如何消除物理干擾的方法

① 原子吸收法中的物理干擾怎麼消除

首先，物理干擾是指試樣在轉移、蒸發和原子化過程中，由於試樣任何物理特性的變化而引起的原子吸收強度變化的效應。是一種非選擇性干擾，對各分析元素產生的咐殲影響基本上是相似的。
消除的話，從上面的定義可以得到。
來源：試樣粘度、表面張力使其進入火焰的速度或顫鬧噴霧效率改變引起的干擾。
消除：可通過配製與試樣具有相似組成的標准溶液或標准加入法衡洞沖來克服。

② 干擾效應及消除方法

原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學干擾、電離干擾、光譜干擾和背景干擾等。

5.3.2.1 物理干擾

物理干擾是指試液與標准溶液物理性質之間有差異而產生的干擾。如黏度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化或氣溶膠到達火焰等引起原子吸收強度的變化而引起的干擾。為了消除物理干擾可採用配製與被測試樣組成相近的標准溶液或採用標准加入法的辦法。若試樣溶液的濃度高，還可採用稀釋法。

5.3.2.2 化學干擾

化學干擾是由於被測元素原子與共存組分發生化學反應生成穩定的化合物，因而影響被測元素的原子化而引起的干擾。消除化學干擾的方法有以下幾種。

(1)選擇合適的原子化方法

提高原子化溫度，減小化學干擾。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度，可使難離解的化合物分解。採用還原性強的火焰與石墨爐原子化法，可使難離解的氧化物還原、分解。

(2)加入釋放劑

釋放劑與干擾物質能生成比被測元素更穩定的化合物，使被測元素釋放出來。例如，磷酸根干擾鈣的測定，可在試液中加入鑭、鍶鹽，鑭、鍶與磷酸根首先生成比鈣更穩定的磷酸鹽，使得鈣被釋放出來。

(3)加入保護劑

保護劑可與被測元素生成易分解的或更穩定的配合物，防止被測元素與干擾組分生成難離解的化合物。保護劑一般是有機配合劑，如EDTA、8-羥基喹啉。

(4)加入基體改進劑

對於石墨爐原子化法，在試樣中加入基體改進劑，使其在乾燥或灰化階段與試樣發生化學變化，可以增加基體的揮發性或改變被測元素的揮發性，以消除干擾。

5.3.2.3 電離干擾

在高溫條件下，原子會電離，使基態原子數減少，吸光度下降，這種干擾稱為電離干擾。消除電離干擾的方法是加入過量的消電離劑。消電離劑是比被測元素電離電位低的元素，相同條件下消電離劑首先電離，產生大量的電子，抑制被測元素的電離。例如，測鈣時可加入過量的KCl溶液，以消除電離干擾，鈣的電離電位為6.1eV，鉀的電離電位為4.3 eV，由於鉀電離產生大量的電子，使得鈣離子得到電子而生成原子。

5.3.2.4 光譜干擾

共存元素吸收線與被測元素分析線波長很接近時，兩譜線重疊或部分重疊會使結果偏高。非吸收線可能是被測元素的其他共振線與非共振線，也可能是光源中雜質的譜線，一般通過減小狹縫寬度與燈電流或另選譜線消除非吸收線的干擾。

5.3.2.5 背景干擾

背景干擾也是一種光譜干擾。分子吸收與光散射是形成光譜背景的主要因素。

(1)分子吸收與光散射

分子吸收是指在原子化過程中生成的分子對輻射的吸收。分子吸收是帶狀光譜，會在一定的波長范圍內形成干擾。例如，鹼金屬鹵化物在紫外區有吸收；不同的無機酸會產生不同的影響，在波長小於250nm時，H₂SO₄和H₃PO₄有很強的吸收帶，而HNO₃和HCl的吸收帶很弱。因此，原子吸收光譜分析中多用HNO₃和HCl配製溶液。

