測井儀器的使用及保養方法研究

⑴ 計量儀器的保養

1、檢查密封圈，如果有磨損，應更換，並塗上密封硅脂。

2、檢查和清洗電子線路兩端的插頭、插座及線圈頂部插座。

3、檢查和清潔八側向電極系。

4、自然電位電極環、引線應焊接好。

5、檢查各連接絲扣是否正常，並清潔潤滑。

電氣系統

1、正確連接電子線路與線圈系，並架於1.5米高儀器木架上，周圍3米之內無導磁物質。

2、用專用電阻率面板供交流電壓180V，頻率60Hz；電流應在80～100mA范圍。

3、進行測井、內刻度、內零之間的換檔，觀察輸出值變化，檢查換檔是否正常。

4、記錄內零、內刻度值，並與以前主校驗值進行對比，內零應在±2mV、內刻度應在±25mV范圍。敲擊震動電子線路及發射短節，內刻度值應保持穩定，變動誤差應在±5mV范圍。

5、在測井檔，儀器輸出值應能明顯與內零、內刻度值相區分，用金屬閉環套在線圈繫上來回移動，感應輸出信號應有明顯變化。

6、如儀器正常，填寫修保記錄，貼儀器合格證。

二級保養、維護、檢查、調校

每三口井進行一次。由儀修人員完成，由儀修檢定員檢定。

1、機械繫統

2、檢查儀器各連接插頭插座與電子線路連接是否可靠。

3、緊固電子線路框架、電路板及電路元件。

4、檢查發射短節內線路與元件是否有松動，並緊固。

5、檢查電路布線是否有變化，是否合理。

6、線圈系要及時充滿硅油，擰緊油孔螺釘。

電氣系統

1、電子線路直流電源輸出電壓分別為15±0.1V和－15±0.1V，紋波應小於50mV(峰—峰值)，若達不到要求，檢查整流器、T101、、T102、C101、C102等元件的性能。

2、發射電路輸出頻率為20050±10HZ，電壓為125～140V（峰—峰值）的正弦波。若達不到要求調節調諧電容C16。

3、八側向斬波驅動器同步信號頻率為1253±1Hz，電壓為0.5±0.05V（峰—峰值）的方波，若達不到要求，調節發射電路板上電阻R13和電容C6。

4、感應參考信號頻率為20050±10Hz，電壓為0.2±0.02V（峰—峰值）的正弦波。若達不到要求，調節發射電路板上電阻R14。

5、儀器在刻度條件下置「測井零」狀態，深、中感應輸出信號均為直流電壓0±5mV。若達不到要求，分別調節深、中感應「測井零」電位器R16。

6、儀器在刻度條件下置「測井」狀態，刻度環開關置於「電容檔」位置，深感應輸出直流電壓為12±1.2mV，中感應輸出直流電壓為35±3.5mV。若達不到要求，分別調節深、中感應相位電位器R2。

7、反復調節「測井零」值和「相位值」，使輸出值同時滿足4.2.5和4.2.6的要求。

8、儀器置於「外刻度」狀態，深感應、中感應輸出均為直流電壓500±50mV。若達不到要求，分別調節深、中感應信號放大器板上第一級反饋電阻R37。

9、儀器置於「內刻度」狀態，深、中感應輸出電壓值均等於「外刻度」電壓值，允許誤差±5mV。若達不到要求，分別調節深、中感應內刻度電位器R17。

10、儀器置於「內零」狀態，深、中感應輸出直流電壓0±2mV。若達不到要求，分別檢查深、中感應信號放大板上繼電器絕緣。

11、八側向斬波輸出電壓為10V（峰—峰值）的方波，若達不到要求，檢查放大器A1。

12、變壓器T107輸出電壓為30～40mV（峰—峰值）的方波，若達不到要求，檢查V0放大器板上運算放大器、功率放大器、相敏檢波器以及反饋電路。

13、變壓器T103輸出電壓為30～40mV（峰—峰值）的方波，若達不到要求，檢查八側向補償放大器板上運算放大器、功率放大器、相敏檢波器電路。

14、八側向置於「外刻度」狀態，輸出直流電壓為450～550mV 。若達不到要求，調節信號放大器板上第一級反饋電阻R12。

15、儀器置於「內刻度」狀態，輸出電壓值應等於「外刻度」電壓值，允許誤差±5mV。若達不到要求，調節V0放大器板上電阻R63。

16、儀器置於「測井零」狀態，輸出直流電壓0～8mV。

17、儀器置於「內零」狀態，輸出電壓值應比4.2.16條規定電壓值高1mV.若達不到要求，調節信號放大器板上電位器R20。

18、八側向線性檢查誤差應在2%以內。

19、泥漿負載從0.2Ω·m改為0.02Ω·m 時，對應各地層負載電阻的電壓值之差不大於5mV。

20、如儀器正常，填寫修保記錄，貼儀器合格證。

三級保養、維護、檢查、校驗

每三個月進行一次，由儀修人員完成，由儀修檢定員檢定。

1、進行二級保養調試的內容

2、 線圈系系統調試

儀器置於3m高的木架上，並且周圍10m內沒有任何導電體，且沒有可影響的電磁干擾。

儀器置於「測井」檔，電壓表接在儀器輸出端。

深感應線圈系調節的方法如下：
示波器外同步接在深感應參考信號放大器A2輸出端或A3輸出端。
示波器探筆接在深感應信號放大器A4或輸出端或A5輸出端。
用一片大約5.1㎝×1.6㎝磁屏蔽薄片縱向放在9號線圈周圍，沿著線圈前後滑動，使輸出信號為零，此時將磁屏蔽薄片固定牢，使深感應接收線圈90°分量得到平衡。若信號達不到零，可在3號線圈上按上述方法調式。
觀察直流電壓表輸出，若還有不平衡信號，在3號（或9號）線圈上繞卡普隆電阻絲，改變康銅絲的位置和匝數使直流電壓輸出為零，並將康銅絲固定牢。這樣180°的不平衡信號得到平衡。

3、中感應圈系調節的方法是：在線圈8，10，11上調試，調節方法和步驟與深感應線圈系相同。

調校結果驗證及要求

1、把電子線路與線圈系連接好，供交流電壓180V。對儀器進行刻度，刻度數值應符合表1的要求。

2、儀器按技術指標規定做加溫試驗，測量結果也應符合表1要求。

3、維修人員應認真填寫儀器維修刻度記錄，字跡清楚，內容齊全、准確。

⑵ 顯微鏡的正確使用與保養方法

儀器的保養
保持光學元件的清潔對於保證好的光學性能來說非常重要，當顯微鏡不用時，顯微鏡應當用儀器提供的防塵罩蓋住。若光學表面及儀器有灰塵和污物，在擦清表面前應當先用吹氣球吹去灰塵或用柔軟毛刷去污物。
光學表面應當用無絨棉布，鏡頭紙或用專用的鏡頭清潔液沾濕的棉花簽來清潔。請避免使用過多的溶劑，擦鏡紙或棉花簽應恰當沾濕溶劑但不要因為使用太多溶劑而滲透到物鏡內，造成物鏡清晰度下降及物鏡損壞。
顯微鏡中目鏡物鏡的表面鏡頭最容易受到灰塵和污物及油的粘污，當發現襯度，清晰度降低，霧狀發生時，則需要用放大鏡仔細檢查目鏡，物鏡前面鏡頭的狀況。
低倍物鏡有相當大的前組鏡片，能用纏在手指上的棉布或棉簽及擦鏡紙上用乙醇沾濕來擦拭。40X、100X需多加小心地用放大鏡仔細檢查。高倍鏡中為了達到高的平坦度，應用了一個有小曲率半徑凹面的前組鏡頭，在擦拭這組鏡頭時用帶有棉球的牙簽或棉花簽清潔。擦拭鏡頭表面要輕。不要過度用力和有刮擦動作，並確信棉簽觸到鏡頭的凹面。在清理後用放大鏡檢查物鏡是否損傷，如果必須要去開觀察鏡筒，小心不要接觸到鏡筒下面的外露鏡頭，鏡頭表面如有手指印會降低成像的清晰度，用清潔物目鏡的方法進行擦拭。
當顯微鏡使用100X油鏡使用完時，請及時將油鏡表面擦拭清楚並檢查40X物鏡是否沾上油，如有請及時擦清。使顯微鏡始終保持成像清晰。

