花樣分析方法

1. 財務管理的分析方法有哪些

大多數財務分析都是從報表開始的，通過各種財務指標的計算得出一個結論，比如資產負債率過高，流動性差，固定資產佔比過高等等，如果分析人是投資機構或債權人，一般也夠用了。如果是為企業的管理者提供財務分析的報告，這還遠遠不夠，我們還得分析業務，分析各種管理制度，分析企業文化，甚至分析人性。

下面我就舉個案例，也是我目前做過最好的一個財務分析，主要講思路，你可以把它當偵探故事看。

背景公司是一家大型出版集團，集團有十家出版社，合並報表上顯示三年多的時間，集團的圖書庫存從7個億漲到了10個億，集團領導和上級主管都很崩潰，大會小會都開了，目標也很明確，壓庫存，可庫存就是壓不下來，原因到底在那？

第一個層面——財務指標分析

為了壓庫存集團財務出過很多財務分析報告，很多都停留在這個層面，流動比率、速動比率，圖書分類，圖書庫齡，圖書種類，各種數據都有。大部分都是無用功，幾十頁紙的報告，主要結論就是圖書庫存大，但這有什麼用？把三年報表拿出來一對比就行了，外行也可能看出來，庫存漲了！你把大家都知道的事換個花樣再說一遍有什麼用，問題是為什麼漲對不對？！

第二個層面——分析業務實質

財務是發現問題，造成問題的責任人還是業務，所以財務分析報告一定要分析業務。集團的財務人員當然也會從業務上找原因。大家認為圖書庫存的上漲的主要原因是印多了賣不掉！有可能是市場誤判，一本書編輯很看好，一印就是二萬冊，結果只賣了五千，剩下的就積壓了，所以有人建議加強市場調研，加大對當事人的獎懲，在選題時就把印數壓下來。

又有人出來說這都是表面現象，圖書多印的主要原因是多印的印製成本低，在印刷廠的報價里，印五百本書和印五千本書的價格是一樣的（當然紙張成本不一樣），為了降低單書成本，所以社裡才多印的，解決辦法是更新印刷設備（印刷廠也是集團內部的），把印製成本降下來，如果五百本的印製成本只有五千本的十分之一，出版社當然會選擇先少印點，不夠再加嘛！

還有人說是渠道問題，因為傳統出版社的銷售渠道以門店為主，一個門店放五十本書，一百個門店就要放五千本了，印少了發貨的門店就少，會影響銷售。解決的辦法是調整渠道，加大線上銷售的比重，比如在當當、淘寶上做推廣，網店不用放那麼多書，誰賣直發過去就行，可以實現零庫存。

2. 練習3:分析不同類型標題的寫作模式和寫作技巧請試著分析以下羅列額幾個標題都

摘要 1、善補題，以小見大。在所給話題前面或後面加上適當的詞語進行增補，對寫作范圍加以限制，能使話題由大變小，由虛變實，由抽象變具體，這是最簡捷方便的擬題方法。如以「體驗」為話題，可擬《愛的初體驗》、《體驗孤獨》、《體驗長大》、《體驗之苦》等。

3. X射線衍射分析法進行物相分析時常用照相法和衍射儀法獲得樣品衍射花樣，各自的原

X射線衍射分析法進行物相分析時，常用照相法和衍射儀法獲得樣品衍射花樣。它們都要遵循衍射原理，衍射原理中最重要的就是布拉格公式或布拉格方程。

厄瓦爾德反射球，可以用圖解的方式解釋衍射原理：

倒易點陣最重要的應用就是用厄瓦爾德反射球圖解並闡述了衍射原理。調整一級布拉格公式2dsinθ=λ為：

sinθ=λ/(2d)=(1/d)/(2/λ)，

這個式子表明，一級布拉格公式的所有元素都可以集中到一個直角三角形，θ角的正弦可以表示為晶面間距d的倒數（1/d作θ角相對的直角邊）與2倍波長λ倒數（2/λ作斜邊）的商。

[圖1厄瓦爾德反射球]