光散射是指原子化過程中產生的微小的固體顆粒使光發生散射，導致透過光減小，吸收值增加。

(2)背景校正方法

A.鄰近非共振線背景校正法

背景吸收是寬頻吸收。分析線測量是原子吸收與背景吸收的總吸光度A_T，A_T在分析線鄰近選一條非共振線，非共振線不會產生共振吸收，此時測出的吸收為背景吸收A_B。兩次測量吸光度相減，所得吸光度值即為扣除背景後的原子吸收吸光度值A。

A_T=A+A_B

A=A_T-A_B=kc

本法適用於分析線附近背景吸收變化不大的情況，否則准確度較差。

B.連續光源背景校正法

目前原子吸收分光光度計上一般都配有連續光源自動扣除背景裝置。連續光源在紫外區用氘燈；在可見區用碘鎢燈、氙燈。

氘燈產生的連續光譜進入單色器狹縫，通常是原子吸收線寬度的100倍左右。氘燈對原子吸收的信號為空心陰極燈原子信號的0.5%。由此，可以認為氘燈測出的主要是背景吸收信號，空心陰極燈測的是原子吸收和背景信號，兩者相減得到原子吸收值。氘燈校正法已廣泛應用於原子吸收光譜儀器中，氘燈校正的波長和原子吸收波長相同，校正效果顯然比非共振線法好。

氘燈校正背景是商品化儀器最普遍使用的技術，為了提高背景扣除能力，從電路和光路設計上都做了許多改進，自動化程度越來越高。

此法的缺點在於氘燈是一種氣體放電燈，而空心陰極燈屬於空心陰極濺射放電燈。兩者放電性質不同，能量分布不同，光斑大小不同，再加上兩個燈的光斑不易完全重疊，急劇的原子化又引起石墨爐中原子和分子濃度在時間和空間上的分布不均勻，因而造成背景扣除的誤差。

C.塞曼效應背景校正法

1886年荷蘭物理學家塞曼發現光源在強磁場作用下產生光譜線分裂的現象，這種現象稱為塞曼效應。與磁場施加於光源產生的塞曼效應(稱正向塞曼效應)相同，當磁場施加在吸收池時，同樣可觀測到吸收線的磁致分裂，即逆向塞曼效應，亦稱吸收線塞曼效應。

塞曼效應按觀察光譜線的方向不同又分為橫向塞曼效應及縱向塞曼效應，垂直於磁場方向觀察的是橫向塞曼效應，平行於磁場方向觀察的是縱向塞曼效應。橫向塞曼效應得到三條具有線偏振的譜線，譜線的波數分別為ν-Δν、ν、ν+Δν，中間波數未變化的譜線，其電向量的振動方向平行於磁場方向，稱為π成分；其他兩條譜線的波數變化分別為-Δν及+Δν，其電向量的振動方向垂直於磁場方向，稱為σ^±成分。而縱向塞曼效應則觀察到波數分別為ν+Δν和ν-Δν的兩條圓偏振光，前者為順時針方向的圓偏振稱左旋偏振光，後者為反時針方向的圓偏振稱右旋偏振光，而中間頻率不變的π成分消失。

塞曼效應應用於原子吸收進行背景校正可有多種方法。可將磁場施加於光源，也可將磁場施加於原子化器；可利用橫向效應，也可利用縱向效應；可用恆定磁場，也可用交變磁場，交變磁場又分固定磁場強度和可變磁場強度。

由於條件限制，不是以上所有組合均可應用於原子吸收光譜儀。例如：縱向恆定磁場，由於沒有π成分而無法測量樣品的共振吸收；施加於光源的塞曼效應在前期的研究中做了大量的工作，但由於需要的特殊光源目前也不普及，只應用於某些專用裝置中。如塞曼測汞儀，因為汞燈可以製作得很小，能夠獲得較高的磁場強度。光源調制的另一個缺點是很難保證基線的長期穩定。目前商品化儀器應用較廣的多為施加於原子化器的塞曼效應背景校正裝置，主要有3種調制形式，分別為橫向恆定磁場、橫向交變磁場和縱向交變磁場。圖5.9為三種塞曼效應背景校正裝置的示意圖。