儀器的維護
使用防塵罩是保證顯微鏡處於良好機械和物理狀態的最重要的因素。顯微鏡的外殼如有污跡，能用乙醇或肥皂水來清潔（無用其他有機溶劑來清潔），但切勿讓這些清洗液滲入顯微鏡內部，造成顯微鏡內部電子部件的短路或燒毀。
保持顯微鏡使用場地的乾燥，當顯微鏡長期工作在濕度較大的環境中，還是容易增加霉變的幾率，因此如顯微鏡不得不工作在這些濕度較大的環境中，建議使用去濕機。另外，如發現光學元件表面有霧狀，霉斑等不良情況時，請立刻聯系專業人士，對您的顯微鏡進行專業維護保養。

儀器保養注意事項
採取下列措施，或許能更好的延長您的顯微鏡使用時間並使之保持良好的工作狀態。
（1）每次關閉顯微鏡電源前，請將顯微鏡燈光調至最暗。
（2）關閉顯微鏡電源後，請等燈箱完全冷卻後（約15分鍾後），在罩上顯微鏡防塵罩。
（3）開啟顯微鏡電源後，若暫時不使用，可以將顯微鏡燈光調至最暗，而無需頻繁開關顯微鏡電源。
顯微鏡工作一年後，應每年至少做一次的專業維護保養。

儀器日常使用注意事項
1.搬動顯微鏡時，要一手握鏡臂，一手扶鏡座，兩上臂緊靠胸壁。切勿一手斜提，前後擺動，以防鏡頭或其他零件跌落。
2.觀察標本時，顯微鏡離實驗台邊緣應保持一定距離(5cm)，以免顯微鏡翻倒落地。鏡柱與鏡臂間的傾斜角度不得超過45度，用完立即還原。
3.使用時要嚴格按步驟操作，熟悉顯微鏡各部件性能，掌握粗、細調節鈕的轉動方向與鏡筒升降關系。轉動粗調節鈕向下時，眼睛必須注視物鏡頭。
4.觀察帶有液體的臨時標本時要加蓋片，不能使用傾斜關節，以免液體污染鏡頭和顯微鏡。
5.粗、細調節鈕要配合使用，細調節鈕不能單方向過度旋轉，調節焦距時，要從側面注視鏡筒下降，以免壓壞標本和鏡頭。
6.用單筒顯微鏡觀察標本，應雙眼同時睜開，左眼觀察物像，右眼用以繪圖，左手調節焦距，右手移動標本或繪圖。
7.禁止隨意擰開或調換目鏡、物鏡和聚光器等零件。
8.顯微鏡光學部件有污垢，可用擦鏡紙或綢布擦凈，切勿用手指、粗紙或手帕去擦，以防損壞鏡面。
9.凡有腐蝕性和揮發性的化學試劑和葯品，如碘、乙醇溶液、酸類、鹼類等都不可與顯微鏡接觸，如不慎污染時，應立即擦乾凈。不要任意取下目鏡，謹防灰塵落入鏡筒。
10.使用油鏡觀察樣品後，隨即用二甲苯將油鏡鏡頭和載波片擦凈，以防其他的物鏡玻璃上沾上香柏油。二甲苯有毒，使用後馬上洗手。
11.實驗完畢，要將玻片取出，用擦鏡紙將鏡頭擦拭乾凈後移開，不能與通光孔相對。用綢布包好，放回鏡箱。切不可把顯微鏡放在直射光線下曝曬。

⑶ 鉗工 一、知識要求 1． 常用測量儀器的名稱、用途、使用和維護保養方法。

鉗工是使用鉗工工具或設備，按技術要求對工件進行加工、修整、裝配的工種。

鉗工的主要任務
加工零件：一些採用機械方法不適宜或不能解決的加工，都可由鉗工來完成。如：零件加工過程中的劃線，精密加工（如，刮削 挫削樣板個製作模具等等）以及檢驗及修配等。
裝配： 把零件按機械設備的裝配技術要求進行組件，部件裝配合總裝配，並經過調整，檢驗合試車等，使之成為合格的機械設備。
設備維修：當機械在使用過程中產生故障，出現損壞或長期使用後精度降低，影響使用時，也要通過鉗工進行維護合修理。
工具的製造和修理：製造和修理各種工具，卡具，量具，模具和各種專業設備。

鉗工基本操作技能
劃線，鏨削，鋸削，銼削，鑽孔，擴孔，鍃孔，鉸孔，攻螺紋，套螺紋，矯正和彎形，鉚接，刮削，研磨，機器裝配調試，設備維修，測量和簡單的熱處理。

鉗工的主要工具
鉗工主要是以 銼刀 鑽 鉸刀 老虎鉗 台虎鉗 車床 銑床 磨床為主的工具進行裝配和維修的技術工人 。

鉗工的常用設備
鉗工工作台 台虎鉗 砂輪機 台式鑽床 立式鑽床 搖臂鑽床

鉗工的種類
鉗工（普通鉗工）：對零件進行裝配，修整，加工的人員。
機修鉗工：主要從事各種機械設備的維修修理工作。
工具鉗工：主要從事工具，模具，刀具的製造和修理。
一般鉗工兩大類：1.機械維修鉗工 2.裝配鉗工 叫法是很多像你的一樣（高級鉗工 模具鉗工 工具鉗工 維修鉗工 機修鉗工 劃線鉗工 電器鉗工 劃線鉗工 鈑金鉗工 安裝鉗工等等)但是鉗工主要是以 銼刀 鑽 鉸刀 老虎鉗 台虎鉗 車床 銑床 磨床為主的工具進行裝配和維修的技術工人 。

⑷ 測井類儀器

具有當今世界先進水平的斯倫貝謝、阿特拉斯、哈里伯頓三大測井公司的測井技術和測井設備代表著測井技術的發展方向和水平。目前測井服務的主導產品是斯倫貝謝的MAXIS－500系統、貝克－阿特拉斯的ECLIPS－5700系統及哈里伯頓的ECELL－2000系統，及其配套的井下儀器系列和解釋軟體。

常見的測井儀器有能譜測井儀、岩性密度測井儀、數字聲波測井儀、補償中子測井儀、雙測向測井儀。成像儀器主要有核磁共振測井儀、環周聲波成像測井儀、電成像測井儀、多極子聲波成像測井儀、扇段(分區)水泥膠結測井儀、陣列感應測井儀等。

