① 分析數字電路的主要工具是什麼
以下是幾個硬體工具：
示波器、信號發生器、邏輯分析儀：
尤其是邏輯分析儀，查找硬體故障，甚至分析簡單的通訊協議，好東西。
FIB：
就是聚焦離子束，用來修改晶元邏輯實在太爽了。FIB的高手還可以幫你挖開二次鋁修改底下的一次鋁。
探針台：
這個你可以扎到你沒有邦定的PAD上測試，配合使用FIB就更好了，可以測試電路內部幾乎任意點的信號值。
電鏡掃描儀：
如果你的電路有缺陷（比如功耗大），它能幫你查出一部分的問題，但鋁短路情況查不出。我一直對怎樣查出連鋁這樣的問題比較感興趣，總之為了得到這樣一個診斷結果我跑了好幾個地方，花了不少錢和幾個月時間。
晶元測試儀：
這個一般倒不必非摸透，大概了解點對設計有好處。
② 如何用萬用表測量數字集成電路的好壞
集成電路則是將晶體管、電阻、電容等元件和導線通過半導體製造工藝做在一塊矽片上而成為一個不可分割的整體電路。在這里，主要介紹利用萬用表對集成電路進行檢測原理和一般方法，然後再介紹數字電路好壞的具體檢測方法。 一、檢測原理和一般方法 1.檢測非在路集成電路本身好壞的准確方法 非在路集成電路是指與實際電路完全脫開的集成電路。按照廠家給定的測試電路、測試條件，逐項進行測試，在大多數情況下既不現實，也往往是不必要的。在家電修理或一般性電子製作過程中，較為常用而且准確的方法是焊接在實際電路上試一試。具體做法是：在一台工作正常的、應用該型號集成電路的電視機、收錄機或其他設備上，先在印刷電路板的對應位置焊接上一隻集成電路座，在斷電的情況下小心地將檢測的集成電路插上，接通電源。若電路工作不正常，說明該集成電路性能不好或者是壞的。顯然，這種檢測方法的優點是准確、實用，對引腳數目少的小規模集成電路比較方便，但是對引腳數目很多的集成電路，不僅焊接的工作量大，而且往往受客觀條件的限制，容易出錯，或不易找到合適的設備或配套的插座等。 2.檢測非在路集成電路好壞的簡便方法 使用萬用表測量集成電路各引腳對其接地引腳（俗稱接地腳）之間的電阻值。具體方法如下：將萬用表撥在R1×1kΩ檔或R×100Ω、R×10Ω檔）一般不用R×10kΩ、R×1Ω）上，先讓紅表筆接集成電路的接地腳，且在整個測量過程中不變。然後利用黑表筆從其第1隻引腳開始，按著1、2、3、4……的順序，依次測出相對應的電阻值。用這種方法可得知：集成電路的任一隻引腳與其接地引腳之間的值不應為零或無窮大（空腳除外）；多數情況下具有不對稱的電阻值，即正、反向（或稱黑表筆接地、紅表筆接地）電阻值不相等，有時差別小一些，有時差別懸殊。這一結論也可以這樣敘述：如果某一隻引腳與接地腳之間，應當具有一定大小的電阻值，而現在變為0或∞，或者其正反向電阻應當有明顯差別，而現在變為相同或差別的規律相反，則說明該引腳與接地引腳之間存有短路、開路、擊穿等故障。顯然，這樣的集成電路是壞的，或者性能已變差。這一結論就是利用萬表檢測集成電路好壞的根據。 二、數字集成電路的檢測 數字集成電路輸出與輸入之間的關系並不是放大關系，而是一種邏輯關系。輸入條件滿足時，輸出高電平或低電平。對數字集成電路進行檢測，就是檢測其輸入引腳與輸出引腳之間邏輯關系是否存在。由於數字集成電路種類太多，完成的邏輯功能又多種多樣，逐項測量其指標高低是不現實的。比較簡便易行的方法是，用萬用表測量集成電路各引出腳與接地引腳之間的正、反向電阻值——內部電阻值，並與正品的內部電阻值相比較，便能很快確定被測集成電路的好壞。