光学测量方法

1. 使用光学测微器的方法

。。。仍然用毫米，比如100份中的25个读作0.25mm。

2. 光学测距法

相位式光电测距仪的测距原理是：由光源发出的光通过调制器后，成为光强随高频信号变化的调制光。通过测量调制光在待测距离上往返传播的相位差φ来解算距离。 相位法测距相当于用“光尺”代替钢尺量距，而λ/2为光尺长度。 光电测距仪根据测定时间t的光学测距仪的工作原理

3. 请问在机测量可不可以用非接触式的光学测量方法为什么

当然可以使用了！现在好像有光学拍照测量的设备使用在机床上，但是没有真正的见识过。
不过，在机测量使用光学有个问题，就是冷却液啊，冷却油啊之类的光识别不了，容易报错，另外还有个问题是以上问题导致了测量的精度比接触式的差。所以现在很少看到光学式在机测量。不知道将来技术发展会是怎么样子。

4. 建筑光学的光学测量

以光度测量技术为基础进行各项参数的测量，主要包括光源和灯具的光度测量，采光、照明的数量和质量评价指标的定量测量，光学材料的参数测量。光度测量系统是由光电传感器、检流计、导轨和被测光源或标准光源组成。在光电传感器前配有滤光片，使传感器对各种波长的光的相对灵敏度与光谱的光视效率一致。 用一标准光源对光度测量系统的光电输出电流进行标定，并求出光电转换系数K，Φ为光电传感器所接受的光通量；Ω为光电传感器与被测光源所形成的立体角；S为光电传感器的光接受面(S面垂直被测入射光)；r为被测光源到传感器表面的距离；i 为检流计读数。根据上述原理已制成光度计、积分光度计、照度计等光度测量装置。
光电传感器经过改进，使响应时间缩短，测量范围扩大，测量精度提高。例如硅光电池可使响应时间达到纳秒量级，在8个量级的光度动态范围内，线性度可达0.05%，测量精度可达0.01%。特别是测试装置带有模数转换电路时，可把测量所得的量以数字形式输出，并可配以微型计算机，直接得出测量结果。
光源和灯具的光度测量
评价光源和灯具的光度特性的主要指标是光通量、光强分布曲线或曲面、发光效率。光通量可以用球形光度计以一次比较法直接测量，也可用分布光度计先测量光源和灯具的光强分布，再用计算方法求出光通量，进而确定光源和灯具的发光效率。球形光度计和分布光度计配用微型计算机后，可直接给出所测光源的光通量。
采光、照明评价指标和定量测量
建筑采光的数量评价指标是采光系数（见采光标准），可用测量照度的方法计算求得，也可直接用采光系数测量仪测量。
建筑照明的数量评价指标主要包括:
①平面照度。即照射到某一表面上的光通量与被照面的面积之比，可用照度计测量。②平均球面照度。指被测点为球心的“小球”面上的平均照度，可用平均球面照度计测量。③平均柱面照度。指轴线通过被测点的圆柱面上的平均照度，可用平均柱面照度计测量。
建筑采光和建筑照明的质量评价指标有：
①采光照明均匀度。指被测面上的最低采光系数或照度与该面上的平均采光系数或平均照度之比，可用照度计测量后计算得出。②被照面的亮度和亮度分布。可用亮度计测量并计算确定。③眩光。视野内的亮度分布不均匀和亮度差过大引起的眩光，常用眩光指数或限制照明器的亮度进行评价。眩光指数和照明器的亮度可通过亮度测量和计算确定。
光学材料的参数测量
一般建筑光学材料的主要参数有：反射系数、吸收系数、透光系数。常用单功能的反射系数仪或透光系数仪进行测量，也可用多功能的材料光学特性测量仪器进行测量。建筑光学材料的主要作用是控制和调整发光强度，调节室内照度、空间亮度和光、色的分布，控制眩光，改善视觉工作条件，创造良好的光环境。
古代的建筑光学材料大多是天然的，如牛角片、大理石等，后来发展使用丝绸、纸张和玻璃制品。据唐代冯贽 《云仙杂记》记载，中国唐朝纸窗已颇流行，而且已有防水窗纸。玻璃在建筑中的应用，大约有2000年历史，初期为不透明的彩色玻璃，主要用于宫殿、府邸和教堂建筑。19世纪以后，广泛应用玻璃对现代主义建筑的发展产生了深远影响。20世纪中叶，有机玻璃、聚氯乙烯、玻璃钢等在建筑中应用日益广泛。

