精度分析方法

Ⅰ 分析方法簡介

花崗岩樣品採集於野外花崗岩體新鮮露頭，無後期蝕變。岩石樣品由中國地質大學地球科學學院岩石教研室進行鋯石分離鑒定與鋯石樣品靶的制備。

鋯石U-Pb年齡測定和微量元素分析在西安大學（大陸動力學教育部重點實驗室，激光剝蝕系統為德國MicroLas公司生產的GeoLas200M）激光剝蝕電感耦合等離子體質譜（LAICP-MS）上進行。該實驗室的ICP-MS為Perkin Elmer/SCIEX公司帶有動態反應池（dynamic reaction cell，縮寫為DRC）的四極桿ICP-MS Elan6100DRC，儀器可在標准模式和DRC模式下運行（四極桿質譜測定此強度能夠得到准確度和精度都較好的結果。所以此靈敏度對於常規的鋯石定年研究已經足夠）。

鋯石年齡採用國際標准鋯石91500作為外標標准物質（Wiedenbeck et a1.,1995），元素含量採用NIST SRM610作為外標，²⁹Si作為內標元素（鋯石中SiO₂的含量為32.8%）。樣品的同位素比值及元素含量計算採用GLITTER（ver4.0,Macquarie University）程序，年齡計算及諧和圖的繪制採用Isoplot（ver3.0）（Ludwig et al.,1991）完成。樣品點的普通Pb含量及普通鉛校正用Excel宏程序ComPbCorr#3-151（Andersen,2002）計算獲得。

每個鋯石微區原位測試點的同位素比值和U-Pb年齡由專用的Glitter（ver4.0,Mac quarie U n I－versity）軟體計算，鋯石的La-ICP-M S U-Pb分析定年結果見表2-1～表2-20；用Isop lo t2.49a（Ludwig,1991）進行了鋯石的諧和曲線和加權平均年齡的投影和計算。考慮到鋯石中放射性成因²⁰⁷Pb比放射性成因的²⁰⁶Pb的豐度低約20倍，使前者在測量中的精度較差，導致²⁰⁷Pb/²⁰⁶Pb和²⁰7Pb/²³⁵U年齡往往不能反映岩體的真實年齡。因此，對放射性成因組分積累較少的年輕鋯石而言，²⁰⁶Pb/²³⁸U年齡更能反映鋯石的結晶時間，且不受²⁰⁷Pb的影響；而對於放射性成因組分積累較多的古老鋯石而言，²⁰⁷Pb/²⁰⁶Pb年齡可有效地估計鋯石的形成年齡（Comp ston et al.,1992；徐夕生等，2003；袁洪林等，2003）。

肖龍教授完成了從岩石樣品鋯石分離與鑒定→鋯石樣品靶的制備→鋯石U-Pb年齡測定和微量元素分析→測年數據處理成圖的主體操作與全程監控，測年數據質量可靠。

Ⅱ 獲得尺寸精度的方法是什麼

獲取尺寸精度，最直接的方法就是用儀器進行測量。

目前尺寸測量，方便又快捷的測量儀器就是VX系列閃測儀。

VX系列閃測儀：測量只需一鍵 即可得出全部尺寸。

簡單：按一鍵即可測出全部尺寸，無需建立坐標或擺正，自動輸出報表；

快速：3秒內即可完成所有參數測量；

高效：最多可同時測量100個工件或512個特徵；

准確：精度最高可達0.7um,不同人員測量數據一致，結果穩定統一。

Ⅲ 方法精密度和准確度的計算

精
示所測得的一系列數據之間的接近程度。
X=A-B（X為
；A為單次測量的數值；B為這一系列數的平均值）

Ⅳ 中深層資料高精度速度分析方法

（一）影響速度譜能量聚焦的因素分析

通過對道集資料和速度譜的分析研究，可以把影響中深層速度譜質量的主要因素歸納為兩個方面：地震資料因素和地質因素。其中，地震資料因素又包括近地表因素、信噪比、偏移距、覆蓋次數等；地質因素包括陡傾構造、復雜斷塊、岩性突變、地層各向異性等。下面分別對每種因素進行分析並研究針對性的處理技術和方法。