圖1是著名的Ewald反射球。以樣品位置C為中心，1/λ為半徑作圓球，入射X射線ACO（直徑）的A、O兩點均在球赤道圓上，設想晶體內與X射線AC成θ角的晶面（hkl）形成衍射線CG交赤道圓於G，則AG⊥OG。∠OAG=θ，OG=1/d。G點是符合布拉格方程的（hkl）晶面的衍射斑點，G點必在這個球面上。此球稱為厄瓦爾德反射球。CG是衍射線方向，∠OCG=2θ是衍射角。G點還可以看作是以O點為原點的衍射面（hkl）的法線方向上的一點，該法線長度等於衍射面系列的晶面間距dhkl的倒數，不同於真實晶體的虛幻的點O、G及衍射面等組成了以晶體為正點陣的倒易點陣諸元素。O點是倒易點陣原點，OG是倒易矢量Hhkl。

單晶體的倒易陣是在三維空間有規律排列的陣點，根據厄瓦爾德圖解可以領悟到單晶體的衍射斑點組成。粉末多晶體由無數個任意取向的晶粒組成，所以其某一確定值晶面（hkl）的倒易點如（110）在三維空間是均勻分布的，所有晶粒這些倒易點的集合構成了一個以O為球心、半徑為1/dhkl（=Hhkl）的倒易球殼，顯然這個倒易球殼來源於那個｛hkl｝晶面族的衍射。不同晶面間距d晶面的衍射對應不同半徑的同心倒易球殼,它們與反射球相交,得到一個個圓。以該圓為底面、以反射球心為頂點的旋轉圓錐稱為衍射圓錐或衍射錐，它的頂角夾角等於4θ。因為，當樣品單晶旋轉時或樣品是多晶體時，滿足布拉格方程的倒易點陣點不僅是一個已標出的G點，而是以C為頂點、以CO為對稱軸、以CG為母線的旋轉圓錐面都是樣品中一個（hkl）晶面系列的衍射方向，該旋轉圓錐面的頂角為4θ，其與反射球交點軌跡就是G點所在的垂直於直徑ACO的圓。

[圖2旋轉晶體的倒易點陣]

這是（hkl）晶面等於某一組特定值時的情況。當（hkl）值換為另一組值，衍射面自然也變為另一組值，布拉格角θhkl隨hkl值變換而不同於前一個θ角，衍射角2θhkl也隨之改變，衍射斑點的位置也相應改變。晶面指數不是連續變化，衍射圓錐面也相應地斷續發生。旋轉晶體在其轉軸[001]方向獲得如圖2的倒易點陣結構：以轉軸為軸的以晶體處即反射球心為頂點的以2θ為半頂角的一系列不連續的圓錐面再與反射球的交線圓。這些圓平面垂直於紙面，故在紙面上投影畫為直線。從中心向兩側分別標以l=0、±1、±2、……。用感光膠片在垂直於l軸或C*軸方向（*表示屬於倒易點陣空間）接收，會得到一系列同心圓環（或稱為德拜圓環）。放感光膠片到平行於l軸方向，接收到的由衍射錐留下的交線圖案就是一系列類雙曲線極限球。

圖3是平板照相法（平面底片法）獲得X射線衍射圖原理的圖解；感光膠片垂直於X射線擺放。圖3中的樣品就是無規取向聚甲醛POM。

這種照相法的優點是一次實驗可獲得較多的衍射記錄。解析衍射圖案可以獲得樣品的許多結構信息，如取向情況，結晶情況等。

園筒底片法（又叫回轉照相法或旋晶法）：

研究晶體結構時，特別是研究對稱性較低晶體結構時，幾乎總是使和易於處理和解析的單晶法。

回轉照相法

單晶固定在測試頭上射線束照射的中心位置，使某晶軸平行於旋轉軸。感光膠片裝在園筒形相盒內，相盒園筒的中心軸線與轉軸重合。使用單色X射線，垂直地入射位於轉軸上的單晶某軸。設該晶軸為C軸，單色光波長入是常數，則單晶衍射的反射球具有固定的半徑1/λ。當單晶在其平衡位置附近不斷地來回轉動（回轉或回擺）或單向轉動時，倒易點陣也隨之擺動或轉動。一切能使感光膠片感光的衍射線必然滿足

