大概有以下幾種方法: 1、篩分法,這個通過查看篩餘量,過篩率等來判斷粉體粒度的分布,優點是成本低,缺點是只能給出點的粒徑,不能給出全部粉體的粒度分布。 2、沉降法,一般是利用斯托克原理,通過懸浮液體客戶的在重力作用下的沉降速度來判定顆粒的大小。可以給出粒度分布表等,但對於粒徑較小的顆粒,沉降速度比較慢,測試耗時較多。 3、激光散射法,目前使用較多,比較適合測試粒度分布較寬的粉體,測試成本相對較高,儀器價格從國產的幾萬元到國外的幾十萬元不等。更多相關問題,可關注<粉體圈>網路
❷ 檢測納米顆粒粒徑分布的手段有哪些
一樓回答的是針對納米棒吧?
1、納米顆粒是指在100納米以下的,都叫納米顆粒。
2、測試粒徑分布的現在高級貨都用馬而文激光粒度測試儀(也有低端國產的粒度儀),可以提供粒度報告,尺寸分布報告,體積分布報告,強度分布報告等多種數據。
特點是可以測試1納米~1000納米范圍內的樣品數據可靠性高,要求納米顆粒的粒徑分布較為集中,你不要有很多1納米級的,又有很多1000納米的,這樣出的數據可靠性相對低。會提供一個數據可靠性參數PDI。便宜,因為我們實驗室就有可以幫你測。別的地方也有,行價大約是在50~100元之間吧。
粒徑分為晶體粒徑,和顆粒粒徑,如果樓主確定是要顆粒粒徑的話,還可以通過SEM,或FE-SEM來看。然後通過相關數據統計。SEM便宜也就100元左右,FE-SEM可能要300~500,這樣看你的樣品導電不導了,涉及到噴金、噴碳的問題。一樓說的紫外,我覺得的可取性不是很高,因為只是定性分析,不能給出定量數據,而且要受到濃度等多種因素影響,UIV主要用於濃度和紫外特徵峰、漫反射等方面的表徵。而且一般TEM隨隨便便就可以達到納米級,沒有那麼誇張。一般的也就200元,高分辨的會比較貴也就500夠了。但有個問題是TEM看到不一定是顆粒粒徑,有可能是晶體粒徑,你要具備分析的能力,也可以用這個表徵。
❸ 什麼是粒度分析
礦粒(或礦塊)的大小稱為粒度。破碎、磨碎和選別過程中所處理的物料,都是粒度不同的各種礦粒的混合物。將礦粒混合物按粒度分成若干級別,這些級別叫做粒級。物料中各粒級的相對含量叫做粒度組成。粒度組成的測定工作叫做粒度分析。 粒度組成的測定是一項很重要的工作,在許多工業部門都常遇到。例如水泥工業、冶金工業、煤粉制備、土工試驗、甚至食品加工等部門,都會用到粒度分析,也是選礦試驗中必不可少的一個檢測項目,原礦和產品都常需進行粒度分析。 沒有一個粒度分析方法,可以適用於一切粒度范圍,一般都是按粒度大小不同採用不同的測定方法。目前應用的各種測定方法及其適用范圍如表1所示。其中有的方法得出的是粒度分布,有的方法得出的是平均直徑;有的是直接測量粒度(如篩析和顯微鏡測定);有的則是根據其他參數換算(如沉降速度和比表面);有的是在氣相中進行的干法,有的則是在液相中進行的濕法。表1 粒度測定方法及其所適用的粒度范圍 選礦生產和試驗研究中經常採用的粒度分析方法是篩分分析、水析和顯微鏡分析。 對於粉狀物料常常直接測定比表面(指單位重量的礦粒群的總表面積)。從比表面的測定數據可在一定假定條件下,求出平均粒度(直徑)。測定比表面的主要方法有吸附法、滲透法(液體滲透法;氣體滲透法)。 幾種粒度測定方法比較如下:篩析法的優點是設備便宜、堅固、易制、易操作,適於測定粗粒。一般干篩可篩至100微米(150目),再細建議釤濕篩,現今用光電技術製造的微孔篩可以濕篩細到10微米,但實際上小於40-60微米多半用沉降分析,前者測得的是幾何尺寸,後者是具有相同沉降速度的當量球徑。篩析法受顆粒形狀影響很大。顯微鏡法直觀測出顆粒尺寸和形狀,因此常用於校準其它測量方法,其最佳測量范圍為0.5-20微米之間,當粒度擴大到40微米以上,則易引起偏差。沉降法測量粒度的最大優點是統計性和重復性好,但受顆粒形狀和結構影響很大,適用於1-75微米,不能直接觀測顆粒的大小和形狀。吸附法的特點是測定范圍較大,但不能測出粒度分布曲線,只能間接換算出一個增均尺寸,而且受環境影響較大。滲透法是一種經濟簡便的粒度測量法,但可靠性和重復性差。
❹ 粒度測試的基本方法
粒度測試的方法很多,據統計有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種,另外還有幾種在特定行業和領域中常用的測試方法。 沉降法是根據不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測量粒度分布的一種方法。它的基本過程是把樣品放到某種液體中製成一定濃度的懸浮液,懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發生沉降。不同粒徑顆粒的沉降速度是不同的,大顆粒的沉降速度較快,小顆粒的沉降速度較慢。那麼顆粒的沉降速度與粒徑有怎樣的數量關系,通過什麼方式反映顆粒的沉降速度呢?
