檢測方法能測比測定上限高的樣品

Ⅰ 檢出限的檢出限與測定限

1檢出限

為某特定分析方法在給定的置信度內可從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂「檢出」是指定性檢出，即判定樣品中存有濃度高於空白的待測物質。

檢出限除了與分析中所用試劑和水的空白有關外，還與儀器的穩定性及雜訊水平有關。在靈敏度計算中沒有明確雜訊的大小，因而操作者可以將檢測器的輸出信號，通過放大器放到足夠大，從而使靈敏度相當高。顯然這是不妥的，必須考慮雜訊這一參數，將產生兩倍雜訊信號時，單位體積載氣或單位時間內進入檢測器的組分量稱為檢出限。

則：

D = 2N / S

式中：

N——雜訊（mV或A）；

S——檢測器靈敏度；

D——檢出限，其單位隨S不同也有三種：

Dg=2N / Sg,單位為mg/ml

Dv=2N / Sv,單位為ml/ml

Dt=2N / St,單位為g/s

有時也用最小檢測量（MDA）或最小檢測濃度（MDC）作為檢測限。它們分別是產生兩倍雜訊信號時，進入檢測器的物質量（g）或濃度(mg/ml)。

不少高靈敏度檢測器，如FID、NPD、ECD等往往用檢出限表示檢測器的性能。

靈敏度和檢出限是兩個從不同角度表示檢測器對測定物質敏感程度的指標，前者越高、後者越低，說明檢測器性能越好。

從而可見，測量方法的檢出限於分析空白值、精密度、靈敏度密切相關。他是分析方法的一個綜合性的重要計量參數。

2檢出限的計算方法

1）在《全球環境監測系統水監測操作指南》中規定：給定置信水平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限（D.L）。這里的零濃度樣品是不含待測物質的樣品。

D.L = 4.6σ

式中：

σ— 空白平行測定（批內）標准偏差（重復測定20次以上）。

2)國際純粹和應用化學聯合會（IUPAC）對分析方法的檢出限D.L作如下規定。

在與分析實際樣品完全相同的條件下，做不加入被測組分的重復測定（即空白試驗），測定次數盡可能多（試驗次數至少為20次）。

算出空白觀測值的平均值Xb和標准偏差Sb。在一定置信概率下，被檢出的最小測量值XL以下式確定：

XL= Xb+ K』Sb

式中：

Xb—— 空白多次測得信號的平均值；

Sb—— 空白多次測得信息的標准偏差；

K』—— 根據一定置信水平確定的系數。

與XL-Xb(即K』 Sb)相應的濃度或量即為檢出限:

D.L = XL- Xb/ K = k』Sb/ K

式中：

k——方法的靈敏度（即校準曲線的斜率）。為了評估Xb和Sb，實驗次數必須至少20次。

1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取k』=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與k』=3相應的置信水平大約為90%。

此外，尚有將K』取為4、4.6、5及6的建議。

3）美國EPASW-846中規定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復測定7次)

4）在某些分光光度法中，以扣除空白值後的與0.01吸光度相對應的濃度值為檢出限。

5）氣相色譜分析的最小檢測量系指檢測器恰能產生與雜訊相區別的響應信號時所需進入色譜柱的物質的最小量，一般認為恰能辨別的響應信號，最小應為雜訊的兩倍。最小檢測濃度系指最小檢測量與進樣量（體積）之比。

6）某些離子選擇電極法規定：當校準曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值及為該離子選擇電極法的檢出限。

光度分析中，雖然吸光度最小測讀值為0.001，靈敏度也以A=0.001所相應的被測物濃度表示，但實際上慣常以A=0.05相應的被測物濃度作為有充分置信度的測定限，即最小能夠可靠測定的濃度。這是因為，在吸光度A接近零的情況下，測定值與真實值之比即相對誤差趨向無限大。