c(cosγ—cosγo)=lλ，

固晶軸與λ射線垂直，轉動的衍射線集合組成了一套套同軸的L是層線數。圓錐面（特稱勞厄錐），見圖4。圖4是回轉照相、衍射勞厄錐、衍射底片層線晶胞參數求解圖示圖。λ射線所在的平面是一個大圓，在圓筒底片引發感光形成赤道線，指數為hko；在展開的相平面中是位於中央的水平真線，稱為O級層線（l=0）。向上（或向下）依次是第1，2，…層線（指數分別為hk1，hk2等），它們與0層線都是互相平行的水平直線。

圖5是多晶粉末德拜-謝樂照相法示意圖。膠片貼內壁安裝。粉晶圓錐衍射面被德拜-謝樂園筒形感光膠片所截，每個勞厄錐的截線都是一對關於X射線入射點為對稱的弧線。

多晶粉末衍射儀法

衍射儀的接收器把獲得的光的閃爍信號轉化為強度輸出，如果用X-Y型記錄儀畫出譜圖，就是多晶粉末衍射譜。橫坐標是衍射角（2θ）；縱坐標是衍射強度。

4. 獲得晶體衍射花樣的基本方法有哪些

獲得晶體衍射花樣的基本方法有哪些？

答：
獲取衍射花樣的三種基本方法是勞埃法、旋轉晶體法和粉末法。
勞埃法主要用於分析晶體的對稱性和進行晶體定向；
旋轉晶體法主要用於研究晶體結構；
粉末法主要用於物相分析。

5. 如何對x射線圖進行物相分析方法

晶體的X射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換,每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系,其特徵X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化,這就是X射線衍射物相分析方法的依據.制備各種標准單相物質的衍射花樣並使之規范化,將待分析物質的衍射花樣與之對照,從而確定物質的組成相,就成為物相定性分析的基本方法.鑒定出各個相後,根據各相花樣的強度正比於改組分存在的量（需要做吸收校正者除外）,就可對各種組分進行定量分析.目前常用衍射儀法得到衍射圖譜,用「粉末衍射標准聯合會（JCPDS）」負責編輯出版的「粉末衍射卡片（PDF卡片）」進行物相分析.
目前,物相分析存在的問題主要有：⑴ 待測物圖樣中的最強線條可能並非某單一相的最強線,而是兩個或兩個以上相的某些次強或三強線疊加的結果.這時若以該線作為某相的最強線將找不到任何對應的卡片.⑵ 在眾多卡片中找出滿足條件的卡片,十分復雜而繁鎖.雖然可以利用計算機輔助檢索,但仍難以令人滿意.⑶ 定量分析過程中,配製試樣、繪制定標曲線或者K值測定及計算,都是復雜而艱巨的工作.為此,有人提出了可能的解決辦法,認為 從相反的角度出發,根據標准數據（PDF卡片）利用計算機對定性分析的初步結果進行多相擬合顯示,繪出衍射角與衍射強度的模擬衍射曲線.通過調整每一物相所佔的比例,與衍射儀掃描所得的衍射圖譜相比較,就可以更准確地得到定性和定量分析的結果,從而免去了一些定性分析和整個定量分析的實驗和計算過程.
2、點陣常數的精確測定
點陣常數是晶體物質的基本結構參數,測定點陣常數在研究固態相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數等方面都得到了應用.點陣常數的測定是通過X射線衍射線的位置（θ ）的測定而獲得的,通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值.
點陣常數測定中的精確度涉及兩個獨立的問題,即波長的精度和布拉格角的測量精度.波長的問題主要是X射線譜學家的責任,衍射工作者的任務是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應的關系.知道每根反射線的密勒指數後就可以根據不同的晶系用相應的公式計算點陣常數.晶面間距測量的精度隨θ 角的增加而增加, θ越大得到的點陣常數值越精確,因而點陣常數測定時應選用高角度衍射線.誤差一般採用圖解外推法和最小二乘法來消除,點陣常數測定的精確度極限處在1×10-5附近.
3、應力的測定
X射線測定應力以衍射花樣特徵的變化作為應變的量度.宏觀應力均勻分布在物體中較大范圍內,產生的均勻應變表現為該范圍內方向相同的各晶粒中同名晶面間距變化相同,導致衍射線向某方向位移,這就是X射線測量宏觀應力的基礎；微觀應力在各晶粒間甚至一個晶粒內各部分間彼此不同,產生的不均勻應變表現為某些區域晶面間距增加、某些區域晶面間距減少,結果使衍射線向不同方向位移,使其衍射線漫散寬化,這是X射線測量微觀應力的基礎.超微觀應力在應變區內使原子偏離平衡位置,導致衍射線強度減弱,故可以通過X射線強度的變化測定超微觀應力.測定應力一般用衍射儀法.
X射線測定應力具有非破壞性,可測小范圍局部應力,可測表層應力,可區別應力類型、測量時無需使材料處於無應力狀態等優點,但其測量精確度受組織結構的影響較大,X射線也難以測定動態瞬時應力.
4、晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的晶粒無畸變、足夠大,理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利,但在實際實驗中,這種譜線無法看到.這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響,使純衍射譜線增寬了.純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶體點陣中的主要缺陷決定,故對線形作適當分析,原則上可以得到上述影響因素的性質和尺度等方面的信息.
在晶粒尺寸和點陣畸變測定過程中,需要做的工作有兩個：⑴ 從實驗線形中得出純衍射線形,最普遍的方法是傅里葉變換法和重復連續卷積法.⑵ 從衍射花樣適當的譜線中得出晶粒尺寸和缺陷的信息.這個步驟主要是找出各種使譜線變寬的因素,並且分離這些因素對寬度的影響,從而計算出所需要的結果.主要方法有傅里葉法、線形方差法和積分寬度法.
5、單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系.雖然可以用光學方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以精確地單晶定向,同時還能得到晶體內部微觀結構的信息.一般用勞埃法單晶定向,其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系.透射勞埃法只適用於厚度小且吸收系數小的樣品；背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法 .
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現象稱為織構,常見的織構有絲織構和板織構兩種類型.為反映織構的概貌和確定織構指數,有三種方法描述織構：極圖、反極圖和三維取向函數,這三種方法適用於不同的情況.對於絲織構,要知道其極圖形式,只要求出求其絲軸指數即可,照相法和衍射儀法是可用的方法.板織構的極點分布比較復雜,需要兩個指數來表示,且多用衍射儀進行測定 .