(1)電阻率測井儀

電阻率測井儀(附圖16)是用於鑽孔岩層視電阻率測量的儀器。該地面儀器連接井下電極系，並配套PC機使用，可以測量視電阻率及自然電位等參數。

儀器採用自適應供電方案，向井下岩層供出寬范圍的交流方波。同時測量供電電流和電壓。所以具有操作簡便，測量范圍寬，輕便可靠等特點。

為了減少人工電場對自電測量的干擾，儀器採用AB不供電測自然電位的方案。視電阻率測量有兩個電壓測量通道，可以同時記錄兩條視電阻率曲線。

(2)全波列聲波測井儀

全波列聲波測井儀(附圖17)功能齊全。可用於工程勘察中的岩石鑽孔全波列測井，還可用於非金屬材料和構件的強度及缺陷的無損檢測、混凝土基樁完整性缺陷檢測。

儀器波形放大顯示，自動快速判讀聲波參數。鑽孔、測區或樁基的波形、測點聲時、測區平均聲速、測區換算強度值現場實時顯示。Windows系統下全中文菜單操作，簡單易學，方便快捷。高亮度，10.4″彩色觸摸式液晶顯示屏。USB介面數據傳輸、列印，快速、可靠。

主要技術指標見表8.2。

表8.2全波列聲波測井信主要技術指標表

續表

(3)多參數輕便數字測井儀

MOUNT測井儀系列(附圖18)、全數字化井下綜合參數探頭，包括:電阻率，自然伽馬、伽馬能譜，伽馬密度，中子孔隙度，自然電位，聲波全波列，磁導率，激發極化，聲學二維/三維成像，井徑，井斜，產狀，流量等各種探頭。有適用於煤田和金屬礦測井的1000m，2000m絞車，也有使用於工程物探，水文地質，環保測井的100m，200m，500m輕型絞車。

(4)綜合數字測井系統

綜合數字測井系統(附圖19)是專為野外工作方便而設計的，可連接各種測井探管的數字化測井系統。地面儀器可連接各種測井探管的輕便方式，此外還包括了深度計量給井下儀供電等功能。本儀器具有重量輕，操作維修簡單，可連接井下探管種類多，抗震、耐溫、耐濕，可靠性高等特點。

⑸ 實驗室儀器設備的日常維護，保養規則有哪些

儀器的維護分為定期維護和日常維護，目的都是排查出故障隱患，可以及時採取預防措施，避免故障的發生。

定期維護是固定期限對大型重點設備的徹底維護保養。這一工作一般由維修人員與儀器專責人共同完成，主要工作是對儀器各單元內部元件的工作狀態進行檢查和優化，各動作參數進行核對校準，並檢查各易損件是否完好，對不良和可疑元件進行更換，以及儀器內部積塵的清掃等等。

（1）日常維護是每天對儀器設備的維護檢查，包括每班的點檢和每日的巡檢。每台儀器的工作要求不盡相同，所以對每台儀器的點檢內容、項目也不相同，這一工作當班操作者應嚴格按照點檢卡對所用儀器逐項進行仔細檢查。

①使用、維護人員在開箱後，應認真研讀隨機帶的說明書，掌握其結構、原理、功能、操作要點，維護與保養要求；

②儀器內外應保持干凈，注意防潮濕、防銹蝕、防干擾；

③精密儀器要輕取輕放，光學部件要用擦鏡紙，不能使用濕布擦抹；

④對電子線路板要清除灰塵，檢查儀器接地情況；

⑤機械及傳動部分要除銹跡、污物，並且做好潤滑上油。

（2）對於使用頻次高的儀器維護方法：

①按照儀器的特性，屬於熱交換的，要定期檢查通風口，及時清理灰塵及燃燒雜物；

②屬於油壓機械的或內有介質溶液的，要定期檢查介質變色或界面情況，及時更換介質或適量增減；

③屬於易損件的，要及時清理更換，如氣相色譜儀的隔墊；

④有水循環的儀器，要防止因粉塵、浮游物等聚集，導致水流量不足，影響冷卻效果或者因電導率升高影響儀器的性能；

⑤使用氣源的儀器，要定期用肥皂水檢查氣路接頭，防止漏氣引起事故，或影響結果的准確性；

（3）對於使用頻次低的儀器的維護方法：

①電子儀器和分析儀器要定期通電預熱，防止電解電容變質，電子線路板局部短路或性能不良，影響儀器使用效果；

②對於用干電池的儀表，長期不用時要將電池取出後存放，防止電池腐爛損壞電極；

③微安表要將輸入端短接後存放，靈敏檢流計要將輸入線圈鎖住後存放；

④經常檢查儀器的乾燥硅膠，以防內部件受潮，影響儀器的穩定性指標；

⑤光學通道要定期除塵，除污及霉點。

現將所有儀器的共有部分進行簡單介紹：

電路系統

目前所使用的儀器設備，其要求供電電壓有220V、200V和110V等幾種，所以在供電電源和儀器之間一般都有穩壓電源或變壓器。幾乎所有的穩壓電源都有電壓指示，日常要注意的是其輸出電壓是否正常，如有異常，就不要開機使用，並馬上通知維修人員。

所有的儀器設備都要求有良好可靠的接地。可靠的接地線路，不但可以有效避免漏電對人身和設備的損害，而且可以屏蔽外界電磁場對儀器的干擾，使儀器分析數據更穩定。接地的檢查由維修人員定期進行，主要檢查各聯結點是否牢固可靠，並定期測量接地電阻。

儀器內部各特定電壓、電流部分：主要是儀器工作中某一部分所特殊要求的特定電壓、電流，如：

（1）X射線熒光光譜儀射線管的工作電壓、電流；（2）ICP功率管的Vp高壓和Ip電流；

（3）碳硫儀振盪管的板流等等。

這一部分一般都有報警裝置或檢控儀表，在日常檢查中，注意觀察各監測儀表所示是否正常，指示是否有波動，有無報警等。

風路系統

冷卻、散熱用風路：主要是指儀器機箱上安裝的各散熱風扇和冷卻系統上的散熱風扇。其主要作用是增加空氣循環，降低溫度，以避免儀器內元件或單元（如電源）溫度過高引發儀器故障。檢查時主要觀察風扇運轉是否正常，有報警裝置的注意其有無報警。

恆溫循環用風路：儀器內部有些部位是要求恆溫的，如ICP的光室。這些部位都有恆溫裝置，其工作一般是由一個加熱元件提供熱量，依靠風扇使熱量均勻散開，並有溫控系統來監測並控制加熱元件的工作與否，以實現恆溫，如果風扇損壞，則會使整個環境溫度不均，影響分析結果的穩定。一般都設有溫度顯示或溫度報警，在檢查時要注意有無溫度報警，溫度是否在指定范圍之內。

抽排風設施：抽排風的作用是強製冷卻和排除有毒有害尾氣，要求安裝抽風的設備有ICP分析儀和原子吸收分析儀。抽排風設施也是每天必須檢查的，主要看其工作是否正常，有無異常聲音等。

水路系統

儀器中的循環水主要起冷卻作用。各儀器的水冷卻系統設計不盡相同：

（1）X射線熒光光譜儀和定氧儀的冷卻水有內冷卻水和外冷卻水之分，(a)內冷卻水是去離子水，用於冷卻帶電的高溫元件【如X射線管和定氧儀的爐頭等】,(b)外冷卻水一般是自來水，用於冷卻內冷卻水。

