Ⅰ 方法檢出限和儀器檢出限的區別
檢出限是評價一個分析方法及測試儀器性能的重要指標, 是指某一特定分析方法,在給定的顯著性水平內,可以定性地從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂「檢出」是指定性檢出, 在檢出限附近不能進行准確的定量。檢出限可分為測量方法檢出限和儀器檢出限。
儀器檢出限：指分析儀器能夠檢測的被分析物的最低量或最低濃度。儀器檢出限一般用於不同儀器的性能比較。一般通過多次空白試驗，求得其背景響應的標准差，將三倍空白標准差(即3δ)作為檢測限的估計值。也可用已知濃度的樣品與空白試驗對照，記錄測得的被測樣品信號強度S與噪音(或背景信號)強度N，以能達到S/N=2或S/N=3時的樣品最低濃度為LOD(Limit of Detection)。如用非儀器分析方法時，通過已知濃度的樣品分析來確定可檢出的最低水平作為檢出限。表示方法常為：1.最低檢出濃度：滿足最低檢出限要求時，進樣供試品溶液的濃度，常見單位：mg/mL,ng/mL，mol/L等。2，最低檢出量：最低檢出量=最低檢出濃度×進樣量，常見單位：ng，pg，fg等。
方法檢出限：方法檢出限不僅與儀器的噪音有關，還取決於樣品測定的整個環節，如取樣量，提取分離以及測定條件的優化等，實際工作中應註明具體實驗條件。例如：檢測某化合物XY時，方法中規定取樣100mg，經提取處理後定容為10ml分析，此時方法的檢出限為1μg/g。若改變方法使取樣量增加至1g，則方法檢出限為0.1μg/g。若改變方法使取樣量增加至1g且經提取處理後定容為1ml，則方法檢出限為0.01μg
檢出限是評價一個分析方法及測試儀器性能的重要指標, 是指某一特定分析方法,在給定的顯著性水平內,可以定性地從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂「檢出」是指定性檢出, 在檢出限附近不能進行准確的定量。檢出限可分為測量方法檢出限和儀器檢出限。
儀器檢出限：指分析儀器能夠檢測的被分析物的最低量或最低濃度。儀器檢出限一般用於不同儀器的性能比較。一般通過多次空白試驗，求得其背景響應的標准差，將三倍空白標准差(即3δ)作為檢測限的估計值。也可用已知濃度的樣品與空白試驗對照，記錄測得的被測樣品信號強度S與噪音(或背景信號)強度N，以能達到S/N=2或S/N=3時的樣品最低濃度為LOD(Limit of Detection)。如用非儀器分析方法時，通過已知濃度的樣品分析來確定可檢出的最低水平作為檢出限。表示方法常為：1.最低檢出濃度：滿足最低檢出限要求時，進樣供試品溶液的濃度，常見單位：mg/mL,ng/mL，mol/L等。2，最低檢出量：最低檢出量=最低檢出濃度×進樣量，常見單位：ng，pg，fg等。
方法檢出限：方法檢出限不僅與儀器的噪音有關，還取決於樣品測定的整個環節，如取樣量，提取分離以及測定條件的優化等，實際工作中應註明具體實驗條件。例如：檢測某化合物XY時，方法中規定取樣100mg，經提取處理後定容為10ml分析，此時方法的檢出限為1μg/g。若改變方法使取樣量增加至1g，則方法檢出限為0.1μg/g。若改變方法使取樣量增加至1g且經提取處理後定容為1ml，則方法檢出限為0.01μg/g。
1、儀器的檢出限
儀器檢出限是指在規定的儀器條件下，當儀器處於穩定狀態時，儀器本身存在著的噪音引起測量讀數的漂移和波動。儀器檢出限的水平可對同類儀器之間的信噪比、檢測靈敏度、信號與噪音相區別的界限及分析方法進行測量所能達到的最低限度等方面提供依據。儀器的檢出限的物理含義為:在一定的置信范圍內能與儀器噪音相區別的最小檢測信號對應的待測物質的量。通過配製一定濃度的稀溶液12份進行測量，可用下式計算:
2、方法的檢出限