6. X射線衍射分析中物相定性分析原理是什麼

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強。

從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結晶面間隔；n是整數。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。

將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結晶的物質結構，此即定性分析。從衍射X射線強度的比較，可進行定量分析。

本法的特點在於可以獲得元素存在的化合物狀態、原子間相互結合的方式，從而可進行價態分析，可用於對環境固體污染物的物相鑒定，如大氣顆粒物中的風砂和土壤成分、工業排放的金屬及其化合物（粉塵）、汽車排氣中鹵化鉛的組成、水體沉積物或懸浮物中金屬存在的狀態等等。

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一、發展方向

X射線分析的新發展，金屬X射線分析由於設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和有機材料，納米材料測試的常規方法。而且還用於動態測量。早期多用照相法，這種方法費時較長，強度測量的精確度低。

50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量准確，並可配備計算機控制等優點，已經得到廣泛的應用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。

從70年代以來，隨著高強度X射線源（包括超高強度的旋轉陽極X射線發生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線源）和高靈敏度探測器的出現以及電子計算機分析的應用，使金屬 X射線學獲得新的推動力。這些新技術的結合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進行瞬時的動態觀察以及對更為微弱或精細效應的研究。

二、應用范圍

晶體的X射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換，每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系，其特徵X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據。

制備各種標准單相物質的衍射花樣並使之規范化，將待分析物質的衍射花樣與之對照，從而確定物質的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。

鑒定出各個相後，根據各相花樣的強度正比於改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用「粉末衍射標准聯合會（JCPDS）」負責編輯出版的「粉末衍射卡片（PDF卡片）」進行物相分析。