1.地震資料因素

1）近地表因素的影響

在地表條件復雜地區，炮、檢波點高程、炮點深度變化大，變觀施工多，會產生較嚴重的靜校正問題，從而影響速度譜精度。

2）信噪比的影響

由於大地吸收衰減等因素的影響，中深層資料有效信號能量較弱、信噪比較低，在速度譜分析時，雜訊成分對速度譜精度產生不利影響，造成速度譜能量弱、能量團分散、速度拾取精度較差，從而影響了中深層資料的成像質量示。

3）覆蓋次數的影響

覆蓋次數對速度譜的影響可分為兩個方面：覆蓋次數低，對老資料而言偏移距較小。兩者造成覆蓋次數低，同時中深層疊加能量對速度變化不敏感，速度譜能量弱、能量團不集中，影響速度分析精度。

2.地質因素

地下介質往往存在許多復雜構造，如陡傾構造、復雜斷層、岩性突變等。特別在陡傾構造的地方速度變化較劇烈，導致速度譜聚焦性變差。在斷裂系統發育區域，由於存在較強的斷面波，影響速度譜聚焦性，如圖4-47所示。

圖4-47 復雜斷塊對速度譜成像精度的影響

中深層古潛山、復雜斷塊、火成岩、砂礫岩體等復雜構造具有較強的非均質性，造成非雙曲時差現象。隨著新採集地震數據的炮檢距逐步增大（4500m左右），以及入射角的增大，地震波傳播射線路徑長，各向異性表現的更突出。當各向異性較強時，常規速度分析方法，不能滿足高精度速度分析的要求，如圖4-48所示。

圖4-48 各向異性造成的非雙曲時差現象

（二）提高中深層速度分析精度技術

針對信噪比及覆蓋次數對速度譜質量的影響，通過對道集優化處理技術、面元組合方式等深入研究和分析，提出針對速度分析的道集優化處理技術和方法。

1.提高信噪比處理

1）異常振幅雜訊壓制

地表一致性區域異常振幅衰減（ZAP）是壓制異常振幅的重要手段之一。壓制異常振幅的基本原理是對時窗內的振幅統計值進行地表一致性分解，分解成CMP項、炮點項、檢波點項和偏移距項，對每個分量進行動態時空變加權處理。壓制異常振幅後合成新的模型數據，然後通過合成數據與原始數據的比值確定加權系數，分時窗壓制異常振幅。

2）隨機雜訊衰減

疊前隨機雜訊衰減（RNA）是用於疊後三維數據體上，通過疊前數據重構，可以應用於疊前數據上。處理時首先在時間長度、縱線寬度和橫線寬度的長方體窗口內進行傅立葉變換，然後用相干信號預測的原理來增強反射波，削弱隨機干擾。

3）多次波衰減

採用Radon變換和F-K變換相結合的方法來壓制多次波。首先用有效波的速度對道集進行動校正，動校後多次波不能校平仍表現為雙曲線，Radon變換對雙曲線形的多次波壓制效果較好，小偏移距數據中的多次波近似為直線，Radon變換不能完全將多次波消除。在Radon變換的基礎上採用F-K變換對小偏移距數據中的多次波進行壓制，取得了良好效果，如圖4-49所示。

圖4-49 多次波壓制前（左）、後（右）的速度譜對比

4）優勢頻帶能量加強

當中深層資料信噪比低、有效反射能量弱時，採用全頻帶資料產生速度譜的效果會比較差。首先通過頻率掃描和頻譜分析確定有效波的優勢頻段范圍，採用優勢頻帶范圍內的資料進行速度掃描疊加，得到的速度譜能量團更集中。

2.速度分析面元的優化組合

通過優化速度分析面元的組合，可以增加覆蓋次數，提高速度譜質量。研究對比了矩形、十字形、橢圓形三種組合方式。從解析度和能量兩個方面考慮，由於橢圓形組合既能保證一定的覆蓋次數，又捨去了部分遠道的影響，效果更好，如圖4-50所示。

