電子顯微分析方法題目

Ⅰ 選用電子顯微分析儀時應從哪幾方面考慮（另有關於X射線，電鏡，電子探針的幾個題目，打對了多加分）

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域.
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用於各大、專院校，科研院所及廠礦企業。它是當今國內最先進的X射線衍射系統。它的設計精密，軟體和硬體功能齊全，能靈活的適應物質微觀結構的各種測試。Y-2000型衍射儀採用多CPU系統完成X射線發生器，測角儀的控制及數據採集。配有高性能微機及軟體，精確的測定物質的晶體結構，點陣常數，完成定性分析和定量分析。安裝相應的附件能完成織構及應力的測定，廣泛應用於工業、農業、國防和科研等領域。

Ⅱ 顯微構造分析技術與方法有哪些

近年來顯微構造學學科的迅猛發展，與相鄰學科或相關學科在理論和技術上的飛躍是分不開的。因而作為現代理論（例如金屬學的位錯理論等）和技術（主要包括透射電子顯微鏡技術（TEM）、掃描電子顯微鏡技術（SEM）、陰極發光技術和電子計算機分析技術等）引入的結果，構造地質學在近年的研究中取得了由宏觀構造分析，至小型構造分析、微型構造分析乃至超微構造分析方面的全面發展；實現了對於顯微構造的研究由簡單的定性描述階段發展到定量分析階段的飛躍；進而推動了目前對於構造岩和變質岩成因、地殼岩石圈動力學結構和流變學結構、成礦作用理論以及災害地震孕震與發震機制的深入研究或重新認識。由於意識到現代技術方法的重要地位和作用，許多構造地質學家在深入開展構造地質學研究的同時，還正開展著現代技術方法的應用研究。這一方面促進了現代技術和方法在構造地質學科的更加廣泛運用，也推動了現代構造地質學的飛速發展。具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發生單次或多次彈性與非彈性碰撞；會反射、折射或衍射出多種不同形式的粒子。其中，99%以上的入射電子能量轉變成樣品熱能，而其餘約1%的入射能量從樣品中激發出各種信號，包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、陰極熒光、X射線等（見圖7-1），藉此發展了電子顯微鏡、陰極發光顯微攝像系統及X-射線接收系統。

本文簡單介紹幾種目前人們在構造地質學研究中應用最為廣泛的技術和方法，包括陰極發光分析技術、透射和掃描電鏡技術、EBSD技術等。關於各種方法的基本原理、技術和應用范圍，請參考相關教材和文獻。

Ⅲ 電子顯微分析技術中，電子的波長有什麼決定 作業

電子是實物粒子（靜止質量不為0的微觀粒子），根據德布羅意的物質波理論，實物粒子也具有波粒二象性。實物粒子的波動性可由下方程描述：

上式中：h為布朗克常數，P為粒子的動量，m為粒子的質量，v為粒子的速度。

因此，在任何情況下，電子的波長是由其速度決定的（電子本身的質量是不變的）。

在顯微鏡等利用電子束的設備中：利用電子槍中陰極所產生的電子在陰陽極間的高壓（25-300kV）加速電場作用下被加速至很高的速度（0.3-0.7倍光速）。也即通過控制電場強度，控制電子的速度，進而控制電子的波長。

Ⅳ 材料現代分析測試方法的介紹

本書著重介紹了材料現代分析測試方法的基本原理、試驗方法、儀器設備及其應用。內容包括：X射線衍射分析原理、X射線多晶衍射方法及應用、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析與電子探針、光電子能譜與俄歇電子能譜、光譜分析技術、熱分析技術、動態力學實驗技術。此外，還對一些較新的其他顯微分析方法的原理和應用進行了簡要介紹。各章附有相應的習題與思考題。

Ⅳ 下列是幾種細胞亞顯微結構模式圖，請據圖回答問題．（1）需藉助電子顯微鏡才可以看到如圖所示各結構，圖

（1）分析題圖可知，甲乙是真核細胞，丙是原核細胞，真核細胞與原核細胞共有的細胞器是核糖體．
（2）分析題圖可知圖甲的④是內質網，⑥是線粒體，⑦高爾基體，②是細胞膜，⑨是核膜，它們共同構成細胞的生物膜系統．
（3）核糖體是由RNA和蛋白質組成，真核細胞中的RNA通過核孔進入細胞質．
（4）分析題圖乙可知，該細胞是成熟的植物細胞，植物細胞能通過主動運輸的方式吸收K⁺和NO₃-，因此若將圖乙所示的一個活細胞放入高於細胞液濃度的KNO₃溶液中，一段時間後用顯微鏡觀察發現該細胞未發生質壁分離，其原因最可能是該細胞先發生了質壁分離，然後又自動復原．
（5）分析題圖甲乙丙可知，圖乙含有葉綠體，能進行光合作用．
故答案應為：
（1）核糖體
（2）生物膜系統
（3）RNA 核孔
（4）質壁分離後又自動復原
（5）乙 葉綠體

