荧光线测量仪使用方法

❶ 澄明度检测仪操作流程是什么

1.目的
建立YB-Ⅱ型澄明度检测仪使用、维护保养标注操作规程。规范对YB-Ⅱ型度检测仪表的使用。
2.适用范围
使用于YB-Ⅱ型澄明度检测仪的使用和维护保养的操作。
3.责任者
仪器操作人员和仪器管理人员。
4.内容
4.1规格及技术参数
电源：AC220v±10%，50HZ。
灯管：22W.
照度范围：1000-4000LX。
时限范围：1-79S任意设定。
仪器重量：约12.5KG。
外形尺寸：703mm×175mm×513mm。
4.2使用方法
4.2.1将检测白板正向放入灯箱内，保护电器箱内电器元件。
4.2.2启动电源开关，此时荧光灯亮。
4.2.3启动照度开关，此时照度显示为数字“00”表示照度0×100LX.
4.2.4将仪器配备的照度传感器插头插入面板孔，掀开光电池保护盖，将其放在平行与伞栅边缘，检品检验位置，测定照度，同时旋转仪器上部的照度调节旋钮至所需照度为止。照度调好后，拔下插头，关闭照度开关。
4.2.5.根据所测要求，用仪器面板上的拔盘开关，设定所需检测的时间。
4.2.6.在检测样平的同时，按动计时微触开关，提示灯每秒闪烁一次，而且开始与终止有声响报警。
4.2.7.测试完毕后，关上总电源开关，拔掉电源插头。
4.3注意事项
该仪器使用前一定要检查电源插座的地线是否可靠接地，检品盘内若有药水应及时清除，以防流入电源箱内造成其他事故。
打开电源后，如若灯管不亮首先检查保险管和电源，调节仪器灯管旋钮时禁止旋转360度最大只能旋转180度，以防止灯管接触不良

❷ 现场X荧光测量方法

随着X荧光仪器、设备及工作方法的不断改进和完善，野外X荧光测量已经成为一种在现场快速评价及查证异常的有效方法。表4-5列出了部分化学元素在各类岩石中的平均含量及野外X荧光测量的分析检出限，对于大多数元素，检出限值已经低于其丰度值。因而，应用X荧光测量，可以在野外测定单个元素含量或测定某一个地球化学元素组的元素总量来解决找矿问题，也可以仅仅测量某能量范围的X射线照射量率来圈定地球化学偏高的场，从而研究含矿构造、含矿有利层位等。总之，该方法已经受到地质工作者，尤其是地球化学工作者的重视，正在成为他们的一种有力的工具。

表4-5 部分化学元素的丰度值及野外X荧光测量的分析检出限

*右列数据为存在干扰元素时的检出限。 (据周蓉生等，1994)

(一)野外仪器

野外仪器是一种便携式的，表4-6列出了几种市面上可购的仪器以及它们的性能指标。

表4-6 几种便携式X荧光仪的型号和性能指标

续表

(二)野外工作方法

X荧光测量结果，可以用两种方式表示：单位时间的X射线计数率及目标元素含量。为求取含量，一般采用相对测量法。即用相同的仪器先测一组标样，获得工作曲线，如图4-12所示。它是待测元素含量与相应特征X射线照射量率(或特散比值)之间的关系曲线。在野外现场获得特征X射线强度后，即可从工作曲线上查出相应的元素含量。为避免基体效应的影响，标准样品应具有与待测样品相同或相近的物质成分。基本程序为：

图4-12 工作曲线示意图

1.测区基本地质情况的了解

在进行野外现场X射线荧光分析工作之前，首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解(包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等)。在此基础上，再根据地质学基础理论知识，并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑，来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。

2.仪器工作性能检查和工作状态的调节

仪器工作性能检查有：三性检查、仪器稳定性检查；它需要每天工作开始和工作结束都应进行，并在工作中亦应注意检查，一旦发现仪器性能有重大变化，要及时检查原因，排除故障，并重新制作标准曲线。一般根据测量条件，选择已知含量的单元素或岩矿露头作为检查标准。

工作状态调查包括测量时间、测量元素的能量、测量元素的道址确定。因为荧光仪工作性能的好坏，将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前，必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常；并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作(完成各种目标元素微分谱的测量，并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等)。