方法的檢出限是指一個給定的分析方法在特定條件下能以合理的置信水平檢出被測物的最小濃度，它是表徵分析方法的最主要的參數之一。分析方法隨機誤差的大小不但與儀器雜訊有關，而且決定了方法全過程所帶來的誤差總和，與樣品性質、預處理過程都有關系。為了能反映分析方法在整個分析處理過程的誤差，可採用已知結果的標准物質或樣品按照分析步驟進行測量，通過分析12份已知結果的實際樣品來計算方法的檢出限，計算公式如下:
3、樣品的檢出限
即單個樣品的檢出限，指相對於空白可檢測的樣品的最小含量。故只有當空白含量為零時，樣品檢出限才等於方法檢出限。一方面空白含量往往不為零，由於空白含量及其波動的存在，盡管方法檢出限通過外推法可能求得很低的濃度( 或含量)，實際上樣品檢出限可能要比方法檢出限大得多; 另一方面分析方法檢出限採用的是一系列標准物質，基體各不相同，因此只能是一類型樣品的平均檢出限，並非嚴格適用於單個樣品。對於單個樣品確定檢出限，必須固定樣品基體，即樣品檢出限的確定應使用樣品本身，採取標准加入法作出和方法檢出限類似的曲線，使用外推法進行計算。
正因為如此，在實際使用中，樣品檢出限要比方法檢出限要有意義得多。當被測樣品種類變化或測定所用試劑和環境變化時，即使使用同一分析方法，樣品檢出限可能相差很大。在痕量分析時，測量結果的可靠性在很大程度上取決於空白值的大小及空白值的波動情況。設 Wt代表被測樣品的總值，Wb 代表空白值，則被測組分的含量( Wt-Wb)與檢測可靠性的關系如表1所示( 表中」σ空白」為測定分析空白時的標准偏差)。
Ⅲ 檢出限的檢出限與測定限
1檢出限
為某特定分析方法在給定的置信度內可從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂「檢出」是指定性檢出，即判定樣品中存有濃度高於空白的待測物質。
檢出限除了與分析中所用試劑和水的空白有關外，還與儀器的穩定性及雜訊水平有關。在靈敏度計算中沒有明確雜訊的大小，因而操作者可以將檢測器的輸出信號，通過放大器放到足夠大，從而使靈敏度相當高。顯然這是不妥的，必須考慮雜訊這一參數，將產生兩倍雜訊信號時，單位體積載氣或單位時間內進入檢測器的組分量稱為檢出限。
則：
D = 2N / S
式中：
N——雜訊（mV或A）；
S——檢測器靈敏度；
D——檢出限，其單位隨S不同也有三種：
Dg=2N / Sg,單位為mg/ml
Dv=2N / Sv,單位為ml/ml
Dt=2N / St,單位為g/s
有時也用最小檢測量（MDA）或最小檢測濃度（MDC）作為檢測限。它們分別是產生兩倍雜訊信號時，進入檢測器的物質量（g）或濃度(mg/ml)。
不少高靈敏度檢測器，如FID、NPD、ECD等往往用檢出限表示檢測器的性能。
靈敏度和檢出限是兩個從不同角度表示檢測器對測定物質敏感程度的指標，前者越高、後者越低，說明檢測器性能越好。
從而可見，測量方法的檢出限於分析空白值、精密度、靈敏度密切相關。他是分析方法的一個綜合性的重要計量參數。
2檢出限的計算方法
1）在《全球環境監測系統水監測操作指南》中規定：給定置信水平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限（D.L）。這里的零濃度樣品是不含待測物質的樣品。
D.L = 4.6σ
式中：
σ— 空白平行測定（批內）標准偏差（重復測定20次以上）。
2)國際純粹和應用化學聯合會（IUPAC）對分析方法的檢出限D.L作如下規定。
在與分析實際樣品完全相同的條件下，做不加入被測組分的重復測定（即空白試驗），測定次數盡可能多（試驗次數至少為20次）。
算出空白觀測值的平均值Xb和標准偏差Sb。在一定置信概率下，被檢出的最小測量值XL以下式確定：
XL= Xb+ K』Sb
式中：
