x射線膜厚儀檢測方法

⑴ x熒光光譜儀怎麼樣測量膜厚

不會是買了機器不會用吧？呵呵！賣儀器的應該會教你的啊！
首先要知道被測量產品的底材、上面的覆蓋層的材質是什麼，覆蓋層有幾層，覆蓋層的先後覆蓋順序是什麼，然後在光譜儀器裡面自帶軟體裡面，找相應的底材跟覆蓋層順序的那一個測量軟體（如果找不到，要跟賣儀器的要針對這款材質的軟體），然後儀器上面校準基準片跟機器，把產品平穩放在測量平台上面，調好鏡頭光線（配套的電腦屏幕顯示類似於放大鏡能很清楚的看清產品測量點就行了），然後點擊測量，多測量幾個點，然後取中間值為結果！我們用的是德國菲希爾的20幾萬的那種，就是這樣測量的！小於1um微米的測量也是有誤差的！

⑵ 膜厚儀測量方法

你好，因為使用的是油漆噴塗，最後的干膜厚度比較薄，為減少誤差，最好是在毛坯件上進行一個歸零，然後在一個劃定的區域內多點測量，取平均值，這是罪常用的檢測方法。
希望我的回答你能解決你的疑問，
深圳成企鑫 專業塗層檢測儀器製造商為你解答

⑶ 如何測試物理沉積（PVD）薄膜的膜厚

業內有兩種主流方法：
其一，是Cola Test，就是用一定直徑的鋼球，滾動摩擦被檢測工件的表面，得到一組基材、塗層的同心圓，然後用顯微鏡測量尺寸，通過公式計算得出塗層厚度。這種方法為有損檢測，但是比較准確
其二，採用X射線衍射的方法（XRF），測量塗層厚度。這種方法無損、快速，准確度也可以

⑷ 膜厚測試儀的螢光X射線裝置（XRF）

X射線的能量穿過金屬鍍層的同時，金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬塗鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環保工藝准則，故目前市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右。
對某物質進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
（1） 螢光X射線
（2） 散亂X射線
（3） 透過X射線
的產品是利用螢光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息(構造)。而透過X射線多用於拍攝醫學透視照片。另外也用於機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。

⑸ 什麼是膜厚儀

膜厚儀也叫塗層測厚儀，厚度測試儀，塗層測厚儀是一種攜帶型雙基(鐵、鋁)測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行塗、鍍層厚度的測量。既可用於實驗室中的精密測量，也可用於工程現場廣泛地應用在金屬製造業、化工業等。FRU

⑹ XRF鍍層測厚儀的原理是什麼

1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。

⑺ 膜厚測試儀的介紹

膜厚測試儀，分為手持式和台式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。台式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值·

⑻ 塗層測厚儀測量厚度方法具體有那些

塗層測厚儀是一種攜帶型測厚儀，能快速、無損傷、精密地測量塗層、鍍層的厚度；可用於工程現場，也可用於實驗室，通過不同探頭的使用，更可滿足多種測量需求，塗層測厚儀廣泛應用於製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護專業必備的儀器。塗層測厚儀它採用計算機技術,無損檢測技術等多項先進技術,無需損傷被測體就能jing確地測量出它的厚度。F型探頭可直接測量導磁材料(如鐵 、鎳）表面上的非導磁覆蓋層厚度（如： 油漆 、塑料 、搪瓷 、銅 、鋁、鋅 、鉻等）。可應用於電鍍層、油漆層、搪瓷層 、 鋁瓦 、銅 瓦 、巴氏合金瓦 、磷化層、紙張的厚度測量，也可用於船體油 漆及水下結構件的附著物的厚度測量。NF型探頭可測量非導磁金屬基體上的絕 緣覆蓋層厚度，如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠塗層，也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。下面就為大家介紹塗層測厚儀測量厚度的5種方法：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量jing確
2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：目前國內還沒有用此種方法測量塗鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層塗鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴、測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別於以上三種，不屬於無損檢測，需要破壞塗鍍層，一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此種儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用於一些特殊場合。

⑼ x射線鍍層測厚儀的使用原理有輻射嗎

若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩定的狀態，此種不同能階轉換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
下述可描述X-射線熒光的特性：若產生X-射線熒光是由於轉移一個電子進入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K 輻射。不同的能階轉換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由於Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。
原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。
特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器後，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其後的鑒別電路記錄。
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置於儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
在有些情況，如：印刷線路板上的IC導線，接觸針及導體的零件等測量要求較高 ,一般而言，測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求：
1.不破壞的測量下具高精密度。
2.極小的測定面積。
3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。
4.同時且互不幹擾的測量上層及中間鍍膜 。
5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。
而X-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測量。
二.主要特點
1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度.
2.電鍍層可以是單層/雙層/三層
3.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量
4.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟體
5.易操作/易維護
6.準直器程式控制交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制 。

⑽ 常規膜厚儀都有哪些測量法呢求科普

常規的膜厚儀有渦流法、電磁法、電解法、X熒光、超聲波、電磁超聲等。林上的膜厚儀就是常用的磁性和渦流測厚法。