A. 平面度误差的测量方法有几种
平面度误差的测量方法都是比较多,在测量的时候只不过多次的记住就完成了。
B. 平面控制测量的方法有哪些
平面控制测量的主要方法有三角测量、导线测量和卫星定位测量。
三角测量是用精密仪器观测三角锁(网)中所有三角形的内角,并精确测定起始边的边长和方位角,然后根据三角公式解算出各点的坐标。
为了限制误差的碰枯铅累积和传播,保证测图和施工的精度及速度,测量工作必须遵循“从整体到局部,先控制后碎部”的原则。即先进行整个测区的控制测量,再进行碎部测量。控制测量的实质就是测量控制点的平面位置和笑好高程。测定控制点的平面位置工作,称为平面控制测量;测定控制点的高程工作,称为高程控制测量。
C. 平面度与翘曲度的测量方法是什么区别点是什么
Core9038a平面度检查仪是一款根据光学自准直原理设计的仪器,它可以精确地测量机床或仪器导轨的直线度误差,在加热的状态下测量PCB翘曲度和PCB平面度,利用光学直角器和带磁性座的反射镜等附件。
一、指代不同
1、平面度:平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。
2、翘曲度:表述平面在空间中的弯曲程度,在数值上被定义为翘曲平面在高度方向上距离最远的两点间的距离。
二、测量方法不同
1、平面度:
(1)平晶干涉法:用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。
(2)打表测量法:打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。
(3)液平面法:液平面法是用液平面作为测量基准面,液平面由 “连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量。
2、翘曲度:
采用注塑CAE进行设计质量预测,对翘曲变形模拟结果的评价一般直接用最大翘曲变形量来进行,有时也将总平均翘曲变形量。但对于不同材料、模具结构等造成翘曲变形的影响模式改变的因素,不同设计下各部分的翘曲变形严重程度也随之改变。
平面度评定方法:
平面度误差的评定方法有:三远点法、对角线法、最小二乘法和最小区域法等四种。
1、三远点法:是以通过实际被测表面上相距最远的三点所组成的平面作为评定基准面,以平行于此基准面,且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。
2、对角线法:是以通过实际被测表面上的一条对角线,且平行于另一条对角线所作的评定基准面,以平行于此基准面且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。
3、最小二乘法:是以实际被测表面的最小二乘平面作为评定基准面,以平行于最小二乘平面,且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。最小二乘平面是使实际被测表面上各点与该平面的距离的平方和为最小的平面。此法计算较为复杂,一般均需计算机处理。
4、最小区域法:是以包容实际被测表面的最小包容区域的宽度作为平面度误差值,是符合平面度误差定义的评定方法。
D. 平面度怎样测量
平面度测量的常用方法有如下几种:
1、平晶干涉法:用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面,如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。
平面是由直线组成的,因此直线度测量中直尺法、光学准直法、光学自准直法、重力法等也适用于测量平面度误差。测量平面度时,先测出若干截面的直线度。
再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。
2、打表测量法:打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法:三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面。
实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高;对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量,测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。
3、液平面法:液平面法是用液平面作为测量基准面,液平面由 “连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量。此法主要用于测量大平面的平面度误差。
4、光束平面法:光束平面法是采用准值望远镜和瞄准靶镜进行测量,选择实际表面上相距最远的三个点形成的光束平面作为平面度误差的测量基准面。
5、激光平面度测量仪:激光平面度测量仪用于测量大型平面的平面度误差平面度测量现场。
6、利用数据采集仪连接百分表测量平面度误差的方法。
测量仪器:偏摆仪、百分表、数据采集仪。
测量原理:数据采集仪可从百分表中实时读取数据,并进行平面度误差的计算与分析,平面度误差计算工式已嵌入我们的数据采集仪软件中,完全不需要人工去计算繁琐的数据,可以大大提高测量的准确率。
(4)平面测量度的方法扩展阅读:
平面度与公差原则关系 :
两大公差原则 :独立原则和包容原则
一、独立原则:尺寸公差与形状公差之间是独立的
二、包容原则:尺寸公差与形状公差之间是有关联的
平面度误差的评定方法有:三远点法、对角线法、最小二乘法和最小区域法等四种。
1、三远点法:是以通过实际被测表面上相距最远的三点所组成的平面作为评定基准面,以平行于此基准面,且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。
2、对角线法:是以通过实际被测表面上的一条对角线,且平行于另一条对角线所作的评定基准面,以平行于此基准面且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。
3、最小二乘法:是以实际被测表面的最小二乘平面作为评定基准面,以平行于最小二乘平面,且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。最小二乘平面是使实际被测表面上各点与该平面的距离的平方和为最小的平面。此法计算较为复杂,一般均需计算机处理。
4、最小区域法:是以包容实际被测表面的最小包容区域的宽度作为平面度误差值,是符合平面度误差定义的评定方法。
E. 平面度怎样测量
1.平台测量:适用于面积较大的平面.就是找三个最远的基准点,将其找平,再对平面地各个点进行测量.最大的差值即为平面度误差.