其次，由於比色皿的成對性不易做到完全匹配，尤其是使用已久的比色皿的成對性不易保證，因此吸光度很小的測量值在不同操作者、不同試驗室之間常會不一致，除非操作者很有經驗，十分注意比色皿成對性對測量的影響，並在每次測量時予以試驗校正。

測定限

測定限為定量范圍的兩端，分為測定上限與測定下限。

1測定下限

在測定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能准確地定量測定待測物質的最小濃度或量，稱為該方法的測定下限。

測定下限反映出分析方法能准確地定量測定低濃度水平待測物質的極限可能性。在沒有（或消除了）系統誤差的前提下，他受精密度要求的限制（精密度通常以相對標准偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測定下限高於檢出限越多。

美國EPASW-846中規定4MDL為定量下限（RQL），即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標准偏差約為10%。日本JIS規定定量下限為10倍的MDL。

2測定上限

在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠准確地定量測定待測物質的最大濃度或量，稱為該方法的測定上限。

對沒有（或消除了）系統誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測定上限也將不同。

測定限對於定量分析，進一步計算才能得到與分析物有關的值（例如，各個結果的平均值）。因此，條件更加苛刻，所以測定限總是高於檢出限。

3檢測限有三種常用的表示方式

（1）儀器檢測下限

可檢測儀器的最小訊號，通常用信噪比來表示,當信號與雜訊之比大於等於3時，相當於信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。

（2）方法檢測下限

即某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。

（3）樣品檢測下限

即相對於空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其信號等於測量空白溶液的信號的標准偏差的3倍時的濃度。

檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關。只有當空白含量為零時，樣品檢測下限等於方法檢測下限。

然而，空白含量往往不等於零，空白大小受環境對樣品的污染，試劑純度、水質純度、容器的質地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由於空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實用中考慮，樣品檢測下限較為 有用和切合實際。

最佳測定范圍

1最佳測定范圍（也稱有效測定范圍）

指在限定誤差能滿足預定要求的前提下，特定方法的測定下限至測定上限之間的濃度范圍。在此范圍內能夠准確地定量測定待測物質的濃度或量。

最佳測定范圍應小於方法的適應范圍。對測量結果的精密度（通常以相對標准偏差表示）要求越高，相應的最佳測定范圍越小。

2方法的線性范圍

方法的線性范圍是指信號與樣品濃度呈線性的工作曲線直線部分。通常把相當於10倍空白的標准偏差相應的濃度定為方法的線性范圍的定量檢測下限。取工作曲線中高濃度時，彎曲處作為方法的線性范圍的定量檢測上限。

好的分析方法要有寬的線性范圍。有的分析方法線性范圍只有一個數量級，有的分析方法線性范圍可達5～6個數量級。同一分析方法可用常量、微量、痕量的物質分析。

校準曲線

校準曲線包括標准曲線和工作曲線，前者用標准溶液系列直接測量，沒有經過預處理過程，這對於樣品往往造成較大誤差；而後者所使用的標准溶液經過了與樣品相同的消解、凈化、測量等全過程。

凡應用校準曲線的分析方法，都是在樣品測得信號值後，從校準曲線上查得其含量（或濃度）。因此，繪制准確的校準曲線，直接影響到樣品分析結果的准確與否。此外，校準曲線也確定了方法的測定范圍。

1校準曲線的繪制

用一系列被測物標准溶液，按照標准方法規定的步驟，將被測物轉變為有色溶液。制備好的標准系列和空白，在方法選定的波長下，測定吸光度。已被測物濃度為橫坐標，吸光度為縱坐標，繪制校準曲線。

• 對標准系列，溶液以純溶劑為參比進行測量後，應先作空白校正，然後繪制標准曲線。

• 標准溶液一般可直接測定，但如試樣的預處理較復雜致使污染或損失不可忽略時，應和試樣同樣處理後再測定。

• 校準曲線的斜率常隨環境溫度、試劑批號和貯存時間等實驗條件的改變而變動。

因此，在測定試樣的同時，繪制校準曲線最為理想，否則應在測定試樣的同時，平行測定零濃度和中等濃度標准溶液各兩份，取均值相減後與原校準曲線上的相應點核對，其相對差值根據方法精密度不得大於5%～10%，否則應重新繪制校準曲線。

