x射線衍射儀使用方法

❶ X射線衍射的一般實驗過程

1．樣品制備
對於粉末樣品,通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右,即過320目（約40mm）的篩子,還要求試樣無擇優取向.因此,通常應用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨後使用.
對於塊狀樣品應切割出合適的大小,即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸,另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑.
2．充填試樣
將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中,使粉末試樣在凹槽里均勻分布,並用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多餘粉末颳去,然後重新將樣品壓平實,使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上.
塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中,要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊.
3．樣品測試
（1）開機前的准備和檢查
將制備好的試樣插入衍射儀樣品台,蓋上頂蓋關閉防護罩；開啟水龍頭,使冷卻水流通；檢查X光管窗口應關閉,管電流管電壓表指示應在最小位置；接通總電源,打開穩壓電源.
（2）開機操作
開啟衍射儀總電源,啟動循環水泵；等待幾分鍾後,打開計算機X射線衍射儀應用軟體,設置管電壓、管電流至需要值,設置合適的衍射條件及參數,開始樣品測試.
（3）停機操作
測量完畢,系統自動保存測試數據,關閉X射線衍射儀應用軟體；取出試樣；15分鍾後關閉循環水泵,關閉水源；關閉衍射儀總電源及線路總電源.
4．物相檢索
根據測試獲得的待分析試樣的衍射數據,包括衍射曲線和d值（或2q值）、相對強度、衍射峰寬等數據,利用MDI Jade軟體在計算機上進行PDF卡片的自動檢索,並判定唯一準確的PDF卡片.

❷ X射線衍射儀的應用

油田錄井
Olympus攜帶型X 射線衍射儀BTX可能直接分析出岩石的礦物組成及相對含量，並形成了定性、定量的岩性識別方法，為錄井隨鑽岩性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的「指紋」，不同的物質具有不同的X 射線衍射特徵峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數目、位置等)，結構參數不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要採集的是地層中各種礦物的相對含量，並系統採集各種礦物的標准圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白雲石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定岩石岩性，為現場岩性定名提供定量化的參考依據，提高特殊鑽井條件下岩性識別准確度。

❸ X射線衍射儀的工作原理 X射線衍射儀的工作原理介紹

1、x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上，成功的測定了NaCl，KCl等晶體結構，還提出了作為晶體衍射基礎的著名公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。

2、對於晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對於非晶體材料，由於其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。

3、X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。

❹ X射線的衍射方法有

X射線衍射的方法

X射線衍射的方法有很多。
按使用的樣品可分為：單晶法和多晶粉末法；
按記錄檢測方法可分有：照相法和衍射譜儀（計算器）法。

最基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。

1、平板照相法（平面底片法）
2、園筒底片法（又叫回轉照相法或旋晶法）
（1）、回轉照相法
（2）、魏森堡（Weissenberg）照相法
（3）、多晶粉末德拜-謝樂照相法
（4）、多晶粉末衍射儀法
（5）、其它X射線衍射儀
a、計算機自動控制的四圓單晶衍射儀
b、轉靶X射線衍射儀
c、面探測器X射線衍射儀
d、同步輻射衍射分析

❺ X射線衍射法測厚度

樓主，
X射線衍射法，對樣品測試收費要遠高於紅外光譜的。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達cm^(-1)量級。在紅外光譜范圍內，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm.由於入射到膜的內外層表面的反射光達到一定相位差時會引起干涉，通過薄膜兩個表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個波峰-波谷之多，分布在一定的波長范圍內；根據測定結果，利用公式計算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應用於實際樣品的無損測定,結果滿意。
如果你仍然要用X射線衍射法測量薄膜的厚度，可以在X射線衍射儀上，使用Cu的Kα的X射線，在樣品架上第一次不放樣品，測得透射光強（因為沒有樣品，這個光強實際是入射光強）I0；保持一切實驗條件不變，第二次安放薄膜樣品在樣品架上，測得透射光強是I.已經證明：X射線透射吸收（衰減）程度（dI)與入射X射線透射強度I和樣品物質厚度（dy）成正比，則有微分方程：
dI=-μIdy,解之，得：
I=I0e^(-μy).
I0是樣厚y=0時的光強即入射光強。這就是X射線吸收定理。μ稱為吸收系數（或衰減系數）。X射線透射1cm厚物質的吸收（衰減）系數特稱為線吸收（衰減）系數,用μ(l)表示。使用μ(l）的公式中，y的單位是cm。μ（l）與樣品物質的原子序數Z、密度ρ（單位g/cm^3）和X光波長λ有關，使用不方便。線吸收（或衰減）系數μ(l)（單位cm^-1）和質量吸收（或衰減）系數μ(m)（單位cm^2?g^-1）的關系是
?μ(m)=μ(l)/ρ,
各化學元素在不同X射線下的質量吸收（或衰減）系數有表可查。如鋁的在CuKα下的質量吸收系數μm=μ(m)=48.6.已知銅Cu的Kα的X射線的波長λ（CuKα)=1.54187埃，1埃=10^(-10)米（m）.到資料中查到或測得薄膜的密度ρ，查到μ(m)或μ(l)，就可以從X射線譜法測定中求得薄膜厚度y.
部分元素物質在指定輻射源射線下的質量吸收系數見附圖。
向左轉|向右轉

