金属厚度测量方法

Ⅰ 金属材料表面氧化膜厚度怎么测最精确

金相法：
采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。

库仑法：
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法：
适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。
测试原理
金相法：
利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。

镀层厚度测试库仑法：
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。

镀层厚度测试X-ray 方法：
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

镀层厚度测试金相法：
利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。

镀层厚度测试库仑法：
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。

镀层厚度测试X-ray 方法：
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

Ⅱ 测厚仪使用方法是什么

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

Ⅲ 厚度测量可以使用哪些仪器

1.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
2.薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
3.涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
4.激光测厚仪：利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
5.X射线测厚仪：主要应用行业于有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
6.超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
对于薄膜厚度测量，深圳大成精密一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。其产品精度极其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。

Ⅳ 如何利用电涡流传感器测量金属板厚度

低频透射式涡流厚度传感器
在被测金属板的上方设有发射传感器线圈L1,在被测金属板下方设有接收传感器线圈L2.当在L1上加低频电压U1时,L1上产生交变磁通φ1,若两线圈间无金属板,则交变磁通直接耦合至L2中,L2产生感应电压U2.如果将被测金属板放入两线圈之间,则L1线圈产生的磁场将导致在金属板中产生电涡流, 并将贯穿金属板,此时磁场能量受到损耗,使到达L2的磁通将减弱为φ1′,从而使L2产生的感应电压U2下降.金属板越厚, 涡流损失就越大,电压U2就越小.因此,可根据U2电压的大小得知被测金属板的厚度.透射式涡流厚度传感器的检测范围可达1～100 mm, 分辨率为0.1 μm,线性度为1%.
高频反射式涡流厚度传感器
为了克服板材不够平整或运行过程中上下波动的影响,在板材的上、下两侧对称地设置了两个特性完全相同的涡流传感器S1和S2.S1和S2与被测带材表面之间的距离分别为x1和x2.若板材厚度不变,则被测板材上、下表面之间的距离总有x1+x2=常数的关系存在.两传感器的输出电压之和为2Uo,数值不变.如果被测带材厚度改变量为Δδ,则两传感器与板材之间的距离也改变一个Δδ,两传感器输出电压此时为2Uo±ΔU.ΔU经放大器放大后,通过指示仪表即可指示出板材的厚度变化值. 板材厚度给定值与偏差指示值的代数和就是被测板材的厚度.
注：引用了海_梦想 “电涡流传感器的测厚原理是什么?”中的答案.

Ⅳ 如何利用电涡流传感器测量金属板厚度

简单说，电涡流位移传感器用来测位移的，如果需要测厚度，需要上下各安装一个探头，且正好相对。需要事先用标准厚度量块标定两个探头之间的距离。注意标准量块和被测材料要一致。测量厚度对被测板材的足校厚度也有要求，一般厚度不小于0.2mm，就可以测厚度了。

三招教你如何选择电涡流位移传感器

电涡流位移传感器以其广泛的环境适应性，超高的检测频率和精度，被广泛应用于机械加工，汽车制造，精密仪器，焊接机械以及科研教学等领域。

电涡流测量原理是一种非接触式测量原理。这种类型的传感器特别适合测量快速的位移变化，且无需在被测物体上施加外力。而非接触测量对于被测表面不允许接触的情况，或者需要传感器有超长寿命的应用领用意义重大。

严格来讲，电涡流测量原理应该属于一种电感式测量原理。电涡流效应源自振荡电路的能量。而电涡流需要在可导电的材料内才可以形成。给传感器探头内线圈提供一个交变电流，可以在传感器线圈周围形成一个磁场。如果将一个导体放入这个磁场，根据法拉第电磁感应定律，导体内会激发出电涡流。根据楞兹定律，电涡流的磁场方向与线圈磁场正好相反，而这将改变探头内线圈的阻抗值。而这个阻抗值的变化与线圈到被测物体之间的距离直接相关。传感器探头连接到控制器后，控制器可以从传感器探头内获得电压值的变化量，并以此为依据，计算出对应的距离值。电涡流测量原理可以运用于所有导电材料。由于电涡流可以穿透绝缘体，即使表面覆盖有绝缘体的金属材料，也可以作为电涡流传感器的被测物体。独特的圈式绕组设计在实现传感器外形极致紧凑的同时，可以满足其运转于高温测量环境的要求。

那么如何选择合适的电涡流位移传感器呢？我们建议大家注意一下三点：

1）注意被测物材料，通常电涡流位移传感器仅能用于测量金属类被测物。对于非金属的被测物，从一开始就不要考虑使用电涡流位移传感器了。金属被测物中，又可以分为铁磁性和非铁磁性被测材料。目前国际上的主流电涡流位移传感器品牌，如德国米铱和美国kaman，都会要求客户在选用电涡流位移传感器时，预先告知被测物材料。如果属于特殊材料，如某种不锈钢，其磁特性可能介于铁磁性和非铁磁性材料之间，就需要预先对传感器进行一对一出厂校准。对于没有在出厂时与被测材料进行一对一校准的电涡流位移传感器系统，如果希望达到很高精度，也可以要求厂家在现场做校准，但是通常达不到出厂校准的精度水平。

