光纜檢測方法

A. 怎樣檢測光纖線

• 方法：

1. 安排兩個工作人員，分別在確定故障的光纖的兩端，一段的人帶上光筆，另外一段無須攜帶東西；

2. 攜帶光筆的工作人員，先將光筆與光纖跳線（如圖所示）對應的兩個頭接上。然後打開光電源開關；

   

3. 如果不出現紅光，還可以在夜晚，光線比較暗的時候，順著光纖尋線，發現線上哪裡有紅光，就可以找出斷點。
   

B. 光纜成端的監測方法

成端的熔接質量無法監測
對於光纖熔接質量的監測, 目前在工程中主要有3 種監測方法,
一是利用熔接機的顯示屏幕進行監測;
二是利用OTDR對接續點進行監測;
三是利用光源,光功率計對熔接損耗進行剪斷或是插入測試, 但由於剪斷 或是插入都屬於破壞性測試, 故在工程中多不採用.
下面就前兩種監測方式進行探討:利用熔接機進行監測:熔接機是採用P S A 影像技術, 通過對圖像數據處理提取光纖位置參數, 來透視兩根熔接光纖的對芯情況, 對熔接部位的連接情況粗略估算. 那麼, 工程應用中, 成端者就可利用該原理來估算成端熔接值. 首先調整熔接機顯示屏幕的聚焦旋鈕, 使屏幕能清晰地顯示出待熔光纖的纖芯與包層的明暗界線. 然後熔接中注意觀察兩根光纖的纖芯與包層界面, 當熔接時,熔接點沒有氣泡產生或是兩根光纖的纖芯, 包層界面保持直線無扭曲現象, 就可認為熔接損耗是在合格範圍之內.否則,則視為不合格,需重新熔接.
利用OTDR對成端熔接監測時,由於進站光纜 D T 成端接續中,無論是T B X法,還是O F D 法,供接續的尾纖最長不過 15 該長度是任何OTDR的盲區
成端熔接異常或是熔接機拒熔
光纜的成端是通過熔接法將尾纖光纖與光纜光纖構築迴路, 與常規的線路光纜熔接法相比, 其需熔接的對象已發生了改變.某些時間里,從熔接機顯示屏幕中, 成端者可發現待熔接的兩個光纖端面切割都合格, 但熔接機對光纖進行對芯時, 卻在屏幕上出現 圖像處理故障或灰塵設定故障的提示; 甚至個別時候, 光纜光纖雖能與尾纖光纖相熔接, 但從顯示熔接效果的屏幕上, 可看到兩根光纖的纖芯在熔接處出現錯位, 或有氣泡存在, 甚至熔接點凹陷. 以上這些不良的熔接狀況的 出現, 常讓習慣於線路光纜熔接技術的操作人員, 百思不得其解. 其實導致以上異常現象的原因是由於尾纖光纖與光纜光纖的結構不同所造成. 常用的尾纖的軸向直徑一般為28 mm 由外向內分別為黃色的P 外護套, E 芳綸加強纖維,白色的二次塗覆層, 本色的一次塗覆層, 最里 面才是需熔接的裸纖; 而光纜光纖軸向直徑為01 m, .8 m-9 2萬方數據都無法避開的. 沿用OTDR的損耗測試 四點法 來對
結論
光纜進站後的成端質量的優劣, 將直接影響光纖鏈路的傳輸性能及整個系統的通信質量. 因此, 採用合理、可靠的成端方式至關重要. 特別是光纜城域網大規模普及應用的今天,光纜的成端工藝更迫切需要標准化, 規范化. 而欲達到此目的, 相應的解決方案除了光纜技 術人員不斷地在工程中總結,完善成端工藝外,尚需 T B X 櫃式O F -O , D 生產商家將產品在出廠前就通過工程應用來論證其設計是否科學, 並且在產品出廠時配備 建議使用的說明書,進一步來提高光纜通信工程的質量.
熔接點的損耗值進行測試,顯然行不通. 但改用O R的光纖衰減測試的 D T 兩點法 卻可 , 推算出熔接損耗. 即將OTDR的兩個測試點在設置上分 別避開OTDR測試曲線的前端及末端的兩個菲涅爾反 射峰, 記錄下被測光纖的公里衰減值, 並根據其值的大 小與國家規定的標准相比較, 來確定成端接續質量的好 壞.另外區域網中光纖路徑較短,成端者也可通過對 O D 的背向散射曲線波形進行觀側. TR 即根據其波形的 始端至中部是否平坦, 來判定其熔接值大小. 當測試曲 線無明顯的下降台階時, 即可認為成端熔接值合格. 若 測試曲線有台階則需重新熔接.

