平面近场的测量方法

‘壹’ 建筑场地平面控制测量的方法有哪几种各适用什么场合

控制网分为平面控制网和高程控制网。1、平面控制网一般采用导线测量，按地理条件和也知点的位置又可以分飞符合导线和闭合导线。2、高程控制网一般用水准测量就能满足。

‘贰’ 平面度测量方法

平面度测量的常用方法：平晶干涉法、打表测量法、液平面法、光束平面法、激光平面度测量仪。

‘叁’ 确定平面点位的常用测量方法有哪些

三角测量，三边测量，导线测量，前方交会，后方交会，全站仪自由设站测坐标，GPS定位，惯性导航系统定位。

1、收集控制点资料，对控制点进行复测或检核，如不能满足放样要求，要进行补设或加密控制点。

2、对放样数据进行内业计算，做好放样资料数据准备。根据要放样的精度及点的密度，选择放样测量方式，如使用全站仪、水准仪还是RTK，或者钢尺等。

3、现场测量放样、钉桩。施工放样把设计图纸上工程建筑物的平面位置和高程，用一定的测量仪器和方法测设到实地上去的测量工作称为施工放样（也称施工放线）。

(3)平面近场的测量方法扩展阅读：

平面位置和高程均通过对每个特征点的放样实现。特征点的放样通常采用极坐标法，也可用直角坐标法和交会法，高程放样则常用水准测量方法。

当待放样点同附近控制点的高差较大（如放样高层建筑某层或井下某点的高程）时，常用长钢尺代替水准尺测设高程，或用电磁波测距三角高程测量方法；放样竖直轴线可用吊锤、光学投点仪或激光铅垂仪等。

提高效率：除使用经纬仪、水准仪、全站仪、GPS外，还可以选择使用激光指向仪、激光铅垂仪、激光经纬仪、激光水准仪等，以提高放样速度和精度。

‘肆’ 平面度测量方法

平面度测量方法如下：

1、大多数使用塞尺进行测量，塞尺测量是通过塞尺塞满整个工件边缘，从而得出数据进行测量，这种方法弊端很大，因为塞尺无法塞到工件中间位置，导致中间部位数据测量不到，而且塞尺测量容易刮花损坏工件，尤其是玻璃工件，更容易刮花。

2、影像测量仪测量，影像测量仪测量，是通过自动光学对焦扫描测量，影像测量仪虽然能达到所需的测量结果，但是效率慢，汽车刹车片、缸盖、玻璃盖板、刹车片手机钢化膜等，在工厂都是大规模生产，全部都是全检，测量速度要求高。

3、接触式探针测量，接触式探针测量是通过探针直接接触到工件上进行量测，探针测量方法精密度要比影像仪测量更加精确，但是探针测量效率比较慢，而且探针测量一些软性材料的工件或者易刮花的工件容易导致工件容易形变，探针测量准确度很高，但测量效率不是特别快。

4、激光测量仪测量，激光测量仪，采用非接触式激光取点测量，不会顺坏工件，效率快，激光测量分为两种，单激光测量仪和三激光测量仪，单激光测量仪是一个激光头进行激光取点测量，测量准，效率快；而三激光测量仪则是在速度上更进一步提升。

如果测量需要速度很快，则推荐使用三激光测量，三个激光头测量取点，保证了测量速率，激光头还可以根据需要继续增加。

‘伍’ 天线参量测量的近场测量

对于射电天文、雷达设备等应用的大口径天线，测量时很难满足所需的最小距离。如天线口径 100米，工作波长10厘米，测试距 ，这样大的测试场地事实上是无法办到的。还由于地球表面曲率的影响,为使电磁波不为球形地球表面所遮挡,收发天线的高度也将达到不现实的程度。对这样的大天线，其参量的测量通常有两种方法，即利用射电星的测量技术和近场测量技术。
射电星测量技术就是利用辐射稳定的射电星作为发射源，被测天线用于接收。这样就可保证收发间距离远大于最小测试距离。
近场测量技术是在天线附近（距天线表面仅几个焦距的距离范围内）测量远区的天线参量。近场测量技术包括缩距法、聚焦法和外推解析法。
①缩距法：利用特定的信号发射天线，使收发天线之间的距离减少后，仍能保证发射天线在接收天线口径处产生如同远距离时一样的平面波。一般的发射天线在其附近产生的是球面波。为把球面波校正为平面波，可用附加的透镜或抛物面反射器等。
②聚焦法：调整被测天线，使如抛物面反射器天线、透镜天线、相控阵天线等有聚焦特性的天线，原来对无穷远处的聚焦改变为聚焦于近场区（几个焦距或几十个波长的距离内），然后在焦区测取其方向图。使天线聚焦于近场区的方法是：对抛物面反射器天线可把馈源从焦点沿轴外移一小段距离；对透镜天线可把馈源安装在一个焦距到两个焦距的范围内；对相控阵天线则可通过适当调整其移相器而达到。
③外推解析法：先测得天线口径上的场分布或天线导体表面上的电流分布，然后用解析的方法算出远区场分布，即天线的远区方向图。

‘陆’ 平面度测量方法

平面度测量方法如下：

1、大部分都是用塞尺测量。塞尺用于填充整个工件边缘，以获得测量数据。这种方法弊端很大，因为塞尺塞不进工件中间，导致中间部分的数据测不出来。而且塞尺容易刮伤工件，尤其是玻璃工件，更容易刮伤。

平整度是指基板的宏观凹凸高度与理想平面的偏差。平面度测量是指被测实际表面与其理想平面的偏差。