sem電鏡樣品常用的固定方法

1. 電子顯微鏡樣品如何制備

投射電子顯微鏡的觀察樣品的主要制備方法有：

1、投影法

在真空條件下，用電子散射能力強的重金屬原子來噴鍍樣品表面，這樣在樣品和沒有噴鍍的區域形成了較強的反差，而沒有噴鍍的部分成了樣品的投影，根據投影我們可以了解樣品的立體形狀、高度，通常用這種方法來觀察細菌的鞭毛或病毒的顆粒。

2、負染法

因為這種方法是將樣品的背景染色以突顯樣品，所以稱為負染。一般是用電子密度高，本身不會顯示任何結構，又和樣品不起反應的物質，例如磷鎢酸的鈉鹽將樣品包圍，同時染色劑還會投入觀察對象的內部，這樣，既能顯示外形，又可在一定程度上反應樣品的內部結構。用這種方法可以觀察細菌細胞、病毒等。

3、超薄切片法

這是最常用的方法，因為可以觀察細胞或其它樣品內部的細微結構。通常是要按照一定程序對樣品進行固定，脫水，然後包埋在樹脂中作為支持物，用超薄切片機切成極薄的切片。因為只有在20～100納米厚度的切片用投射電子顯微鏡才能觀察，所以一般細菌樣品，一個細胞要分割成10片到50片。

選擇電子顯微鏡首先看掃描電子顯微鏡廠商是不是有齊全的證書；其次要看看掃描電子顯微鏡廠商的合同；再其次要了解掃描電子顯微鏡廠商的服務；另外則要看掃描電子顯微鏡技術參數。

除了掃描電子顯微鏡廠商的選擇之外，在購買相應的掃描電子顯微鏡的時候還需要考慮到掃描電子顯微鏡的性能和技術指標，是否能夠滿足我們日常分析的需求，在購買的時候還需要考慮到各項技術參數，這樣才會滿足我們的檢測分析使用。

徠卡顯微系統為生物、醫療和工業樣品的制備提供全面的產品組合。專注於工作流程解決方案，提供的產品完全匹配用戶在TEM、SEM和AFM研究對中精確樣品制備的所有需求。

2. 透射電鏡樣品制備方法是什麼

透射電鏡試樣制備：

一、實驗內容及目的：了解透射電鏡對試樣的要求，熟悉透射電鏡試樣的制備過程，制備一個合格的透射 電鏡試樣。

二、薄膜樣品的制備：用於透射電鏡下觀察的試樣厚度要求在50-200nm 之間，對於不導電的陶瓷材料和脆性材料，最終減薄可採用離子減薄法。

該法是用離子束在樣品的兩側以一定的傾角（5-30）轟擊樣品，使之減薄。由於陶瓷樣品硬度高，耐腐蝕，因此，離子減薄的時間長。對於要求較高的金屬薄膜樣品，在雙噴後再進行一次離子減薄，效果會更好。

預減薄

預減薄的目的在於使圓片的中心區域進一步減薄，以確保最終在圓片的中心部位穿孔(其邊緣附近區域可供觀察)，預減薄通常採用專用的機械研磨機，使中心區域減薄至約10μm厚，藉助於微處理器控制的精密研磨有時可以獲得使電子束透明的厚度(<1μm)．有時也用化學方法進行預減薄。

以上內容參考：網路-樣品制備