納米薄膜的檢測方法

『壹』 手機納米鍍膜是什麼原理

工作原理：

手機表面雖然在肉眼的觀察下是平整的，但是在高倍顯微鏡觀察事實上卻是凹凸不平的，在將主要成分納米二氧化硅這些坑窪之處填充後進行固化，先進的納米藍光阻斷劑可有效色散固藍光緩解眼疲勞。

膜結手機納米防護六大功能功效：

1、提升屏幕的耐摩擦程度，色散藍光緩解眼疲勞保護眼睛，手感順滑 觸控靈敏。

2、疏水易清潔 油污輕輕一抹乾凈如新，增亮高清 陽光下看手機依然清晰，不起泡不翹邊折疊弧度曲面柔性屏完美貼合。

3、間接性的延長手機的使用壽命，增加了對手機的愛護感。對手機屏幕流暢性進行很大的提升。

(1)納米薄膜的檢測方法擴展閱讀：

納米鍍膜類型

一、 納米硅油

它屬於一種油類，摸上去有點黏黏的感覺，這種油類可以達到納米級，但是油類始終是油類。一般來說，做了納米硅油的手機屏幕以後，可以起到一層很好的疏水的效果，不沾水

二、（乳白色液體）也叫汽車鍍晶

它屬於是一種工業范疇，不是什麼納米技術的產品。它可以做在汽車的玻璃表面和漆面表面，具有增光增亮的功效，坐在手機上也不錯。

三、 防指紋塗層

做到手機屏幕上，必須要經過高溫燒階的環節。如果說不經過高溫燒階，這個防指紋塗層是做不上去的，難以達到良好的附著力。

四、液體玻璃

透明無色二氧化硅，從石英砂中提取出來再無需其他添加劑，據製造商說這種液體玻璃的抑菌效果很持久，液體玻璃噴霧 噴塗在物體表面能防塵抗菌，且無毒無害。

『貳』 求助！！！！太陽能納米薄膜的表徵測試

SEM可以看斷面啊州團昌。300納米夠厚了。把你的樣品弄斷，然後放在斜面的載物台上，掃描電鏡冊扒那裡都可以做。SEM里帶能譜的話可以測到表面的化學元素。SEM你做表面形貌或氏是神馬也看不出來的。

『叄』 用多晶XRD測試矽片上生長的納米薄膜結構，為什麼有的峰值測不到

兩個晶面當然是平行的，取段宴向完全一致，所以矽片沒問題。

後宏首者要握絕銀通過觀察其它弱衍射峰來確定到底是六方還是立方。一般來說硫化鎘六方多一點。

『肆』 納米材料粒度測試方法大全

納米材料是指三維空間尺寸中至少有一維處於納米數量級 (1~100 nm)，或由納米結構單元組成的具有特殊性質的材料，被譽為「21世紀最重要的戰略性高技術材料之一」。當材料的粒度大小達到納米尺度時，將具有傳統微米級尺度材料所不具備的小尺寸效應、量子尺寸效應、表面效應等諸多特性，這些特異效應將為新材料的開發應用提供嶄新思路。

目前，納米材料已成為材料研發以及產業化最基本的構成部分，其中納米材料的粒度則是其最重要的表徵參數之一。本文根據不同的測試原理闡述了8種納米材料粒度測試方法，並分析了不同粒度測試方法的優缺點及適用范圍。

1.電子顯微鏡法

電子顯微鏡法是對納米材料尺寸、形貌、表面結構和微區化學成分研究最常用的方法, 一般包括掃描電子顯微鏡法（SEM） 和透射電子顯微鏡法（TEM）。對於很小的顆粒粒徑, 特別是僅由幾個原子組成的團簇，採用掃描隧道電鏡進行測量。計算電鏡所測量的粒度主要採用交叉法、最大交叉長度平均值法、粒徑分布圖法等。

優點： 該方法是一種顆粒度觀測的絕對方法, 因而具有可靠性和直觀性。

缺點： 測量結果缺乏整體統計性；滴樣前必須做超聲波分散；對一些不耐強電子束轟擊的納米顆粒樣品較難得到准確的結果。

2.激光粒度分析法

激光粒度分析法是基於Fraunhofer衍射和Mie氏散射理論，根據激光照射到顆粒後，顆粒能使激光產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。因此相應的激光粒度分析儀分為激光衍射式和激光動態散射式兩類。一般衍射式粒度儀適於對粒度在5μm以上的樣品分析，而動態激光散射儀則對粒度在5μm以下的納米、亞微米顆粒樣品分析較為准確。所以納米粒子的測量一般採用動態激光散射儀。

