1. 我想知道有什么办法能测出电子产品的电压 电流 就比方汽车大灯在不知道的情况下我要怎么测电压
一是根据电子电器产品元器件的标称判断,如:汽车前照灯拆下灯泡可看到标称电压和功率;
二是直接试验,目前汽车标称电系有两种12V与24V,先用12V试验正常工作为12V额定电压,否则,用24V试验正常工作为24V额定电压;否则是,非汽车用电器或已损坏。
常用万用电表直接测量的方法,测得该车载电器的电压、电流。
三是经验判断,如:测量电阻的大小粗略的判断;早期还有用划火的方法火花的大小来判断;由于不准确,现在基本不用了。
2. 电子产品防水检测用什么设备和方法检测精准啊
电子产品防水检测可以使用防水测试机设备或者气密性检测仪来做,根据产品有无透气孔来采用合适的方法,对于有透气孔的产品做防水测试,一般是采用负压法也就是抽真空方法来检查产品是否有泄漏;对于没有透气孔的产品,一般是配套做一个密封上下密闭内腔工装治具,将产品放入,再通过对密闭内腔采用正压法来检查产品是否有泄漏。
防水测试机与气密性检测设备
3. 电子产品质量检验都检测些什么呀还有具体用些什么方法,用什么仪器
1、外观:标识、表面是否锈蚀、开裂、变形。
2、技术性能:耐压 用耐压测试仪;绝缘电阻 用绝缘电阻测试仪或兆欧表;波形 用示波器;电流/电压等用万用表即可;
3、环境试验验:电磁兼容、振动、冲击、高低温、湿热、温升等需在专门检验机构做。
根据需要不同所需方法也不太一样,需要根据产品类别,按照国家标准,没有国家标准按企业标准检测,具体方法由质量技术监督管理局制定,或者3C认证的一些检测中心。
通常电子产品需要的检测设备有:示波器,万用表,推拉力计,扭力计,安规仪器,电桥等。
(3)电子产品测量方法扩展阅读:
电子产品质量的环境条件:
电子产品在储存、运输和使用过程中,经常受到周围环境的各种有害影响,如影响电子产品的工作性能、使用可靠性和寿命等。
影响电子产品的环境因素有:温度、湿度、大气压力、太阳辐射、雨、风、冰雪、灰尘和沙尘、盐雾、腐蚀性气体、霉菌、昆虫及其他有害动物、振动、冲击、地震、碰撞、离心加速度、声振、摇摆、电磁干扰及雷电等。
气候环境条件:
温度(℃):-80、-65、-55、-40、-25、-15、-5、+5、+15、+20、+25、+30、+40、+55、+60、+70、+85、+100、+125、+155、+200;
温度变化速率 (℃/分):0.1、0.5、1、3、5,温度变化速率(℃/秒):1、5;
相对湿度(%):10、50、75、90
压力(毫巴):300000、50000、10000、5000、2000、1300、1060、840、700、530、300、200;
压力变化速率(毫巴/秒):1、10;
周围介质(水、空气等)与产品的相对移动速度(米/秒):0.5、1、3、5、10、30、50;
降雨(毫米/秒):0.3、1、2、3、6、15。
生物环境条件:包括霉菌、昆虫和动物等。
1、霉菌:对电子产品危害最大的菌种有黄曲霉、黑曲霉、土曲霉、出芽茁霉、宛氏拟青霉、绳状青霉、赭色青霉、光孢短柄帚霉、绿色木霉、杂曲霉、球毛壳霉等。这些霉菌最适宜的发芽温度为20~30℃,相应的相对湿度为80%~90%。
2、昆虫:对电子产品危害最大的昆虫有白蚁、蠹虫、木蜂、蟑螂等,在热带地区尤为严重。
3、动物:对电子产品危害最大的动物有鼠、蛇、鸟等,在热带地区尤为严重。
机械活性物质环境条件:在热沙漠区、砂质海滨区、和干旱内陆区都会发生吹砂现象。在通常情况下,砂粒直径为 0.01~0.1毫米,在砂质荒漠区砂粒平均直径为0.18~0.30毫米。吹尘主要发生在工业烟灰区和干旱风区。
灰尘的平均直径在0.0001~0.01毫米间,在多灰尘的极端情况下,浓度可达6×10-9克/厘米3。吹砂和吹尘现象多数出现在气温高、相对湿度小的天气条件下。通常用的试验严酷度等级为:
砂 (克/厘米3):0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10;
尘(毫克/米2·时):1、3、10、30。
化学活性物质环境条件:
1、盐雾:空气中悬浮的氯化物液体微粒称为盐雾。盐雾可随风从海上深入到沿海30~50公里处。在船只和海岛上的沉降量每天可达 5毫升/厘米2以上。试验常用的严酷度等级(毫升/厘米2·时)为:1、3、5、10。