圖4-50 不同組合圖形的速度譜對比

3.提高解析度處理

不同頻率地震資料產生的速度譜也不同，高頻速度分析對速度的分辨能力比低頻強。因此，理論上採用高頻數據進行速度分析可以得到更為准確的速度，通過對超道集進行反褶積處理，提高了道集的解析度，速度譜的解析度也有所提高，如圖4-51所示。

圖4-51 反褶積前(左)和反褶積後(右)的速度譜

4.共散射點道集（CSP）速度分析

在等價偏移距理論框架下，與某一散射點有關的散射能量是沿雙曲線分布的。因此，根據時距關系可以把原始疊前地震數據映射到一種新的疊前偏移道集，即CSP道集上，這個變換過程不改變旅行時。在這些道集上通過疊加速度譜對速度進行更新。分析過程迭代進行，可以得到較合理的均方根速度場（圖4-52）。新的速度場一方面改善了CSP道集成像效果，另一方面還可為疊前偏移提供較可靠的初始速度模型。

圖4-52 常規CMP道集及速度譜（左）和CSP道集及速度譜（右）

5.共成像點道集（CIP）速度分析

通過疊前時間偏移得到的CIP道集，來自地下同一個反射點，消除了地層傾角、繞射波等因素的影響，能更好地實現同相疊加。在CMP道集速度分析基礎上，利用CIP道集進行速度分析，速度譜能量更集中，速度分析精度得到進一步提高（圖4-53）。

圖4-53 同一地面位置CMP道集速度譜（左）和CIP道集速度譜（右）對比

6.綜合處理後的效果對比

經過復合多域雜訊衰減、面元優化組合、優勢頻帶能量加強、提高超道集解析度等技術綜合處理後，道集品質及速度譜質量明顯改善，中深層速度譜的能量團向下拓展了1s以上，達到了項目設計的要求（圖4-54）。

圖4-54 優化處理技術應用前後速度譜對比

Ⅳ 化學分析工如何提高分析的精度及准確度

1、選定優化分析方法，操作規范，不投機取巧
2、校準和消除儀器系統誤差
3、標准樣或管理樣加密跟蹤測試，未知樣雙份或多份平行測定，或與他人平行測定，必要時外檢對照。
4、數據處理和質量控制科學規范
5、事業心和責任心必不可少

Ⅵ 粒度分析方法

粒度分析方法視碎屑岩顆粒大小和岩石緻密程度而異。

1.礫岩的粒度分析方法

礫岩的粒度分析主要在野外進行，一般採用篩析和直接測量兩種方法。對膠結不太堅固的礫石和疏鬆的礫石層，先用孔徑為10 mm和1 mm的篩子過篩，小於1 mm的基質和膠結物，可帶回室內進行再細分；10～1 mm的細礫部分若是含量多且差異大者，要用篩析方法進行細分；10 mm以上的礫石，一般在野外用尺子直接測量，然後將各粒級的礫石分別稱重，記錄於粒度分析表中。采樣過程中應選擇有代表性的取樣地點，而且樣品質量不少於25～30 kg，否則誤差就會相當大。對於膠結堅固的礫岩，可在風化帶上進行粒度測量；或采標本回室內，先進行膠結處理，將礫石分開，再進行粒度測量。

2.砂岩和粉砂岩的粒度分析方法

砂岩和粉砂岩的粒度分析常採用篩析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿茲尼法、沙巴寧法和羅賓遜法等。篩析法和沉速法適用於未固結的疏鬆岩石，如粗碎屑岩一般只用篩析法；而中—細粒碎屑岩由於常常含有較多的粉砂和黏土，常將沉速法與篩析法結合使用。薄片法主要用於固結堅硬的岩石。一般來說，篩析法適用於大於0.25 mm的顆粒，亦可用於大於0.1 mm的顆粒，而沉速法適用於小於0.25 mm的顆粒。