2校準曲線的檢驗

1）線性檢驗: 即檢驗校準曲線的精密度。對於以4～6個濃度單位所獲得的測量信號值繪制的校準曲線，分光光度法一般要求其相關系數 | r | ≥0.9990，否則應找出原因並加以糾正，重新繪制合格的校準曲線。

2）截距檢驗：即檢驗校準曲線的准確度，在線性檢驗合格的基礎上，對其進行線性回歸，得出回歸方程 y= a+bx ，然後將所得截距a與0作t檢驗，當取95%置信水平，經檢驗無顯著性差異時，a可做0處理，方程簡化為y= bx，移項得x=y/b。在線性范圍內，可代替查閱校準曲線，直接將樣品測量信號值經空白校正後，計算出試樣濃度。

當a與0有顯著性差異時，表示校準曲線的回歸方程計算結果准確度不高，應找出原因予以校正後，重新繪制校準曲線並經線性檢驗合格。在計算回歸方程，經截距檢驗合格後投入使用。

回歸方程如不經上述檢驗和處理，就直接投入使用，必將給測定結果引入差值相當於解決a的系統誤差。

3)斜率檢驗: 即檢驗分析方法的靈敏度，方法靈敏度是隨實驗條件的變化而改變的。在完全相同的分析條件下，僅由於操作中的隨機誤差導致的斜率變化不應超出一定的允許范圍，此范圍因分析方法的精度不同而異。例如，一般而言，分子吸收分光光度法要求其相對差值小於5%，而原子吸收分光光度法則要求其相對差值小於10%等等。

3校準曲線的控制

被測物轉變為有色溶液的反應稱為顯色反應或發色反應。顯色反應的介質PH條件、顯色劑用量、顯色反應的時間和溫度、為消除共存物干擾而加入的掩蔽劑、甚至加試劑的順序，都要按照方法步驟的要求執行。有時，標准系列雖然不像實際試樣那樣組成復雜，但仍要求與試樣進行同樣的處理步驟，以便控制校準曲線上的數據點的空白、回收率等因素。

建立校準曲線時，測量吸光度的參比有兩種選擇。

第一種方法用純溶劑作參比，兩個比色皿都放溶劑時，「樣品比色皿」 的吸光度測定值為比色皿成對性校正值，此後所有樣品吸光度測定值都須扣除此值，進行校正。然後，以純溶劑為參比，測定空白及標准系列的吸光度，繪制校準曲線。

第二種方法直接用空白為參比。當兩個比色皿都放空白時，測定比色皿成對性校正值，然後測定標准系列的吸光度，繪制校準曲線。兩種方法得到的兩條校準曲線互相平行，但第一種方法可測定空白的水平，後一種方法不能測定空白，理論上校準曲線通過原點。若空白為零，兩條校準曲線重合。無論用什麼作參比，實樣測定時應該使用與建立校準曲線相同的比色皿和同樣的參比。

比色皿的成對性校正對於使用已久的比色皿是必要的，尤其是測量吸光度很小的樣品時，校正可保證測量值的可靠性和重復性。

• 分析空白

一.分析空白的主要來源和控制措施

1環境對樣品的玷污

主要是由空氣中的污染氣體和沉降微粒引起的。普遍實驗室中每立方米空氣中含有數百微克的微粒。這些微粒含有多種元素，因而可引起多種和痕量元素的玷污。來自環境的玷污不但顯著，而且變動性大。應採取局部或整個實驗室的防塵與空氣凈化措施。

2試劑對樣品的玷污

試劑對樣品的玷污隨試劑用量而變化。對一定的試劑用量是恆定的。樣品處理過程中用量最多的是水和酸。

3器皿對樣品玷污

貯存、處理樣品所用的一切器皿，如燒杯、瓶子、過濾器、研缽等，由於其材質不夠純或者未洗滌干凈均可能玷污樣品。在痕量分析中應選用高純惰性材料製成的器皿， 並運用合適的清洗技術。聚四氟乙烯、透明的合成石英的高壓聚乙烯是比較合適的器皿材料。