圖5.9 塞曼效應背景校正裝置

a—橫向恆定磁場；b—橫向交變磁場；c—縱向交變磁場

圖5.9a為橫向恆定磁場裝置，利用永久磁鐵產生強磁場，既可以應用於火焰原子化器，也可以應用於石墨爐原子化器。

圖5.9b為橫向交變磁場裝置，利用電磁鐵產生交變磁場。為產生高強度磁場，磁場尺寸一般製作得較小，因此在石墨爐原子化器應用較廣。橫向磁場施加於原子化器，當原子化器中有被測元素原子蒸氣時，其吸收線輪廓發生分裂(逆向塞曼效應)，產生π成分及σ^±成分。

利用光的矢量特性(只有偏振特性相同的光才能產生相互作用)，引入旋轉起偏器將光源發出的共振輻射變成線偏振光。假定磁場方向平行於紙面，當旋轉起偏器轉動到共振輻射偏振特性平行於紙面時，形成樣品光，測量分析原子吸收及背景吸收，因為原子吸收線的π成分的偏振特性與其相同，產生分析原子吸收；當旋轉起偏器轉動到共振輻射偏振特性垂直於紙面時，形成參考光，測量背景吸收，因為原子吸收線的σ^±成分與參考光的波長不同，不產生吸收，π成分的偏振特性與參考光不同，也不產生樣品吸收，而背景吸收通常是寬頻的，不產生塞曼分裂，對樣品及參考光束的吸收相同，兩個光束產生的吸光度相減即得凈分析原子吸收產生的吸光度，這是橫向塞曼效應校正背景的原理。

由於旋轉起偏器的加入，光源的光強至少減少50%，吸收線塞曼分裂的產生也對共振光的吸收減弱，因此這種背景校正裝置的主要不足之處就是靈敏度損失。

圖5.9c為縱向交變磁場裝置，由於縱向塞曼效應沒有π成分產生，也不需要旋轉起偏器，因此很好地解決了校正背景與靈敏度損失的矛盾。

為實施縱向塞曼效應，美國Perkin-Elmer公司對石墨爐體結構進行了改造，改縱向加熱石墨管為橫向加熱石墨管，改橫向磁場為縱向磁場，生產了4100ZL型橫向加熱縱向塞曼效應原子吸收光譜儀，並在其最新的Aanalyst800及SIMAA6100等儀器上推廣應用，取得了很好的效果。

背景校正裝置的一個主要缺點是比常規儀器的線性動態范圍小、靈敏度低。為克服線性動態范圍小的缺點，德國Jena公司開發了一種3磁場塞曼效應背景校正技術，可使測量的線性動態范圍擴充一個數量級。澳大利亞GBC科學儀器公司的Avanta UltraZ原子吸收分光光度計磁場強度為0.6～1.1 T(1T=1V·s·m^-2)，可以任意設定，對不同元素的不同背景干擾使用不同的磁場強度，可有效地提高儀器的靈敏度和測試精度。

③ 如何消除、抑制物理干擾、化學干擾、背景吸收

一、干擾效應

干擾效應按其性質和產生的原因，可以分為4類：化學干擾、電離干擾、物理干擾和光譜干擾。

1、化學干擾

化學干擾與被測元素本身的性質和在火焰中引起的化學反應有關。產生化學干擾的主要原因是由於被測元素不能全部由它的化合物中解離出來，從而使參與銳線吸收的基態原子數目減少，而影響測定結果的准確性。由於產生化學干擾的因素多種多樣，消除干擾的方法要是具體情況而不同，常用以下方法：

1）改變火焰溫度

對於生成難熔、難解離化合物的干擾，可以通過改變火焰的種類、提高火焰的溫度來消除。如在空氣-乙炔火焰的PO43-對該的測定有干擾，當改用氧化二氮-乙炔火焰後，提高火焰溫度，可消除此類干擾。

2）加入釋放劑：

向試樣中加入一種試劑，使干擾元素與之生成更穩定、更難解離的化合物，而將待測元素從其與干擾元素生成的化合物中釋放出來。如測Mg2+時鋁鹽會與鎂生成MgAl2O4難熔晶體，使鎂難於原子化而干擾測定。若在試液中加入釋放劑SrCl2,可與鋁結合成穩定的SrAl2O4而將鎂釋放出來。磷酸根會與鈣生成難解離化合物而干擾鈣的測定，若加入釋放劑LaCl3,則由於生成更難離解的LaPO4而將該釋放出來。