❻ 如何操作x射線衍射儀，請詳細寫出步驟

X射線衍射儀工作原理 X射線是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力。對物質進行物相分析、定性分析、定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。

❼ 實驗七 X射線衍射物相分析

X射線衍射技術是研究鐵礦石物相的常用技術。X射線衍射物相分析是通過對試樣進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得試樣的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。

鐵礦石的衍射圖譜一般由兩部分組成，主物相為鐵氧化物，微量物相為脈石(酸性鋁、硅氧化物及鹼性鈣、鎂氧化物等)。磁鐵礦的主要物相通常情況只有Fe₃O₄，有時會有少量Fe₂O₃(磁鐵礦長期風化部分被氧化成赤鐵礦)。此外，磁鐵礦中常有相當數量的Ti⁴⁺以類質同象代替Fe₃O₄中的Fe³⁺，還伴隨有Mg²⁺和V³⁺等相應地代替Fe₃O₄中的Fe³⁺和Fe²⁺，形成一些礦物亞種，這些礦物亞種的衍射峰與Fe₃O₄重疊，需要藉助成分分析結果進行精確的物相鑒定。赤鐵礦的主要物相為Fe₂O₃，且通常會有少量的mFe₂O₃·nH₂O。褐鐵礦的主要物相為Fe₂O₃與mFe₂O₃·nH₂O，褐鐵礦吸附性強，常含有較多泥質，在化學成分上表現為Al、Si含量較高。天然鐵礦石中一般不會出現氧化亞鐵相。

1.實驗目的

(1)了解X射線衍射儀的結構原理及其使用。

(2)掌握採用X射線衍射儀進行物相分析的制樣方法。

(3)熟悉使用X射線物相分析的基本方法。

2.原理

(1)X射線衍射儀結構原理

X射線衍射儀是由X射線發生器系統、測角儀系統、X射線衍射強度測量記錄系統、衍射儀控制與衍射數據採集分析系統四大部分所組成。

X射線發生器是衍射儀的X光源，其配用衍射分析專用的X光管，具有一套自動調節和自動穩定X光管工作高壓、管電流的電路和各種保護電路等。

測角儀系統是X射線衍射儀的核心，用來精確測量衍射角，其是由計算機控制的兩個互相獨立的步進電機驅動樣品台軸(θ軸)與檢測器轉臂旋轉軸(2θ軸)，依預定的程序進行掃描工作的，另外還配有光學狹縫系統、驅動電源等電氣部分，其光路布置如圖10-7-1所示，入射線1和2投射至兩個順次為A、B的晶面上時，各方向的散射線僅有1′和2′滿足衍射條件，由此產生的1A1′和2B2′之間的光程差為CBD=CB+BD，若晶面間距為d，則

CBD=2ABsinθ=2dsinθ

若這些X射線譜的波長相同，其光程差必然是波長的整數倍，即2dsinθ=nλ。其中n為反射級，此式也稱為布拉格方程。從方程可以看出，sinθ的絕對值只能≤1，故nA/2d必須≤1。當n=1時，A必須等於或小於2d時方能產生衍射，反射級n不能大於2d/A，故對不同波長的X射線進行分析時，要選擇相應d值的晶體。

圖10-7-1 晶體衍射光路圖

X射線衍射強度測量記錄系統是由X射線檢測器、脈沖幅度分析器、計數率計及x-y函數記錄儀組成。衍射儀控制與衍射數據採集分析系統是通過一個配有「衍射儀操作系統」的計算機軟體來完成的。