4分析測試者對樣品的玷污

分析測試者用手觸摸樣品可引起多種元素的玷污；分析測試者的化妝品常常不知不覺地帶來許多元素的玷污；分析測試者使用的內服和外用葯物也常常玷污樣品；以及分析測試者若不注意個人衛生也會引起樣品的玷污。所以，分析測試者不但要具有正確熟練的操作技巧，而且要知道自身對樣品可能帶來什麼玷污，以採取消除玷污的必要措施。

二.分析空白的監測和空白值的扣除

空白值波動較大，往往在百分之幾十，甚至百分之幾百的水平上波動。因而痕量與超痕量分析中，扣除空白是比較困難的，也是不可靠的。可靠並行之有效的方法是把分析空白降至可以忽略不記的程度，同時在分析過程中作空白的平行測定，以監視分析過程。若分析空白明顯的超過正常值，則表明本次分析測定過程有嚴重的玷污，平行樣品的測定結果不可靠。

在分析空白主要來自試劑的玷污時，空白值比較穩定，若有必要，可以扣除空白值。為獲得可靠的空白值，應進行多次重復測定，算出空白值及其置信限：B ±t0.95(SB/n2)。

答案來自

Ⅱ 如何計算方法檢出限

方法檢出限的測定必須包括該分析方法中涉及的所有樣品測試步驟.

1. 根據下述原則之一,並結合經驗,估計檢出限:

(a) 相應於3-5倍儀器信/噪比的濃度值;

(b) 將分析物配在空白水中,用儀器重復測定值標准偏差的3倍所對應的濃度值;

(c) 標准曲線在低濃度端的折點(靈敏度明顯變化之處);

2. 空白水(試劑水)中應盡可能不含待測分析物,或其中的待測物、干擾物低於方法檢出限.

3.(a) 若用空白加標的方式作方法檢出限,將分析物加到空白水中配置一個標准濃度樣,該濃度值是估計的方法檢出限值的1-5倍.然後進行步驟4.

(b) 若方法檢出限在實際樣品基體中作出,則分析樣品,若測定值在估計檢出限的3-5倍范圍內,則進行步驟4;若測定值低於估計檢出限,則需要在樣品中加入已知量的待測物,使得待測物的濃度在估計檢出限的3-5倍范圍內;若測定值高於5倍的估計檢出限,則需重新選擇另一個具有同樣基體、但濃度水平較低的實際樣品.

4. 按照樣品分析的全部步驟,最少分析7次樣品,用所得的結果來計算方法檢出限,如果需要作空白測定來計算分析物的測定結果,則每個樣品均要作分別的空白測定,在相應的樣品測定值中減去平均空白測定值.

5. 計算平行測定的標准偏差

(2)檢測方法能測比測定上限高的樣品擴展閱讀

方法檢出限(Method Detection Limit, MDL)是指 在通過某一種分析方法的全部處理和測定過程之後(包括樣品制備和樣品測定) 被測定物質產生的信號能以99%置信度區別於空白樣品而被測定出來的最低濃度。方法的險出限與儀器的檢出限相似 ，但考慮了樣品分析前的所有制備過程的影響。方法檢出限的測定方法

方法的檢出限一般採用統計的方法確定。國內目前普遍使用的是根據空白實驗測定MDL在這里 主要介紹目前國外水質檢測實驗室常用的測定MDL的低濃度加標法。

美國EPA規定在測定 MDL時最少測定 七個重復的低濃度加標樣品，加標的濃度要適宜 一般為預期MDL值的1-5倍 並接照給定分析方法的全過程進行處理和測定。

Ⅲ 方法檢測限是什麼意思

方法檢測限是儀器對這種元素最低可以檢測到的數值，就像精確度為1mm的直尺，不可以准確的測量出多少um一樣。限值是標准要求的不可以超過的數值。報告結果是根據限值判斷的。