5. 光学介质中折射率的几种测量方法

介质折射率测定的五种方法
折射率是表征介质光学性质的重要参数，因此折射率的测定成为几何光学的重要问题。介质折射率的测定具有现实意义，成为高考的重点，介质折射率测定的通常有一下五种方法。
一、成像法
原理：利用水面的反射成像和水的折射成像以及折射定律测定水的折射率
方法：如图1-1所示，在一盛满水的烧杯中，紧挨杯口竖直插一直尺，在直尺的对面观察水面，能同时看到直尺在水中的部分和露出水面部分的像，若从点P看到直尺水下最低点的刻度B的像 (折射成像)恰好跟直尺在水面上刻度A的像 (反射成像)重合，读出AC、BC的长，量出烧杯内径d，即可求出水的折射率n．
计算方法如下：光线从O点射出液面时，入射角为i，折射角为r，由光的折射定律

例1一直杆AB的一部分竖直插入装满某种透明液体的柱形容器中，眼睛从容器的边缘D斜往下看去，发现直杆A端经液面反射的像恰好与B端经液体折射形成的像重合，如图1-2所示，已知 ，该液体的折射率是 ．
解析：本实验光路图如图1-3所示，则
二、插针法
原理：光的折射定律．
方法：如图2-1所示，取一方木板，在板上画出互相垂直的两条线AB、MN，从它们的交点O处画直线OP(使 )，在直线OP上P、Q两点垂直插两枚大头针．把木板放入水中，使AB与水面相平，MN与水面垂直．在水面上观察，调整视线P的像被Q的像挡住，再在木板S、T处各插一枚大头针，使S挡住Q、P的像，丁挡住S及Q、P的像．从水中取出木板，画出直线ST，量出图中的角i、r，则水
的折射率 ．
例2用“插针法”测定透明半圆柱玻璃砖的折射率，O为玻璃截面的圆心,使入射光线跟玻璃砖的平面垂直，如图2-2所示的四个图中 是学生实验插针的结果:
(1)在这四个图中肯定把针插错了的是 ．

(2)在这四个图中可以比较准确地测出折射率的是 ．计算玻璃的争折射率的公式是 ．
解析：将 看做入射光线， 看做出射光线，由折射定律知，入射光线与界面垂直，进入玻璃砖后，传播方向不变．由作出的光路图可知A、C错误；而B中光路虽然正确，但入射角和折射角均为零度，测不出折射率，只有D能比较准确测出折射率，角度如图2-3所示，其折射率 ．

例3 如图2-4所示，等腰直角棱镜ABO的两腰长都是16cm．为了测定它的折射率，棱镜放在直角坐标系中，使两腰与Ox、Oy轴重合．从OB边的C点注视A棱，发现A棱的视位置在OA边上的D点，在C、D两点插上大头针，C点的坐标位置(0，12)，D点的坐标位置(9，0)，由此计算出棱镜的折射率为
解析：从C点注视A棱，发现A棱的视位王在OA边上的D点，说明光线AC经OB边发生折射，反向延长线过D点，由此可作出由A棱入射到C点的光路如图2-5所示，则棱镜的折射率为
三、观察法
原理：光的折射定律．
方法：取一圆筒，放在水平桌面上，如图3-1所示．从点A观察，调整视线恰好看到筒底边缘点B，慢慢向筒中注入清水至满，仍从点A观察，能看到筒底的点C，记录点C位置，量出筒高h，筒的内径d及C到筒另一边缘D的距离 ，则水的折射率 ．
例3 如图3-2所示，一储油圆桶，底面直径与桶高均为d，当桶内无油时，从某点A恰能看到桶底边缘上的某点B，当桶内油的深度等于桶高一半时，在A点沿AB方向看去，看到桶底上的C点，C、B相距 ．由此可得油的折射率n＝ ；光在油中传播的速度 ．
解析：画出光路图如图3-3，可知：
，
，