(2)X射線物相分析的基本原理

每一種結晶物質都具有各自獨特的晶體結構和化學組成，因其具有其特定的原子種類、原子排列方式和點陣參數及晶胞大小等。在一定波長的X射線照射下，晶體中不同晶面發生各自的衍射，進而對應其特定的衍射圖樣。如果實驗中存在兩種或兩種以上的晶體物質時，每種晶體物質的衍射圖樣不變，各衍射圖樣互不幹擾、相互獨立，僅是試樣中所含的晶體物質的衍射花樣機械疊加，不僅如此，衍射圖樣也可表明物相中元素的化學結合態、方式和點陣參數及晶胞大小等。

晶體的不同特徵可用各個反射晶面的間距d和反射線的相對強度I/I₀來表徵，其中面網間距d可由衍射花樣中各衍射線的位置2θ來決定，即d=λ/(2sinθ)。面網間距與晶胞的性狀和大小有關，而相對強度與質點的種類及其在晶胞中的位置有關。由此可知，任何一種結晶物質的衍射數據d和I/I₀是其晶體結構的必然反映，因而，可據此來鑒定結晶物質的物相，d～I數據組就是最基本的判據。

(3)利用PDF衍射卡片進行物相分析

每種物質都有其特徵衍射圖譜，即衍射圖譜具有一定的d值和相對強度I/I₀。當未知樣品為多相混合物時，每一相均具有特定的一組衍射峰，其相互疊加形成混合物的衍射圖譜。因此當樣品中含有一定量的某種相分時，則其衍射圖中的某些d值與相對強度I/I₀，必定與這種相分所特有的一組d值與相對強度全部或至少仍有的強峰相符合。因此描述每張衍射圖的d值和相對強度I/I₀值，可鑒定出混合物中存在的各個物相。

單相物質的衍射圖譜中的d值和相對強度I/I₀製成PDF數據卡片。將測得的樣品衍射圖的d值和相對強度I/I₀與PDF卡片一一比較，若某種物質的d值和I/I₀與某一卡片全部都能對上，則可初步確定該樣品中含有此種物質(或相分)，之後再將樣品中餘下的線條與別的卡片對比，這樣便可逐次地鑒定樣品中所含的各種相分。

3.樣品的制備

取適量樣品，在瑪瑙研缽中研磨和過篩，當物料粒度為-200目時，即當手摸無顆粒感時，試樣粒度大小為符合要求。用「壓片法」來製作試片，先將樣品粉末盡可能均勻地撒入樣品槽中，再用小的玻璃片輕輕攤勻堆好、壓緊，最後用玻璃片把多餘凸出的粉末削去，使樣品形成一個十分平整的平面試片。把准備好的樣品框放入衍射儀的測試架上，並關好衍射儀的保護門。

4.樣品的測試

開啟冷卻水和儀器電源。啟動計算機，在儀器穩定2min左右後，進入軟體系統。設置測量參數，如掃描模式、初始角度、終止角度、步長、掃描速度等。開始對試樣進行測試和數據存儲。使用軟體對所測曲線進行分析和數據處理(2θ、d值、半峰寬、強度數據等)，並將結果儲存於文檔中，操作完成後，退出分析系統，並關閉計算機。關閉儀器電源，冷卻水應繼續工作20min後方可關閉。最後關閉所有電源，並做好儀器使用記錄的填寫。

5.常見鐵礦石的X射線衍射圖譜

天然鐵礦石組成物質結晶性好，組成物相少，因此衍射譜圖中衍射峰峰型尖銳，重疊峰極少，主物相鑒別容易，脈石相的確定可參考化學成分分析結果。圖10-7-2～圖10-7-4分別為磁鐵礦、赤鐵礦與褐鐵礦的典型X射線衍射圖譜[《鐵礦與返礦及氧化鐵皮的鑒別規程》(SN/T 3102—2012)]。圖10-7-2中磁鐵礦的主要組成物質為鎂磁鐵礦石(Magnesioferrite，Mg_0.64Fe_2.36O₄)，未檢測到脈石相;圖10-7-3中赤鐵礦的主要組成物質為赤鐵礦(Hematite，Fe₂O₃)，同時含有少量的針鐵礦(Goethite，FeO(OH))，脈石相為石英(SiO₂);圖10-7-4中褐鐵礦的主要組成物質為針鐵礦(FeO(OH))與赤鐵礦(Fe₂O₃)，脈石相為高嶺土(Al₂Si₂O₅(OH)₄)與石英(SiO₂)。

圖10-7-2 某進口磁鐵礦的X射線衍射圖譜

圖10-7-3 某進口赤鐵礦的X射線衍射圖譜

圖10-7-4 某進口褐鐵礦的X射線衍射圖譜

6.注意事項

(1)嚴格遵守實驗室規章制度，愛護儀器，做到輕拿輕放，以免儀器元器件受到損傷。

(2)制樣時用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。

(3)樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測量角度和對應d值偏差。

❽ X射線衍射儀法

X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相乾的(波長不變)或非相乾的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉並依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。