3.顆粒粒級的劃分

一般採用伍登-溫德華標准，它是以毫米為單位的一種分類方案，後來克魯賓（1934）提出了一種對數換算（表3-1），稱其為Φ值：

沉積學原理

其中，D為顆粒直徑。

表3-1 粒級劃分標准對比表

4.薄片粒度分析

篩析法只適用於現代沉積的沙和古代固結疏鬆的砂岩，對不能松解的砂岩不再適用。固結的岩石，特別是硅質膠結岩石的粒度分析，只能在薄片內進行。薄片粒度分析的精度較篩析法差，因薄片內計算的顆粒比篩析的量少得多，同時分析速度慢，分析結果不能與篩析法直接對比。下面簡單介紹一下薄片粒度分析的方法，薄片的制備與普通岩石薄片的制備方法相同，疏鬆的砂岩用膠浸煮後磨片。用作粒度分析的薄片要稍大些（3.0 cm×2.0 cm），尤其是粗粒砂岩，以便在薄片內可測量到足夠的顆粒數。用作磨製薄片的標本，必須在所採集的岩層內是有代表性的。

（1）在薄片上測定粒度的方法

在薄片上採用什麼方法選擇欲測量的顆粒稱為抽樣方法，一般常用的系統抽樣方法為點計法和線計法，此外，還有一種方法為帶記法。

點計法 常用有網格的目鏡進行測量，每一方格的邊長應大於薄片中顆粒的最大視直徑，應用機械台使薄片通過顯微鏡視域，測量網格結點所觸遇的顆粒粒徑（圖3-1）。

線計法 用機械台在垂直目鏡微尺的方向移動薄片，凡為十字絲豎絲觸遇的顆粒都要測量。量完一行，平行橫絲將薄片移動一定距離，再按上述方法測量，一直測到足夠的顆粒為止。測線間隔要大於薄片內顆粒的最大視直徑（圖3-2）。

不同抽樣方法所得出的結果不同，線計法測量時，與測線相交的顆粒的概率與測線垂直方向上的顆粒直

圖3-1 薄片粒度分析的點計法

徑成比例；點計法測量時，與點相遇的顆粒的概率與顆粒的可見表面積成比例。

帶計法 將薄片放在機械台上，固定橫坐標，使薄片垂直目鏡微尺慢慢移動，凡是顆粒中心在目鏡微尺一定讀數之間的顆粒，都要按大小分類計數（圖3-3）。這個帶的寬度應等於或大於樣品內顆粒的最大視直徑。有人通過實驗證明，帶計法測得的結果最近似於樣品內真正的粒度分布。

圖3-2 薄片粒度分析的線計法

圖3-3 薄片粒度分析的帶計法

由於不同抽樣方法所得的結果不能直接對比，因而不同的樣品要用統計方法比較的話，必須在每個細節上使用同樣的抽樣方法和測定方法。最後，將測得結果填入薄片粒度統計表（表3-2）。

表3-2 薄片粒度統計表

（2）各種測定直徑的對比與換算

用粒度資料解釋沉積環境的工作開始於對現代沉積物的研究。對於古代岩石的沉積環境分析，也可藉助於岩石粒度分析同現代沉積物粒度分析加以比較。

現代沉積物的粒度分析一般採用常規篩析法，所得結果為不同粒度的顆粒質量百分比。而古代岩石目前大部分只能用薄片分析法，所得結果為不同粒度的顆粒數百分比。兩者不能直接對比，如果需要對比則必須進行換算。即使在同一方法中，也只能進行統計對比，絕不能進行單顆粒對比。

篩析直徑與沉速分析直徑之間，平均值偏差＜0.1Φ，兩種方法一般不經換算可以互相使用，但在精確研究工作中則必須換算。薄片分析視直徑與篩析直徑之間的偏差可達到0.25Φ或更大，在任何情況下均不可互用或直接對比。將視直徑換算為篩析直徑的方法很多，其中G.M.Friedman通過統計分析進行的線性回歸換算較為簡便、准確，任意粒度的回歸換算方程為