Xb—— 空白多次測得信號的平均值；
Sb—— 空白多次測得信息的標准偏差；
K』—— 根據一定置信水平確定的系數。
與XL-Xb(即K』 Sb)相應的濃度或量即為檢出限:
D.L = XL- Xb/ K = k』Sb/ K
式中：
k——方法的靈敏度（即校準曲線的斜率）。為了評估Xb和Sb，實驗次數必須至少20次。
1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取k』=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與k』=3相應的置信水平大約為90%。
此外，尚有將K』取為4、4.6、5及6的建議。
3）美國EPASW-846中規定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復測定7次)
4）在某些分光光度法中，以扣除空白值後的與0.01吸光度相對應的濃度值為檢出限。
5）氣相色譜分析的最小檢測量系指檢測器恰能產生與雜訊相區別的響應信號時所需進入色譜柱的物質的最小量，一般認為恰能辨別的響應信號，最小應為雜訊的兩倍。最小檢測濃度系指最小檢測量與進樣量（體積）之比。
6）某些離子選擇電極法規定：當校準曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值及為該離子選擇電極法的檢出限。
光度分析中，雖然吸光度最小測讀值為0.001，靈敏度也以A=0.001所相應的被測物濃度表示，但實際上慣常以A=0.05相應的被測物濃度作為有充分置信度的測定限，即最小能夠可靠測定的濃度。這是因為，在吸光度A接近零的情況下，測定值與真實值之比即相對誤差趨向無限大。
其次，由於比色皿的成對性不易做到完全匹配，尤其是使用已久的比色皿的成對性不易保證，因此吸光度很小的測量值在不同操作者、不同試驗室之間常會不一致，除非操作者很有經驗，十分注意比色皿成對性對測量的影響，並在每次測量時予以試驗校正。
測定限
測定限為定量范圍的兩端，分為測定上限與測定下限。
1測定下限
在測定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能准確地定量測定待測物質的最小濃度或量，稱為該方法的測定下限。
測定下限反映出分析方法能准確地定量測定低濃度水平待測物質的極限可能性。在沒有（或消除了）系統誤差的前提下，他受精密度要求的限制（精密度通常以相對標准偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測定下限高於檢出限越多。
美國EPASW-846中規定4MDL為定量下限（RQL），即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標准偏差約為10%。日本JIS規定定量下限為10倍的MDL。
2測定上限
在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠准確地定量測定待測物質的最大濃度或量，稱為該方法的測定上限。
對沒有（或消除了）系統誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測定上限也將不同。
測定限對於定量分析，進一步計算才能得到與分析物有關的值（例如，各個結果的平均值）。因此，條件更加苛刻，所以測定限總是高於檢出限。
3檢測限有三種常用的表示方式
（1）儀器檢測下限
可檢測儀器的最小訊號，通常用信噪比來表示,當信號與雜訊之比大於等於3時，相當於信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。
（2）方法檢測下限