優點： 樣品用量少、自動化程度高、重復性好, 可在線分析等。

缺點： 不能分析高濃度的粒度及粒度分布，分析過程中需要稀釋，從而帶來一定誤差。

3.動態光散射法

動態光散射也稱光子相關光譜，是通過測量樣品散射光強度的起伏變化得出樣品的平均粒徑及粒徑分布。液體中納米粒子以布朗運動為主，其運動速度取決於粒徑、溫度和黏度系數等因素。在恆定溫度和黏度條件下, 通過光子相關譜法測定顆粒的擴散系數就可獲得顆粒的粒度分布，其適用於工業化產品粒徑的檢測，測量粒徑范圍為1nm~5μm的懸浮液。

優點： 速度快，可獲得精確的粒徑分布。

缺點： 結果受樣品的粒度大小以及分布影響較大, 只適用於測量粒度分布較窄的顆粒樣品；測試中應不發生明顯的團聚和快速沉降現象。

4.X射線衍射線寬法（XRD）

XRD測量納米材料晶粒大小的原理是當材料晶粒的尺寸為納米尺度時，其衍射峰型發生相應的寬化，通過對寬化的峰型進行測定並利用Scherrer公式計算得到不同晶面的晶粒尺寸。對於具體的晶粒而言, 衍射hkl的面間距dhkl和晶面層數N的乘積就是晶粒在垂直於此晶面方向上的粒度Dhkl。試樣中晶粒大小可採用Scherrer公式進行計算:

式中：λ-X射線波長;θ-布拉格角 (半衍射角) ;βhkl-衍射hkl的半峰寬。

優點： 可用於未知物的成分鑒定。

缺點： 靈敏度較低；定量分析的准確度不高；測得的晶粒大小不能判斷晶粒之間是否發生緊密的團聚；需要注意樣品中不能存在微觀應力。

5.X射線小角散射法 (SAXS)

當X射線照到材料上時，如果材料內部存在納米尺寸的密度不均勻區域，則會在入射X射線束的周圍2°~5°的小角度范圍內出現散射X射線。當材料的晶粒尺寸越細時，中心散射就越漫散，且這種現象與材料的晶粒內部結構無關。SAXS法通過測定中心的散射圖譜就可以計算出材料的粒徑分布。SAXS可用於納米級尺度的各種金屬、無機非金屬、有機聚合物粉末以及生物大分子、膠體溶液、磁性液體等顆粒尺寸分布的測定；也可對各種材料中的納米級孔洞、偏聚區、析出相等的尺寸進行分析研究。

優點： 操作簡單；對於單一材質的球形粉末, 該方法測量粒度有著很好的准確性。

缺點： 不能有效區分來自顆粒或微孔的散射，且對於密集的散射體系，會發生顆粒散射之間的干涉效應，導致測量結果有所偏低。

6.X射線光電子能譜法（XPS）

XPS法以X射線作為激發源，基於納米材料表面被激發出來的電子所具有的特徵能量分布（能譜）而對其表面元素進行分析，也稱為化學分析光電子能譜（ESCA）。由於原子在某一特定軌道的結合能依賴於原子周圍的化學環境，因而從X射線光電子能譜圖指紋特徵可進行除氫、氦外的各種元素的定性分析和半定量分析。

優點： 絕對靈敏度很高，在分析時所需的樣品量很少。

缺點： 但相對靈敏度不高, 且對液體樣品分析比較麻煩；影響X射線定量分析准確性的因素相當復雜。

7.掃描探針顯微鏡法（SPM）

SPM法是利用測量探針與樣品表面相互作用所產生的信號, 在納米級或原子級水平研究物質表面的原子和分子的幾何結構及相關的物理、化學性質的分析技術，尤以原子力顯微鏡 （AFM）為代表, 其不僅能直接觀測納米材料表面的形貌和結構, 還可對物質表面進行可控的局部加工。

優點： 在納米材料測量和表徵方面具有獨特性優勢。

缺點： 由於標准物質的缺少，在實際操作中缺乏實施性。

8.拉曼光譜法

拉曼光譜法低維納米材料的首選方法。它基於拉曼效應的非彈性光散射分析技術, 是由激發光的光子與材料的晶格振動相互作用所產生的非彈性散射光譜, 可用來對材料進行指紋分析。拉曼頻移與物質分子的轉動和振動能級有關, 不同的物質產生不同的拉曼頻移。拉曼頻率特徵可提供有價值的結構信息。利用拉曼光譜可以對納米材料進行分子結構、鍵態特徵分析、晶粒平均粒徑的測量等。