（2）ICP分析儀的冷卻水只有內冷卻水，其內冷卻水的降溫靠的是風扇。

（3）原子吸收分析儀需冷卻的部位不帶電，所以是直接用自來水冷卻。有的冷卻系統設有檢控報警裝置（如X射線熒光光譜儀）這就方便日常檢查，只要檢查各監控裝置是否正常，有無報警即可。

有些儀器水箱基本上設計在內部，外部沒有明顯的監測裝置（如ICP分析儀和定氧分析儀），這就需要專責人和維修人員定期檢查水量是否減少，如少應及時按配方、按需補充。

氣路系統

檢測分析儀器的用氣主要有分析用氣、動力用氣和光室用氣等三類。

分析用氣：分析氣迴路一般都有壓力表或流量計以方便監控流量大小。在每日的檢查中，要注意其各參數值是否正常，有無堵塞或泄露。

分析氣的純度有一定的要求，可以直接使用超過純度要求的氣體，也可以加裝氣體凈化機以提純氣體濃度。為了降低雜質限量，一般在氣路中設計有除水、CO2等的過濾試劑。使用人員在點檢中應注意，凈化機工作是否正常，各試劑管中的試劑是否失效，如試劑短期內就失效，說明氣源不純，要及時向相關采購部門反映，更換氣源。使用空氣壓縮機的儀器設備（如原子吸收的分析用氣是乙炔和空氣的混合氣體），在日常應注意空氣壓縮機工作是否正常，乙炔有無泄露，空氣與乙炔的比例是否合適，以防發生危險。

動力用氣：動力氣的作用是為儀器的某些動作提供動力。如光路中快門的開閉，爐頭的升降等。有些儀器的動力氣用的也是分析氣，如光電直讀分析儀、ICP分析儀等。而有的儀器則是單獨的動力用氣系統，如電子拉力實驗機、定氧儀、碳硫儀等。動力用氣迴路一般都有壓力表，單獨使用的動力氣對純度要求不是很高，我們所要注意的是其壓力值是否正常，如不正常則直接影響其動作的到位，密封是否良好。

光室用氣：精密的分析儀器其光路系統是要求在特定的氛圍中工作的，不同的儀器採取的措施也不相同

（1）ICP分析在測定190nm以下的元素譜線時，由於空氣對其干擾嚴重，必須進行光室驅氣（將光室中的空氣驅凈），才能得到穩定準確的數據；

（2）光電直讀光譜儀為了保證一光室的純凈，是預先抽真空，再充入高純氮氣，並且在工作過程中，始終由循環氣泵不停地將一光室中的氮氣抽出，經凈化管過濾後，重新注入一光室，以此來保證其一光室環境的純凈；

（3）X射線熒光光譜儀則是在分析時，將整個光路系統抽真空，當真空度達到要求，即光路中的空氣分子對分析的干擾可忽略不計時，才開始檢測計數。

對這些系統，主要檢查驅氣流量是否正常，凈化管是否失效，循環泵工作是否正常，真空泵抽真空能力是否良好，即真空度下降速度是否減慢等等。

計算機控制系統

現在的儀器，其操作控制全部是由計算機來完成的。計算機部分隨時代的發展也有所提高，但仍然有些是486等老型號，最早的還有單板機。這些計算機控制系統有些已是超期服役，一旦有問題，備用件很難找到。

這要求在日常使用中要小心，並要定期對分析方法、程序等重要數據做備份，另外，這些計算機不要兼做它用，操作中誤刪程序或染上病毒，相當難處理。

輔助設備

為了保證儀器的正常工作，每台儀器都按需配有不同的輔助設備，如：氣體凈化機、除濕機、抽風、空調和前面講到的穩壓源等，這些輔助設備工作是否正常，也會直接或間接地影響儀器的正常分析。應注意檢查：氣體凈化機催化加熱、再生加熱的爐溫是否正常，抽風的風量是否減小、震動是否變大，除濕機的水是否滿了，空調製冷量是否滿足要求等等。

檢測環境要求

每台儀器對環境的溫度、濕度都是有要求的，相對恆定的溫度、濕度和潔凈的環境，不但能有效地提高儀器的穩定性，也能減少故障的發生。潮濕和灰塵是電器故障的一大誘因：儀器中不乏有高壓存在，灰塵加上潮濕是很容易造成短路放電的，灰塵如進入光路中，附著在光學元件上，則會直接影響儀器的靈敏度。另外，還要注意防震，儀器的檢測系統多數都是精密的光學系統，是以納米來定義的，所以，減少震動對儀器的穩定性、重現性都是很重要的。

易損件及備品備件

在平常的工作中，應經常檢查易損元件和消耗品的好壞，如發現損壞應及時更換，這樣才能保證儀器始終工作在一個最優化的狀態下。專責人應經常檢查此類備品備件的數量，保證有一定的儲存，如缺少應及時提前購買。答案來自

⑹ 722N型可見光分光光度計的使用方法和保養方法

使用步驟與操作方法
1
插上電源，打開開關，打開試樣室蓋，按「A（吸光度）/T（透射比）/C（濃度）/F
（斜率）」鍵，選擇「T%」狀態，選擇測量所需波長，預熱30分鍾。
2
用參比液潤洗比色皿（裝樣品的比色皿要用樣品液潤洗），裝樣到比色皿的3/4處（以
確保光路通過被測樣品中心），用吸水紙吸干比色皿外部所沾的液體，將比色皿的光面對准光路放入比色皿架，用同樣的方法將所測樣品裝到其餘的比色皿中並放入比色皿架中。
3保持在「T%」狀態，將裝有參比液的比色皿拉入光路，當關上試樣室蓋時，屏幕應顯
示「100.0」，如否，按「OA/100%」鍵；打開試樣室蓋，屏幕應顯示「000.0」，如否，按「0%」鍵，重復2－3次。
4
關上試樣室蓋，按「A/T/C/F」鍵，調到「Abs」狀態，屏幕應顯示「0.000」，如否，
按「OA/100%」鍵，打開試樣室蓋，再關上試樣室蓋，屏幕應繼續保持顯示「0.000」，重復2－3次。
5
拉動拉桿，將其餘測試樣品一一拉入光路，記下測量數值。
6測量完畢後，將比色皿清洗干凈，擦乾，放回盒子，關上開關，拔下電源，罩上防塵
罩。
使用注意事項
1.開關試樣室蓋及拉動拉桿時動作要輕緩。
2.使用比色皿時手指應拿磨砂玻璃面。
3.不要在儀器上方傾倒測試樣品，以免樣品污染儀器表面，損壞儀器。
4.一定要將比色皿外部所沾樣品擦乾凈，才能放進比色皿架進行測定。
5.每次調整波長後，應重新調零，調百。
6.儀器工作數月或搬動後，要檢查波長准確度，以確保儀器的使用和測定精度。
日常維護與保養
1.為確保儀器穩定工作，電源電壓一定要穩定。
2.為了避免儀器積灰和沾污，在停止工作的時間里，用防塵罩罩住儀器，同時在罩子內
放置數袋防潮劑，以免燈室受潮、反射鏡鏡面發霉或沾污，影響儀器日後的工作。
3.每次測定結束後都要用蒸餾水將比色皿清洗干凈。