2、臭氧:臭氧对电子产品有危害作用,其常用的试验严酷度等级(毫克/米3)为:0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10、30。
3、二氧化硫,硫化氢,氨、氮和氧化物:在化学工业部门,包括矿井、化肥、医药、橡胶等的生产场所,空气中含有许多腐蚀性气体,其主要成分是二氧化硫,硫化氢、氨、氮的氧化物等。这些物质在潮湿的条件下可形成酸性、碱性气体,损坏各类电子产品。
试验常用的严酷度等级 (毫克/米3)为0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10、30、100、300。
机械环境条件:
1、跌落:电子产品在使用、运输过程中都会因不慎而跌落。通常试验用的严酷度等级(米)为0.025、0.050、0.1、0.25、0.5、10、2.5、5.0、10.0。
2、摇摆:电子产品在装船使用和运输过程中,要承受船只的摇摆运动。通常试验用的严酷度等级(度/6秒)为±5、±10、±25、45。
3、恒加速度:电子产品在使用和运输中会经受恒加速度力。通常用的试验严酷度等级(米/秒2)为:20、50、100、200、500、1000。
4、振动:实际的振动条件比较复杂,可能是简单的正弦振动,也可能是复杂的随机振动,甚至可能是正弦振动叠加随机振动。
5、冲击和碰撞:电子产品在运输和使用过程中常会因冲撞而受损。
6、噪声:在织布车间、大型汽轮发电机车间、船舶主机舱等高噪声场所,噪声可达90~100分贝。喷气发动机工作和火箭发射时,噪声可达140~160分贝。常用的试验严酷度等级(分贝)为140、160。
电气环境条件:
1、雷电:湿热带地区雷暴频繁,如印尼爪哇的茂物市年雷暴日(即出现闻雷声或雷雨现象的天数)达 322天。雷电产生的雷电脉冲波形如图。图中T1、T2时间确定的原则是:与明线连接的电子设备,宜用T1=4微秒,T2=300微秒的波形进行试验;
与电缆连接的电子设备,宜用T1=10微秒,T2=700微秒;与钢轨或类似传导体连接的电子设备,宜用T1=10微秒,T2=200微秒;模拟对直击雷产生的反击宜用T1=1.2微秒,T2=50微秒。试验时,常用的电压等级(千伏)为:1.5、4、5、6.5。
2、电气设备的电磁场和机动车辆点火系统产生的电磁场,在距干扰源10米处测得40~1000兆赫频率范围为40分贝(微伏/米)。带电机的电器产生的干扰电压在 0.15~30兆赫范围为66分贝(微伏);在30~300兆赫范围为55分贝(微伏)。
当电机功率加大时,干扰电压也将随之增大。高频设备产生的电磁场,在距干扰源 100米处测得的0.15~1000兆赫范围的场强为34~54分贝(微伏/米)。
4. 怎么测量电容的大小值
准备工具:被测电容一个、万用表一个。
1、将万用表打到标有F的电容挡上。
(4)电子产品测量方法扩展阅读:
两个相互靠近的导体,中间夹一层不导电的绝缘介质,就构成了电容器。当电容器的两个极板之间加上电压时,电容器就会储存电荷。电容器的电容量在数值上等于一个导电极板上的电荷量与两个极板之间的电压之比。电容器的电容量的基本单位是法拉(F)。在电路图中通常用字母C表示电容元件。
电容器在调谐、旁路、耦合、滤波等电路中起着重要的作用。晶体管收音机的调谐电路要用到它,彩色电视机的耦合电路、旁路电路等也要用到它。
随着电子信息技术的日新月异,数码电子产品的更新换代速度越来越快,以平板电视(LCD和PDP)、笔记本电脑、数码相机等产品为主的消费类电子产品产销量持续增长,带动了电容器产业增长。
5. 瓷片电容的测量方法有哪些
瓷片电容已随着各类电子产品走进人们的生活中,在选型中,遇到测量问题,该如何处理呢一般瓷片电容的测量方法:将万用表置于R*10档,用两表笔分别接触电容器引脚,测得电阻一般在几百千欧至几千千欧;若测得电阻很小甚至为零,说明电容内部已短路
当测量中发现万用表的指针无法达到无穷大的位置时,指针所指的阻值就是该瓷片电容器的漏电电阻
指针距离阻值无穷大的位置越远,说明瓷片电容器漏电越严重
