電連接器的檢測方法

① 如何進行連接器產品的溫升測試有哪些參考的標准

1、讓連接器處於模擬工作的電路中，一般為串聯電路，測試其溫升；
2、EIA-367-70B-2012

② 什麼是接觸電阻連接器接觸阻抗測試方法是什麼

接觸電阻就是電流流過閉合的接觸點對時的電阻.

測試方法

接觸電阻的測量一般都採用開爾文四線法原理。 開爾文四線法連接有兩個要求：對於每個測試點都 有一條激勵線F和一條檢測線S，二者嚴格分開，各 自構成獨立迴路；同時要求S線必須接到一個有極 高輸入阻抗的測試迴路上，使流過檢測線S的電流 極小，近似為零.

見圖1。圖1中r表示引線電阻和探 針與測試點的接觸電阻之和。由於流過測試迴路的 電流為零，在 r3，r4上的壓降也為零，而激勵電流 I在r1，r2上的壓降不影響I在被測電阻上的壓降，所 以電壓表測出的電壓降即為Rt兩端的電壓值。從而 准確測量出R t的阻值。測試結果和r無關,有效地減 小了測量誤差。

接觸電阻測量原理:由於四線法測量接觸電阻採用10mA/100mA的 恆流源，故測量接觸電阻的實質是測量微動接觸電 壓。

使用Chroma毫歐姆表測量接觸電阻的原理見 圖2：

接觸電阻測量原理:圖2所測電阻即為接點接觸時的電阻，其中的恆 流源用來為接觸區域提供電流I，電壓表用來測量 P+和P-之間的電壓降V，由於電壓表內阻相對於所 測接觸電阻來說相當大(大到使電壓表上分得的電流 可以忽略不計)，可以認為電壓表所測電壓V即為P+ 和P-之間的電壓值，從而電壓V與電流I的比值即為 電阻值。但由於接觸區域非常小，按圖中的接線得 到的是P+和P-之間的電阻值。為了使測得的數據盡 量接近真實的接觸電阻值，應使得P+和P-接線端盡 量靠近接觸區域 ，避免在測量結果中計入測試引線 和體積電阻產生的電壓降 。

③ 電腦電源線測試好壞

我們在使用電腦的過程中，經常會出現各種各樣的故障，其實很多故障都跟電源有關。電源故障不僅僅是指電腦無法啟動，電源故障還可能引起死鎖，間歇性啟動等問題。所以，我們在檢查電腦故障前，可以先用萬用表來測試電源的好壞，具體操作方法如下。

准備工作：

由於有許多品牌的萬用表可用，我無法向你提供如何使用特定品牌萬用表的說明。所以在你開始之前，確信你已經徹底理解了如何使用你的萬用表。非正確地使用可能會導致你受到強烈電擊，或者可能會破壞你的萬用表。

電源常識：

電源的目的是通過一個插座將220伏的交流電（AC）轉化為PC 可用的直流電。通常，電源將AC轉化為12伏特，5伏特，或3.3伏特的直流電。12伏特的直流電被用來驅動有電動機的設備，例如硬碟和CD-ROM驅動器。5伏特和3.3伏特的輸出被用來供給系統主板上各種不同的部件。

幾乎所有目前使用的PC電源都是AT或ATX架構的電源。這兩者的主要區別是連接電線的連接器的數量。但是如果不考慮你正在使用的電源類型，所有的電源都具有一些基本的部件。首先是電源連接器，它將電源連接到插座上。接著是主板電源，它通過一組從電源中延伸出的電纜傳輸。電源還有一個風扇（通過查看其是否旋轉正常就可以輕松的發現並解決問題）。

測試電源連接器：

要開始診斷過程，確信PC已經斷電、關閉了電源。下一步，檢查PC背面靠近風扇的電壓選擇器以確保它在220伏特的位置。你可以在圖1中看到一個例子。

圖6：用紅色探針連接一個黃色電線，用黑色探針連接一個黑色電線

在探針連接之後，你的萬用表應該顯示11到13VDC之間的一個電壓。如果電源老化並且造成我上面描述的某類問題，電壓將低於這個標准。如果你看到的電壓介於10.5到11VDC之間，那麼你的PC需要一個新電源。如果你看到的電壓低於10.5VDC，那麼只有更換電源，你的PC才可能重新啟動。你還應該注意5-VDC和3.3-VDC電路的電壓下降。但是由於你開始的電源比較小，所以這些電壓下降更小。因此，我建議在12-VDC電路上進行測試。

結論：

有問題的電源並不是最容易就能檢測出的PC組件，在發現並處理故障的過程中，多數IT專業人員喜歡首先檢測更加常見的PC硬體問題，所以電源經常被忽視。然而，如果有一個萬用表，你可以快速地檢測所有連接的正確電流。多數電源的主要問題在於功率輸入和主板，所以通過像我上面提到地那樣檢測這些方面，你現在應該可以排除電源出問題的可能性。

結語：

以上就是使用萬用表測試電腦電源好壞的方法，大家在排查電腦故障的時候，不妨先檢查電腦的電源是否存在故障。

④ 接觸電阻的測量

除用毫歐計外,也可用伏-安計法，安培-電位計法。
在連接微弱信號電路中，設定的測試數條件對接觸電阻檢測結果有一定影響。因為接觸表面會附有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產生膜層電阻。由於膜層為不良導體，隨膜層厚度增加，接觸電阻會迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會機械擊穿，或在高電壓、大電流下會發生電擊穿。但對某些小型連接器設計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為mA和mV級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。
在GB5095「電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法」中的接觸電阻測試方法之一，「接觸電阻-毫伏法」 規定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試迴路交流或直流的開路峰值電壓應不大於20mV，交流或直流的測試中電流應不大於100mA。
在GJB1217「電連接器試驗方法」中規定有「低電平接觸電阻」 和「接觸電阻」兩種試驗方法。其中低電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述GB5095中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上不改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導電氧化薄膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。所加開路試驗電壓不超過20mV，試驗電流應限制在100mA。在這一電平下的性能足以表現在低電平電激勵下的接觸界面的性能。而接觸電阻試驗方法目的是測量通過規定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規之間的電阻。通常採用這一試驗方法施加的規定電流要比前一種試驗方法大得多。如軍標GJB101「小圓形快速分離耐環境電連接器總規范」中規定；測量時電流為1A，接觸對串聯後，測量每對接觸對的電壓降，取其平均值換算成接觸電阻值。