⑴ 怎麼樣測量軸承的垂直度
不知道你指的是哪個面的垂直度,
軸承的垂直度有: 外徑對端面的垂直度;
內徑對端面的垂直度;
如果採用的是支內圈外徑磨削的話: 內外徑對端面的垂直度也要加強控制。
外徑的垂直度可用D913儀器測量,平台上的兩個測點測套圈的下面,儀表測上面就行。
內徑可用C923儀器測量或用B002測量,原理都差不多
內外徑(即內圈的外徑)的垂直度用自製的垂直差測量,方法一樣的
⑵ 如何檢驗軸承跳動,要檢驗微軸承的跳動,做的是精密儀器,有知道方法的說下謝謝,工具越簡單越好
檢驗軸承徑向、軸向跳動要按GB/T 307.2-2005《滾動軸承 測量和檢驗的原則及方法》執行,參見鏈接:http://wenku..com/view/42abbbf39e314332396893e5.html###
通常,採用B系列機械式跳動測量儀來測量成套軸承的徑向跳動、端面跳動。比如,B002深溝球軸承跳動測量儀可測量軸承內外圈徑向跳動及內圈端面跳動,測量范圍:內徑d 3~25mm;示值誤差:端跳±0.002 mm,徑跳±0.0015 mm;示值變動性:0.002 mm。
這類機械式儀器恐怕是最簡單的工具了,即經濟又實用,一般軸承廠家基本上都配用。
如有問題,可再提問。
⑶ 如何測量軸承和軸孔尺寸
(1)軸承孔的測量 軸承孔的測量可以使用內徑量表在外徑千分尺上核對基準尺寸後測量,同時還需測量承孔的圓度和圓柱度。燒壞軸承常使承孔在開口處直徑縮小而圓度超差,對軸承的正常工作極為不利。如果連桿螺栓的定位面的配合松曠,連桿軸承蓋會移位使承孔圓度超差。軸承承孔的圓度誤差應控制在尺寸公差之內,而圓柱度則應嚴格控制 (2)軸承主要尺寸的測量①軸承厚度:將外徑千分尺固定測頭由平面改製成球面,可用來測量軸承厚度。軸承厚度一般應控制在0.005~0.010毫米范圍內,否則會使軸承內徑超差。軸承在近開口處有微量減薄,測量時應予注意。 ②軸承與承孔的配合緊度 :配合緊度是由軸承的自由彈開量和余面高度來保證的。測量余面高度的方法下:按規定裝合軸承,交軸承蓋螺栓緊固到規定扭矩後松開其中一個螺栓,用塞尺測量軸承蓋介面處的間隙,其值應在0.05~0.15毫米范圍之內。③軸承內徑:測量前需將軸承按規定裝合並按規定扭矩擰緊軸承蓋螺栓,用內徑量表,在外徑千分尺上校對基準尺寸後測量,測量時要避開減薄區。軸承內徑和對應軸頸外徑尺寸之差值是配合間隙。 ④主軸承內孔的同軸度 :主軸承內孔的同軸度誤差主要是其承孔同軸度誤差造成的,而承孔同軸度誤差產生的原因則是缸體的變形。當主軸頸徑向圓跳動在規定公差內時,檢查主軸頸和軸承的吃合印痕,如果各道主軸承吃合印痕位置明顯不一致,說明同軸度誤差大,可採用刮削、鏜削軸承或更換缸體等辦法解決,否則難以保證發動機正常工作。 軸承的材料一般測量以下幾點:外徑尺寸,內徑尺寸,高度,這是基本三大尺寸得檢測。一般用卡尺和千分尺,或夾量塊對百分表,能准確點。用儀器可以軸承的內徑跳動和外徑跳動。用儀器主要是檢測軸承的精度等級夠不夠。
⑷ 如何測軸承孔內徑
用卡尺,測量內徑,需要至少三點測量,然後取平均值。三點測量需:選三個方向的的內徑。選三個圓柱面上的點。
注意事項:測量內徑,測量工具必須保證和內徑方向平行。
⑸ 軸承檢測儀該如何使用方法
近幾年來,我國軸承檢測設備越來越多了,現在軸承損壞性故障發生非常多見,而且還引起過不少重大的事故。因為軸承在機電設備中的應用非常廣泛,但是也是最容易損壞,所以,利用軸承故障檢測儀既可以檢測滑輪軸承的運轉狀況,而且還可以減少事故的發生。
我知道兩種攜帶型軸承檢測儀的使用注意事項,希望可以幫到你:
1、首先要注意所使用的攜帶型檢測儀的測量范圍。
任何檢測儀都會有自己一個固定的檢測范圍,只有在此范圍內才可以完成測量,否則測量出來的結果會對您所在環境的值相差很多。還有就是如果長時間超范圍的測量,會對感測器造成一定的損壞,導致在以後的測量范圍中,就不會得到正確的測量結果了。
2、其次還要注意的是所使用的檢測儀中感測器的使用壽命。
任何檢測儀都會有年限使用限制的,所以攜帶型檢測儀也並不例外,雖然不會經常使用,但也會出現老化現象的。在一般的情況下,攜帶型檢測儀中,光離子化檢測儀的壽命是最長的,一般在四年左右;LEL感測器的使用壽命,一般可以使用到三年以上;而電化學特定感測器的壽命相對是比較短的,一般在一年到兩年左右;氧氣感測器就只能使用一年左右了。
所以,在使用前一定要看好說明書,必須在感測器的有效期內使用,如果發現過期,需要及時更換。
⑹ 軸承測量有哪些方法
外徑尺寸,內徑尺寸,高度,這是基本三大尺寸得檢測。一般用卡尺和千分尺,或夾量塊對百分表,能准確點。用儀器可以軸承的內徑跳動和外徑跳動。用儀器主要是檢測軸承的精度等級夠不夠。
⑺ 測徑儀的使用方法
光電測徑儀
光電測徑儀是基礎的外徑尺寸測量設備,以單測頭完成外徑尺寸檢測,當然外徑尺寸僅是其檢測的基礎,根據其光學檢測的特性,可適用於多種幾何尺寸的檢測。