⑺ 測井解釋基本理論和方法

8. 1. 1 測井解釋的基本理論

測井資料處理解釋就是根據所要解決的問題應用適當的數學物理方法，建立相應的測井解釋模型，推導出測井響應值與地質參數之間的數學關系; 然後對測井資料加工處理和分析解釋，把測井信息轉變為盡可能反映地質原貌特徵的地質信息，供地質勘探開發使用。

目前，在測井數據處理中採用的解釋模型有許多種，可按不同角度對它們大致分類。按岩性分類有: 純岩石和含泥質岩石模型; 單礦物、雙礦物和多礦物模型; 砂泥岩、碳酸鹽岩、火成岩、變質岩模型。按儲集空間特徵分類有: 孔隙型、雙重孔隙型、裂縫型和孔隙 － 裂縫型模型。按孔隙流體性質與特徵分類有: 含水岩石、含油氣岩石模型以及陽離子交換模型 ( 瓦克斯曼—史密茨模型和雙水模型) 。按建模方法分類有: 岩石體積模型，最優化模型和概率統計模型。此外，還可以從其他角度來對解釋模型分類。

下面介紹測井資料解釋中最基本的模型和公式，即岩石體積模型和阿爾奇公式。

8. 1. 1. 1 岩石體積物理模型

由測井方法原理可知，許多測井方法的測量結果，實際上都可看成是儀器探測范圍內岩石物質的某種物理量的平均值。如岩石體積密度 ρb，可以看成是密度測井儀器探測范圍內物質 ( 骨架和孔隙流體) 密度的平均值，即單位體積岩石的質量 ( g/cm3) 。岩石中子測井值 φN可以看成中子測井探測范圍內岩石物質含氫指數的平均值，即單位體積岩石的含氫指數。自然伽馬、聲波時差等測井值也可作同樣解釋。總之，上述測井方法有兩個共同特點: 它們測量的物理參數可以看成是單位體積岩石中各部分的相應物理量的平均值; 在岩性均勻的情況下，無論任何大小的岩石體積，它們對測量結果的貢獻，按單位體積來說，都是一樣的。根據這些特點，我們在研究測井參數與地質參數的關系時，就可以避開對每種測井方法微觀物理過程的研究，著重從宏觀上研究岩石各部分 ( 孔隙流體、泥質、礦物骨架) 對測量結果的貢獻，從而發展了所謂岩石體積物理模型 ( 簡稱體積模型) 的研究方法。用這種方法導出的測井響應方程與相應測井理論方法和實驗方法的結果基本一致，是一種很好的近似方法。此法的特點是推理簡單，不用復雜的數學物理知識，除電阻率測井外，對其他具有前述 「平均」概念的測井方法，均可導出具有線性形式的測井響應方程，既便於人們記憶使用，又便於計算機計算處理。

所謂岩石體積模型，就是根據測井方法的探測特性和岩石中各種物質在物理性質上的差異按體積把實際岩石簡化為性質均勻的幾個部分，研究每一部分對岩石宏觀物理量的貢獻，並把岩石的宏觀物理量看成是各部分貢獻之和，即:

1) 按物質平衡原理，岩石體積 V 等於各部分體積 Vi之和，即 ; 如用相對體積 Vi表示，則

2) 岩石宏觀物理量 M 等於各部分宏觀物理量 Mi之和，即 。當用單位體積物理量 ( 一般就是測井參數) 表示時，則岩石單位體積物理量 m 就等於各部分相對體積 Vi與其單位體積物理量 mi乘積之總和，即

石油測井中遇到的地層雖然很復雜，岩性類型很多，但是油氣儲集層主要是砂泥岩和碳酸鹽岩兩大類。從測井解釋來看，由於泥質成分與岩石骨架成分在物理性質上有顯著的區別，故可把岩石劃分為含泥質岩石和純岩石 ( 不含泥質或含泥質甚少) 兩類。從數學物理觀點看，不管岩石骨架成分如何，均可把儲集層簡化為兩種簡單的岩石體積模型: 純岩石模型，由岩石骨架及其孔隙流體組成; 含泥質岩石體積模型，由泥質、岩石骨架及其孔隙流體組成。當地層岩性復雜、骨架礦物的物理性質明顯不同時，還可以把骨架礦物分為兩種或多種，從而建立雙礦物岩石體積模型和多礦物岩石體積模型。最基本的是純岩石和泥質岩石兩種體積模型，由這兩種模型可以很容易導出雙礦物和多礦物體積模型。

8. 1. 1. 2 阿爾奇公式

20 世紀 40 年代初，阿爾奇 ( Archie) 通過岩心實驗，得出的上述含水純岩石和含油氣純岩石的電阻率測井解釋的關系式，即 Archie 公式，其一般形式歸結如下:

地球物理測井教程

式中: Ro為 100%飽和地層水的岩石電阻率，Ω·m; Rw為地層水電阻率，Ω·m; φ 為岩石有效孔隙度，小數; a 是與岩性有關的岩性系數，一般為 0. 6 ～1. 5; m 為膠結指數，是與岩石膠結情況和孔隙結構有關的指數，一般為 1. 5 ～3，常取 2 左右; F 為地層因素，它是 100%飽和地層水的岩石電阻率 R0與所含地層水電阻率 Rw的比值，其大小主要取決於地層孔隙度 φ 且與岩石性質、膠結情況和孔隙結構等有關，但與地層水電阻率 Rw無關; Rt為岩石真電阻率，Ω·m; b 是與岩性有關的系數，一般接近於 1，常取 b = l; n 為飽和度指數，與油、氣、水在孔隙中的分布狀況有關，其值在 1. 0 ～4. 3 之間，以 1. 5 ～2. 2 者居多，常取 n = 2; Sw為岩石含水飽和度，小數; I 為電阻增大系數，它是含油氣岩石真電阻率 Rt與該岩石 100%飽含地層水時的電阻率 Ro的比值，其大小基本決定於 Sw，但與地層的孔隙度 φ 和地層水電阻率 Rw無關。

Archie 公式本來是對具有粒間孔隙的純地層得出的，但實際上，它們可用於絕大多數常見儲集層。在目前常用的測井解釋關系式中，只有 Archie 公式最具有綜合性質，它是連接孔隙度測井和電阻率測井兩大類測井方法的橋梁，因而成為測井資料綜合定量解釋的最基本解釋關系式。實際應用時，一般先用孔隙度測井資料計算地層孔隙度φ，用Archie公式計算地層因素F，再根據地層真電阻率R_t和地層水電阻率R_w，由Archie公式計算地層含水飽和度S_w或含油飽和度S_o。

8.1.2 測井解釋方法

利用解釋模型和有關的解釋方程把測井信息加工成地質信息的方法稱為測井解釋方法或測井數據處理技術。這些解釋方法，按照解釋的精度和程度可分為定性解釋、半定量解釋和定量解釋;按操作的方法可分為人工解釋和數據處理;按解釋的地點和採用解釋方法的難易程度，可分為井場解釋、測井站解釋和計算中心解釋，或者僅按難易程度分為快速直觀解釋和定量解釋;按解釋精度與評價范圍，可分為單井初步解釋與油氣分析、單井儲集層的精細描述與油氣評價、多井評價與油藏描述等三個層次。重要的在於理解和掌握每個具體解釋方法的原理，計算機處理和顯示技術、應用的條件和作地質解釋的方法。