實踐證明，這種檢測數字集成電路好壞的方法是行之有效的，既適用於早期生產的TTL型數字電路，也適用於近幾年生產的MOS集成電路。 在數字電中，最基本的邏輯電路是門電路。用門電路可以組成各種各樣的邏輯電路，因而門電路在數字電路中應用最多，在實驗教學中，一些門電路的損壞是在所難免的。基於這個原因，有必要對門電路進行檢測。在這里，主要介紹利用萬用表對門電路的好壞的檢測原理和一般方法。門電路的基本形式有「與」門、「非」門、「或」門、「與非」門、「或非」門。下面主要介紹「與非」門電路的檢測方法。典型TTL「與非」門的主要參數見附表。 1.電源引腳與接地引腳的檢測 「與非」門電路及其他數字電路電源引腳與接地引腳的安排方式有兩種：左上角最邊上的一隻為電源引腳，右下角最邊上的一隻為接地腳如圖1所示；上邊中間一隻為電源引腳；下邊一隻為接地腳，如圖2所示。這兩種引腳的安排方式，前一種最多，後一種較少。數字集成電路電源引腳與接地引腳之間，其正、反向電阻值一般有明顯的差別。紅表筆接電源引腳、黑表筆接地引腳測出的電阻為幾千歐，紅表筆接地引腳、黑表筆接電源引腳測出的電阻為十幾歐、幾十千歐甚至更大。根據這兩種方法，一般就不難檢測出其電源引腳和接地腳。 2.輸入引腳與輸出引腳的檢測 根據門電路輸入短路電流值不大於2.2mA，輸出低電平電壓不大於0.35V的特點，即可方便地檢測出它的輸入引腳和輸出引腳。將待檢測門電路電源引腳接+5V電壓，接地引腳按要求接地，然後利用萬用表依次測量各引腳與接地腳之間的短路電流，如圖3所示。若其值低於2.2mA，則說明該引腳為其輸入引腳，否則便是輸出引腳；另外，當「與非」門的輸入端懸空時，相當於輸入高電平，此時其輸出端應為低電平，根據這一點可進一步核實一下它的輸出引腳。具體方法是，將萬用表撥在直流10V檔，測量輸出引腳的電壓值，此值應低於0.4V。 對CMOS與非門電路，用萬用表R×1kΩ檔，以黑表筆接其接地引腳，用紅表筆依次測量其他各引腳對接地腳之間的電阻值，其中阻值稍大的引腳為與非門的輸入端，而阻值稍小的引腳則為其輸出端。這種方法同樣適用於或非門、與門、反相器等數字電路。 3.同一組「與非」門輸入、輸出引腳的檢測 將「與非」門的電源引腳接5V電壓，接地引腳按要求正確接地。萬用表撥在直流10V檔，黑表筆接地、紅表筆接其任一個輸出引腳。用一根導線，依次將其輸入引腳與地短路，並注意觀察輸出電壓的變化。所有能使輸出引腳電壓由低電平變為高電平的輸入引腳，便是同一個「與非」門的輸入引腳。然後將紅表筆移到另一輸出引腳上，重復上述實驗，便可找出與該輸出端相對應的所有輸入引腳，它們便組成了另一個「與非」門。有幾個輸出引腳，就說明該集成電路由幾個「與非」門組成。 4.幾項具體技術指標的測量 （1）輸出高電平UOH和關門電平UOFF 測量電路如圖4所示，使0.8V電壓依次接各輸入端，UOH為2.7～3.2V時為合格，同時說明其關門電平UOFF≥0.8V。UOH低於2.7V的相應輸入端應剪掉不用。 （2）輸出低電平UOL和開門電平UON 測量電路如圖5所示。UOL≤0.35V時為合格，同時說明UON≤1.8V。圖中當其扇出系數N=8時，取RL=360Ω；當N=15時，取RL=200Ω。 （3）空載導通電流IE1和空載截止電流IE2。 測量電路分別如圖6、7所示。單個「與非」門要求IEI≤7.5mA、IE2≤3.5mA。 （4）輸入短路電流 IIS和輸入漏電流IIH。 測量電路分別如圖8、9所示。一般要求IIS≤1.5mA，IIH≤70μA。