Ⅰ 測站校核常用的方法是
測站校核常用的方法是:雙面尺法
水準測量的測站校核方法一般有雙儀器法雙面尺法改變儀高法。准測量,最備稿後附合到另外一個已知高程的水準點BM2上,其檢核條件為:
水準測量方法:鉛搏在進行連續水準測量時仿激孝,如果任何一測站的後視讀數或前視讀數有錯誤,都將影響所測高差的正確性。在每一測站的水準測量中,為了能及時發現觀測中的錯誤,通常採用兩次儀器高法或雙面尺法進行觀測,以檢核高差測量中可能發生的錯誤,這種檢核稱測站檢核。
兩次儀器高法在每一測站上用兩次不同儀器高度的水平視線(改變儀器高度應在250px以上)來測定相鄰兩點間的高差;如果兩次高差觀測值不相等,對圖根水準測量,其差的絕對值應小於5mm,否則應重測。
Ⅱ 水準測量的校核方法
1.掌握水準測量的原理。
2.掌握水準儀、水準尺的結構及用法。
3.學會高差測量及高程計算的方法,掌握水準路線測量的方法。
4.學會水準儀的檢驗與校正方法。
教學重點:1、水準測量原理
2、路線校核
3、水準儀的檢驗與校正方法
教學難點:1、路線校核
2、水準儀的檢驗與校正方法
教學資料:測量學教材、教學課件。
教學方法:講授法、演示法。
講授新課:
第二章 水準測量
高程是確定地面點位置的一個要素,水準測量是測定地面點高程的主要方法之一。
第一節 水準測量原理
一、水準測量原理
水準測量的原理是藉助水準儀提供的水平視線,配合水準尺測定地面上兩點間的高差,然後根據已知點的高程來推求未知點的高程。
如右圖所示,已知A點高程為HA,要測出B點高程HB,在A、B兩點間安置一架能提供水平視線的儀器—水準儀,並在A、B兩點各豎立水準尺,利用水平視線分別讀出A點尺子上的讀數α及B點尺子上的讀數b,則A、B兩點間的高差為
HAB= a-b (2—1)
如果測量是由A→B的方向前進,則A點稱為後視點,B點稱為前視點,a及b分別為後視讀數和前視讀數,兩點間的高差就等於後視讀數減去前視讀數。如果B點高於A點,則高差為正,反之,高差為負。
二、計算高程的方法
(一)由高差計算高程
B點(未知點)的高程等於A點(已知點)的高程加上兩點間的高差,即
HB=HA+HAB=HA+(a-b) (2—2)
(二)由視線高程計算高程
由圖可知,A點高程加後視讀數等於儀器視線的高程,設視線高程為Hi,即Hi=HA+a
則B點高程等於視線高程減去前視讀數,即
HB=Hi-b=(HA+a)-b (2—3)
(備註:利用課件採取啟發式教學手段,調動同學分析問題、解決問題的能力)
第二節水準儀和水準尺
Ⅲ 在水準測量中如何進行計算校核,測站校核和路線校核
水準測量的計算校核、測站校核和路線校核分別如下:
計算校核:
待定點B的高程是根據A點和沿線各測站所測的高差計算出來的。為了確保觀測高差正確無誤,須對各測站的觀測高差進行檢核,這種檢核稱為測站檢核。常用的檢核方法有兩次儀器高法和雙面尺法兩種。
(1)兩次儀器高法:兩次儀器高法是在同一測站上用兩次不同的儀器高度,兩次測定高差。即測得第一次高差後,改變儀器高度約10cm以上,再次測定高差。若兩次測得的高差之差未超過6mm,則取其平均值作為該測站的觀測高差。否則需重測。
(2)雙面尺法:雙面尺法是在一測站上,儀器高度不變,分別用雙面水準尺的黑面和紅面兩次測定高差。若兩次測得高差之差未超過6mm,則取其平均值作為該測站的高差。否則需要重測。
測站校核:
雖然每一測站都進行了檢核,但一條水準路線是否有錯還是沒有保證。例如,在前、隱檔後視某一轉點時,水準尺未放在同一點上,利用該轉點計算的相鄰兩站的高差雖然精度符合要求,但這一條水準路線卻含有錯誤。
路線校核:
雖然每一測站都進行了檢核,灶察亂但一條水準路線是否有錯還是沒有保證。例如,在前、後視某一轉點時,水準尺未放沒孝在同一點上,利用該轉點計算的相鄰兩站的高差雖然精度符合要求,但這一條水準路線卻含有錯誤。
Ⅳ 施工測量中常用的測量校核方法有哪三種
一、水準路線有幾種,校核時有所不同:在閉合水準路線中,起始點和終止點都是同一個點,將各段高差求和,與理論值0進行比較。在附合水準路線總,用終點高程和起點高程之間的差值作為高差理論值,將高程求和,求誤差。支水準路線用往返來測量的方法,比較往返測量的高差絕對值進行檢核。
二、優缺點:閉合路線對於起自始點的精度過於依賴,一旦點位變動,無法發現;附合水準路線因為需要兩個水準點,其精度可靠性好,控制點有問題時容易發現;支水準路線可靠性和精度稍差,如果不往返測量,就很難確定精度,往返測量時,與閉合水準路線類似。
三、校核時,高差測量值的限差有兩種方法計算:其一是根據測站數進行計算,比如±12√n,其二是根據路線長度進行計算,比如±12√L。
前者缺點是:如果每站視距較小,則n多,限差偏大,適合坡度大的地方和山地進行測量。後者適合多種情況。
四、每站測量的方法有兩種:兩次儀器高法和雙面尺法。各有優缺點,前者測量時間長,後者更快速;前者適合於單面尺,後者適合紅黑尺和基輔分劃尺。