即某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。
（3）樣品檢測下限
即相對於空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其信號等於測量空白溶液的信號的標准偏差的3倍時的濃度。
檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關。只有當空白含量為零時，樣品檢測下限等於方法檢測下限。
然而，空白含量往往不等於零，空白大小受環境對樣品的污染，試劑純度、水質純度、容器的質地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由於空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實用中考慮，樣品檢測下限較為 有用和切合實際。
最佳測定范圍
1最佳測定范圍（也稱有效測定范圍）
指在限定誤差能滿足預定要求的前提下，特定方法的測定下限至測定上限之間的濃度范圍。在此范圍內能夠准確地定量測定待測物質的濃度或量。
最佳測定范圍應小於方法的適應范圍。對測量結果的精密度（通常以相對標准偏差表示）要求越高，相應的最佳測定范圍越小。
2方法的線性范圍
方法的線性范圍是指信號與樣品濃度呈線性的工作曲線直線部分。通常把相當於10倍空白的標准偏差相應的濃度定為方法的線性范圍的定量檢測下限。取工作曲線中高濃度時，彎曲處作為方法的線性范圍的定量檢測上限。
好的分析方法要有寬的線性范圍。有的分析方法線性范圍只有一個數量級，有的分析方法線性范圍可達5～6個數量級。同一分析方法可用常量、微量、痕量的物質分析。
校準曲線
校準曲線包括標准曲線和工作曲線，前者用標准溶液系列直接測量，沒有經過預處理過程，這對於樣品往往造成較大誤差；而後者所使用的標准溶液經過了與樣品相同的消解、凈化、測量等全過程。
凡應用校準曲線的分析方法，都是在樣品測得信號值後，從校準曲線上查得其含量（或濃度）。因此，繪制准確的校準曲線，直接影響到樣品分析結果的准確與否。此外，校準曲線也確定了方法的測定范圍。
1校準曲線的繪制
用一系列被測物標准溶液，按照標准方法規定的步驟，將被測物轉變為有色溶液。制備好的標准系列和空白，在方法選定的波長下，測定吸光度。已被測物濃度為橫坐標，吸光度為縱坐標，繪制校準曲線。
對標准系列，溶液以純溶劑為參比進行測量後，應先作空白校正，然後繪制標准曲線。
標准溶液一般可直接測定，但如試樣的預處理較復雜致使污染或損失不可忽略時，應和試樣同樣處理後再測定。
校準曲線的斜率常隨環境溫度、試劑批號和貯存時間等實驗條件的改變而變動。
因此，在測定試樣的同時，繪制校準曲線最為理想，否則應在測定試樣的同時，平行測定零濃度和中等濃度標准溶液各兩份，取均值相減後與原校準曲線上的相應點核對，其相對差值根據方法精密度不得大於5%～10%，否則應重新繪制校準曲線。
2校準曲線的檢驗
1）線性檢驗: 即檢驗校準曲線的精密度。對於以4～6個濃度單位所獲得的測量信號值繪制的校準曲線，分光光度法一般要求其相關系數 | r | ≥0.9990，否則應找出原因並加以糾正，重新繪制合格的校準曲線。
2）截距檢驗：即檢驗校準曲線的准確度，在線性檢驗合格的基礎上，對其進行線性回歸，得出回歸方程 y= a+bx ，然後將所得截距a與0作t檢驗，當取95%置信水平，經檢驗無顯著性差異時，a可做0處理，方程簡化為y= bx，移項得x=y/b。在線性范圍內，可代替查閱校準曲線，直接將樣品測量信號值經空白校正後，計算出試樣濃度。
當a與0有顯著性差異時，表示校準曲線的回歸方程計算結果准確度不高，應找出原因予以校正後，重新繪制校準曲線並經線性檢驗合格。在計算回歸方程，經截距檢驗合格後投入使用。