C. 光纖測試的步驟是什麼

對光纖參數的測試方法參照國標中相關的試驗方法進行，下面列舉出一些光纖基本參數的測試方法。光纖的特性參數中，幾何特性參數對光纖的包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法做出相關說明；光學特性參數對模場直徑、單模光纖的截止波長、成纜單模光纖的截止波長的測試方法做出相關說明；傳輸特性參數對光纖的衰減、波長色散的測試方法做出相關說明。2.1、光纖幾何特性參數測試光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法。測量包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法是折射近場法、橫向干涉法和近場光分布法（橫截面幾何尺寸測定）。光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法有三種。●折射近場法折射近場法是多模光纖和單模光纖折射率分布測定的基準試驗方法（RTM），也是多模光纖尺寸參數測定的基準試驗方法和單模光纖尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。折射近場測量是一種直接和精確的測量。它能直接測量光纖（纖芯和包層）橫截面折射率變化，具有高解析度，經定標可給出折射率絕對值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數及多模光纖的最大理論數值孔徑。●橫向干涉法橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。橫向干涉法採用干涉顯微鏡，在垂直於光纖試樣軸線方向上照明試樣，產生干涉條紋，通過視頻檢測和計算機處理獲取折射率剖面。●近場光分布法這種方法是多模光纖幾何尺寸測定的替代試驗方法（ATM）和單模光纖幾何尺寸（除模場直徑）測定的基準試驗方法（RTM）。通過對被測光纖輸出端面上近場光分布進行分析，確定光纖橫截面幾何尺寸參數。可以採用灰度法和近場掃描法。灰度法用視頻系統實現兩維（x-y）近場掃描，近場掃描法只進行一維近場掃描。由於纖芯不圓度的影響，近場掃描法與灰度法得出的纖芯直徑可能有差別。纖芯不圓度可以通過多軸掃描來確定。一般商用儀表折射率分布的測試方法是折射近場法。測試中使用的儀表是光纖幾何參數和折射率分布測量儀。測試步驟如下：①試樣制備時應注意試樣端面清潔、光滑並垂直於光纖軸。②測量包層時，端面傾斜角應小於1°。控制端面損傷，使其對測量精度的影響最小。③注意避免光纖的小彎曲。④將被測光纖剝除被覆層，用專用光纖切割刀切割出平整的端面, 放入光纖樣品盒中，樣品盒中注入折射率稍高於光纖包層折射率的折射率匹配液。⑤將光纖樣品盒垂直放在光纖折射率分布測量儀的光源和光探測器之間，進行x-y方向的掃描測試。⑥通過分析得到光纖折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試數據。2.2、光纖光學特性參數測試(1)單模光纖模場直徑的測試方法模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。單模光纖模場直徑的測試方法有三種。●直接遠場掃描法直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。●遠場可變孔徑法遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。●近場掃描法近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：●准備2m（±0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（±0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。2.3、光纖傳輸特性參數測試(1)衰減的測試方法衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：●截斷法截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。●插入損耗法插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。●後向散射法後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。（2）波長色散的測試方法波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：●相移法相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●脈沖時延法脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●微分相移法微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。3、光纖參數測試中普遍存在的問題以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。

根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中 λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。

D. 光纜監測系統的監測方式

備纖監測：單備纖監測和雙備纖監測。

在線監測：
利用業務纖實現監控和測試功能，會用到WDM。

E. 怎麼測試光纖的光衰 怎樣檢測光纖線

檢測光纖線的操作方法和步驟如下：

1、首先，使用尾纖將OTDR連接到待檢測光纖的光纖盤，如下圖所示，然後進入下一步。

F. 簡述光纜測試的四個方面

飛秒檢測方法先光纜光纖測試主要是下面幾個方面：
1）用OTDR測試光纖通斷，測試比例100％；
2）用光源、光功率計測試光纖雙波長雙向全程衰減，測試比例為所有纖芯的25％，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；
3）用OTDR測試光纖雙波長單向後向散射曲線，測試比例為所有纖芯的25％，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；
4）測試光纖PMD值（中繼光纜才需測試），測試比例為所有纖芯的25％，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；
5）測試1550nm波長的光纜接頭插損，在所有接頭中抽測一個，測試比例為所有纖芯的10％，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯。