2.刀口尺测量:适用于小平面测量.
F. 用高度规测量平面度跟平行度步骤
平面度一般用打表测量法,以下是方法:
打表测量法:打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。
打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法:三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面,实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高;对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。
然后用测微计进行测量,测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。
操作注意事项
1、以探针去碰触工件时应尽可能与工件的被测量面保持垂直的方向。正确有效的使用探针来碰触量测工件,可以避免掉许多量测上不必要的误差的产生。但是在实际碰触取点时,至少需保持与垂直面角度在±30°以内。以防止探针打滑而造成量测的重复精度不佳的情况产生。再借助系统的探针补偿来实现数据的准确性。
2、注意探针的有效长度,以避免因长度不够而造成测量上的很大的误差。
(6)平面测量度的方法扩展阅读:
用千分尺测出他的高低值,就是他的平行度,这是最简单的一种。
还有一种就是把基准面放在平板上,用表来测量另一面的值也可以。
高度尺的示意图:
1.主尺;2.紧固螺钉;3.尺框;4.基座;5.量爪;6.游标;7.微动装置。
高度尺(如图所示),用于测量零件的高度和精密划线。
具体测量方法:
(一)它的结构特点是用质量较大的基座1代替固定量爪5,而动的尺框3则通过横臂装有测量高度和划线用的量爪,量爪的测量面上镶有硬质合金,提高量爪使用寿命。
(二)高度尺的测量工作,应在平台上进行。当量爪的测量面与基座的底平面位于同一平面时,如在同一平台平面上,主尺1与游标6的零线相互对准。
(三)所以在测量高度时,量爪测量面的高度,就是被测量零件的高度尺寸,它的具体数值,与游标卡尺(整数部分)和游标(小数部分)上读出。应用高度尺划线时,调好划线高度,用紧固螺钉2把尺框锁紧后,也应在平台上进行先调整再进行划线。
G. 平面度测量方法
首先要在确定被测工件的表面及测量界限的基础上,按照一定提取方案对测面进行点的提取。
在力合精密自主研发的Super DMlS几何精密测量软件中设置测量点数并生成三坐标测量平面的路径,得到提取表面,对提取表面采用最小区域法进行拟合计算。
完成上述测量步骤后,输入待测平面特征名称、下公差、上公差和公差理论值,并创建平面度的公差名称和计算平面度误差,进行平面度评估。
Super DMlS测量软件拥有出色的公差计算功能,并且能实现图形直观化输出报告,助您全面掌握工件平面度的形状误差,确保产品外观达到制造质量要求。
H. 平面度测量方法
平面度测量方法如下:
1、大多数使用塞尺进行测量,塞尺测量是通过塞尺塞满整个工件边缘,从而得出数据进行测量,这种方法弊端很大,因为塞尺无法塞到工件中间位置,导致中间部位数据测量不到,而且塞尺测量容易刮花损坏工件,尤其是玻璃工件,更容易刮花。
2、影像测量仪测量,影像测量仪测量,是通过自动光学对焦扫描测量,影像测量仪虽然能达到所需的测量结果,但是效率慢,汽车刹车片、缸盖、玻璃盖板、刹车片手机钢化膜等,在工厂都是大规模生产,全部都是全检,测量速度要求高。
3、接触式探针测量,接触式探针测量是通过探针直接接触到工件上进行量测,探针测量方法精密度要比影像仪测量更加精确,但是探针测量效率比较慢,而且探针测量一些软性材料的工件或者易刮花的工件容易导致工件容易形变,探针测量准确度很高,但测量效率不是特别快。
4、激光测量仪测量,激光测量仪,采用非接触式激光取点测量,不会顺坏工件,效率快,激光测量分为两种,单激光测量仪和三激光测量仪,单激光测量仪是一个激光头进行激光取点测量,测量准,效率快;而三激光测量仪则是在速度上更进一步提升。
如果测量需要速度很快,则推荐使用三激光测量,三个激光头测量取点,保证了测量速率,激光头还可以根据需要继续增加。
I. 平面度测量方法
平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。平面度测量是指被测实际表面对其理想平面的变动量。
测量方法:
1、塞尺测量法。塞尺主要用于间隙间距的测量,指芦对平面度的测量只能进行粗测。塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的污垢与灰尘。使用时可用一片或数片重叠插入间隙,以稍感拖滞为宜。测量时动作要轻,不允许硬插。由于其精度不高,检测效率较低,结果不够全面,只能检测零件边缘。
2、液平面法。液平面法是用液平面作为测量基准面,液平搏逗段面由 “连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量。基于连通器工作原理,适合测量连续或不连续的大平面的平面度,但测量时间长,且对温度敏感,仅适用于测量精度较低的平面。
3、打表测量基誉法。打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。