一、X射線的產生及其性質

X射線是波長約0.01～100 Å的電磁波。用於測定晶體結構的X射線，波長為0.50～2.50Å，這個波長范圍與晶體點陣面的間距大致相當。波長太長(＞2.50Å)，樣品對X射線吸收太大；波長太短(＜0.50Å)，衍射線過分集中在低角度區，不易分辨。晶體衍射所用的X射線，通常是在真空度約為10^-4Pa的X射線管內，由高電壓加速的一束高速運動的電子，沖擊陽極金屬靶面時產生。由X射線管產生的X射線包含兩部分：一部分是具有連續波長的「白色」X射線，另一部分是由陽極金屬材料成分決定的、波長一定的特徵X射線，如Cu靶的X射線波長λ_CuKαl=1.5418 Å。

二、X射線衍射的原理—布拉格(Bragg)方程

晶體的空間點陣可劃分為一族平行而等間距的平面點陣(hkl)。同一晶體不同指標的晶面在空間的取向不同，晶面間距d_(hkl)也不同。X射線入射到晶體上，對於一族( hkl)平面中的一個點陣面1來說，若要求面上各點的散射線同相，互相加強，則要求入射角θ和衍射角θ′相等，入射線、衍射線和平面法線三者在同一平面內，才能保證光程一樣，如圖13-1-1所示。平面1，2，3，相鄰兩個平面的間距為d_(hkl)，射到面1 上的X射線和射到面2上的X射線的光程差為MB+BN，而MB=BN=d_(hkl)sinθ光程差為2d_(hkl)sinθ。根據衍射條件，只有光程差為波長的整數倍時，它們才能互相加強而產生衍射。由此得布拉格方程：

圖13-1-3 多晶衍射儀原理

各種物相的粉末圖都有其特點，純化合物的粉末圖各不相同，正如人的指紋一樣，每一種晶體都有它自己的一套特徵的「d-I」數據。照相法和衍射儀法各有優缺點，前者需要的樣品少，一般為 5～10mg，後者一般需要0.5g 以上的樣品。但它簡便快速，靈敏度和精確度都高，因此是寶玉石鑒定的好方法。晶體的X光衍射圖的橫坐標衍射角為2θ，對應衍射角θ可求d值，縱坐標表示強度I。根據特徵的「d-I」數據可以查手冊或X射線衍射資料庫。例如送來鑒定的綠色透明的玉石戒面，利用X 射線多晶衍射儀法鑒定獲得衍射圖13-1-4，d(I)為：4.30(70)，2.92(100)，2.83(90)，2.49(70)和2.42(60)Å。根據此數據查礦物X射線粉晶手冊(中科院貴陽地球化學研究所，1978年)可知該玉石戒面是翡翠。

圖13-1-4 翡翠戒面的X射線衍射圖

四、X射線衍射儀法在寶玉石鑒定中的應用

X射線衍射儀是鑒定玉石的好方法，它可以不破壞樣品，如翡翠、角閃石玉、石英岩玉等做的戒面，耳環和小的掛件等玉石都可以用X射線衍射儀法進行非破壞性的物相鑒定。對於大的玉石雕刻件或寶石則只能破壞樣品，碾成粉晶樣品(大約0.5克)，再用X射線衍射儀法或照相法進行物相鑒定。

❾ 實驗 X射線衍射定性相分析

(1)實驗目的

學習、了解X射線衍射儀的結構和工作原理；掌握X射線衍射定性相分析的方法和步驟；給定實驗樣品，設計實驗方案，正確分析鑒定結果。

(2)實驗原理

每一種結晶物質都有各自獨特的化學組成和晶體結構，當X射線被晶體衍射時，每一種結晶物質都有自己獨特的衍射花樣，它們的特徵可以用各個衍射晶面間距d和衍射線的相對強度I/I₁值來表徵。其中，晶面間距d與晶胞的形狀和大小有關，相對強度則與質點的種類及其在晶胞中的位置有關。所以任何一種結晶物質的衍射數據d和I/I₁值是其晶體結構的必然反映，因而可以根據它們來鑒別結晶物質的物相。

(3)實驗儀器

D/max-RA型X射線衍射儀(日本理學株式會社製造)。

(4)分析步驟

A.實驗參數選擇

根據試樣類別和特點進行最佳實驗條件設計，包括：管電壓和管電流的選擇；發散狹縫的選擇(DS)；防散射狹縫的選擇(SS)；接收狹縫的選擇(RS)；濾波片的選擇；掃描范圍的確定；掃描速度的確定。

