 实验方法
1.样品制备
将待测样品粉末与少量标准Si粉末(一般取质量分数5%左右,如果石墨化程度高,则应多加一些硅粉,以使二者的衍射峰强度相差不多)充分混合,制作混合样品,以Si峰作为仪器误差的校准物。

2.测量
对于结晶较好的样品,建议选择石墨的(004)衍射峰和随后出现的Si峰,测量范围可选择51-57;如果样品结晶状态不好,应当选择石墨的(002)衍射峰和随后的Si衍射峰,测量范围为22-30(如果不做混合样品,也可以预先测定标准Si的衍射角度)。
如：实验参数：
22.0/30.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,200mA)
发散1/2°,接收0.15°,防散射1/2°。

3.作Kα2去除
对于结晶状态良好,石墨衍射峰可作Kα2分离的情况,可在数据预处理时对其去除,也可不去除,两种情况所用衍射波长应当不同,程序根据选择项自动处理波长的数值。实验表明,Jade的峰形拟合命令会自动扣除Kα2,因此,拟合前不必作Kα2扣除和数据平滑,也不需要扣除背景。

4.数据预处理
衍射峰测量后,打开Jade,对所测衍射峰位作拟合,保存拟合数据备用。对于衍射峰很宽的情况,主要由于样品中存在多种C轴长度的石墨晶体,因此可作多峰分离,每个分离的峰位数据都参与石墨化度的计算,最后取其平均值。

5.实例
不进行分峰的实例：

当峰形明显漫散时，可将石墨峰进行多峰分离：

上面的两个实例实际上是对同一数据进行两种不同的处理，发现，计算结果稍有不同，石墨化度相差1%，结果相差很小。这是因为这个样品的石墨化度很高，如果样品的石墨化度很低时，必须做多峰分离，否则，计算结果会出现很大的误差。

3. 在绝对贫困的测量方法中属于微观层次的方法包括

摘要 恩格尔系数法

4. 如何测量微观层次和宏观层次的交易费用

自新制度经济学的创始人科斯1937年发现和创立交易费用理论以来,交易费用的测量就成为一个亟待解决的、事关新制度经济学解释力的极为重要的理论与现实问题。正如西蒙所说:“(交易成本)被随意的用于分析,除了内省和常识外缺乏实证支持,这类做法在文献中迅速扩散,使人觉得(交易成本分析)只是权宜的做法……除非(外生参数估计和理论检验所需的实证研究)得以开展,新制度经济学及相关方法只能是人们基于信念或虔诚而做出的(选择)。”①交易费用测量是一件难度很大的工作,贝纳姆就说:“为了测定交易的机会成本而所需的机会成本可能很高。”②但是,20世纪70年代以来,在许多新制度经济学家的努力下,交易费用的测量工作还是取得了一定的进展,进展主要体现在微观和宏观两个层次的交易费用的测量上。

5. 表面粗糙度都有哪些测量方法

比较测量法：将被测表面与标准粗糙度样板作比较，评定粗糙度等级。粗糙度样板（又称粗糙度标准块），是以不同的加工方法（车、刨、平铣、立铣、磨等）制成的一组金属块。

比较法测量简便，使用于车间现场测量，常用于中等或较粗糙表面的测量。方法是将被测量表面与标有一定数值的粗糙度样板比较来确定被测表面粗糙度数值的方法。比较时可以采用的方法:Ra>1.6μm时用目测，Ra1.6~Ra0.4μm时用放大镜，Ra。

比较法

表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工，电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便，但会受到主观因素影响，常不能得出正确的表面粗糙度数值。

表面粗糙度测量是将表面粗糙度比较样块（简称样块）根据视觉和触觉与被测表面比较，判断被测表面粗糙度相当于那一数值，或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度(见激光测长技术)。

以上内容参考：网络-表面粗糙度测量

6. 化学家测相对原子质量 是怎么测算出来的 只有微观测量的方法吗

用质谱仪啊，出现峰值最高的即为相对原子质量

7. 在科学测量中，人们常常把对微观量的测量转化为对宏观量的测量，用油膜法测分子的直径就是一个典型的例子

8. 微观韧性测试方法

金属材料冲击韧性数字测量仪
本实用新型的目的是提供一种金属材料冲击韧性数字测量仪，它是由机架、摆锤、摆锤杆、主轴、数装置组或，它的特点是，在机架的下方、正对摆锤杆处安装接近开关传感器及数字运算控制装置和显示器，它的主要特征是采用金属非接触式传感器，实现数字显示冲击韧性的功能，它以可取消表盘使其结构得到简化，冲击韧性用数字显示，精度高，同时设置了通讯接口，可实现计算机管理和联网