有的电容器在测其漏电电阻时,指针退回无穷大的位置,然后又慢慢的向顺时针方向摆动,摆动的越多说明陶瓷电容的漏电流越严重
瓷片电容的断路测量
瓷片电容的容量范围很宽,用万用表判断电容器的断路情况时,首先要看电容量的大小
对于0.019UF以下的小容量电容器,用万用表不能准确判断其是否断路,只能用其他仪表进行鉴别
对于0.01UF以上的瓷片电容,用万用表测量时,必须根据瓷片电容容量大小,选择合适的量程进行测量,才能正确的给以判断
如测量300UF以上的陶瓷电容,可以选R*10档或者R*1档;如要测10~300UF陶瓷电容时可选用R*100档;如要测0.4710UF的电容可选用R*1K档
按照上述方法选好量程后,便可将万用表的两表笔分别接陶瓷电容的两引脚
测量时,如指针不动,可将两表笔对调后再测,如指针不动,说明瓷片电容断路
用万用表的欧姆档测量瓷片电容的短路
用万用表的两表笔分别接电容器的两引脚,如果指针所指示的阻值很小或者接近为零,而且指针不再退回无穷大的位置,说明瓷片电容已经被击穿短路
需要注意的是在测量容量较大的电容器时,要根据电容量的大小,依照上述介绍的量程选择方法来选择适合的量程,否则可能会把瓷片电容的充电误认为击穿
选择瓷片电容时,产品质量好坏直接关系我们的生活品质及生活安全
请选择原厂正品出产,品质有保证并可安全使用
6. 电子产品高压测试方法及相应的测试电压是多少
测试方法
高压通常是应用的在横跨被测试绝缘材料的二个部件之间, 譬如测试设备(EUT)的一次侧电路(Primary Circuit)和金属外壳。 如果绝缘材料在两个部件之间是足够的, 那么加在两个由绝缘体分离的导体之间的大电压只能产生非常小的电流流过绝缘体。 虽然这个小电流是可接受的, 但是空气绝缘或固体绝缘不应该发生击穿。因此,,需要注意这个电流是因为局部放电或击穿的结果, 而不是由于电容联结引起的。
另外一个例子是对介于电源的一次(Primary)和二次(Secondary)电路之间的绝缘材料进行测试。 这时所有输出短接在一起。 耐压测试仪的接地探针与短接在一起的输出相连, 同时高压探针与L 和N连接(L和N短接) (参见图1) 。在hipot 测试期间EUT 不工作。 必须注意, 在进行型式测试期间, 理想的情况是先加低于规定的电压的1/2, 然后逐渐上升,并且在10 秒中达到规定电压,并且维护1 分钟。 然而,大多数测试仪器, 直接输出规定电压或使用一个电子控制线路来实现电压的爬升。
7. 电子产品的导电性能怎么测试
摘要 测量一个产品的导电性能,测量电阻就可以啦。电阻决定了产品的导电性能是否良好。测量电阻的工具也很简单,万用表就可以。
8. 测量二、三极管的方法
普通二极管的检测 (包括检波二极管、整流二极管、阻尼二极管、开关二极管、续流二极管)是由一个PN结构成的半导体器件,具有单向导电特性。通过用万用表检测其正、反向电阻值,可以判别出二极管的电极,还可估测出二极管是否损坏。
1.极性的判别 将万用表置于R×100档或R×1k档,两表笔分别接二极管的两个电极,测出一个结果后,对调两表笔,再测出一个结果。两次测量的结果中,有一次测量出的阻值较大(为反向电阻),一次测量出的阻值较小(为正向电阻)。在阻值较小的一次测量中,黑表笔接的是二极管的正极,红表笔接的是二极管的负极。
2.单负导电性能的检测及好坏的判断 通常,锗材料二极管的正向电阻值为1kΩ左右,反向电阻值为300左右。硅材料二极管的电阻值为5 kΩ左右,反向电阻值为∞(无穷大)。正向电阻越小越好,反向电阻越大越好。正、反向电阻值相差越悬殊,说明二极管的单向导电特性越好。
若测得二极管的正、反向电阻值均接近0或阻值较小,则说明该二极管内部已击穿短路或漏电损坏。若测得二极管的正、反向电阻值均为无穷大,则说明该二极管已开路损坏。
3.反向击穿电压的检测 二极管反向击穿电压(耐压值)可以用晶体管直流参数测试表测量。其方法是:测量二极管时,应将测试表的“NPN/PNP”选择键设置为NPN状态,再将被测二极管的正极接测试表的“C”插孔内,负极插入测试表的“e”插孔,然后按下“V(BR)”键,测试表即可指示出二极管的反向击穿电压值。
三极管:以数字表为例:任意假设一脚是B极,将万用表调到通断档(有二极管标志,能鸣响),红表笔接B极,黑表笔分别另两脚,能测通示值400-700时则所假设的B极正确,且此三极管是NPN的,反之,黑表接B极能通则是PNP管