Ⅵ 在掃描電子顯微分析中，有哪幾種成像方法它們各自採用何種探測器

①背散射電子。背散射電於是指被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子。其中包括彈性背散射電子和非彈性背散射電子。背散射電子的產生范圍深，由於背散射電子的產額隨原子序數的增加而增加，所以，利用背散射電子作為成像信號不僅能分析形貌特徵，也可用來顯示原子序數襯度，定性地進行成分分析。②二次電子。二次電子是指被入射電子轟擊出來的核外電子。二次電子來自表面50-500 的區域，能量為0-50 eV。它對試樣表面狀態非常敏感，能有效地顯示試樣表面的微觀形貌。③吸收電子。入射電子進入樣品後，經多次非彈性散射，能量損失殆盡（假定樣品有足夠厚度，沒有透射電子產生），最後被樣品吸收。若在樣品和地之間接入一個高靈敏度的電流表，就可以測得樣品對地的信號。若把吸收電子信號作為調制圖像的信號，則其襯度與二次電子像和背散射電子像的反差是互補的。④透射電子。如果樣品厚度小於入射電子的有效穿透深度，那麼就會有相當數量的入射電子能夠穿過薄樣品而成為透射電子。樣品下方檢測到的透射電子信號中，除了有能量與入射電子相當的彈性散射電子外，還有各種不同能量損失的非彈性散射電子。其中有些待征能量損失E的非彈性散射電子和分析區域的成分有關，因此，可以用特徵能量損失電子配合電子能量分析器來進行微區成分分析。⑤特徵X射線。特徵X射線是原子的內層電子受到激發以後，在能級躍遷過程中直接釋放的具有特徵能量和波長的一種電磁波輻射。如果用X射線探測器測到了樣品微區中存在某一特徵波長，就可以判定該微區中存在的相應元素。⑥俄歇電子。如果原子內層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量E不以X射線的形式釋放，而是用該能量將核外另一電子打出，脫離原子變為二次電子，這種二次電子叫做俄歇電子。俄歇電子是由試樣表面極有限的幾個原於層中發出的，這說明俄歇電子信號適用於表層化學成分分析。背散射電子，二次電子和透射電子，主要應用於掃描電鏡和透射電鏡，特徵X射線可應用於能譜儀，電子探針等，俄歇電子可應用於俄歇電子能譜儀，吸收電子也可應用於掃描電鏡，形成吸收電子像。

Ⅶ 如何制備4，4'

樣品制備在透射電子顯微分析技術中佔有相當重要的位置。由透射電鏡的工作原理可知，供透射電鏡分析的樣品必須對電子束是透明的，通常樣品觀察區域的厚度以控制在約100～200 nm為宜。此外，所製得的樣品還必須具有代表性以真實反映所分析材料的某些特徵，因此，樣品制備時不可影響這些特徵，如已產生影響則必須知道影響的方式和程度。透射電鏡樣品制備是一個涉及面很廣的題目，方法也很多。選擇哪種方法，則取決於材料的類型和所要獲取的信息。透射電鏡樣品可分為間接樣品和直接樣品．本章僅介紹應用較廣的復型、電解雙噴、離子薄化等樣品制備技術

Ⅷ 電子顯微分析的特點是什麼什麼是電子顯微分析

電子顯微分析是利用聚焦電子束與式樣相互作用所產生的各種物理信號，分析試樣物質的微區形貌、晶體結構和化學組成的分析方法，包括透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析和電子探針X射線顯微分析。
電子顯微分析的特點
1、可以在極高的放大倍率(最高可達107倍)下直接觀察試樣的形貌、結構，選擇分析區域；
2、具有很高的解析度(透射電子顯微鏡的解析度已達0.2~0.1nm)，可直接觀察原子的排列與分布，進行納米尺度的結構分析和化學成分分析；
3、各種電子顯微分析儀器日益向多功能、綜合化方向發展，可以同時進行形貌、物相、晶體結構和化學成分的綜合分析。

Ⅸ 材料分析測試技術-材料X射線衍射與電子顯微分析（第二版）第三章課後習題第四、第五題不知道怎樣解答

大哥你這個問題估計只有你老師能回答了……

Ⅹ 材料分析測試技術:材料X射線衍射與電子顯微分析 哈爾濱工業大學出版社課後習題答案哪裡有啊

暈，這也能求？？！