檢測限有幾種規定，簡述如下：

1、分光光度法中規定以扣除空白值後，吸光度為0.01相對應的濃度值為檢測限。

2、氣相色譜法中規定檢測器產生的響應信號為雜訊值三倍時的量為檢測限。最小檢測濃度是指最小檢測量與進樣量（體積）之比。

3、離子選擇性電極法規定某一方法的標准曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值即為檢測限。

4、《全球環境監測系統水檢測操作指南》中規定，給定置信水平為95%時，樣品濃度的一次測定值與零濃度樣品的一次測定值有顯著性差異者，即為檢測限（L）。當空白測定次數n大於20時：L=4.6 σwb

式中：σwb——空白平行測定（批內）標准偏差。

檢測上限是指校準曲線直線部分的最高限點（彎曲點）相應的濃度值。

與檢出限不同。

5、又稱檢測極限。指某一分析方法在給定的概率保證(如置信水平95%)條件下，從樣品中測出待測物質能區別於零值的最小濃度或最小量。檢出限的規定隨測定方法的不同而不同。國際理論與應用化學聯合會(IUPAC)規定的檢出限 L=kSb/S，其中Sb為空白多次測定的標准偏差;S為測定方法的靈敏度;k 為根據一定置信水平確定的系數。

(3)檢測方法能測比測定上限高的樣品擴展閱讀

國際純粹與應用化學聯合會(IUPAC)對檢出限（LOD）作如下規定：

「檢出限以濃度（或質量）表示，是指由特定的分析步驟能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL（或質量 qL）」。表達式：

# c_{L}（或q_{L}）=（X_{L}-ar{X}_{b})/m=KS_{b}/m # -----上述為源代碼

式中：

Xb平均：空白多次測得信號的平均值；

m：分析校準曲線在低濃度的斜率

SD：空白多次測得信號的標准偏差；

K：根據一定置信水平確定的系數，為了評估xb和Sb，實驗次數必須至少20次。

1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取K=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與K=3相應的置信水平大約為90%。此外，尚有將K取為4、4．6、5及6的建議。

參考資料來源：網路-檢測限

Ⅳ 檢出限、測定下限、測定上限有什麼不同區別是什麼

一、定義區別

1、檢出限

檢出限指產生一個能可靠地被檢出的分析信號所需要的某元素的最小濃度或含量。

2、測定限

測定限則是指定量分析實際可以達到的極限（測定限指定量范圍的兩端，測定限分為測定上限和測定下限）。

3、測定下限

在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠准確定量測定被測物質的最低濃度或含量，稱為該方法的測定下限。

4、測定上限

測定上限是指在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠准確地定量測定待測物質的最大濃度或量。

二、數值高度區別

測定限（測定限指定量范圍的兩端，測定限分為測定上限和測定下限）在數值上總值應高於檢出限。

三、受影響因素區別

1、檢出限僅受雜訊限制。檢出限對應的響應值至少為雜訊的3〜5倍。

2、測定限除受噪音限制外，還受到空白背景絕對水平的限制，只有當分析信號比雜訊和空白背景大到一定程度時才能可靠地分辨與檢測出來。雜訊和空白背景越高，實際能測定的濃度就越高，說明高的雜訊和空白背景值會使測定限變壞。

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檢出限和測定限標准

文獻曾對檢出限與測定限的名稱、定義展開過討論。

1991年8月，全國自然科學名詞審定委員會公布的《化學名詞》規定了檢出限（detection limit，編號03.0090）與測定限（determination limit，編號03.0091），並得到認可。

國際純粹與應用化學聯合會（IUPAC）1997年通過，1998年發表的《分析術語綱要》（IUPAC Compendium of Analytical Nomenclature）中規定：「檢出限以濃度（或質量）表示，是指由特定的分析步驟能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL（或質量qL）」。