2）参数选择，很多厂家都提供多个级别的电涡流位移传感器供客户选择。常用于选择电涡流位移传感器的指标包括传感器的精度，该参数也有其他称呼，如线性度、绝对误差等。指的是传感器的测量值偏离理论真实值的偏差程度。这个参数直接反应测得准不准。第二个就是分辨率，这个参数指传感器做出示数变化所需要的最小位移变化量，通常分辨率参数值要小于精度。第三个是测量速度，以德国米铱eddyNCDT3300为例，其测量速度可以达到100kHz, 测量速度直接决定测量是否可以跟得上被测物的变化速度，能否完整反应位移变化的全过程。对测量速度要求高的场合常见于振动测量。当然除此以外，还有很多参数可以决定传感器的性能，包括能够承受的压力和温度指标，能够承受的振动和冲击指标等等。为什么要选择合适的指标呢？因为越高的技术参数一定意味着制造工艺的复杂和难度提升，也必然价格昂贵。所以各位制定测量要求时，一定不要凭空想象，提一个超高的测量要求。我见过有的传感器使用单位，动辄要几个微米，甚至纳米级别的测量精度，测量速度还超高，问其真的有必要提这么高的要求吗？回答却往往是不必要，或者要求高余量大。但是大家要记住，没有无代价的指标提升，每一个高指标背后都是真金白银的付出。

3）品牌的选择，在诸多测量原理的位移传感器中，电涡流位移传感器市场最为混乱，品牌最为参差不齐。甚至有商家明明只是代理国外某个品牌，却声称自己是原厂生产，等出了问题以后，由于前期技术方案已经定型，就只能硬着头皮采用，而这样又往往会带来后续更大的问题。辨别一个品牌是否为原厂产品，除了常见的原厂证明外（这个也可以假冒），最直接就是看其中文网址，国外品牌通常会把自己品牌名称作为网址，如果你看到某个牌子的网址是中文加英文的混合体，就不太可能是正规厂家了。另外正规进口品牌的中文网址，一定可以在其国外母公司网页中找到，找不到的一定不是子公司。品牌的选择特别关键，因为理论上讲，电涡流位移传感器结构并不复杂，国内的小厂也能做出来，但是精度和重复性与大牌子比较起来，就有天壤之别了。除此以外，使用寿命，温度漂移等，也会大大影响客户的使用效果。我见过有的使用厂家，为了几百块差价，从进口品牌换成国内品牌，结果过去3年都不会坏一个的传感器，一年内坏了4次，算下来更贵不算，还大大影响了使用环节，生产线停一次，可不是几百块的成本节省可以补偿的。

以上是我凭借个人经验，总结出的一些选择电涡流位移传感器的办法，希望对大家在众多品牌中能够选择出合适的产品，既省钱又能达到测量要求。

Ⅵ 测量金属薄板的厚度

螺旋测微器的固定刻度为5mm，可动刻度为4.5×0.01mm=0.045mm，所以最终读数为5mm+0.045mm=5.045mm=0.5045cm．
游标卡尺的主尺读数为：5cm=50mm，游标尺上第3个刻度和主尺上某一刻度对齐，所以游标读数为3×0.05mm=0.15mm，所以最终读数为：50mm+0.15mm=50.15mm．
故答案为：0.5045； 50.15

Ⅶ 金属薄膜厚度怎么测量操作难吗

对金属薄膜厚度进行测量，大家要选对设备，才能达到事半功倍的效果。深圳大成精密研发、制造有功能强大的测厚仪，包括激光测厚仪、红外测厚仪、光学干涉测厚仪以及离线式激光测厚仪等。除了借助测厚仪，大家也可使用该品牌的X射线面密度仪，测量金属薄膜的面密度、厚度一致性。通过以上设备，帮助厂家简单操作、高效完成金属薄膜厚度测量。

Ⅷ 请问，一般来说，电镀金属层的厚度有几种测量的方法，具体是如何测量的万分感谢！！

采用游标卡尺进行测量，
首先先测量带电镀层的金属层的厚度，其次用工具去掉金属层再次测量．两次测量值进行处理，想必你也会吧，
具体使用游标卡尺的方法参考其他网站．

Ⅸ 镀层厚度测量有哪几种方法，各自具备哪些优缺点

1.
镀层测厚仪磁性测厚法:适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。
2.
镀层测厚仪涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
3.
镀层测厚仪电解测厚法:不属于无损检测,需要破坏涂镀层,精度较低,测量起来比较麻烦。
4.
镀层测厚仪放射测厚法:该测试方法测试仪器价格非常昂贵,测试过程复杂,适用于一些特殊场合。
5.
镀层测厚仪超声波测厚法:该测试仪器数量少,价格昂贵,测量精度不高。世界上拥有的国家为数不多,适用多层涂镀层厚度的测量场合