鐳射使用方法如何檢測

① 【漲知識】鐳射位移感測器是什麼

鐳射位談族首移感測器是什麼？鐳射位移感測器是一種非接觸式的精密鐳射測量裝置，它是根據鐳射三角測量法或鐳射回波分析法的原理來設計製造的。具有直線度好的優良特性，相對於我們已知的超聲波感測器有更高的精度。下面我就給大家介紹一下鐳射位移感測器的相關知識吧。

鐳射位移感測器是什麼

鐳射位移感測器可精確非接觸測量被測物體含數的位置、位移等變化，主要應用於檢測物的位移、厚度、振動、距離、直徑等幾何量的測量。

按照測量原理,鐳射位移感測器原理分為鐳射三角測量法和鐳射回波分析法,鐳射三角測量法一般適用於高精度、短距離的測量，而鐳射回波分析法則用於遠距離測量，下面分別介紹鐳射位移感測器原理的兩種測量方式。

鐳射位移感測器的工作原理:

鐳射位移感測器的工作原理鐳射位移感測器，

它是採用三角形畢氏定理來進行測量的。在鐳射位移感測器工作過程當中，鐳射位移發射器會將鏡頭發射出紅色鐳射射向物體的表面，而物體的表面會出現一系列反射情況，其中一束光芒會一反射的光線回到我們的鐳射位移感測器當中，這時候大家根穗凱據光線反射的角度和鐳射位移感測器的距離來偵測，我們的測量點是否發生了變化?不是光束在接受元件的位置通過類比和電子數位的處理，在經過內部的微處理分析，然後計算出相應的輸出值，然後再將輸出值調整之後，向物體發射一處光芒，而這時候這束光芒就可以調整我們位移的距離。

鐳射位移感測器的應用

1、尺寸測定：微小的位置識別；傳送帶上有無零件的監測；材料重疊和覆蓋的探測；機械手位置（工具中心位置）的控制；器件狀態檢測；器件位置的探測（通過小孔）；液位的監測；厚度的測量；振動分析；碰撞試驗測量；汽車相關試驗等。

2、金屬薄片和薄板的厚度測量：鐳射感測器測量金屬薄片（薄板）的厚度。

厚度的變化檢出可以幫助發現皺紋，小洞或者重疊，以避免機器發生故障。

3、氣缸筒的測量，同時測量：角度，長度，內、外直徑偏心度，圓錐度，同心度以及表面輪廓。

4、長度的測量：將測量的元件放在指定位置的輸送帶上，鐳射感測器檢測到該元件並與觸發的鐳射掃描器同時進行測量，最後得到元件的長度。

5、均勻度的檢查：在要測量的工件運動的傾斜方向一行放幾個鐳射感測器，直接通過一個感測器進行度量值的輸出，另外也可以用一個軟體計算出度量值，並根據信號或資料讀出結果。

6、電子元件的檢查：用兩個鐳射掃描器，如下圖一樣面對面的擺放，將被測元件擺放在兩者之間，最後通過感測器讀出資料，

從而檢測出該元件尺寸的精確度及完整性。

7、生產線上灌裝級別的檢查：鐳射感測器集成到灌裝產品的生產製造中，當灌裝產品經過感測器時，就可以檢測到是否填充滿。感測器用雷射光束反射表面的擴展程式就能精確的識別灌裝產品填充是否合格以及產品的數量。

鐳射位移感測器的特點和局限性

具有適應性強、速度快、精度高等特點，適用於檢測各種回轉體、箱體零件的尺寸和形位元誤差。還可以與快速的回饋跟蹤系統配合使用，能夠快速測出表面的形狀輪廓，但存在成本比較高的問題，而且產生裝置相對比較復雜且體積較大，因此會對鐳射位移感測器的應用范圍要求較苛刻。

② 大學物理實驗中有哪幾種測量光波波長的方法 急~

大學物理實驗中有哪幾種測量光波波長的方法 急~

大學物理實驗經常用：分光計測量法；牛頓環測量法；光柵測量法
其它方法：
法布里-珀羅干涉儀
密集光波分復用系統的波長測量
鐳射功率計(指標式)光功率表
菲涅耳雙棱鏡
雙縫