四、视深法
原理：利用视深公式
方法：在一盛水的烧杯底部放一粒绿豆，在水面上方插一根针，如图4-1所示．调节针的位置，直到针尖在水中的像与看到的绿豆重合，测出针尖距水面距离即为杯中水的视深 ，再测出水的实际深度h，则水的折射率 ．
五、全反射法
原理：全反射现象．
方法：在一盛满水的大玻璃缸下面放一发光电珠，如图5-1所示．在水面上观察，看到一圆的发光面，量出发光面直径D及水深h，则水的折射率 ．
例4 如图5-2所示，在水中深度为h的地方有一点光源，为了使光不露出水面之外，在该点源的正上方的水面上漂浮一遮盖物，设水的折射率为n，这个遮盖物的最小面积为多少?
解析：利用全反射原理，设最小面积为S，半径为r，
，
得：
例5在一次测玻璃的折射率实验中，采用了如下方法，将一块半圆形玻璃砖放在水平面上(如图5-3所示)，用一束光线垂直于玻璃砖直径平面射入圆心O，以O为转轴在水平面内缓慢转动半圆形玻璃砖，当刚转过 角时，观察者在玻璃砖平面一侧恰看不到出射光线．这样就可以知道该玻璃砖的折射率n的大小．那么，上述测定方法主要是利用了 的原理，该玻璃的折射率 .
解析：当半圆形的玻璃砖刚好转过 角时，观察者在玻璃砖平面一侧恰看不到出射光线，就说明此时恰好发生全反射．因原来入射光线与界面垂直，故当玻璃砖转过 角时，法线方向也转过 角，故此时入射角为 ， 角即为发生全反射的临界角，故有：

里面的图片我穿不上来，你要的话和我联系。

6. GB∕T 29024-2012 粒度分析 单颗粒的光学测量方法这个标准哪里可以找到

给出的标准编号不甚准确。
GB/T 29024 为一系列标准。其包括下面四个部分：
GB/T 29024.1-20XX 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第1部分：光散射气溶胶谱仪（本部分暂未发布）；
GB/T 29024.2-2016 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第2部分：液体颗粒计数器光散射法；
GB/T 29024.3-2012 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第3部分：液体颗粒计数器光阻法；
GB/T 29024.4-2017 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第4部分：洁净间光散射尘埃颗粒计数器。
以上，不知要找的是哪部分？

7. 怎样用光学平晶测量平面度

光学平晶看平面度，主要看空气干涉条纹（光圈）。

8. 现代光学元件的检测方法有哪些

现代光学元件的检测内容与方法具体有下列几个方面：
一、光学材料性能的检测:：
折射率，色散，非均匀性，应力双折射，气泡与杂质，条纹，光吸收等
二、光学元件的基本量测量：
平面（棱镜）：几何尺寸
面形，角度，平行度
透镜：几何尺寸：外径，厚度，倒边
面形，中心偏
元件表面质量：划痕,
麻点，粗糙度
元件薄膜:
厚度、均匀性、透过率、应力、形变、偏振等
三、光学系统特性参数的测量：
显微镜：放大率，数值孔径
望远镜：焦距，放大率，相
对孔径，视度
照相物镜：相对孔径，分辨率，像面照度，
杂光系数
四、光学系统参数与像质检测：
焦距与星点测量，分辨率测量，几何像差测量，波像差检验，透过率测量，像面照度测量，杂光系数测量，光学传递函数测量
五、光源和接收器、激光参量和波面质量的检测等方面也都属于光学检测范围。
另外，还有非光学量用光学测量的种种方法进行检测：位移、形变、形貌等方面也都属于光学检测范围。

9. 用投影立式光学计测量塞规属于什么测量方法，绝对测量和相对测量各有何特点

属于相对测量法。

绝对测量法特点是被测量可以直接和标准量进行比较。相对测量，一般使用专用量具，适合大批量生产、测量。测量操作简单、准确。但是，需经常校对量具。

相对测量法用该计量器具检测并获得标准信号参数A，然后通过测量被测对象获得被测对象的信号参数B，将A与B相比较可以获得被测对象的定性及定量结果，在实际测量工作中也叫比较法。

绝对测量法是关注参数绝对的值的测量方法，而相对测量法主要关注的是步进时的增量。

(9)光学测量方法扩展阅读：

绝对测量法和相对测量法的应用：

绝对测量法测量放射性活度的方法，随放射性核素的不同而不同。按测量方式可分为两大类。一类是用测量装置直接测量。

放射性核素所发生的衰变率，不必依赖于其他测量标准的比较，这类方法称为绝对测量。另一类是相对测量，即需要借助于其他测量标准来校准测量装置，再利用经过校准的测量装置来测量放射性核素的衰变率。

相对测量法是光学材料的重要指标，目前高精度的测量方法一般采用绝对测量法，而该方法步骤繁琐，容易受环境影响。