3.工作区测网的布置

与其他物化探方法一样，X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点，一般都要求加密测网。按常用的计算方法，以成图比例尺分母的1/100(单位：m)为线距的基础上再加密一倍。例如作1：10000的测量，一般线距为100m，而X射线荧光方法取线距为50m。点距在外围找矿时取5m，异常点加密到1m。详查工作取线距5～10m，点距0.2～0.5m。在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时，常采用加密测量，取点距5～10cm。必要时作多线测量，取线距10cm。类似于刻槽取样。

具体的测网密度布置，在不同的地质找矿、地质勘探阶段，在不同地区，不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或在其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。

4.工作曲线的建立

刻槽取样时，标准曲线的建立是在原生露头上选择有矿化的地段，该地段的岩性对于该矿区具有代表性；选平均含量不同的5～10处，长度一般50～200cm，在每段上进行精确的X射线荧光剖面测量，求全长测点的平均荧光强度，然后按测线长度进行刻槽取样，取样深度1～1.5cm，进行化学分析，确定待测目标元素含量，作为工作曲线。

块状样品时，选择有代表性的块状矿石样品，含量从低到高，10块左右，有近似的测量平面，有足够的饱和厚度。对其进行待测目标元素特征X射线强度的精确测量，再对矿石进行化学分析，同样可以建立目标元素荧光与含量关系的标准曲线。

一般情况下一个矿区，矿石类型区别不大，建立一条标准曲线即可。如果出现不同类型，应当另外建立标准曲线，保证曲线与测量对象岩性和基体成分相一致。

5.测点上X射线荧光的测量工作

为了保证测量数据的可靠性，所选测点应具有一定的代表性，在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外，还应进行一定精度要求的现场X荧光测量。这种X射线荧光测量方法有两种：一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量，但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理，使测点表面是新鲜的和较为平整的，以保证整个测量过程中探测器、激发源和样品之间距离的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具，采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后，将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。

6.测量数据的整理和相应图件的编制

为了保证测量数据的精确度和准确度，减少统计误差带来的影响，必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差，保证数据的可信度，提高地质异常解释评价的质量。

根据不同的工作目的，X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件，如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等。

(三)影响因素及修正

1.矿化不均匀

无论是原生矿床或是次生矿床，矿石和脉石之间是不可能呈均匀分布，矿化不均匀总是存在的，也是一种随机过程。在岩矿露头沿一条测线逐点进行待测目标元素含量测量，探测器所放置的位置，对于每个测点来讲可能正好在矿石上，完全是随机的，一条测线的平均含量，对于整个矿床来讲，也是随机量，所以测线平均含量，应当服从统计规律。整个矿床只要测线按一定的格式均匀布置，每条测线上的测点按照一定点距进行测量，矿化不均匀影响可以降低到最小。

2.岩石矿表面不平度

岩矿石表面高低不平对含量测量影响明显，下列方法可克服不平度影响(葛良全等，1997)：

(a)以元素特征X射线强度与散射强度的比值代替特征X射线强度计算含量，散射射线能量尽可能靠近特征荧光能量。

(b)采用最佳激发源与样品之间的距离。

(c)在探测器照射立体角内应尽量平整，即在测量前对测线上的岩矿石适当修理平整。

(d)测点距不要太大，有利于减小不平度的影响。

3.湿度

岩矿石受潮，主要孔隙中充水，会使吸收系数和散射系数增大，造成的影响基本呈线性变化。一般讲，只要测量岩矿石的湿度与标准样品相接近，湿度影响可以忽略不计，但其对低能量影响明显。

❸ 荧光分光光度计使用求助

一般仪器软件支持十几小时时间扫描是不多，如果厂家不能提供你就只有自己想办法了。如果你动手能力强，可以把仪器检测到的萤光信号提出来（把信号线引出来，测电压值），自己编一个小软件，可以在EXCEL上连续显示数据，就可以完成你的实验了。应该不是太难的

❹ 测量仪器怎么使用方法

工具：电池，测量仪。

1、首先在测试之前，要在测量仪器里安装电池。

❺ 怎么使用atp生物荧光检测仪，有人懂吗

ATP生物荧光检测仪操作使用方法，供大家参考：
1、开机预热，30秒后即进入工作状态；
2、将一体化试剂采样棉签棒从超净管中拔出准备采样；
3、对被测物进行采样；
4、采样完后放进超净管中旋紧密封；
5、按压一体化试剂棒顶部使密封腔内试剂自动流入超净管中与棉签棒上标本发生ATP反应；
6、按压仪器顶部橙黄色按钮使试剂舱盖自动弹开；
7、将正在发生反应的一体化试剂插入仪器试剂舱接受检测；
8、经过十几秒检测时间仪器完成标本检测，自动显示、存储、传输ATP检测结果。

