如何測色散損耗方法舉例

❶ 分光器怎麼算損耗

分光器的損耗估算常採用這個方法：分光器有1:2，1:4，1:8，1:16，1:32，1:64等規格，我們可相應地估算這些分光器的損耗。損耗為n*3+1，n為分光比的2的冪次方。

例如，1:2的分光器的損耗為1*3+1=4dB。1:16的分光器的損耗為4*3+1=13dB。1:16以下比較精確，越大的分光比，此測算方法誤差越大。

(1)如何測色散損耗方法舉例擴展閱讀：

分光器在對正常鏈路進行分光時，會按照光功率相對應的比例分配到多條分光後的鏈路，因此分光後鏈路的光功率會有一定的衰減，同時由於光纖及連接器等自身的損耗和色散，也可能會導致分光下來的鏈路的光功率較低，繼而導致後端設備接收到的數據出現誤碼甚至收不到數據等現象。

解決這種情況就需要在鏈路中增加一個光放大器（OEO），對分光後鏈路的光功率進行放大，確保後端設備接收到的數據准確。某移動公司2/3/4G融合核心網擴容工程配套分光器項目。

主要實現對2/3/4G移動用戶上網流量的關鍵介面（Gn、Gb、Iu-PS、S1、S6a、SGs等）數據進行分光和數據採集，為確保數據採集的准確性和完整性，同時保證不影響現網網路的穩定性和安全性。

❷ 如何用時域特性法來描述光纖的色散效應

對光纖參數的測試方法參照國標中相關的試驗方法進行，下面列舉出一些光纖基本參數的測試方法。光纖的特性參數中，幾何特性參數對光纖的包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法做出相關說明；光學特性參數對模場直徑、單模光纖的截止波長、成纜單模光纖的截止波長的測試方法做出相關說明；傳輸特性參數對光纖的衰減、波長色散的測試方法做出相關說明。2.1、光纖幾何特性參數測試光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法。測量包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法是折射近場法、橫向干涉法和近場光分布法（橫截面幾何尺寸測定）。光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法有三種。●折射近場法折射近場法是多模光纖和單模光纖折射率分布測定的基準試驗方法（RTM），也是多模光纖尺寸參數測定的基準試驗方法和單模光纖尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。折射近場測量是一種直接和精確的測量。它能直接測量光纖（纖芯和包層）橫截面折射率變化，具有高解析度，經定標可給出折射率絕對值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數及多模光纖的最大理論數值孔徑。●橫向干涉法橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。橫向干涉法採用干涉顯微鏡，在垂直於光纖試樣軸線方向上照明試樣，產生干涉條紋，通過視頻檢測和計算機處理獲取折射率剖面。●近場光分布法這種方法是多模光纖幾何尺寸測定的替代試驗方法（ATM）和單模光纖幾何尺寸（除模場直徑）測定的基準試驗方法（RTM）。通過對被測光纖輸出端面上近場光分布進行分析，確定光纖橫截面幾何尺寸參數。可以採用灰度法和近場掃描法。灰度法用視頻系統實現兩維（x-y）近場掃描，近場掃描法只進行一維近場掃描。由於纖芯不圓度的影響，近場掃描法與灰度法得出的纖芯直徑可能有差別。纖芯不圓度可以通過多軸掃描來確定。一般商用儀表折射率分布的測試方法是折射近場法。測試中使用的儀表是光纖幾何參數和折射率分布測量儀。測試步驟如下：①試樣制備時應注意試樣端面清潔、光滑並垂直於光纖軸。②測量包層時，端面傾斜角應小於1°。控制端面損傷，使其對測量精度的影響最小。③注意避免光纖的小彎曲。④將被測光纖剝除被覆層，用專用光纖切割刀切割出平整的端面, 放入光纖樣品盒中，樣品盒中注入折射率稍高於光纖包層折射率的折射率匹配液。⑤將光纖樣品盒垂直放在光纖折射率分布測量儀的光源和光探測器之間，進行x-y方向的掃描測試。⑥通過分析得到光纖折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試數據。2.2、光纖光學特性參數測試(1)單模光纖模場直徑的測試方法模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。單模光纖模場直徑的測試方法有三種。●直接遠場掃描法直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。●遠場可變孔徑法遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。●近場掃描法近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：●准備2m（±0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（±0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。2.3、光纖傳輸特性參數測試(1)衰減的測試方法衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：●截斷法截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。●插入損耗法插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。●後向散射法後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。（2）波長色散的測試方法波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：●相移法相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●脈沖時延法脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●微分相移法微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。3、光纖參數測試中普遍存在的問題以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。

根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中 λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。

❸ 通訊技術中簡述光纖損耗常用的測量方法和原理。

常用的光纖損耗測試方法有剪斷法、插入法和背向散射法三種。
剪斷法通過測試被測光纖的入纖功率和出纖功率來測試光纖的衰減。插入法的測量原理類似於剪斷法，只不過插入法是用帶活動插頭的光纖跳線代替短光纖進行測量。背向散射法又稱為OTDR法，是通過測試光纖長度上各點返回到始端的背向散射信號的強度來測量光纖的損耗和衰減的。