3）加入保護絡合劑：

保護絡合劑可與待測元素生成穩定的絡合物，而是待測元素不再與干擾元素生成難解離的化合物而消除干擾。如PO43-干擾鈣的測定，當加入絡合劑EDTA後，鈣與EDTA生成穩定的鰲合物，而消除PO43-的干擾。

4）加入緩沖劑

加入緩沖劑即向試樣中加入過量的干擾成分，使干擾趨於穩定狀態，此含干擾成分的試劑稱為緩沖劑。如用氧化二氮-乙炔測定鈦時，鋁有干擾，難以獲准結果，向試樣中加入鋁鹽使鋁的濃度達到200ug/ml時，鋁對鈦的干擾就不再隨溶液中鋁含量的變化而改變，從而可以准確測定鈦。但這種方法不很理想，它會大大降低測定靈敏度。

2、電離干擾

是指待測元素在火焰中吸收能量後，除進行原子化外，還是部分原子電離，從而降低了火焰中基態原子的濃度,使待測元素的吸光度降低，造成結果偏低。火焰溫度愈高，電離干擾越顯著。當分析電離電位較低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,為抑制電離干擾，出採用降低火焰溫度的方法外，還可以向試液中加入消電離劑，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中極易電離產生高的電子雲密度，此高電子雲密度可以只待測元素的電離而除去干擾。

3、物理干擾

物理干擾是指試樣在轉移、蒸發和原子化的過程中，由於物理的特性（如粘度、表面張力、密度等）的變化引起吸收強度下降的效應。採用可調式霧化器通過改變進樣量的大小、採用標准加入法（配置與被測樣品相似組成的標准樣品）或稀釋來消除物理干擾。

4、光譜干擾

光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內存在吸收線、原子化池內的直流發射、分子吸收、光散射等。當採用銳性光源和交流調制技術時，前三種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射，它們是形成光譜背景干擾的主要因素：

l 分子吸收是指在原子化過程中生成的分子對輻射的吸收，分子吸收是帶狀光譜，會在一定波長范圍內形成干擾。

l光散射是在原子化過程中產生的微小固體顆粒使光產生散射，造成透光度減小，吸收度增加

二、背景干擾的校正技術：

1.背景干擾的產生

背景干擾是一種光譜干擾，形成光譜背景的主要因素是分子吸收與光散射。表現為增加表觀吸光度，使測定結果偏高。

2.背景校正的方法

1）連續光源背景校正法（氘燈校正）

連續光源採用氘燈在紫外區；碘鎢燈在可見光區背景校正。切光器可使銳線光源與氘燈連續光源交替進入原子化器。銳線光源測定的吸光度值為原子吸收與背景吸收的總吸光度。連續光源所測吸光度為背景吸收，因為在使用連續光源時，被測元素的共振線吸收相對於總人射光強度是可以忽略不計的。因此連續光源的吸光度值即為背景吸收。將銳線光源吸光度值減去連續光源吸光度值，即為校正背景後的被測元素的吸光度值。

氘燈校正法靈敏度高，應用廣泛。非常適合火焰校正，在火焰和石墨爐共用的機型中，採用氘燈校正法是最折衷的方法，雖然在石墨爐中氘燈校正法不及塞曼效應背景校正理想，但在火焰分析中由於火焰產生的粒子造成光散塞曼效應射而使塞曼效應無法正常地進行磁場分裂，氘燈校正法在火焰分析中比塞曼效應校正法優越的多。