回歸方程如不經上述檢驗和處理，就直接投入使用，必將給測定結果引入差值相當於解決a的系統誤差。
3)斜率檢驗: 即檢驗分析方法的靈敏度，方法靈敏度是隨實驗條件的變化而改變的。在完全相同的分析條件下，僅由於操作中的隨機誤差導致的斜率變化不應超出一定的允許范圍，此范圍因分析方法的精度不同而異。例如，一般而言，分子吸收分光光度法要求其相對差值小於5%，而原子吸收分光光度法則要求其相對差值小於10%等等。
3校準曲線的控制
被測物轉變為有色溶液的反應稱為顯色反應或發色反應。顯色反應的介質PH條件、顯色劑用量、顯色反應的時間和溫度、為消除共存物干擾而加入的掩蔽劑、甚至加試劑的順序，都要按照方法步驟的要求執行。有時，標准系列雖然不像實際試樣那樣組成復雜，但仍要求與試樣進行同樣的處理步驟，以便控制校準曲線上的數據點的空白、回收率等因素。
建立校準曲線時，測量吸光度的參比有兩種選擇。
第一種方法用純溶劑作參比，兩個比色皿都放溶劑時，「樣品比色皿」 的吸光度測定值為比色皿成對性校正值，此後所有樣品吸光度測定值都須扣除此值，進行校正。然後，以純溶劑為參比，測定空白及標准系列的吸光度，繪制校準曲線。
第二種方法直接用空白為參比。當兩個比色皿都放空白時，測定比色皿成對性校正值，然後測定標准系列的吸光度，繪制校準曲線。兩種方法得到的兩條校準曲線互相平行，但第一種方法可測定空白的水平，後一種方法不能測定空白，理論上校準曲線通過原點。若空白為零，兩條校準曲線重合。無論用什麼作參比，實樣測定時應該使用與建立校準曲線相同的比色皿和同樣的參比。
比色皿的成對性校正對於使用已久的比色皿是必要的，尤其是測量吸光度很小的樣品時，校正可保證測量值的可靠性和重復性。
一.分析空白的主要來源和控制措施
1環境對樣品的玷污
主要是由空氣中的污染氣體和沉降微粒引起的。普遍實驗室中每立方米空氣中含有數百微克的微粒。這些微粒含有多種元素，因而可引起多種和痕量元素的玷污。來自環境的玷污不但顯著，而且變動性大。應採取局部或整個實驗室的防塵與空氣凈化措施。
2試劑對樣品的玷污
試劑對樣品的玷污隨試劑用量而變化。對一定的試劑用量是恆定的。樣品處理過程中用量最多的是水和酸。
3器皿對樣品玷污
貯存、處理樣品所用的一切器皿，如燒杯、瓶子、過濾器、研缽等，由於其材質不夠純或者未洗滌干凈均可能玷污樣品。在痕量分析中應選用高純惰性材料製成的器皿， 並運用合適的清洗技術。聚四氟乙烯、透明的合成石英的高壓聚乙烯是比較合適的器皿材料。
4分析測試者對樣品的玷污
分析測試者用手觸摸樣品可引起多種元素的玷污；分析測試者的化妝品常常不知不覺地帶來許多元素的玷污；分析測試者使用的內服和外用葯物也常常玷污樣品；以及分析測試者若不注意個人衛生也會引起樣品的玷污。所以，分析測試者不但要具有正確熟練的操作技巧，而且要知道自身對樣品可能帶來什麼玷污，以採取消除玷污的必要措施。
二.分析空白的監測和空白值的扣除
空白值波動較大，往往在百分之幾十，甚至百分之幾百的水平上波動。因而痕量與超痕量分析中，扣除空白是比較困難的，也是不可靠的。可靠並行之有效的方法是把分析空白降至可以忽略不記的程度，同時在分析過程中作空白的平行測定，以監視分析過程。若分析空白明顯的超過正常值，則表明本次分析測定過程有嚴重的玷污，平行樣品的測定結果不可靠。
在分析空白主要來自試劑的玷污時，空白值比較穩定，若有必要，可以扣除空白值。為獲得可靠的空白值，應進行多次重復測定，算出空白值及其置信限：B ±t0.95(SB/n2)。
答案來自
Ⅳ 如何做出方法檢出限&儀器檢出限