❹ 光纖色散衰減的測試方法

這個要有專門的色散測試儀，但是一般都不配那個東西，只有實驗室有那個，一般就用OTDR測試衰減就行了

❺ 光纖信號衰減如何測試

設計用於安裝與維護光纖網路。 現場技術人員提供當今市場上最高級別的性能與可升級能力。具有業內最大的顯示屏幕，最高的測量精度。
測試功能，具有 40 多個不同的光纖模塊用於各種類型的應用。 MTS-6000 的多功能性使得技術人員能夠採用一種類型的測試設備進行標准化的測試，然後可以引入新的現場測試功能而無需增加成本。

功能特點
• 結構緊湊，重量輕，高度集成
• 已經可以支持 40 多個應用模塊
• 有 IL/ORL 、 OTDR 、 PMD 、 CD 或 WDM 插拔模塊選擇
• 與 MTS-5100 和 MTS-8000 的插拔模塊兼容
• 帶有內置的 VFL 、功率計、 LTS 與視頻檢查顯示選件，具有全面的連接檢查功能
• 內置的光話機選件用於使用光纖通話
• 話機中的數據模式能夠對兩個遠端單元進行配置、測試與結果採集
• 在嚴酷度、跌落測試、擴展電池壽命等方面超過 Telcordia 的技術指標

結構緊湊，高度集成
MTS-6000 的多功能性使得它能夠解決 FTTx ／接入網／城域網或者速度為 10 Gb/s 與 40 Gb/s 的長途／城域網。
• 內置 VFL 、功率計、 LTS 、話機／數據以及視頻檢查顯微鏡選件（同時）
• 在一個模塊內具有插入損耗（ IL ）與光回損（ ORL ）功能（雙向）
• 在一個模塊內具有極化模式色散（ PMD ） , 波分復用（ WDM ）與光譜分析功能

應用
JDSU 已經開發出寬范圍的現場可替換 OTDR 模塊，適用於任何網路類型上的任何應用。 JDSU 提供了 30 多個 OTDR 模塊，用於對任意多模或單模網路進行測試與故障查找。 MTS-6000 具有 JDSU 的業界領先的 50 dB D系列 OTDR 模塊。

高性能
JDSU OTDR 模塊產品系列是產業內的性能參考。 MTS-6000 具有新的 VLR 以及 UHD OTDR 模塊，它能夠提供：
• 業內最好的光學技術指標
• 最高的動態范圍，最大1310nm/1550nm 波長均為 50 dB
• 最短的事件盲區， 0.6 米
• 業內最好的數據采樣速度： 0.1s
• 業內最高的衰減測量精度： ±0.3dB/dB

快速而精確的故障查找
• 快速檢測斷點／故障
• 精確的故障定位
• 一鍵式自動測試
• 無需特定的設置
• 距離、損耗與 ORL 測試

技術指標
MTS-6000 技術指標（ 25°C 時的典型值）
通用技術指標
顯示
• TFT 彩色顯示屏， 8.4」 ， LCD 800 x 600 ，高分辨力（標准配置）
• 觸摸屏， TFT 彩色顯示屏， 8.4」 ， LCD 800 x600 ，高分辨力（可選配置）
存儲和 I/O 介面
• 內部存貯器 1000 個測試結果
• 擴展存貯器（可選） 最小 1 GB （可選） 2x USB V1.1 ， 1x RJ-45 乙太網
電源
• 電池類型標准可取出鋰離子電池（ 6600mAH ）
尺寸與重量
• 外形尺寸： 285 mm x 195 mm x 93 mm （ 11.2 x 7.7 x 3.7 in ）
• 重量：僅主機（不帶有電池與模塊）： 2.4 kg （ 5.3 lb ）；帶有一個插拔模塊與電池的主機： 3.4 kg （ 7.5 lb ）

基本單元光介面（可選）
光功率計
• 功率范圍： +10 到 -60dBm
• 校準波長： 850 ， 1310 與 1550 nm
• 連接器類型：通用推／拉型（ UPP ）

光話機
• 波長： 1550 nm ±20 nm
• 動態范圍： >45 dB 范圍
• 功能：帶有數據／文件傳送
• 激光器安全級： 1M 類激光器
• 連接器類型：現場可更換型

光回損計
• 可選波長： 1310nm ， 1550nm
• 測量范圍： 0~45 dB
• 不確定性： ±1dB
• 顯示解析度： 0.01dB

可視故障定位儀（ VFL ）
• 波長： 635 nm ±15 nm
• 輸出功率： <1 mW
• 激光器安全級： 2 類激光器
• 連接器類型：通用推／拉型（ UPP ）

連續波（ CW ）光源
• 波長（可選）： 1310 ， 1550 與 1625 nm
• 輸出功率： -3.5 dBm
• 15 分鍾穩定度： ± 0.02 dB
• 8 小時穩定度： ± 0.2 dB
• 激光器安全級： 1M 類激光器
• 連接器類型：現場可更換型