大學物理實驗中有哪幾種資料處理的方法

多次測量求平均值
線性擬合
逐差法

大學物理實驗中微小量的測量方法？

螺旋測微器又稱千分尺（micrometer）、螺旋測微儀、分厘卡，是比游標卡尺更精密的測量長度的工具，用它測長度可以准確到0.01mm，測量范圍為幾個厘米。右圖為一種常見的螺旋測微器。 螺旋測微器的分類 一種電子千分尺(螺旋測微器)螺旋測微器分為機械式千分尺和電子千分尺兩類。①機械式千分尺。簡稱千分尺，是利用精密螺紋副原理測長的手攜式通用長度測量工具。1848年，法國的J.L.帕爾默取得外徑千分尺的專利 。1869年，美國的J.R.布朗和L.夏普等將外徑千分尺製成商品，用於測量金屬線外徑和板材厚度。千分尺的品種很多。改變千分尺測量面形狀和尺架等就可以製成不同用途的千分尺，如用於測量內徑、螺紋中徑、齒輪公法線或深度等的千分尺。②電子千分尺。也叫數顯千分尺，測量系統中應用了光柵測長技術和積體電路等。電子千分尺是20世紀70年代中期出現的，用於外徑測量。 螺旋測微器的組成 螺旋測微器組成部分圖解圖上A為測桿，它的一部分加工成螺距為0.5mm的螺紋，當它在固定套管B的螺套中轉動時，將前進或後退，活動套管C和螺桿連成一體，其周邊等分成50個分格。螺桿轉動的整圈數由固定套管上間隔0.5mm的刻線去測量，不足一圈的部分由活動套管周邊的刻線去測量。所以用螺旋測微器測量長度時，讀數也分為兩步，即（1）從活動套管的前沿在固定套管的位置，讀出整圈數。（2）從固定套管上的橫線所對活動套管上的分格數，讀出不到一圈的小數，二者相加就是測量值。
螺旋測微器的尾端有一裝置D，擰動D可使測桿移動，當測桿和螞敬被測物相接後的壓力達到某一數值時，棘輪將滑動並有咔、咔的響聲，活動套管不再轉動，測桿也停止前進，這時就可以讀數了。
不夾被測物而使測桿和砧台相接時，活動套管上的零線應當剛好和固定套管上的橫線對齊。實際操作過程中，由於使用不當，初始狀態多少和上述要求不符，即有一個不等於零的讀數。所以再使用之前必須要先調零。 螺旋測微器原理和使用 螺旋測微器的讀數螺旋測微器是依據螺旋放大的原理製成的，即螺桿在螺母中旋轉一周，螺桿便沿著旋轉軸線方向前進或後退一個螺距的距離。因此，沿軸線方向移動的微小距離，就能用圓周上的讀數表示出來。螺旋測微器的精密螺紋的螺距是0.5mm，可動刻度有50個等分刻度，可動刻度旋轉一周，測微螺桿可前進或後退0.5mm，因此旋轉每個小分度，相當於測微螺桿前進或推後0.5/50=0.01mm。可見，可動刻度每一小分度表示0.01mm，所以以螺旋測微器可准確到0.01mm。由於還能再估讀一位，可讀到毫米的千分位，故又名千分尺。
測量時，當小砧和測微螺桿並攏時，可動刻度的零點若恰好與固定刻度的零點重合，旋出測微螺桿，並使小砧和測微螺桿的面正好接觸待測長度的兩端，那麼測微螺桿向右移動的距離就是所測的長度。這個距離的整毫米數由固定刻度上讀出，小數部分則由可動刻度讀出。