要是算儀器檢出限的話：就進一針小濃度標液（比如1mg/L）,在目標峰（假設為下圖的peak2）旁邊選一段比較平穩的基線，放大（圖中基線很平滑，需要進行放大呈鋸齒狀），算一下所選的這段基線最高點與最低點之間的高度，作為噪音高度h2，然後看一下peak2的高度h1,那麼peak2所對應的物質的檢出限LOD=(3*h2*1mg/L)/h1。也就是我們平時所說的三倍信噪比計算所得出的檢出限！如果要算方法檢出限，演算法一樣，只是需要進行基質配標，而不是通過純標液進行計算！還有一點要注意：h1的高度理論上是從你所選的基線最高點和最低點的中間算起的，但是因為人為選擇噪音，人與人之間存在較大的不一致性，所以要選擇目標峰附近相對平坦的一段基線，而且峰高直接按電腦顯示即可！
Ⅳ 在測博士上做了一個檢測，檢測報告上面的檢出限是什麼意思
檢出限是分析化學中常見的名詞術語。
檢出限一般有儀器檢出限、分析方法檢出限之分。儀器檢出限是指分析儀器能檢出與噪音相區別的小信號的能力，而方法檢出限不但與儀器噪音有關，而且還決定於方法全部流程的各個環節，如取樣，分離富集，測定條件優化等，即分析者、環境、樣品性質等對檢出限也均有影響，實際工作中應說明獲得檢出限的具體條件。
檢出限過去也稱為檢出極限，檢測限，測定極限，波動濃度極限等，建議統一稱檢出限，以其簡短且較直觀。
Ⅵ 如何進行重金屬檢測，如何確定儀器的檢出限和方法檢出限
重金屬檢測常用理化檢測方法，與標准濃度試液對照，中國葯典2015版第四部101頁《 0821 重金屬檢測法》寫的很清楚 你可以參考下。也可以種原子吸收來做，用外標法來計算具體含量。方法的檢出限：配製目標樣品的試液不斷稀釋至信噪比為9~11范圍時的溶液濃度被認為是檢測限。
定量限：配製目標樣品的試液不斷稀釋至信噪比為2~4范圍時的溶液濃度被認為是檢測限。
Ⅶ 檢出限、檢測限、測定下限及最低檢測限定義和區別是什麼
定義
檢出限（Limit of detection或 minimum detectablity）是指某特定分析方法在給定的置信度內可從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小值。所謂「檢出」是判定樣品中存有濃度高於空白的待測物質。
「檢出」是定性概念，在測定限(Limit of determination)范圍內才可准確定量測定，測定限兩端稱測定下限或測定上限。測定下限是指在測定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能准確地定量測定待測物質的最小濃度或量。
在定量測定中，大部分實驗要藉助於校準曲線來確定待測物質的濃度或量。校準曲線 (Calibration curve)是由一組已知濃度的梯度標准溶液濃度值和相應的儀器響應值在坐標圖上形成的點連成的曲線。
校準曲線最低濃度點是曲線上已知的最低濃度值及其儀器響應值構成的點，它和其他系列已知濃度標准溶液濃度點共同構成校準曲線，一般情況下，人們所說的校準曲線最低濃度點，這一概念含有空白以外最低濃度值之意，對這一概念的關注，也多忽略其響應值而重在其濃度值方面。
區別
檢出限的計算依分析方法不同而不同，有關資料規定的方法有數種，其計算原理都是在規定置信水平時，以樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異為檢出限(以L表示)。如：
(1)《全球環境監測系統水檢測操作指南》規定：在給定置信水平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限L。
L=4.6σWb
其中，σWb為空白平行測定標准偏差(空白測定次數大於20)。
(2) 國際純粹和應用化學聯合會(IUPAC)對光學分析方法規定：
L=k』Sb/k
其中，Sb為 空 白 多 次 測 得 信 號 的 標 准 偏 差(空白測定次數大於20)；
k』為根據一定置信水平確定的系數；