視頻檢查顯微鏡（通過 USB ）
• 放大倍數 200X 或 400X ，通過 USB 埠

OTDR 模塊技術指標
光時域反射儀部分：
• 激光安全等級： 21 CFR Class1
• 距離單位： km ，英尺，英里
• 折射率范圍： 1,30000 － 1,70000nm ；步長 0,00001
• 采樣點： 256,000
• 距離范圍： 0.5km 到 320km
• 距離顯示解析度： 1cm
• 標識解析度：最小 1cm
• 采樣解析度： 4cm
• 距離精度： ±0.75m ± 采樣解析度 ±1 x 10-5 x 距離
• 衰減測量模式： 2 點、 5 點、 LSA
• 顯示範圍： 1.25dB-55dB
• 衰減顯示解析度： 0.001dB
• 標識解析度：最小 0.001dB
• 衰減線性度： ± 0.03dB/dB
• 反射精度： ±2dB
• 門限值： 0.01 － 5.99 dB ；步長： 0.01 dB
• 存儲格式： Bellcore/Telcordia 兼容 Version 1.1 和 Version 2.0

連續波光源（與 OTDR 同一介面）：（標准配置）

8100B

8100C

8100D

波長

1310nm 、 1550nm 、 1625nm

1310nm 、 1490nm 、 1550nm 、 1625nm

1310nm 、 1550nm 、 1625nm

輸出功率

-3.5dBm

-3.5dBm

0dBm

穩定度

﹤± 0.1dB （ 2 5 ℃ ， 1 小時 ）

輸出模式

CW 、 270Hz 、 330Hz 、 1kHz 、 2kHz 、 TWINtest

光功率計（與 OTDR 同一介面）：（標准配置）

8100B

8100C

8100D

校準波長

1310nm 、 1490nm 、 1550nm 、 1625nm

功率范圍

-3 到 -55dBm

-3 到 -55dBm

-5 到 -55dBm

精度

± 0.5dB （在 -30dBm 時）

訂貨信息

基本儀表
MTS-6000 平台，帶有高可視性彩色顯示屏與電池組 EM6000
MTS-6000 平台，帶有高可視性觸摸屏與電池組 EM6000T

主機選件
• 擴展存貯器 E60EXTMEM
• 帶有 UPP 連接器的 VFL E80VFL
• 光話機 E80TS
• 帶有 UPP 連接器的光功率計（提供 2.5 mm 作為標准配置） E80PM
• 帶有光話機的光損耗測試儀（ 1310/1550/1625 nm ） E8036LTSTS
• 帶有光話機的光損耗測試模塊： E8029LTSTS （ 1550/1625nm ）
• 帶有光話機的光損耗和回損測試模塊： E8026LTSTSORL （ 1310/1550nm ）
• 光纖視頻顯微鏡： EFSCOPE400

附件：
• 汽車點煙器電源適配器 ： E80lIGHTER
• 光介面適配器： EUNIPCFC ， EUNIPCSC ， EUNIPCST ， EUNIPCDIN ， EUNIPCLC ， EUNIAPCFC ， EUNIAPCSC ， EUNIAPCST ， EUNIAPCDIN ， EUNIAPCLC
• 鋰離子電池組： E60LIION （ 6600mAh ）

應用軟體
• 光纖跡線察看軟體（免費）： EOFS-110
• 光纖跡線軟體（用於後處理）： EOFS-100
• 光纖光纜軟體（用於驗收報告生成）： EOFS-200

❻ 色散損耗(名詞解釋）

光纖的損耗 損耗 即便是在理想的光纖中都存在損耗——本徵損耗。 光纖的損耗限制了光信號的傳播距離。這些損耗主要包括： 1. 吸收損耗 2. 散射損耗 3. 彎曲損耗

❼ 光纖色散的測量方法

提出了一種光纖色散的簡單快速測量方法。該方法採用光纖激光器結構,由Sagnac環和光纖耦合器組成的光纖環形鏡作為諧振腔一端的反射腔鏡,另一端反射腔鏡為不同中心波長的光纖光柵。利用光開關依次構成n個獨立的光纖激光器。通過對激光拍頻的測量得到在不同波長下待測光纖的時延,進一步可以得到待測光纖的色散系數。利用該方法實現了對一根長度為500m的色散補償光纖的色散測量。結果表明,該方法切實可行、操作簡單,能夠實現光纖色散的快速測量,從而為通信系統中光纖的類型、長度等參數的合理選用提供參考

❽ 如何對光纖損耗進行測量 減少光纖色散方法

實現光纖通信，一個重要的問題是盡可能地降低光纖的損耗。 光纖損耗所謂損耗是指光纖每單位長度上的衰減，單位為dB/km。光纖損耗的高低直接影響傳輸距離或中繼站間隔距離的遠近，因此，了解並降低光纖的損耗對光纖通信有著重大的現實意義。