① Stokes定律:在重力場中,懸浮在液體中的顆粒受重力、浮力和粘滯阻力的作用將發生運動,其運動方程為:
這就是Stokes定律。
從Stokes 定律中我們看到,沉降速度與顆粒直徑的平方成正比。比如兩個粒徑比為1:10的顆粒,其沉降速度之比為1:100,就是說細顆粒的沉降速度要慢很多。為了加快細顆粒的沉降速度,縮短測量時間,現代沉降儀大都引入離心沉降方式。在離心沉降狀態下,顆粒的沉降事度與粒度的關系如下:
這就是Stokes定律在離心狀態下的表達式。由於離心轉速都在數百轉以上,離心加速度ω2r遠遠大於重力加速度g,Vc>>V,所以在粒徑相同的條件下,離心沉降的測試時間將大大縮短。
② 比爾定律:
如前所述,沉降法是根據顆粒的沉降速度來測試粒度分布的。但直接測量顆粒的沉降速度是很困難的。所以在實際應用過程中是通過測量不同時刻透過懸浮液光強的變化率來間接地反映顆粒的沉降速度的。那麼光強的變化率與粒徑之間的關系又是怎樣的呢?比爾是律告訴我們:
設在T1、T2、T3、……Ti時刻測得一系列的光強值I1<I2<I3……<Ii,這些光強值對應的顆粒粒徑為D1>D2>D3>……>Di,將這些光強值和粒徑值代入式(5),再通過計算機處理就可以得到粒度分布了。 激光法是根據激光照射到顆粒後,顆粒能使激光產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。由激光器的發生的激光,經擴束後成為一束直徑為10mm左右的平行光。在沒有顆粒的情況下該平行光通過富氏透鏡後匯聚到後焦平面上。如下圖所示:
當通過適當的方式將一定量的顆粒均勻地放置到平行光束中時,平行光將發生散現象。一部分光將與光軸成一定角度向外傳播。如下圖:
那麼,散射現象與粒徑之間有什麼關系呢?理論和實驗都證明:大顆粒引發的散射光的角度小,顆粒越小,散光與軸之間的角度就越大。這些不同角度的散射光通過富姓氏透鏡後在焦平面上將形成一系列有不同半徑的光環,由這些光環組成的明暗交替的光斑稱為Airy斑。Airy斑中包含著豐富粒度信息,簡單地理解就是半徑大的光環對應著較小的粒徑;半徑小的光環對應著較大的粒徑;不同半徑的光環光的強弱,包含該粒徑顆粒的數量信息。這樣我們在焦平面上放置一系列的光電接收器,將由不同粒徑顆粒散射的光信號轉換成電信號,並傳輸到計算機中,通過米氏散理論對這些信號進行數學處理,就可以得到粒度分布了。 電阻法又叫庫爾特法,是由美國一個叫庫爾特的人發明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過一個小微孔的瞬間,占據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體,使小微孔兩端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時,小微孔的兩端將連續產生不同大小的電阻信號,通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了。如圖所示:
用庫爾特法進行粒度測試所用的介質通常是導電性能較好的生理鹽水。 光阻法(Light Blockage),又稱為光障礙法或光遮擋法,是利用微粒對光的遮擋所發生的光強度變化進行微粒粒徑檢測的方法,檢測范圍從1μm到2.5mm。
工作原理:當液體中的微粒通過一窄小的檢測區時,與液體流向垂直的入射光,由於被不溶性微粒所阻擋,從而使感測器輸出信號變化,這種信號變化與微粒的截面積成正比,光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據此原理。 顯微圖像法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數碼像機)、圖形採集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大後的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形採集卡傳輸到計算機中,由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理,計算出每個顆粒的投影面積,根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑,再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量,就可以得到粒度分布了。
由於這種方法單次所測到的顆粒個數較少,對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結果的真實性。除了進行粒度測試之外,顯微圖像法還常用來觀察和測試顆粒的形貌。 除了上述幾種粒度測試方法以外,目前在生產和研究領域還常用刮板法、沉降瓶法、透氣法、超聲波法和動態光散射法等。
(1) 刮板法:把樣品刮到一個平板的表面上,觀察粗糙度,以此來評價樣品的粒度是否合格。此法是塗料行業採用的一種方法。是一個定性的粒度測試方法。