氘燈校正法的缺點採用兩種不同的光源，需較高技術調整光路平衡。

2）塞曼效應背景校正

當僅使用石墨爐進行原子化時，最理想是利用塞曼效應進行背景校正。塞曼效應是指光通過加在石墨爐上的強磁場時，引起光譜線發生分裂的現象。塞曼效應分為正常塞曼和反常塞曼效應：

a、正常塞曼效應背景校正

光的方向與磁場方向垂直，在強磁場作用下，原子吸收線分裂為π和δ+組分：π平行於磁場方向，波長不變；δ+組分垂直於磁場方向，波長分別向長波與短波移動。這兩個分量之間的主要差別是π分量只能吸收與磁場平行的偏振光，而δ+分量只能吸收與磁場垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行與垂直的偏振光。即δ+組分為背景吸收，π組分為原子吸收。

在原子化器上加一電磁鐵，電磁鐵僅原子化階段被激磁，偏振器是固定不變的，它只讓垂直於磁場方向的偏振光通過原子化器，去掉平行於磁場方向的偏振光。在零磁場時，吸收線不發生分裂，測得的是被測元素的原子吸收與背景吸收的總吸光度值。激磁時測得的僅為背景吸收的吸光度值，兩次測定吸光度之差，就是校正了背景吸收後被測元素的凈吸光度值。

正常塞曼的缺點是在光路中加有偏振器，去掉平行於磁場方向的偏振光，使光的能量損失了一半，大大降低了檢測的靈敏度。

b、反常塞曼效應背景校正

光的方向與磁場方向水平，當光通過在原子化器上加一電磁鐵，在強磁場作用下，抑制了π組分（原子吸收）的產生，只產生δ+組分（背景吸收）。在不通電無磁場存在下，空心陰極燈的共振線通過石墨爐，測得待測元素和背景吸收的總和。通電後在強磁場存在下，產生反常塞曼效應，此時只有共振線分裂後產生的δ+組分通過石墨爐，其不被基態原子吸收，僅測得背景吸收。通過兩次吸光度之差，即可進行背景校正。反常塞曼由於光路中沒有偏振器，光的能量較正常塞曼多50%，檢測靈敏度較正常塞曼高

塞曼效應使用同一光源進行測量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通過電磁場中線進行分裂，但在火焰分析中，由於火焰中的固體顆粒對銳性光源產生多種散射、光偏離，燃燒時粒子互相碰撞等因素產生許多不可預見因素，造成光譜線分裂紊亂，在火焰中的應用極不理想。並且，塞曼效應的檢測靈敏度低於氘燈校正法。

3）自吸收校正法（SR法）

當空心陰極燈在高電流工作時，其陰極發射的銳線光會被燈內產生的原子雲基態原子吸收，是發射的銳線光譜變寬，吸收度下降，靈敏度液下降。這種自吸現象無法避免。因此，可首先在空心陰極燈低電流下工作，使銳線光通過原子化器，測得待測元素和背景吸收的總和。然後使它在高電流下工作，通過原子化器，測得相當於背景的吸收。將兩次測的吸光度相減，就可扣除背景的影響。優點是使用同一光源，不足是加速空心陰極燈的老化，其壽命只有正常的1/3，現這種方式已基本不被採用。

4) 鄰近非共振線校正背景：

用分析線測量原子吸收和背景吸收的總吸光度，因非共振線不產生原子吸收，用它來測量背景吸收的吸光度，兩次測量值相減即得到背景之後的原子吸收的吸光度。

背景吸收隨波長而改變，因此，非共振線校正背景法的准確度較差。這種方法只適用於分析線附近背景分布比較均勻的場合。

④ 物理干擾名詞解釋

物理干擾是指試樣在轉移、蒸發和原子化過程中，由於試樣任何物理特性(如粘度、表面張力、密度等)的變化而引起的原子吸收強度下降的效應。

物理干擾是非選擇性干擾，對試樣各元素的影響基本上是相似的。

1.1物理干擾產生的原因

在火焰原子吸收中,試樣溶液的性質發生任何變化,都直接或間接的影響原子階級效率。如試樣的粘度生生變化時，則影響吸噴速率進而影響霧量和霧化效率。毛細管的內徑和長度以及空氣的流量同樣影響吸噴速率。試樣的表面張力和粘度的變化，將影響霧滴的細度、溶劑效率和蒸發效率，最終影響到原子化效率。?試樣中存在大量的基體元素時，它們在火焰中蒸發解離時，不僅要消耗大量的熱量，而且在蒸發過程中，有可能包裹待測元素，延緩待測元素的蒸發、影響原子化效率。