❻ 红外线水平仪的使用方法

一：首先打开 开关 ，(开关是在侧面)激光水平仪三线还是五线的。水平仪上应该有一个自动校正系统(上面有水珠校正，水珠在圈子里就可以了。)不平的话它会自动发出声音的，水平之后就没有声音了。

四：为避免由于水平仪零位不准引起的测量误差，因此在使用前必须对水平仪的零位进行校对或调整。

拓展资料：

使用注意事项：

一、测量前，应认真清洗测量面并擦干，检查测量表面是否有划伤、锈蚀、毛刺等缺陷。

二、检查零位是否正确。如不准，对可调式水平仪应进行调整，调整方法如下：将激光水平仪放在平板上，读出气泡管的刻度，这时在平板的平面同一位置上，再将激光水平仪左右反转180°，然后读出气泡管的刻度。若读数相同，则激光水平仪的底面和气泡管平行，若读数不一致，则使用备用的调整针，插入调整孔后，进行上下调整。

❼ 跪求 FMS -2 荧光仪 使用方法

荧光仪
利用调制荧光技术把作用光信号与荧光信号区分开，在测定时，给植物材料施加一个脉冲调制光束，该脉冲光使植物叶片产生一个脉冲的荧光信号，当有自然光存在时，
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荧光仪
利用调制荧光技术把作用光信号与荧光信号区分开，在测定时，给植物材料施加一个脉冲调制光束，该脉冲光使植物叶片产生一个脉冲的荧光信号，当有自然光存在时，X55/FMS-2的滤光系统只允许三种形式的光信号到达检测器。1. 具有荧光波长的自然光；2. 由自然光诱导出的非脉冲荧光信号；3. 由脉冲调制光束诱导出的脉冲荧光信号。

脉冲荧光信号的大小可以反映出叶片生理状况，所以由脉冲调制光束诱导出的脉冲荧光信号便用来作为光系统II光能利用效率大小的探针。FMS2屏弃前两种光信号，通过对第三种光信号的分析和处理可以得到Fo, Fm, Fs, Fo', Fm', Fv/Fm,ΦPSⅡ, qP, qNP, NPQ, ETR, PAR, TL荧光参数，并可以准确记录叶绿素荧光诱导动力学曲线。

该系统具有温度补偿式电子系统，可更换充电电池供电，整合式光源，配有光量子探头及温度探头整合式叶夹，可与计算机联用也可脱机单独使用，随带的强功能软件可使用户随意设置系统的调制光、光化光、脉冲光，并按用户设定的顺序测定各种所需荧光参数。用户也可以根据各种实验要求，自编六种不同的程序下载到仪器中，并可将仪器带到田间，只须简单按下“RUN”键，便可进行各种荧光参数的测定。可以与英国Hansatech公司生产的各种氧电极及PP-Systems公司生产的CIRAS-2便携式光合仪联用，同时测定温度、光照及CO2控制条件下的光合及荧光。

主要技术指标：

● 体积：18×10×10cm，重量：1.7 Kg。

● 594 nm 的调制光束，4种可调频率。

● 0-3,000μmol·m-2·s-1(50个可调梯度)可调光化光。

● 0-20,000μmol·m-2·s-1 (99个可调梯度) 可调脉冲光。

● 730 nm.用于激发PSI的远红光。

● 样品采集速率: 每秒10 - 20,000 次,由用户设置确定。

● 强功能WINDOWS软件。

● 光合有效辐射测定范围：PAR 0-2000μmol·m-2·s-1

● 叶温测定范围： -10 –90 度。

● 内存 256Kb。

X55/FMS-2脉冲调制式荧光仪基本配置：

1. 箱子 1个

2. 背包 1个

3. 主机 1台

4. 光缆 1根

5. 光量子/温度探头叶夹 1套

6. 暗适应夹 10个

7. 开放式光纤适配器 1个

8. 密闭式光纤适配器 1个

9. 传输线 1根

10. 充电电池 5块

11. 充电器 1个

12. 充电器电源 1个

13. 操作手册 1本

14. 软件 2盘

❽ 红外线测温枪如何使用

只要把“枪口”对准待测物体，“枪尾”的显示屏里就能用数字直接报告那个物体的温度。

原理：在自然界中，一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布 —— 与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。

光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。

该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内置的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。

(8)荧光线测量仪使用方法扩展阅读：

物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。

因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。

影响发射率的主要因素：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。

当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。