7. 如何分析《花樣年華》中三場雨的作用

影片的色調從頭至尾都是昏暗的色澤。無論白天還是夜晚，使用了大量燈光做鋪墊。街角斑駁的牆壁映照在橘黃的路燈下，周先生和蘇麗珍邂逅，一個身影過去，一個身影走來，僅從他們的背影就能看出蝕骨的寂寞如何吞噬著他們的靈魂。

8. 宏觀經濟的分析方法包括以下哪些項 A 收入分析法 B 邊際分析法 C 綜合分析法

基本分析主要由宏觀經濟分析、行業分析、公司分析、策略分析四方面構成。

宏觀經濟分析——

宏觀經濟分析的意義與方法
評價宏觀經濟形勢的基本指標
貨幣政策
外匯
財政政策
證券市場
一、宏觀經濟分析的意義與方法

學生時代的意義是一個很玄學的東西，死記硬背應付考試並不能理解這背後的真實涵義，現在maybe是被社會搓來揉去數年之後終於能夠窺見其中一二分真意。

1、意義

（做出判斷）把握證券市場的總體變化趨勢，尤其要關注貨幣政策和財政政策的變化。每篇分析第一件事兒就是給出結論啊，看多看空騎牆都好但是分析師都會基於自己的論據給出明確的判斷，哪怕某些大牛常年花樣看多那又怎樣，在他們自己的那一套邏輯里是能自洽的就莫問太啊。至於對不對的事兒就交給時間驗證，反正就算結論對了沒准依據不對呢hhhh，這大概就是預測分析的美妙之處吧~在數據和實際情況產生背離的時候可能要把時間線延長五年十年後，回過頭才能明白彼時發生了什麼。

（好好賺錢）把握證券市場的投資價值。投資價值是指整個市場的平均投資價值，簡單粗暴點就是最近指數到底好不好呀，能不能梭哈一把啊啥的。贏了會所xx，輸了下海幹活！

（官方重點）掌握宏觀經濟政策對市場的影響力度與方向，比如每年的中央工作經紀會議好好看啊胖友們，發家致富的方向都已經提前劇透了，要珍惜！平時多看點新聞聯播總是沒錯噠！想想那些年錯過的一帶一路、農林牧漁、雄安新區、供給側改革，感覺寄幾錯過幾百個億...

（我們不一樣）宏觀經濟對股市的影響不同於成熟市場經濟，中國股市的特殊性。矛盾的普遍性與特殊性吧，中國股市特點國有成分比重大、行政干預多、階段性波動大、投機性高、機構投資者弱勢（書上寫的...word媽呀韭菜還沒割夠嗎...機構打法還是有組織有紀律蠻6的）要知道為啥有時候中國股市表現和宏觀經濟背離，把握證券市場的國民晴雨表特徵。

2、基本方法及資料搜集

總量分析法

對影響宏觀經濟運行總量指標的因素及其變動規律進行分析，如對國民生產總值、消費額、投資額、銀行貸款總額及物價水平等的變動規律的分析，進而說明整個經濟的狀態和全貌。

總量分析法是從個量分析的加總中引出總量的分析方法，主要是一種動態分析，因為它主要研究總量指標的變動規律。同時也包括靜態分析，考察同一時間內個總量指標的相互關系，如投資額、消費額和國民生產總值的關系等。

（抄了一遍也是迷醉，沒明白戳下面，幾個基本方法對比一下還是比較好理解的）

總量分析方法 - MBA智庫網路
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結構分析法

對經濟系統中各組成部分及其對比關系變動規律的分析。結構分析法主要是靜態分析，即對一定時間內經濟系統中各組成部分變動規律的分析。如對不同時期內經濟結構變動進行分析，則屬於動態分析。

結構分析法 (經濟) - MBA智庫網路
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總量分析和結構分析是相互聯系的。總量分析側重於總量指標速度的考側重分析經濟運行的動態過程；結構分析側重於對一定時期經濟整體中組成部分相互關系的研究，側重分析經濟現象的相對靜止狀態。總量分析方法重要，但它需要結構分析來深化和補充，而結構分析要服從於總量分析指標。為使經濟正常運行，需要對經濟運行進行全面把握，將總量分析方法與結構分析方法結合起來使用。