8.1.2.1 快速直觀技術

在測井解釋中，由於數字處理技術的應用，發展了一些快速直觀評價儲集層的岩性、孔隙度、含油性以及可動油氣的解釋和顯示方法，稱為快速直觀技術，它屬於半定量解釋范疇。測井資料解釋的快速直觀技術，最初是為在井場進行快速直觀評價儲集層而發展起來的，以便及時地為地質學家提供完井依據或為計算機解釋提供參考。現在，該技術不僅在井場解釋中廣泛使用，而且已成為數字處理中選擇解釋模型和解釋參數、顯示和評價解釋結果的一種基本方法，大致分為交會圖技術和曲線重疊法兩大類。

(1)交會圖技術

交會圖是用於表示地層測井參數或其他參數之間關系的圖形。在測井解釋與數據處理中，常用的交會圖有交會圖版、頻率交會圖與Z值圖、直方圖等。測井分析者常用它們來檢查測井曲線質量、進行曲線校正、鑒別地層礦物成分、確定地層岩性組合、分析孔隙流體性質、選擇解釋模型和解釋參數、計算地層的地質參數、檢驗解釋成果及評價地層等，用途十分廣泛，成為測井解釋與數據處理強有力的工具。

交會圖版是用來表示給定岩性的兩種測井參數關系的解釋圖版。它們都是根據純岩石的測井響應關系建立的理論圖版，是測井解釋與數據處理的依據。主要有岩性－孔隙度測井交會圖版、用於識別地層岩性的M－N和MID等交會圖版、用於鑒別地層中黏土礦物及其他礦物的交會圖版等。

頻率交會圖就是在x－y平面坐標(可分為100×50或100×100個單位網格)上，統計繪圖井段上各個采樣點的數值，落在每個單位網格中的采樣點數目(即頻率數)的一種直觀的數字圖形，簡稱為頻率圖。Z值圖是在頻率交會圖基礎上引入第三條曲線Z(稱Z曲線)作成的數據圖形。Z值圖的數字表示同一井段的頻率圖上，每個單位網格中相應采樣點的第三條線Z的平均級別。

直方圖是表示繪圖井段某測井值或地層參數的頻數或頻率分布的圖形。直方圖的繪制方法是用橫坐標軸代表測井值或地層參數，並將它分為若干個等間距的區間，統計給定井段內落入各個區間的采樣點個數(稱為頻數)。以頻數為縱軸顯示出來，便得到頻數分布直方圖。有時，也可以計算各區間采樣點的相對頻率(等於該區間的采樣點數與總采樣點數之比)。相對頻率用縱軸顯示出來，便得到頻率分布直方圖。

(2)曲線重疊法

曲線重疊法，一般採用統一量綱(如孔隙度、電阻率等)、統一縱橫向比例和統一基線，繪制出測井曲線或參數曲線的重疊圖，按曲線的幅度差直觀地評價地層的岩性、孔隙性、含油性或可動油氣等。

8.1.2.2 定量解釋

測井資料定量解釋是依靠計算機完成的。在計算機上運行測井資料處理程序，可以對測井資料進行編輯和預處理;可以通過逐點處理計算所要求取的儲集層參數和其他數據，主要是有關岩性和評價物性、含油性的參數;還可以將成果用數據表和圖形直觀地顯示出來。

⑻ 氣相色譜儀的使用方法，及使用注意事項應用范圍

氣相色譜儀使用方法怎樣？

1 、開氮氣、氫氣、空氣發生器電源開關（或氮氣瓶總閥），調節輸出壓力穩定在0.4Mpa左右（氣體發生器一般在出廠時調整，無需調整）。

2 、將色譜儀氣體凈化器的氣體開關打開至「開」位置。觀察色譜柱載氣後B的柱前壓力上升並穩定約5分鍾後，打開色譜儀的電源開關。

3 、設定每個工作部件的溫度。 TVOC分析的條件設置：（a）烤箱：烤箱初始溫度50°C 、初始時間10分鍾、加熱速率5°C / min 、結束溫度250°C 、結束時間10分鍾； （b）注射器和檢測器：均為250°C。用於脂肪酸分析的色譜條件：（a）烘箱：烘箱的初始溫度140°C 、初始時間5分鍾、加熱速率4°C / min 、終止溫度240°C 、終止時間15分鍾； （b）進樣器溫度為260°C檢測器溫度為280°C。

4 、點火：待測試（按「顯示、 Shift 、檢測器」檢查檢測器溫度）溫度升至150°C以上後，將凈化器上的氫氣、空氣開關閥打開至「ON」位置。觀察到色譜儀上的氫氣和空氣壓力表分別穩定在0.1 Mpa和0.15 Mpa左右。按住點火開關（無點火時間為6~8秒）進行點火。同時，明亮的金屬片靠近探測器出口，當火開啟時，金屬片上會有明顯的水蒸氣。如果氫氣在6~8秒內未點火，則松開點火開關並重新點火。在點火操作期間，如果發現水在檢測器出口中的白色聚四氟乙烯蓋中冷凝，則可以擰下檢測器收集器蓋並移除水。確定色譜工作站上是否點燃氫火焰的方法：觀察氫火焰點燃後的基線電壓應高於點火前的基線電壓。

5 、打開電腦和工作站（通道1分析脂肪酸，通道2分析碘），打開方法文件：脂肪酸分析方法或碘分析方法。顯示屏左下角應該有一個藍色文字，以顯示當前的電壓值和時間。然後，您可以轉動色譜儀放大器面板上點火按鈕上的「粗調」旋鈕，檢查信號是否為路徑（當您轉動「粗調」旋鈕時，基線應該會改變）。在基線穩定後，輸入樣品並單擊「開始」按鈕或單擊色譜儀旁邊的快捷按鈕以分析色譜數據。在分析結束時，單擊「停止」按鈕，數據將自動保存。

6 、關閉程序：首先關閉氫氣和空氣源，使氫火焰探測器滅火。在氫氣火焰熄滅後，將爐子初始溫度、檢測器溫度和進樣器溫度設置為室溫（20-30°C）。溫度降至設定溫度後，關閉色譜儀電源。最後關掉氮氣。

⑼ 主要測井方法

近幾十年來，人們為了通過測井使裂縫更容易被探測與評價，已做出了很大努力。然而，人們也發現裂縫的定性和定量評價比原來預計的情況復雜得多。各種方法都基於這一事實，即在井眼尺寸不變的均質地層中，裂縫帶將在探測的正常響應上產生異常。如果裂縫是張開的，則這種異常相當大；如果是閉合的，這種異常則微不足道。裂縫的分布極為復雜，裂縫性儲集層產量變化大而遞減快，高產井、低產井、乾井交替出現，開發這類儲層需付出很高的代價。隨著測井技術的進步，對裂縫性儲層的描述與開發已形成了一定的技術系列。以聲波及放射性為主的裂縫測井系列與地震資料結合，進行橫向預測，可以劃分裂縫發育帶及其分布，對裂縫發育帶應用微電極掃描和井下聲波電視測井，可以直觀地把裂縫形態、寬度、長度、走向，以及它們的含油產狀展示在人們面前。雖然有了這些技術上的進步，但由於地震資料受到地質因素的影響，在一個新區判斷裂縫發育帶仍然有很大的多解性。這些技術只能提高我們的成功率而不能在任何條件下得出單一而又肯定的解釋。由於裂縫發育的隨機性，以及層理、岩性等因素的影響，導致了測井響應的多解性，在一定程度上影響了用測井資料探測裂縫的成功率。探測裂縫及其分布規律的主要依據是裂縫與基質岩塊具有不同的地質、地球物理特徵，故在多數測井曲線上都有相應的顯示。用測井來探測裂縫只能限於那些張開或部分充填的裂縫，很難把天然裂縫從人工誘導縫中區分開來。