(2) 沉降瓶法:它的原理與前後講的沉降法原理大致相同。測試過程是首先將一定量的樣品與液體在500ml或1000l的量筒里配製成懸浮液,充分攪拌均勻後取出一定量(如20ml)作為樣品的總重量,然後根據Stokes定律計算好每種顆粒沉降時間,在固定的時刻分別放出相同量的懸浮液,來代表該時刻對應的粒徑。將每個時刻得到的懸浮液烘乾、稱重後就可以計算出粒度分布了。此法目前在磨料和河流泥沙等行業還有應用。
(3) 透氣法:透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個金屬管里並壓實,將這個金屬管安裝到一個氣路里形成一個閉環氣路。當氣路中的氣體流動時,氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗,顆粒之間的縫隙就大,氣體流邊所受的阻礙就小;樣品較細,顆粒之間的縫隙就小,氣體流動所受的阻礙就大。透氣法就是根據這樣一個原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個平均粒度值,不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業。
(4) 超聲波法:通過不同粒徑顆粒對超聲波產生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達到70%的高濃度漿料。這種方法是一種新的技術,目前國內外都有人進行研究,據說國外已經有了儀器,國內目前還沒有。
(5) 動態光散射法:前面所講的激光散射法可以理解為靜態光散射法。當顆粒小到一定的程度時,顆粒在液體中受布朗運動的影響,呈一種隨機的運動狀態,其運動距離與運動速度與顆粒的大小有關。通過相關技術來識別這些顆粒的運動狀態,就可以得到粒度分布了。動態光散射法,主要用來測量納米材料的粒度分布。國外已有現成的儀器,國內目前還沒有。
❺ 請問:激光粒度儀測定石墨粒度的方法干法還是濕法最好有具體的方法步驟石墨粒級5um左右
石墨是不溶於水的,所以干法和濕法都可以,一般情況下干法和濕法都可以的情況下,採用濕法測量。不知道你用的粒度儀是哪個廠家哪個型號的,濕法測量在粒度儀的用戶手冊上都有詳細的操作步驟,你可以參考。
❻ 氫氧化鋁怎麼測粒徑呢, 可以告訴一些常規的檢測步驟嗎,一些什麼常用儀器測試嗎。謝謝
儀器激光粒度儀應該足夠了,你只需要將他分散到合適的介質中就行了。
❼ 測試乳液粒徑的方法
用激光粒徑儀檢測,這種儀器國內外都有生產。
❽ 檢測懸浮物粒徑用哪個方法
那你就應該是曲樣曲樣之後,然後做成切片,然後再通過專門的儀器進行去觀察,如果普通的話,一般就是買儀器做PM2.5篇目石之類的檢測
❾ 關於粒度儀檢測粒徑的方法
現在多採用激光粒度儀和顆粒圖像分析儀,有些比較大的採用振動篩/目篩。
❿ 高等無機化學測定納米材料粒徑大小的主要方法有哪些
高等無機化學測定納米材料粒徑大小的主要方法:
1、XRD線寬法:一般可通過XRD圖譜,利用Scherrer公式進行納米顆粒尺寸的計算。XRD線寬法測量得到的是顆粒度而不是晶粒度。該方法是測定微細顆粒尺寸的最好方法。測量的顆粒尺寸范圍為≤100nm。
2、激光粒度分析法:測量精度高,測量速度快,重復性好,可測粒徑范圍廣以及可進行非接觸測量等。激光粒度分析有衍射式和散射式兩種。衍射式對於粒徑在5μm以上的樣品分析較准確,而散射式則對粒徑在5μm以下的納米、亞微米顆粒樣品分析准確。利用激光粒度分析法進行粒度分析時必須對被分析體系的粒度范圍預先有所了解,否則分析結果會不準確。該方法是建立在顆粒為球形、單分散條件上的,而實際被測顆粒多為不規則形狀並呈多分散性。因此顆粒的形狀和粒徑分布特性對最終粒度分析結果影響較大,顆粒形狀越不規則,粒徑分布越寬,分析結果的誤差就越大。
3、沉降粒度分析法是通過顆粒在液體中的沉降速度來測量粒度分布的方法。主要有重力沉降式和離心沉降式兩種光透沉降粒度分析方式,適合納米顆粒度分析的方法主要是離心式分析法。該方法具有操作方便、價格低、運行成本低、樣品用量少、測試范圍寬(一般可達0,1-200μm)、對環境要求不高等特點;但該方法也存在著檢測速度慢、重復性差、對非球形粒子誤差大、不適於混合物料等缺點。
4、電超聲粒度分析法:該方法測量的粒度范圍為5nm-100μm。電超聲粒度分析法在分析中需要粒子和液體的密度、液體的黏度、粒子的質量分數及熱膨脹系數等參數。該方法的優點是可測高濃度分散體系和乳液的顆粒尺寸,不需要稀釋,避免了激光粒度分析法不能分析高濃度分散體系粒度的缺陷,且分析精度高,分析范圍更寬。
5、對於特定材料的納米粉,無論是氧化物、氮化物還是金屬粉末,沒有規定用特殊的方法來測量其顆粒尺寸。主要根據材料的顆粒性質來決定採用的分析方法,通常均採用TEM觀察法;若材料是由微細的晶粒組成,則常採用XRD線寬法來測定其晶粒粒徑的大小。若採用這兩種方法不能得到滿意的結果,那麼,可根據估測的粒徑范圍來選用本文第三部分介紹的方法。這些方法得到的粒徑結果不僅准確,而且還能得到顆粒的形狀,但這些方法成本高,應根據需要來選用。