物理干擾一般都是負干擾，最終影響火焰分析體積中原子的密度。

1.2消除物理干擾的方法

為消除物理干擾,保證分析的准確度,一般採用以下方法:

a 配製與待測試液基體相一致的標准溶液,這是最常用的方法。

b 當配製與待測試液基體相一致的標准溶液有困難時，需採用標准加入法。

c 當被測元素在試液中濃度較高時，可以用稀釋溶液的方法來降低或消除物理干擾。

⑤ 消除有機質干擾的方法

根據介質中有機質組分比重輕的特點，通過方法試驗研製出水系沉積物測量「漂洗采樣法」。這種方法操作簡便可行，在野外將樣品和適量水用采樣勺舀入漂洗盤內，反復漂洗，直至肉眼看不到樣品中有泥炭、腐泥為止。這種方法可以在一定程度上消除有機質。「漂洗采樣法」具有以下作用和功效:

1)富有機質水系沉積物樣品經過漂洗，有機碳含量可以降低1/3以上，從5.7%～10.9%降低到1.24%～3.36%(表3－8)。如果漂洗徹底，樣品中有機碳含量還可以進一步降低。

2)既在一定程度上有效消除了有機質吸附金屬元素造成次生富集產生的影響，又能較好地保存含有豐富找礦信息的細粒級樣品。

3)樣品經過漂洗後，重礦物在樣品中的比例有所增加，與礦化作用有關的部分信息在一定程度上得到了增強。

實際上使用「漂洗采樣法」去手型喊除有機碳影響主要是有機質絡合、螯合和吸附形成的那一部分金屬元素含量。有機質和次生硅膠包畢野裹的金屬一般粒度較細，租脊可以通過樣品加工時用+60目截取。

⑥ 環境學中的物理干擾

http://www.hyswz.com/h3-b1.htm
裡面有,但是復制不過來,你自己點擊進去看吧~~~

物理干擾是指試樣在轉移、蒸發過程中任何物理因素變化（如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化）而引起的干擾效應。對火焰原子化法而言，影響試樣噴入火焰的速度（粘度）、霧化效率、霧滴的大小及其分布（表面張力）、溶劑和固體微粒的蒸發（溶劑的蒸氣壓）等。最終都影響進入火焰的待測原子數目，因而影響A的測量。顯然，物理干擾與試樣的基體組成有關。

消除辦法：配製與被測試樣組成相近的標准溶液或採用標准加入法。若試樣溶液的濃度高，還可採用稀釋法；加入表面活性劑或有機溶劑。

1 物理干擾及其消除方法
物理干擾是指試樣左轉移，蒸發和原子化過程中，由於試樣任何物理性質的變化而
引起的原子吸收信號強度變化的效應。物理干擾屬非選擇性干擾。
1.1物理干擾產生的原因
在火焰原子吸收中,試樣溶液的性質發生任何變化,都直接或間接的影響原子階級效
率。如試樣的粘度生生變化時，則影響吸噴速率進而影響霧量和霧化交率。毛細管的內
徑和長度以及空氣的流量同樣影響吸噴速率。試樣的表面張力和粘度的變化，將影響霧
滴的細度、 溶劑效率和蒸發效率，最終影響到原子化效率。?試樣中存在大量的基體
元素時，它們在火焰中蒸發解離時，不僅要消耗大量的熱量，而且在蒸發過程中，有可
能包裹待測元素，延緩待測元素的蒸發、影響原子化效率。
物理干擾一般都是負干擾，最終影響火焰分析體積中原子的密度。
1.2消除物理干擾的方法
為消除物理干擾,保證分析的准確度,一般採用以下方法:
a 配製與待測試液基體相一致的標准溶液,這是最常用的方法。
b 當配製與待測試液基體相一致的標准溶液有困難時，需採用標准加入法。
c 當被測元素在試液中濃度較高時，可以用稀釋溶液的方法來降低或消除物理干擾。