断裂韧性测量试验机
断裂韧性对应于某一部分钢板出现裂纹,如果能够利用该级别材料在规范中规定的吸收能,通过计算得到该材料的断裂韧性,然后根据产生的裂纹大小以及外界载荷计算出此时的应力强度因子,比较后确定结构是否会发生破坏,就能对此时的船舶的安全性能进行评价。这在现实中具有重要意义。断裂韧性K_(ⅠC)高速钢的断裂韧性主要取决于基体组织的弹性，而基体组织弹性又在很大程度上受马氏体组织和其含碳量的影响.断裂过程是沿着能量降低的方向，遵循阻力最小的途径进行的。裂纹扩展的阻力由裂纹前缘金属的性能和微观的断裂机制来决定。应力状态、温度、应变速度及介质对裂纹扩展的阻力有一定影响。它们是通过对性能和断裂机制的影响来影响裂纹扩展阻力的。本节侧重研究性能（组织）的影响。
裂纹前缘金属的韧性愈好，则裂纹扩展的阻力愈大。韧性是断裂过程所需能量的参量，而这种能量取决于材料的强度和塑性，它是材料强度和塑性的综合表现。在保证一定强度的前提下提高塑性，对提高韧性和裂纹扩展的阻力具有重要的影响。

9. 请问微观的力全部都可以直接测量吗不用公式推。

直接测量是不可能的，都是用概率统计的思想来推导的，如果在我们已了解的各种微观力，计算出来与实际表现出来宏观的情况有差别，则科学家又会定义另一种微观力来解释，当它成立了则这种微观力就出现了并被人们所接受，其实所有的微观力都是这样来的

10. 很多基本粒子的质量是怎么测量的比如质子、中子、电子、中微子等等，它们的质量是怎么测量的

早期的原子量测定 用 天然 氧元素 的原子量 等于 16 作为标准。1929年，发现天然氧元素是由 16O 17O 18O 三种同位素组成，并且 16O 的不纯度很高。1960-61年，国际物理学会和化学学会采纳了德国 质谱学家 马陶赫 的建议，选择 12C 作为原子量测定的新标准。认为 12C 具有12.000个原子质量单位，原子量为12。
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原子量的早期测定方法，我不知道。但是现代的测定方法主要有以下几种：
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1） 利用核反应 的能量平衡求取
在一个核反应中，反应前后能量守恒，能量和质量之间有着爱因斯坦关系。如果反应前后的某些粒子的质量或能量已知，那么就可以根据 守恒原理 求出 某1个 未知粒子的质量。例如 不带电的中子的质量 通常就是这样求得的。
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2）利用原子发射光谱中的超精细结构测定
原子可以发射光谱，光谱对于原子 就如同 指纹对于人。每种原子都有自己的特征光谱。光谱记录呈现若干个独立的 峰。用高分辨能力的 光谱仪器观察这些峰，会发现 所谓的 峰 并非单峰，而是若干个波长很近的 峰叠加在一起而成。这若干个小峰称为光谱的超精细结构。小峰与小峰之间的波长差 决定于原子的质量。通过对小峰之间的波长差的测量，可以推算出 原子的质量。
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3）利用分子转动光谱中的同位素位移。
这种方法的原理与 2）很相似，不再具体描述。
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4）质谱法
这是当代最为流行、测量精度最高的原子量测定方法。测量精度可达 10的 -18 克。在这种方法中，利用“质谱仪”(mass spectrometer) 测量微观粒子的质量。其中的 “质”就是质量的意思。
世界上第一台质谱仪诞生于1919年。目前已经有多种不同类型的质谱仪，例如:单聚焦、双聚焦、串行、四极、飞行时间、加速器 等类型。
质谱仪的工作原理中，主要是通过对微观带电粒子在电磁场中的运动规律的测量来得到微观粒子的质量。带电粒子在电场中 受到库仑力，在磁场中受到洛仑兹力。由于力的作用，微观粒子会具有加速度，以及与加速度对应的运动轨迹。微观粒子质量不同时，加速度以及运动轨迹就会不同。通过对微观粒子运动情况的研究，可以测定微观粒子的质量。
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碳原子是中性粒子，不带电，不会在电磁场中受到作用。但是在自然界中存在着大量种类的碳氢化合物，可以通过一定的技术手段让碳以离子形式被注入到电磁场中。这样就可以测定碳离子、或者碳氢集团离子等的质量。同时它们的电荷也很容易测定，每个电子的质量也很容易测定。这样，就可以推出碳原子的质量。
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关于 阿伏加德罗常数的测定：
主要有：气体动力学法、密立根油滴实验法、布朗运动法、布拉格X射线衍射法等。这些方法都涉及很专业的知识。不再详述。