雙棱鏡干涉測量光波波長實驗

1.B 2.A 3.A 4.C 5.D

邁克爾遜干涉儀實驗中是如何測量光波波長的？

（一）調整邁克爾遜干涉儀，觀察非定域干涉、等傾干涉的條紋
① 對照實物和講義，熟悉儀器的結構和各旋鈕的作用；
② 點燃He—Ne鐳射器，使鐳射大致垂直M1。這時在屏上出現兩排小亮點，調節M1和M2背面的三個螺釘，使反射光和入射光基本重合（兩排亮點中最亮的點重合且與入射光基本重合）。這時，M1 和M2大致互相垂直，即M1／、M2大致互相平行。
③ 在光路上放入一擴束物鏡組，它的作用是將一束鐳射匯聚成一個點光源，調節擴束物鏡組的高低、左右位置使擴束後的鐳射完全照射在分光板G1上。這時在觀察屏上就可以觀察到干涉條紋（如完全沒有，請重復上面步驟）再調節散物裂M1下面的兩個微調沖閉螺絲使M1／、M2更加平行，屏上就會出現非定域的同心圓條紋。
④ 觀察等傾干涉的條紋。
（二）測量He—Ne鐳射的波長
① 回到非定域的同心圓條紋，轉動粗動和微動手輪，觀察條紋的變化：從條紋的「湧出」和「陷入」說明M1／、M2之間的距離d是變大？變小？觀察並解釋條紋的粗細、疏密和d的關系。
② 將非定域的圓條紋調節到相應的大小（左邊標尺的讀數為32mm附近），且位於觀察屏的中心。
③ 轉動微動手輪使圓條紋穩定的「湧出」（或「陷入」），確信已消除「空回誤差」後，找出一個位置（如剛剛「湧出」或「陷入」）讀出初始位置d1。
④ 緩慢轉動微動手輪，讀取圓條紋「湧出」或「陷入」中心的環數，每50環記錄相應的d2、d3、d4……
⑤ 反方向轉動微動手輪，重復②、③記錄下「陷入」（或「湧出」）時對應的di/。
⑥ 資料記錄參考表（如上），按公式計算出He—Ne鐳射的波長。用與其理論值相比較得出百分差表示出實驗結果。

物理實驗 光柵測量單色光波長

一般情況是這樣的。

大學物理實驗中單次測量是指測量幾次

顧名思義，大學物理實驗中單次測量就是指測量一次。單次測量中，沒有隨機誤差，所以不需要計算A類不確定度，只需要計算B類不確定度。
測量是按照某種規律，用資料來描述觀察到的現象，即對事物作出量化描述。測量是對非量化實物的量化過程。在機械工程裡面，測量指將被測量與具有計量單位的標准量在數值上進行比較，從而確定二者比值的實驗認識過程。
測量的主要要素有:
1．測量的客體即測量物件：主要指幾何量，包括長度、面積、形狀、高程、角度、表面粗糙度以及形位誤差等。由於幾何量的特點是種類繁多，形狀又各式各樣，因此對於他們的特性，被測引數的定義，以及標准等都必須加以研究和熟悉，以便進行測量。
2．計量單位：我國國務院於1977年5月27日頒發的《中華人民共和國計量管理條例（試行）》第三條規定中重申：「我國的基本計量制度是米制（即公制），逐步採用國際單位制。」1984年2月27日正式公布中華人民共和國法定計量單位，確定米制為我國的基本計量制度。在長度計量中單位為米（m），其他常用單位有毫米（mm）和微米（μm）。在角度測量中以度、分、秒為單位。
3．測量方法：指在進行測量時所用的按類敘述的一組操作邏輯次序。對幾何量的測量而言，則是根據被測引數的特點，如公差值、大小、輕重、材質、數量等，並分析研究該引數與其他引數的關系，最後確定對該引數如何進行測量的操作方法。
4．測量的准確度：指測量結果與真值的一致程度。由於任何測量過程總不可避免地會出現測量誤差，誤差大說明測量結果離真值遠，准確度低。因此，准確度和誤差是兩個相對的概念。由於存在測量誤差，任何測量結果都是以一近似值來表示。

有關測量光波長實驗中的問題

螺旋測位器的原理是一個螺釘，它每轉一圈，伸出或縮排0.5mm

大學物理實驗：超聲波聲速的測量

那麼接示波器的換能器是不是沒工作，或者故障

大學物理實驗中，全息光柵的製作及其引數測量用哪種方法

全息光柵的製作（實驗報告）完美版 (2009-10-12 23:25:34)轉載
標簽： 光柵 乾片 發散鏡 雙縫 白屏 教育
設計性試驗看似可怕，但實際操作還是比較簡單的~
我的實驗報告，僅供參考~
實驗報告封面
全息光柵的製作

一、 實驗任務
設計並製作全息光柵，並測出其光柵常數，要求所製作的光柵不少於每毫米100條。

二、 實驗要求
1、設計三種以上製作全息光柵的方法，並進行比較。
2、設計製作全息光柵的完整步驟（包括拍攝和沖洗中的引數及注意事項），拍攝出全息光柵。
3、給出所製作的全息光柵的光柵常數值，進行不確定度計算、誤差分析並做實驗小結。