G. 光纜測試怎麼測

一、OTDR的工作原理：
光纖光纜測試是光纜施工、維護、搶修重要技術手段，採用OTDR(光時域反射儀）進行光纖連接的現場監視和連接損 耗測量評價，是目前最有效的方式。這種方法直觀、可信並能列印出光纖後向散射信號曲線。另外，在監測的同時可以比較精確地測出由局內至各接頭點的實際傳輸 距離，對維護中，精確查找故障、有效處理故障是十分必要的。同時要求維護人員掌握儀表性能，
操作技能熟練，精確判斷信號曲線特徵。
美國安捷倫E6000C
加拿大EXFO FTB150
日本安立MT9080
日本橫河AQ7275
美國JDSU MTS6000
美國網泰 CMA4000I
OTDR 的英文全稱是Optical Time Domain Reflectometer，中文意思為光時域反射儀。OTDR是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而製成的精密的光電一體 化儀表，它被廣泛應用於光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。
OTDR測試是通過發射 光脈沖到光纖內,然後在OTDR埠接收返回的信息來進行。當光脈沖在光纖內傳輸時，會由於光纖本身的性質，
連接器
，接合點，彎曲或其它類似的事件而產生 散射，反射。其中一部分的散射和反射就會返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探測器來測量，它們就作為光纖內不同位置上的時間或曲線片斷。從發 射信號到返回信號所用的時間，再確定光在玻璃物質中的速度，就可以計算出距離。
在這個公式里，c是光在真空中的速度，而t是信號發射後到接收到信號（雙程）的總時間（兩值相乘除以2後就是單程的距離）。因為光在玻璃中要比在真空中的速度慢，所以為了精確地測量距離，被測的光纖必須要指明折射率（IOR）。

H. 光纜的光纖檢測

光纖檢測的主要目的是保證系統連接的質量，減少故障因素以及故障時找出光纖的故障點。檢測方法很多，主要分為人工簡易測量和精密儀器測量。
1.人工簡易測量：
這種方法一般用於快速檢測光纖的通斷和施工時用來分辨所做的光纖。它是用一個簡易光源從光纖的一端打入可見光，從另一端觀察哪一根發光來實現。這種方法雖然簡便，但它不能定量測量光纖的衰減和光纖的斷點。
2.精密儀器測量：
使用光功率計或光時域反射圖示儀（OTDR）對光纖進行定量測量，可測出光纖的衰減和接頭的衰減，甚至可測出光纖的斷點位置。這種測量可用來定量分析光纖網路出現故障的原因和對光纖網路產品進行評價。

I. 如何測試光纖!

一根光纖熔接效果如何、光纖中間是否有斷開的地方、光纖實際使用對光的衰耗是否能夠達標，需要用儀表進行測試。

一般常用測試設備連接光纖，通過對光纖打光（發射一定波長的光信號）進行測試。「光纖打光」是在光纖維護測試是說的俗語，其實就是把光纖接到紅光筆或光源上，來判斷光纖通斷和光纖衰耗情況。根據使用設備不同，有如下幾種方法：

1、用紅光筆「打光」。紅光筆發射的是可見光，用來判斷短距離光纖中間是否有斷開的地方。

2、用激光光源「打光」。光纖另一頭接光功率計測試，根據光源發光強度和光功率計接收到的光源強度，來測試折斷光纖衰耗情況。

3、用OTDR設備「打光」，這種方法一般用於比較長距離的光纖測試。光纖一端接設備，設備發射光信號，通過設備檢測光信號在光纖裡面不同衰耗點和斷點處反射回來的光信號，計算出該點距離測試點的實際長度。從而，可以快速判斷出光纖斷點或熔接不好的位置。