1.電測井方法

①雙側向測井。這種儀器強烈地受到裂縫的影響，因為裂縫網路構成低電阻率通道，這種通道具有分流電流的作用。在與鑽井軸成亞平行的裂縫情況中，如果鑽井液比存在於裂縫中的導電流體導電性更強，則淺側向電阻率R_LLS比深側向電阻率R_LLD低，曲線呈現雙軌；而在緻密帶內，孔隙少，無裂縫，R_LLS與R_LLD讀出的電阻率值相近，兩條曲線基本重合。②微側向測井。與雙側向相同，應用電阻率的異常來確定裂縫帶，微側向測井受垂向電阻率變化的影響，由於它們具有極板，因此面向極板的裂縫才能觀測到。但是，一般說來，由於鑽孔在裂縫附近易破碎，井眼成橢圓形，而極板有沿著長軸定向的趨勢。微側向測井儀器探測的深度很淺，裂縫系統的存在將大大影響這些儀器的響應。③感應測井。在假設裂縫產生電阻率異常的前提下，感應測井可用於確定裂縫的存在，由於其感應電流的分布是呈環狀的，所以感應測井受水平電阻率變化的影響，微側向測井與感應測井之間的振幅差異可用於顯示垂直與水平裂縫的存在。④電磁波傳播測井。千兆級高頻電磁波探測很淺的地層，具特高垂向解析度，使傳播時間和衰減曲線反映很薄的岩性變化。對水平和低角度裂縫有不同的反映特徵，水平縫以兩條曲線的尖銳高尖出現，泥頁岩的衰減更劇烈。如果極板遇上高角度縫，則出現較長井段的相應異常。

2.核測井方法

①補償密度測井。當井身結構較好時，補償密度曲線能較好地反映地層岩性和進行裂縫識別。②岩性密度測井。當採用重晶石鑽井液鑽井時，由於重晶石的光電吸收截面指數Pe值很大，Pe曲線在裂縫段將急劇增高。如果裂縫段井壁上形成重晶石泥餅，則裂縫段不僅有高的Pe值，而且還會有負的補償密度曲線值。③自然伽馬能譜測井。由於裂縫是流體循環的好場所，所以在漫長的地質年代裡，如果有鈾或其他放射性元素存在，NGS就能探測到裂縫。

3.聲波測井方法

①聲幅測井。這種方法可能比其他方法更多地用於探測裂縫。據Marris（1964）和其他學者的研究，縱波遇到垂直或高角度裂縫時減弱，而橫波遇到水平或低角度裂縫時更敏感。當縱波遇到充滿流體的裂縫時，由於接觸面上的反射，它的振幅降低。當橫波遇到充滿流體的裂縫時，它的振幅基本消失（Aquilera&Vanpoollen，1977）。另外，Welex把相長和相消干涉描述為平行井身但並不橫切井身的裂縫標志。然而，經驗表明，由於岩性變化及儀器居中狀況會使幅度產生像裂縫引起那樣大的變化。實際上，由於裂縫中固體顆粒的連接會使聲特性的不連續消失。因此，很難普遍使用這種方法。②變密度測井。變密度測井記錄的是在一個聲波傳送脈沖後，深度和振幅與時間的變化關系，大部分聲波波列被記錄下來並以近似地震道的形式顯示在測井記錄上。測井記錄上的陰影變化表明了振幅變化。暗色陰影表明最大的正振幅，淡色陰影表明最大的負振幅。根據Aguilera和Vanpoollen（1977）的工作，這種方法就是通過在測井記錄上尋找兩個獨特平行波組之間的跳躍或雜亂帶來表現裂縫。一些學者不是依靠跳躍帶而是尋找特殊的W形圖案來發現裂縫。然而，無論哪種情況，如果分析者未能很好地了解地層剖面，那麼，可能把岩性變化誤認為裂縫帶。由於岩性與孔隙度的變化在圖上可能產生類似於裂縫產生的突變，因此，解釋這種測井圖必須特別小心。③環形聲波測井。記錄沿井壁呈水平環形傳播的聲波，以聲波幅度的衰減來探測垂直高角度裂縫。實踐表明，這種方法是一種很有潛力的高傾角裂縫探測系統。④陣列聲波測井。通過時間窗口控制，可獲得縱波、橫波、斯通利波的能量曲線。利用斯通利波的衰減來探測裂縫，是一種探測裂縫的新途徑。斯通利波是一種頻率為2～5Hz的波，它對裂縫有很強的響應。斯通利波在裂縫面產生的機理是由於入射波在裂縫面的壓縮作用產生的流體脈沖進入井筒，使井壁產生壓縮及膨脹。因為流體由裂縫壓入井眼和流體進入裂縫，使轉換的斯通利能量消耗，因此能量衰減與裂縫發育有密切的關系。