⑦ 簡述原子吸收分光光度法中干擾的類型及其消除的方法

主要有四大幹擾：光譜干擾,背景干擾,電離干擾,物理干擾,化學干擾.干擾的消除：1、光譜干擾是由於分析用的譜線與鄰近線不能完全分開而產生的.採取改換良好的空心陰極燈,減少狹縫寬度,增加燈電流,一般才能收到較好的抑制效果；2、背景干擾是一種特殊的光譜干擾,背景吸收使吸收值增加而產生的正誤差.它包括分子吸收（可使用高溫火焰消除）、光散射可利用背景較正測量光散射的大小,求得被測元素的真實的吸收信號）、火焰氣體吸收（選擇合適的火焰）；3電離干擾：當等測溶液進入火焰後,在火焰的作用下分子要解離成原子和部分原子失去電子而被電離成離子.發生電離的結果會使參與原子吸收的基態原子數減少,導致吸光度降低.如能控制火焰溫度和選擇適當的火焰類型,可大大減少電離干擾,也可加入消電離劑,但會產生基體效應,也容易堵塞燃燒縫隙；4、物理干擾的消除：要求試樣溶液和標准溶液用相同溶劑、有相同的基體組成,還要求有相同溫度環境等,也可調節撞擊小球的位置消除.5、化學干擾的消除：a使用高溫火焰；b加入釋放劑；c加入保護劑與待測溶液或干擾元素反應形成穩定配合物；d在石墨原子化中加入基體改進劑提高被測物質的灰化溫度或降低其原子化溫度以消除干擾；e化學分離干擾物質.

⑧ 原子吸收檢測中,有利於消除物理干擾的方法是（）。

原子吸收檢測中,有利於消除物理干擾的方法是（）。

A.配製與被測試樣相似組成的標准廳襪空溶液(正確答案)

B.採用標准加入法或選扮瞎用適當溶劑稀釋試液(正確答案)

C.調整撞好絕擊小球位置以產生更多細霧(正確答案)

D.加入保護劑或釋放劑

⑨ 在分光光度分析中，消除干擾的方法有哪些

在分光光度分析中，消除干擾的方法有哪些
原子吸收分光光度計的干擾及消除方法

（1）物理干擾物理干擾是指試樣在轉移、蒸發過程中任何物理因素變化而引起的干擾效應搜螞凳。屬於這類干擾的因素有：試液的粘度、溶劑的蒸汽壓、霧化氣體的壓力等。物理干擾是非選擇性干擾，對試樣各元素的影響基本是相似的。 配製與被測試樣相似的標准樣品，是消除物理干擾的常用的方法。在不知道試樣組成或無法匹配試樣時，可採用標准加入法或稀釋法來減小和消除物理干擾。

（2）化學干擾化學干擾是指待測元素與其它組分之間的化學作用所引起的干擾效應，它主要影響待測元素的原子化效率，是原子吸收分光光度法中的主要干擾來源。它是由於液相或氣相中被測物薯元素的原子與干擾物質組成之間形成熱力學更穩定的化合物，從而影響被測元素化合物的解離及其原子化。 消除化學干擾的方法有：化學分離；使世旅用高溫火焰；加入釋放劑和保護劑；使用基體改進劑等。

⑩ 簡述原子吸收分光光度法的主要干擾有哪些如何消除或減少這些干擾

原子吸收分光光度法的主要干擾有光譜干擾、電離干擾、化學干擾、物理干擾和背景吸收等。
消除光譜干擾的方法有另選分析線、減小狹縫寬度，或預先分離試樣中的干擾元素。
消除電離爛仿干擾的方法是加入消電離劑。
抑制化學干擾的方法有：加入釋放劑、保護劑或緩沖劑。另外沒鍵，提高原子化溫度、化學分離等也可消除或減小化學干擾。
消除物理干擾的辦法：配製與被測枯歷巧試樣組成相近的標准溶液或採用標准加入法。若試樣溶液的濃度高，還可採用稀釋法。
消除或減少背景吸收的方法：一般採用儀器校正背景方法，有鄰近線法、氘燈背景校正法、塞曼效應背景校正法和自吸效應背景校正法。