B.樣品測試

a.開機前的准備和檢查：將制備好的試樣插入衍射儀樣品台，蓋上頂蓋，關閉防護罩；開啟水龍頭，使冷卻水流通；X光管窗口應關閉，管電流、管電壓表指示應在最小位置；接通總電源，接通穩壓電源。

b.開機操作：開啟總電源，啟動循環水泵；待數分鍾後，接通X射線管電源。緩慢升高管電壓、管電流至需要值。打開計算機X射線衍射儀應用軟體，設置合適的衍射條件及參數，開始測試樣品。

c.停機操作：測量完畢，緩慢降低管電流、管電壓至最小值，關閉X射線管電源;取出試樣；15min後關閉循環水泵，關閉水源；關閉衍射儀總電源、穩壓電源及線路總電源。

(5)數據處理

測試完畢後，可將樣品測試數據存入磁碟，隨時調出處理。原始數據需經過曲線平滑、K_α2扣除、譜峰尋找等數據處理步驟，最後列印出待分析試樣衍射曲線和d值、2θ、強度、衍射峰寬等數據供分析鑒定。

❿ X射線衍射分析的基本原理

如果讓一束連續X射線照到一薄片晶體上，而在晶體後面放一黑紙包著的照相底片來探測X射線，則將底片顯影、定影以後，可以看到除了連續的背景和透射光束造成的斑點以外，還可以發現有其他許多斑點存在。這些斑點的存在表明有部分X射線遇到晶體後，改變了其前進的方向，與原來的入射方向不一致了，這些X射線實際上是晶體中各個原子對X射線的相干散射干涉疊加而成的，我們稱之為衍射線。

圖11.1中各點代表的是晶體中的原子，1、2、3是一組平行的面網，面網間距為d。設入射X射線沿著與面網成θ角的方向射入，首先看圖11.1a中晶面1上的情況，當散射線方向滿足光學鏡面反射條件(即散射線、入射線與原子面法線共面，且在法線兩側，散射線與原子面的夾角等於入射線與原子面的夾角)時，各原子的散射波將具有相同的位相，因而干涉加強。

圖11.1 布拉格方程的推導

由於X射線具有相當強的穿透能力，可以穿透成千上萬個原子面，因此必須考慮各個平行的原子面間的反射波的相互干涉問題。圖11.1b中的PA和QA′是入射到相鄰兩個原子面上的入射線，它們的反射線分別為AP′和A′Q′，它們之間的光程差為

δ=QA′Q′-PAP′=SA′+A′T

因為

SA′=A′T=dsinθ

所以

δ=2dsinθ

只有當此光程差為波長λ的整數倍時，相鄰鏡面的反射波才能幹涉加強形成衍射線，所以產生衍射的條件是

2dsinθ=nλ

其中的n為整數，稱為衍射級數。這就是著名的布拉格公式，是X射線晶體學中最基本的公式，其中的θ角稱為布拉格角或半衍射角。若能產生衍射，則入射線與晶面的交角必須滿足布拉格公式。

在日常工作中，為了方便，往往將晶面族(hkl)的n級衍射作為設想的晶面族(nh，nk，nl)的一級衍射來考慮。所以布拉格公式可改寫為

2d_nh，nk，nlsinθ=λ

指數nh、nk、nl稱為衍射指數，用(HKL)表示，與晶面指數的不同之處是可以有公約數。實際上，為了書寫方便，往往把上式中的衍射指數省略，布拉格公式就簡化為

2dsinθ=λ

因此，在用單色X射線研究晶體時，如果波長已知，衍射角可以用實驗方法確定，面網間距d即可求出。

由上面的布拉格公式可知，衍射線的方向只與X射線的波長、晶胞的形狀和大小，以及入射線與晶體的相對方位等有關。反之，若測得衍射線的方向，就有可能得到有關晶胞參數、晶體方位等信息。

而衍射線束的強度主要與晶體結構(包括晶胞中原子的種類、數目及排列方式)、晶體的完整性以及參與衍射的晶體的體積等有關。因此，根據衍射線束強度的測量和分析，可以得到與晶體結構及點陣畸變等有關的信息。

X射線衍射儀用測角儀和計數管來測量和記錄衍射的方向和強度，自動收集和處理衍射數據，並根據所提供的數據進行物相鑒定、定量相分析、晶胞參數的精確測定、晶粒大小和結晶度計算等。