三、 實驗的基本物理原理
1、光柵產生的原理
光柵也稱衍射光柵，是利用多縫衍射原理使光發生色散(分解為光譜)的光學元件。它是一塊刻有大量平行等寬、等距狹縫(刻線)的平面玻璃或金屬片。光柵的狹縫數量很大，一般每毫米幾十至幾千條。單色平行光通過光柵每個縫的衍射和各縫間的干涉，形成暗條紋很寬、明條紋很細的圖樣，這些銳細而明亮的條紋稱作譜線。譜線的位置隨波長而異，當復色光通過光柵後，不同波長的譜線在不同的位置出現而形成光譜。光通過光柵形成光譜是單縫衍射和多縫干涉的共同結果（如圖1）。
圖1
2、測量光柵常數的方法：
用測量顯微鏡測量；
用分光計，根據光柵方程d·sin =k 來測量；
用衍射法測量。鐳射通過光柵衍射，在較遠的屏上，測出零級和一級衍射光斑的間距△x及屏到光柵的距離L，則光柵常數d= L/△x。

四、 實驗的具體方案及比較
1、洛埃鏡改進法：
基本物理原理：洛埃鏡的特點是一部分直射光和另一部分反射鏡的反射光進行干涉，如原始光束是平行光，則可增加一全反鏡，同樣可做到一部分直射光和一部分鏡面反射光進行干涉，從而製作全息光柵。
優點：這種方法省去了製造雙縫的步驟。
缺點：光源必須十分靠近平面鏡。
實驗原理圖：
圖2

2、楊氏雙縫干涉法：
基本物理原理：S1，S2為完全相同的線光源，P是螢幕上任意一點，它與S1，S2連線的中垂線交點S'相距x，與S1，S2相距為rl、r2，雙縫間距離為d，雙縫到螢幕的距離為L。
因雙縫間距d遠小於縫到屏的距離L，P點處的光程差：
圖3

δ=r2-r1=dsinθ=dtgθ=dx/L sinθ=tgθ
這是因為θ角度很小的時候，可以近似認為相等。
干涉明條紋的位置可由干涉極大條件δ=kλ得：
x=(L/d)kλ,
干涉暗條紋位置可由干涉極小條件δ=(k+1/2)λ得：
x=(D/d)(k+1/2)λ
明條紋之間、暗條紋之間距都是
Δx =λ(D/d)
因此干涉條紋是等距離分布的。
而且注意上面的公式都有波長引數在裡面，波長越長，相差越大。
條紋形狀：為一組與狹縫平行、等間隔的直線（干涉條紋特點）d= L/△x
優點：使用鐳射光源相干條件很容易滿足。
缺點：所需的實驗儀器較復雜，不易得到。
實驗原理圖：
圖4

3、馬赫—曾德干涉儀法：
基本物理原理：只要調節光路中的一面分光鏡的方位角，就可以改變透射光和反射光的夾角，從而改變干涉條紋的間距。
優點：這種方法對光路的精確度要求不高，實驗效果不錯，易於學生操作。
缺點：這種方法對光路的精確度要求不高，實驗可能不夠精確。
實驗原理圖：
圖5
五、 儀器的選擇與配套
綜合考慮各方面條件，本次試驗採用馬赫—曾德干涉儀法，所需的實驗儀器有He-Ne鐳射發射器1架、發散鏡1面、凸透鏡1面、半反半透鏡2面、全反鏡2面和白屏、光闌各一、拍攝光柵用的乾片若干、架子。

六、 實驗步驟
（一）製作全息光柵
1.開啟He-Ne鐳射發射器，利用白屏使鐳射束平行於水平面。
2.調節發散鏡和鐳射發射器的距離使鐳射發散。
3.調節凸透鏡和發散鏡的距離使之等於凸透鏡的焦距，得到平行光。
4. 調節2面半反半透鏡和2面全反鏡的位置和高度，使它們擺成一個平行四邊形（如圖5）。
5.調節半反半透鏡和全反鏡上的微調旋鈕，使得到的2個光斑等高，且間距為4-6cm。
6. 測出實驗中光路的光程差△l。
（在實驗中我們測得的光路的光程差△l=1.5cm）
（二）拍攝全息光柵
1.擋住鐳射束，把乾片放在架子上，讓鐳射束照射在乾片上1-2秒，擋住鐳射束，把乾片取下帶到暗房中。
2.把乾片泡在顯影液中適當的時間（時間長度由顯影液的濃度決定），取出，用清水沖洗，在泡在定影液中約5分鍾。取出，沖洗後晾乾。
3.用鐳射束檢驗沖洗好的乾片，若能看見零級、一級的光斑，說明此乾片可以用於測定光柵常數。
（三）測定所制光柵的光柵常數
實際圖：
此圖參照老師所給實驗內容報告上的圖來畫
圖6