9. 电子产品一般要做哪些测试
1、低温试验
按GB/T2423.1—89《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法低温试验》;
GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法温度变化试验方法》
进行低温试验及温度变化试验。
温度范围:-70℃~10℃。
2、高温试验
按GB/T2423.2—89《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法高温试验》;
GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法温度变化试验方法》
进行高温试验及温度变化试验。
温度范围:10℃~210℃。
3、湿热试验
按GB/T2423.3—93《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法恒定湿热试验》;
GB/T2423.4—93《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法交变湿热试验》
进行恒定湿热试验及交变湿热试验。
湿度范围:30%RH~100%RH。
4、霉菌试验
按GB/T2423.16—90《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法长霉试验》进行霉菌试验。
5、盐雾试验
按GB/T2423.17—93《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法盐雾试验》进行盐雾试验。
6、低气压试验
按GB/T2423.21—92《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法低气压试验》;
GB/T2423.25—92《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法低温/低气压试验》;
GB/T2423.26—92《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法高温/低气压试验》;
进行低气压试验,高、低温/低气压试验。范围:70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振动试验
按GB/T2423.10—95《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法振动试验》进行振动试验。
频率范围(机械振动台):5~60Hz(定频振动5~80Hz),最大位移振幅3.5mm(满载)。频率范围(电磁振动台):5~3000Hz,最大位移25mmP-P。
8、冲击试验
按GB/T2423.5—95《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法冲击试验》进行冲击试验。冲击加速度范围:(50~1500)m/s2。
9、碰撞试验
按GB/T2423.6—95《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法碰撞试验》进行碰撞试验。
10、跌落试验
按GB/T2423.7—95《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法倾跌与翻到试验》;
GB/T2423.8—95《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法自由跌落试验》进行跌落试验。
(9)电子产品测量方法扩展阅读
同一种产品,在不同的阶段,测试条件也不一样;一般而言,产品会经过研发、小批量试产、批量生产三个不同的阶段。
1、研发阶段,测试条件最严(应力最大)、测试延续的时候最短;
2、小批量试产阶段,测试应力适中、测试时间适中;
3、批量生产阶段,测试应力最小、测试时间较短。