4.成像測井方法

利用電流束和聲波波束對井軸進行掃描，從而得到有關井壁的「圖像」的一類測井方法。它是近20年發展起來的，並在繼續發展和完善中。通過成像測井可得到有關地層產狀、溶孔、溶洞等其他測井方法無法獲得的重要信息。這對地層、構造、岩性和裂縫性儲層的研究等方面意義都很大。包括：①井下電視。顯示井眼表面聲波響應的連續圖像。這種儀器能給出一張井壁聲波影像。它是通過記錄一部分聲波能量獲得的，由聲源發出並由井壁折回，反射到本身發射極，因此它起著接收器的作用。當岩石緻密而光滑時地層的反射能量更高。如果岩石表面粗糙，有裂縫或者孔洞，那就會存在能量失散，而這些不規則出現在膠片上更陰暗。這種儀器不僅能夠探測裂縫而且能夠確定裂縫的產狀，能很好地顯示岩石表面的形狀。它只能發現寬的、開啟的破裂面。當時間和振幅測井雙重顯示時，可發現充填物與基質具有聲波差異的裂縫。由於這是一種新的定向方法，因而也能確定裂縫的方向（Wily，1980；Aillet，1981）。這種方法在裂縫定量方面具有較好的應用前景。但是為了避免能量失散和有花斑的圖像的出現，不僅要求在鑽井液中沒有呈現懸浮狀態的組分，而且沒有厚的泥餅，還要求井眼不是橢圓形井眼，鑽井液中不含天然氣。②微電阻率掃描測井（FMS）。井壁附近的電阻率是重要的岩石物理性質之一，可用來描述地層的細微結構。微電阻率測井沿井壁測量，探測淺而垂向解析度高，因而對井壁地層的電性不均勻極為敏感。微電阻率測井無法確定裂縫的產狀，無法區分裂縫、小溶洞、溶孔，這些問題可以通過微電阻率掃描來解決。當緻密層中存在裂縫時，鑽開後高電導率的鑽井液或濾液就迴流或滲入地層中。FMS儀器掃描到此處時，就記錄下裂縫的高電導信息。在相應的FMS圖像上顯示為深灰或黑色，而沒有裂縫的地方，岩石為高電阻率，對應的FMS圖像上為淺灰或白色。FMS記錄的信息的清晰程度取決於以下幾個因素：ⓐ裂縫的張開度，如果裂縫的張開度大，鑽井液進入得就多而深，裂縫處的FMS圖像顏色就深，否則就淺；如果裂縫是閉合的，FMS就掃描不出來。ⓑ鑽井液性質，鑽井液電導率越大，對應裂縫處的FMS圖像就越暗。ⓒ鑽井液侵入程度，鑽井液取代地層中的烴越多，對應的FMS圖像就越暗。利用FMS圖像研究裂縫是一種新的測井手段，它能給出其他識別裂縫的測井方法不能給出的裂縫視產狀，能把裂縫和溶孔兩種不同的儲集層區分開，能估計裂縫視寬度而不受其他參數控制。這種方法是測井識別裂縫的補充和發展，它以直觀、簡單兩大特點使解釋人員易懂易用。③全井眼地層微掃描測井（FMI）：20世紀80年代中期，斯倫貝謝公司推出了第一支電法成像儀———地層掃描儀。這種儀器與傾角儀相似，但較之傾角儀，它安裝了大量的附加電極「電扣」去采樣電流，獲得的數據經處理後產生一幅對應於井壁的高清晰度圖像。1991年推出的FMI具有更大的井眼覆蓋率和更高的解析度。FMI極板安裝在8in井眼中應有80%的覆蓋率、0.2in的垂向解析度。FMI極板有192個電扣，能測定92條微電阻率曲線，能對井內每一條微電阻率曲線精確定位。現在已能用諸如FRACVIEW程序來分析井眼圖像電導率所反映的裂縫密度、張開度和孔隙度。張開度是根據裂縫加在電圖像背景上的電導率計算的；計算裂縫密度時計入井眼偏移並作為「校正密度」供井間對比使用；孔隙度用每一條裂縫的平均開度計算。

5.地層傾角測井方法

①雙井徑曲線。在很好地掌握了地層剖面後，井徑測井是發現井中裂縫帶的有效方法。簡言之，若井眼鑽遇高密度裂縫帶，則井徑擴大。特別是鑽遇高角度裂縫時，往往在與形成區域性裂縫的最小應力方向相平行的方向上產生井眼定向擴徑。②電導率異常檢測。該方法是排除地層層理引起的電導率異常，突出與裂縫有關的電導率異常。求出各極板與相鄰兩個極板的電導率讀數之間的最小電導率正差異，把這個最小正差異疊加在該極板的方位曲線上，作為識別裂縫的標志。③地層傾角矢量圖。在地層傾角測井矢量圖中，裂縫或者表現為層段之間無法進行對比，或者表現為傾角看起來很雜亂。也可根據孤立的高傾角顯示識別裂縫的存在。

6.其他測井方法

①溫度測井。鑽井液中的溫度梯度受開啟裂縫帶存在的影響，由於裂縫網隅被鑽井液侵入，使地層變冷，從而使溫度降低。②磁粉測井。可探測流體能與井眼流體交換的任何裂縫以及它們的方位和范圍。③重復式地層測試器（RFT）。系統測取地層壓力和鑽井液柱壓力，能分析壓力系統、尋找新裂縫系統。能直觀地認識地層滲透性，計算滲透率，評價生產能力。從儀器推靠和封閉成敗及預測壓力恢復情況，分析地層是干層、較小裂縫或孔隙、縱向連通很好的大裂縫，還是分散孤立的高角度裂縫，這也有助於研究高角度裂縫。

從以上的分析可以看出，在過去40年中，裂縫的探測與分析對電纜服務來說一直是個持續的挑戰。井下聲波電視測井（Taylor，1983）是一種成功的方法，然而卻難以區分開啟與閉合裂縫；環形聲波測井（Guy，1987）可用於探測垂直的或近於垂直的裂縫。斯通利波的能量衰減能顯示開啟裂縫的特徵（Brie，1988），尤其是用陣列聲波儀器規一化的差值能量。然而垂向平均間隔仍很大。除聲波方法外，在水基鑽井液中應用微電場獲得了成功。很久以來在裂縫性儲集層中一直使用傾角測井和SHDT（Lehne，1988），但仍然存在井眼粗糙度的影響問題。已經證明地層微掃描儀（Ekstrom等，1986）是富有成效的，但受粗糙度的影響，並且有時開啟與閉合裂縫的存在而使問題更加繁瑣。因此，對測井來說可靠的裂縫分析方法仍然是一種挑戰。

⑽ 量具的使用和維護保養應注意哪些事項

一、量具使用和維護保養應注意事項。

1、工量具使用前注意事項：

(1)開始量測前，確認工量具是否歸零。

(2)檢查工量具量測面有無銹蝕、磨損或刮傷等。

(3)先清除工件測量面之毛邊、油污或渣屑等。

(4)用精潔軟布或無塵紙擦拭乾凈。

(5)需要定期檢驗記錄薄，必要時再校正一次。

(6)將待使用的工量具及儀器齊排列為適當位置，不可重疊放置。

(7)易損的工量具，要用軟絨布或軟擦拭紙鋪在工作台上(如：光學平鏡等)。

2、工量具使用時注意事項：

(1)測量時與工件接觸應適當，不可偏斜，要避免用手觸及測量面，保護工量具。

(2)測量力應適當，過大的測量壓力會產生測量誤差，容易對工量具有損傷。

(3)工件之夾持方式要適當，以免測量不準確。

(4)不可測量轉動中的工件，以免發生危險。

(5)不要將工量具強行推入工件中或夾虎鉗上使用。

(6)不可任意敲擊、亂丟或亂放工量具。

(7)特殊量具的使用，應遵照一定的方法和步驟來使用。

3、量具維護保養注意事項：

(1)使用後，應清潔干凈。

(2)將清潔後的工量具塗上防銹油，存放於櫃內。

(3)拆卸、調整、修改及裝配等，應由專門管理人員實施，不可擅自施行。

(4)應定期檢查儲存工量具的性能是否正常，並作成保養記錄。

(10)測井儀器的使用及保養方法研究擴展閱讀：

常用的測量工具包括：

1、游標卡尺：一種用於測量長度，內，外徑和深度的測量工具。

2、千分尺：千分尺也稱為螺旋千分尺。 它是一種精密測量工具，比游標卡尺測量長度更精確。

3、百分表：百分表是一種比較精確的測量工具。 它只能測量相對值，不能測量絕對值。 它主要用於檢測工件的形狀和位置誤差（例如圓度和平面度）。 （垂直度，跳動等），也可用於校正零件的安裝位置並測量零件的內徑。

4、外徑千分尺：外徑千分尺也稱為螺旋千分尺，通常稱為「千分尺」。 與游標卡尺相比，它是一種更精確的長度測量儀器，精度為0.01mm，0.02mm和0.05mm。 除了估計的1位數字外，它還可以讀取小數點後的第三位數字（千位）。

5、標尺：標尺是光學測量儀器的長度標准。 它廣泛用於測量長度的儀器，例如工具顯微鏡，長度計，測量機等。