原始資料表：

x
1
2
3
4
5
6
r（cm）
23.81
24.12
23.93
24.24
23.65
23.66
h（cm）
144.36
144.65
143.84
144.03
144.52
144.11
計算過程：
七、實驗注意事項
1、不要正對著鐳射束觀察，以免損壞眼睛。
2、半導體鐳射器工作電壓為直流電壓3V，應用專用220V/3V直流電源工作(該電源可避免接通電源瞬間電感效應產生高電壓的功能)，以延長半導體鐳射器的工作壽命。

③ 鐳射測距儀原理 鐳射測距儀使用方法

鐳射測距儀對於現在的工程來說是一件非常實用的工具。在很多的時候鐳射測距儀都能夠准確而又快速的測出實際的距離，但是這種電子產品使用的時候操作不當的話就會造成很大的誤差，那麼鐳射測距儀使用方法是什麼?鐳射測距儀原理是怎麼樣的呢?

鐳射測距儀原理

1.利用紅外線測距或鐳射測距的原理

測距原理基本可以歸結為測量光往返目標所需要時間，然後通過光速c =299792458m/s 和大氣折射系數n 計算出距離D。由於直接測量時間比較困難，通常是測定連續波的相位，稱為測相式測距儀。當然，也有脈沖式測距儀。

需要注意，測相並不是測量紅源升御外或者鐳射的相位，而是測量調制在紅外或者鐳射上面的信號相位。建築行業有一種掌上型的鐳射測距儀，用於房屋測量，其工作原理與此相同。

2.測物體平面必須與光線垂直

通常精密測距需要全反射棱鏡配合，

而房屋量測用的測距儀，直接以光滑的牆面反射測量，主要是因為距離比較近，光反射回來的信號強度夠大。與此可以知道，一定要垂直，否則返回信號過於微弱將無法得到精確距離。

3.可以測物體平面為漫反射

通常也是可以的，實際工程中會採用薄塑膠板作為反射面以解決漫反射嚴重的問題。

4.脈沖法鐳射測距儀娛樂級產品可以達到顯示精度1米，測量精度±1米，測量級產品顯示精度0.1米，雹岩測量精度±0.15米。

5.相位式鐳射測距儀精度可達到1毫米誤差，適合各種高精度測量用途。

鐳射測距儀使用方法

1、輕觸啟動/測量鍵，開啟測距儀。

2、按需要以加或減鍵更換測量基準邊(只對單次測量有效)，A—前沿;B—儀器支架;C—後沿。

3、用鐳射瞄準目標，再次輕觸啟動/測量鍵，紀錄測量笑旦值。

4 、測量完畢，按下清除鍵直到初始畫面出現。同時按下加和減鍵關閉測距儀。

5、 90秒無工作指令的情況下，測距儀會自動關機。

6 、利用標准距離可對測距儀進行自校，並可通過Offset功能表項目進行修正。

④ 鐳射鍵盤怎麼用

額。。。真高新。。。

鐳射鍵裂族盤的原理

原理就是通過對手指的的指尖檢測從而感應到是按哪個
鐳射鍵盤的使用方法

只要一塊平台的空間，就可以投射出鍵盤來。這款虛擬鐳射在把按鍵投影在桌面上後，使用者就可以進行操作。它通過藍牙或連線鉛蘆連接，可與PDA、手機和筆記電腦連肆激弊接使用

⑤ 激光測距儀使用方法圖解

激光測距儀使用說明如下：

1、將9V電池按正確極性裝入電池安裝處。

2、輕按「發射鍵」測距儀內部電源即打開！通過目鏡可看見測距儀處於准備測量狀態。

3、通過長按「模式鍵」可直接切換單位：米（M)或碼（Y)。

4、在打開電源，單位切換好以後，通過測距儀目鏡中的「內部液晶顯示屏」瞄準被測物體。輕按「發射鍵」，測量的距離立即會顯示在「內部液晶顯示屏」上。

5、用戶可通過「2屈光度調節器」來調節被測物體，遠近的清晰度。瞄準越近的物體，「屈光度調節器」因往左旋轉；相反，瞄準越遠的物體，「屈光度調節器」因往右旋轉。

6、每按MODE按鈕一次，即可改變模式。接通電源時，處於上一次的使用模式。

7、按ON/ADJUST按鈕，鏡內顯示+，將中心圓對准待測目標(不能為強吸收光線的目標如玻璃),MODE一般置於標准狀態，再次持續按下ON/ADJUST按鈕3秒鍾左右，目標距離顯示，若不適用15秒後 自動關機 。