沉積學原理

式中：D是換算後的篩析直徑；d是薄片中測定的視長直徑，均以Φ值計。經換算後，換算值同實際篩析值的平均直徑最大偏差一般不超過0.25Φ，這個精度高於0.25Φ分組間隔，可滿足一般沉積學研究。

對於切片視直徑與真直徑的對比，根據實驗可知，等直徑的球狀集合體的切面上所測得的視直徑平均值為真直徑的0.765倍，即在顆粒集合體的切片中，顆粒視直徑平均值小於真直徑，這種現象稱為切片效應。

（3）薄片粒度測量的要求

粒度測量是粒度分析的基礎，故對其測量要求很高，而測量工作卻非常煩瑣、效率很低。薄片粒度分析是研究固結樣品的唯一方法，可使用偏光顯微鏡和掃描電子顯微鏡。近年來出現的圖像分析儀使薄片粒度分析基本實現自動化，效率大為提高。薄片統計數據為顆粒數。

在沉積環境研究中使用薄片粒度分析時，對岩石樣品的基本要求是：砂岩中石英碎屑含量應大於70%，至少石英和長石含量要大於70%，溶蝕交代與次生加大現象越弱越好，切片方向可垂直層面或平行層面，隨研究目的和要求的精度而定。在碳酸鹽岩研究中，取樣密度可達1 點/cm，可平行紋層切片。測定時一般採用線計法抽取顆粒，凡在線上的顆粒都要測量，不能有任何主觀取捨，每個薄片計200～500顆粒即可，碳酸鹽岩需測1000顆粒以上。

在薄片內，需要測定多少顆粒才能代表全薄片的粒度分布，這在開始分析之前必須確定。測定的顆粒太少，不能代表薄片內的粒度分布；測定的顆粒太多，又會浪費時間，而且對精確度無所增益。根據砂岩樣品的實驗，分別測量100、200、300、400、500顆粒，繪制粒度累積頻率曲線，從計數400顆粒起，粒度累積曲線的形狀基本保持不變，因而可確定薄片內計數400～500顆粒是達到精度要求的最小計數。

薄片分析視直徑換算成篩析直徑時，還要考慮「雜基」的存在。薄片分析若不做雜基校正，往往無懸浮總體尾端，而是跳躍總體直接穿過3～4Φ的截點呈直線延伸，不出現轉折，在平均值小於2Φ的中細砂岩、粉砂岩中經常出現這種情況，這是因為4～7Φ的顆粒細小，被測機會增多，或者全被歸並到4.5Φ或5Φ的顆粒而造成細粒數增加，實質上是一種統計截尾效應（截尾點不同，其分布也不同）（圖3-4）。

圖3-4 截尾效應

雜基校正的方法是將顯微鏡調至6Φ後測定或估計出雜基含量。薄片雜基量由於切片效應和成岩後生作用，值一般偏高，取其2/3～1/2為校正值，假定為Δ，將各累積頻率乘以（100—Δ），重新繪一曲線。對於弱固結岩石，可用同一標本既做篩析，又做薄片分析，通過實驗求出校正系數（100—Δ）的數值。

Ⅶ 加工精度都有哪些測量方法

加工精度根據不同的加工精度內容以及精度要求，採用不同的測量方法。一般來說有以下幾類方法：
1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。
直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。
顯然，直接測量比較直觀，間接測量比較繁瑣。一般當被測尺寸或用直接測量達不到精度要求時，就不得不採用間接測量。
2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。如用比較儀測量軸的直徑，需先用量塊調整好儀器的零位，然後進行測量，測得值是被側軸的直徑相當於量塊尺寸的差值，這就是相對測量。一般說來相對測量的精度比較高些，但測量比較麻煩。
3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。
4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。
單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。
綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。
綜合測量一般效率比較高，對保證零件的互換性更為可靠，常用於完工零件的檢驗。單項測量能分別確定每一參數的誤差，一般用於工藝分析、工序檢驗及被指定參數的測量。
5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。
主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。
被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。
6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。
靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。
動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。
動態測量方法能反映出零件接近使用狀態下的情況，是測量技術的發展方向。