優點： 靈敏度高、不破壞樣品、方便快速。

缺點： 不同振動峰重疊和拉曼散射強度容易受光學系統參數等因素的影響；在進行傅里葉變換光譜分析時，常出現曲線的非線性問題等。

小結

納米材料粒度的測試方法多種多樣，但不同的測試方法對應的測量原理不同，因而不同測試方法之間不能進行橫向比較。不同的粒度分析方法均有其一定的適用范圍以及對應的樣品處理方法，所以在實際檢測時應綜合考慮納米材料的特性、測量目的、經濟成本等多方面因素，確定最終選用的測試方法。

參考資料

1.汪瑞俊，《納米材料粒度測試方法及標准化》；

2.譚和平等，《納米材料的表徵與測試方法》；

3.王書運，《納米顆粒的測量與表徵》。

『伍』 請問納米多孔薄膜的厚度如何測量以及孔壁厚度如何測量

參考答攜差案 16、上帝把所有人都騙了，高乎因為地獄才是最美的！佛知道真相，所以佛說：「我不入地獄，誰入地獄？」辯念皮

『陸』 二氧化鈦納米薄膜的性質與表徵技術

性質：光催化降解，超親褲蔽水等
XRD測試晶型，XPS測試裡面胡賀州的元素成分，TEM觀察薄膜拍鏈的形態

『柒』 納米材料的表徵手段有哪些

1、形貌，電子顯微鏡（TEM），普通的是電子槍發射光電子，還有場發射的，解析度和適應性更好。

2、結構，一般是需要光電電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡不行。

3、晶形，單晶衍射儀，XRD，判斷納米粒子的晶形及結晶度。

4、組成，一般是紅外，結合四大譜圖，判斷核殼組成，只作為佐證。

5、性能，光，紫外，熒光；電原子力顯微鏡，拉曼；磁原子力顯微鏡或者專用的儀器。

(7)納米薄膜的檢測方法擴展閱讀

納米結構：納米結構包括納米陣列體系、介孔組裝體系、薄膜嵌鑲體系。對納米陣列體系的研究集中在由金屬納米微粒或半導體納米微粒在一個絕緣的襯底上整齊排列所形成的二位體繫上。

而納米微粒與介孔固體組裝體系由於微粒本身的特性，以及與界面的基體耦合所產生的一些新的效應，也使其成為了研究熱點，按照其中支撐體的種類可將它劃分為無機介孔復合體和高分子介孔復合體兩大類，按支撐體的狀態又可將它劃分為有序介孔復合體和無序介孔復合體。

『捌』 塑料薄膜厚度如何測量用什麼儀器好

對塗層厚度的檢測將有利於有效控制薄膜各層的厚度均勻性，但對於多層薄膜若想精確測量每一塗層的厚度，在相應的厚度檢測設備上就需要有非常大的投資，並隨著薄膜層數的增長而加大，給企業帶來較大的經濟負擔。比較經濟的方式是對部分價格昂貴的塗層材料進行塗層厚度的檢測，同時加強對薄膜整體厚度的測試以達到有效控制其他各層材料厚度均勻性的作用。
對於薄膜厚度測量，深圳大成精密一直持續加大研發投入和不斷致力於技術創新。大成精密光學干涉測厚儀專為透明薄膜開發的光學干涉測厚儀能夠良好地實現單層或多層透明薄膜的厚度測量。精度極其高，應用甚廣，尤其適合厚度要求達到納米級的透明多層物體的厚度測量。

