对涂层厚度的检测将有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性,但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度,在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资,并随着薄膜层数的增长而加大,给企业带来较大的经济负担。比较经济的方式是对部分价格昂贵的涂层材料进行涂层厚度的检测,同时加强对薄膜整体厚度的测试以达到有效控制其他各层材料厚度均匀性的作用。
对于薄膜厚度测量,深圳大成精密一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。大成精密光学干涉测厚仪专为透明薄膜开发的光学干涉测厚仪能够良好地实现单层或多层透明薄膜的厚度测量。精度极其高,应用甚广,尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。
B. 怎样测量薄膜厚度
可以用高精度的涂层测厚仪PD-CT2,下面垫一块铁基体,薄膜太软了不行,可以用平头有的测厚规来测,但是精度不高
C. 涂层测厚仪测量厚度方法具体有那些
涂层测厚仪是一种便携式测厚仪,能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度;可用于工程现场,也可用于实验室,通过不同探头的使用,更可满足多种测量需求,涂层测厚仪广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。涂层测厚仪它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能jing确地测量出它的厚度。F型探头可直接测量导磁材料(如铁 、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如: 油漆 、塑料 、搪瓷 、铜 、铝、锌 、铬等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层 、 铝瓦 、铜 瓦 、巴氏合金瓦 、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油 漆及水下结构件的附着物的厚度测量。NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝 缘覆盖层厚度,如铝、铜、锌、无磁不锈钢等材料表面上的油漆、塑料、橡胶涂层,也可测量铝或铝合金材料的阳极氧化层厚度。下面就为大家介绍涂层测厚仪测量厚度的5种方法:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量jing确
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。
D. 薄膜厚度测量的薄膜厚度的测量方法
随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法有很多,按照测量的方式分可以分为两类:直接测量和间接测量。直接测量指应用测量仪器,通过接触(或光接触)直接感应出薄膜的厚度,常见的直接法测量有:螺旋测微法、精密轮廓扫描法(台阶法)、扫描电子显微法(SEM);间接测量指根据一定对应的物理关系,将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度,从而达到测量薄膜厚度的目的。常见的间接法测量有:称量法、电容法、电阻法、等厚干涉法、变角干涉法、椭圆偏振法。按照测量的原理可分为三类:称量法、电学法、光学法。常见的称量法有:天平法、石英法、原子数测定法;常见的电学法有:电阻法、电容法、涡流法;常见的光学方法有:等厚干涉法、变角干涉法、光吸收法、椭圆偏振法。