k為方法的靈敏度#即校準曲線的斜率%。
IUPAC(1975年)建議：光譜化學分析取k』=3。當k』=3時，置信水平大約為 90%。
(3)氣相色譜的最小檢測量指監測器恰能產生於 噪音相區別的響應信號時所需進入色譜柱的物質的 最小量。一般認為恰能辨別的響應信號，最小應為噪音的兩倍。
測定下限的計算，有資料建議以3.3倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的標准偏差約為10%。按此推知，測定下限的計算與檢出限值有函數關系(如：測定下限=3.3L)。測定下限高於檢出限的量(或系數)的大小，依分析方法的精密度要求而定。精密度要求越高，測定下限高於檢出限越多。
在大部分方法標准中，都已給定校準曲線濃度值；在研究性檢測中，校準曲線系列濃度是按檢測設計要求而定的。一般來說，校準曲線最低濃度點值與檢出限值無函數關系。雖然校準曲線最低濃度點值和測定下限在應用上有相似之處，但二者之間有明顯不同。在同一方法中，校準曲線最低濃度點值可由檢測員根據待測物濃度選擇，而測定下限則由主觀選定。
一般在監測時，都設有空白點(即「0」濃度)，從理論上講，「0」濃度點既是最低濃度點，也應是 「檢出限」，有「0」濃度點的校準曲線似乎適於任意低濃度的測定，但實際上並非如此。實驗中，在「0」濃度至測定下限間，並不符合朗伯-比爾定律，曲線存在彎曲，這種情況成因復雜，既有技術因素限制，也涉及不確定度理論。在低濃度區間實際檢測中，人們以「檢出限」界定待測物質的有無，以 「測定下限」界定定性、定量區間，這種劃分有效地解決了低濃度區間檢測的復雜性問題，有利於控制檢測質量。
Ⅷ 如何詳細計算檢出限
在如何正確或准確地估算檢出限的問題上,國際分析界一直存有爭議。檢出限的特殊意義在於可以對一個給定的分析方法在低濃度水平的檢測能力進行准確地評估，而考察一個分析方法在低濃度范圍的檢測性能，可以基於不同的角度或不同的側重點,如可以從最小信號值與儀器噪音之比來考察，從方法測定空白的平均波動性來統計估算,也可以根據分析方法校準曲線的偏差特性來定量估算等等。
檢出限是評價一個分析方法及測試儀器性能的重要指標,所謂「檢出」是指定性檢出，即判定樣品中存在有濃度高於空白的待測物質。
ACS(美國化學學會)對這一定義作了更簡明的概括:檢出限是一個分析方法能夠可靠地檢測出被分析物的最低濃度。
1、檢測限（limit of detection, LOD）定義:
在樣品中能檢出的被測組分的最低濃度（量）稱為檢測限，即產生信號（峰高）為基線噪音標准差k倍時的樣品濃度，一般為信噪比（S/N）2:1或3:1時的濃度，對其測定的准確度和精密度沒有確定的要求。目前，一般將檢測限定義為信噪比（S/N）3:1時的濃度。
2、計算公式為：
D=3N/S （1）
式中：N——噪音; S——檢測器靈敏度；D——檢測限
而靈敏度的計算公式為：
S=I/Q （2）
式中：S——靈敏度；I——信號響應值；Q——進樣量
將式（1）和式（2）合並，得到下式：
D=3N×Q/I (3)
式中：Q——進樣量；N——噪音；I——信號響應值。I/N即為該進樣量下的信噪比（S/N），該信噪比可通過工作站對圖譜進行自動分析獲得，一般的色譜或質譜工作站都可進行信噪比分析計算。這樣檢測限的計算方法就變得非常方便了。
3、計算方法：
實際計算時，檢出限有2種表示方法：一種是進樣瓶中樣品檢測限，一種是針對原始樣品的方法檢出限。
A、對第一種檢測限，只要知道進樣量和信噪比即可計算。如進樣瓶中樣品濃度為1 mg/L,在此濃度下的信噪比為300(由工作站分析獲得)，則其檢測限為：D =（3×1 mg L-1）/300 = 0.01 mg/L。也可用絕對進樣量表示，若進樣體積為10 ul，則其檢測限為：D = 3×（1 mgL-1×10 ul）/300 = 0.1 ng。