『玖』 如何測量薄膜的厚度

薄膜厚度是否均勻一致是檢測薄膜各項性能的基礎。很顯然，倘若一批單層薄膜厚度不均勻，不但影響到薄膜各處的拉伸強度、阻隔性等，更會影響薄膜的後續加工。對於復合薄膜，厚度的均勻性更加重要。薄膜的厚度測量是薄膜製造業的基礎檢測項目之一。
目前測量薄膜的厚度的方法有在線測厚和非在線測厚
在線測厚較為常見的在線測厚技術有β射線技術，X射線技術和近紅外技術。
β射線技術是最先應用於在線測厚技術上的射線技術。在上世紀60年代就已經廣泛用於超薄薄膜的在線厚度測量了。它對於測量物沒有要求，但β感測器對溫度和大氣壓的變化、以及薄膜上下波動敏感，設備對於輻射保護裝置要求很高，而且信號源更換費用昂貴，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更換費用均在6000美元左右。
X射線技術
這種技術極少為塑料薄膜生產線所採用。X光管壽命短，更換費用昂貴，一般可用2-3年，更換費用在5000美元左右，而且不適用於測量多種元素構成的聚合物，信號源發射性強。X射線技術常用於鋼板等單一元素的測量。
近紅外技術
近紅外技術在在線測厚領域的應用曾受到條紋干涉現象的影響，但現在近紅外技術已經突破了條紋干涉現象對於超薄薄膜厚度測量的限制，完全可以進行多層薄膜總厚度的測量，並且由於紅外技術自身的特點，還可以在測量復合薄膜總厚度的同時給出每一層材料的厚度。近紅外技術可用於雙向拉伸薄膜、流延膜和多層共擠薄膜，信號源無放射性，設備維護難度相對較低。
非在線測厚
非在線測厚技術主要有一觸式測量法和非接觸式測量法兩類，接觸式測量法主要是機械測量法，非接觸式測量法包括光學測量法，電渦流測量法、超聲波測量法等。由於非在線測厚儀設備價格便宜、體積小等原因，應用領域廣闊。
渦流測厚儀和磁性測厚儀
渦流測厚儀和磁性測厚儀一般都是小型攜帶型設備，分別利用了電渦流原理和電磁感應原理。專用於各種特定塗層厚度的測量，用於測量薄膜、紙張的厚度時有出現誤差的可能。
超聲波厚度儀
超聲波厚度儀也多是小型便攜帶設備，利用超聲波反射原理，可測金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超聲波良導體的厚度。可在高溫下工作，這是很多其它類型的測厚儀所不具備的，但對檢測試樣的種類具有選擇性。
光學測厚儀
從測量原理上來說光學測厚儀可達到極高的測試精度，但是這類測厚儀在使用及維護上要求極高；必須遠離振源；嚴格防塵；專業操作及維護等。使用范圍較窄，僅適用於復合層數較少的復合膜。
機械測厚儀
機械測厚儀可以分為點接觸式和面接觸式兩類，是一種接觸式測厚方法，它與非接觸式測量方法有著本質的區別——能夠在進行厚度測量前給試樣測量表面施加一定的壓力（點接觸力或面接觸力），這樣可以避免在使用非接觸式測厚儀測量那些具有一定壓縮力、表面高低不平的材料時可能出現數據波動較大的現象。
所以具體要選擇哪一類測厚儀設備還需根據軟包裝材料的種類，廠家對厚度均勻性的要求、以及設備的測試范圍等因素而定。
本答案源於PP論壇

『拾』 納米材料的表徵方法有哪些

主要包括納米粒子的XRD表徵、納米粒子透射電子顯微鏡及光譜分析、納米粒子的掃描透射電子顯微術、納米團簇的掃描探針顯微術、納米材料光譜學和自組裝納米結構材料的核磁共振表徵。

納米技術的廣義范圍可包括納米材料技術及納米加工技術、納米測量技術、納米應用技術等方面。

其中納米材料技術著重於納米功能性材料的生產（超微粉、鍍膜、納米改性材料等），性能檢測技術（化學組成、微結構、表面形態、物、化、電、磁、熱及光學等性能）。納米加工技術包含精密加工技術（能量束加工等）及掃描探針技術。

(10)納米薄膜的檢測方法擴展閱讀

自20世紀70年代納米顆粒材料問世以來，從研究內涵和特點大致可劃分為三個階段：

第一階段：主要是在實驗室探索用各種方法制備各種材料的納米顆粒粉體或合成塊體，研究評估表徵的方法，探索納米材料不同於普通材料的特殊性能；研究對象一般局限在單一材料和單相材料，國際上通常把這種材料稱為納米晶或納米相材料。

第二階段：人們關注的熱點是如何利用納米材料已發掘的物理和化學特性，設計納米復合材料，復合材料的合成和物性探索一度成為納米材料研究的主導方向。

第三階段：納米組裝體系、人工組裝合成的納米結構材料體系正在成為納米材料研究的新熱點。國際上把這類材料稱為納米組裝材料體系或者納米尺度的圖案材料。它的基本內涵是以納米顆粒以及它們組成的納米絲、管為基本單元在一維、二維和三維空間組裝排列成具有納米結構的體系。