B、對第二種表示方法，需同時考慮原始樣品的取樣量和提取樣品的定容體積。仍按前述樣品計算，若取樣量為5克，最後定容體積為5 mL，則方法檢測限為：D = 0.01 mgL-1×5 mL/5 g = 0.01 mg/kg。
即當原始樣品中待檢物質的濃度為0.01mg/kg時，若取樣量為5g,樣品經前處理後定容體積為5mL時,進樣瓶中樣品的濃度可達0.01mg/L（假定回收率為100%）,此時，在其它給定的分析條件下，能產生3倍雜訊強度的信號。在實際檢測工作中，第二種表示方法更為常見。
4、注意事項
由式（3）可見，信噪比的大小直接關繫到檢測限的大小。信噪比計算方法的不同，其比值大小有很大不同，這與計算信噪比時基線雜訊峰值的定義方式有關，一般有三種不同的定義：
A、峰/峰（peak to peak）信噪比，用某一段基線雜訊的平均高度；
B、峰/半峰（half peak to peak）信噪比, 用某一段基線雜訊平均高度的1/2；
C、均方根（RMS）信噪比，用某一段基線雜訊的均方根值計算。
除此之外，信噪比的計算結果還和所取雜訊的位置有很大關系，取信號哪一側基線的雜訊，取多長一段基線上的雜訊，計算結果都很不完全相同，有時相差甚遠。一般多取樣品峰兩側的雜訊峰值計算。
5、檢出限的確定
A、《全球環境監測系統水監測操作指南》中規定：給定置信水平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限：
L = 4.6Sb
式中：L——方法的最低檢出濃度。
Sb ——測定次數為n次的空白平行測定（批內）標准差（重復測定20次以上）。
B、國際純粹和應用化學聯合會（IUPAC）規定對各種光學分析方法，可用下式計算：
L = KSb/S
L——方法的最低檢出濃度
Sb——空白多次測量的標准偏差（吸光度）；
S ——方法的靈敏度（即校準曲線的斜率）
為了評估 ，空白測定次數必須足夠多，最好能測20次。國際純粹和應用化學聯合會極力提倡取k值為3，一般來說，取 相應的置信水平大約為90%。
若 =0，並不意味著 ，或檢出限無限小。這時需配製一個濃度略大於零濃度的試樣系列（能產生一個可測信號值）代替全程序空白試驗，求出其標准偏差，用來代替 。
此外，有時為了工作方便和便於比較，也規定一個大家能接受的信號值作為檢出限，如分光光度法中，規定吸光度為0.010所對應的濃度即為檢出限L。
C、 美國EPA SW—846規定方法中的檢出限為：
L=3.143Sb
D、某些分光光度法是以吸光度（扣除空白）為0.010相對應的濃度值或絕對量為檢出限，這是一種實驗室間的協定方案。
E、氣相色譜法：檢測器恰能產生與噪音相區別的響應信號時所需進入色譜的物質最小量為檢出限，一般為噪音的二倍。
F、離子選擇電極法：當校準曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值即為該離子色譜所對電極法的檢出限。
由測得的空白值計算出的L值不應大於分析方法規定的最低檢出濃度值，如大於方法規定值時，必須尋找原因降低空白值，重新測定計算至合格。
6、校正曲線繪制：
A、按分析方法步驟，通過實測濃度和儀器信號值的直線關系，確定實驗室條件下的測定上限。當測定上限低於方法的檢測上限時，只能用實測的直線范圍。
B、繪制校正曲線的分析步驟應與樣品分析相同，並且不少於5個濃度值。
C、校正曲線繪制與每批測定樣品同時進行，對某些分析方法的校正曲線的斜率穩定，批間誤差較小，使用原制校正曲線時，應與樣品同時測定2份中等濃度標樣和2份空白的平行樣。
測得標準的濃度（減去空白）值與原校正曲線相對應的濃度值的相對偏差，分光光度應小於5%；原子吸收法應小於10%，否則重新製作校正曲線。