❶ 光譜分析儀怎樣操作 怎樣用光譜儀檢測器
一、產品概況：
HX-750火花直讀光譜儀，秉承華欣公司多年來的高品質傳統以及數十年的開發設計經驗，並融合當代的流行設計理念，是華欣公司最新推出的光電倍增管專業直讀光譜儀。對於化驗室固體金屬樣品所要求的快速精確分析，HX-750是您的最佳選擇。
HX-750火花直讀光譜儀凝聚了20年來被證明成熟而有效的光譜分析技術，對於固體金屬樣品分析，光電倍增管技術具有對光譜信息的高靈敏度﹑高准確性以及壽命長的特徵。
我們提供的12通道HX-750型直讀光譜儀包括了完整的計算機系統，一套工廠校準曲線，並提供現場安裝、用戶培訓及一年的全面質量保修服務。根據用戶分析需要，可為用戶增加分析通道，增加分析基體。也可為用戶增加工廠校準曲線，或用戶使用自己的標准樣品建立分析曲線，極大地滿足了用戶使用要求。
二、火花直讀光譜儀應用范圍：
火花直讀光譜儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應用於冶金、機械及其他工業部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產品檢驗，是控制產品質量的有效手段之一。能對金屬材料中化學元素成份作精確檢測；可對鐵基、鋁基、銅基、鎳基等廣泛元素作精確定量
●光學系統：(OPtics)
主光路部分包括：2400刻線/mm的標准光柵；穩定可靠的750mm焦距羅蘭圓出縫架。折返式前光路設計，使光路結構更加緊湊；方便可拆卸的光窗及入射狹縫設計，使維護清潔更加簡單。
出射狹縫採用德國高精度加工中心整體加工，包括所有可能用到的120個分析通道精確定位，可以滿足各種基體元素分析；這種設計方式，為以後增加通道帶來方便。
鋁合金整體光學室與特製加熱恆溫設計，確保光學室系統長期穩定性。
氬氣流沖洗確保光學系統潔凈，減少定期檢修次數。根據應用不同，光學室可以用真空及非真空狀態。
●光源：(Source)
HX-750型火花直讀光譜儀，採用全固態免維護激發光源，使得分析結果非常穩定，單脈沖火花檢測技術，激發光源激發頻率在100-1000Hz，可一次性讀取所有分析通道的1000次脈沖火花數據。
●數據輸出系統：(Readout)
HX-750火花直讀光譜儀應用華欣的S-1000型輸出和控制系統，該系統已經成功應用於華欣產品中。S-1000採用固態電子學設計，可以適用於各種類型的PC。模塊化的設計使分析通道的添加變得簡單快捷。另外該設計能夠防止電磁干擾，而且免於維護。
●軟體系統：(Software)
華欣分析軟體適應於各種型號的HX-750 光譜儀。此軟體系統使分析工作更有效率，其界面簡單，分析過程簡單明了，分析數據可靠准確。
華欣在不斷增加和升級該軟體的功能，並在儀器使用期間提供免費的軟體升級服務。該軟體系統操作簡單，但功能強大，許多分析和校準功能都是自動的，提示並引導操作者分步完成。對於有經驗的光譜用戶，該軟體提供基礎計算和參量修改設置，特別是針對曲線擬合的可視化編輯方面。
校準數據的存儲和靈活的標准化功能，使結果分析便捷而准確，確保該分析符合國家標准。
❷ 怎樣測定未知合金的成分和含量
正規專業機構：先用XRD確定可能存在的相；然後用DSC分析確定可能的合金成份；再用SEM和EPMA進行微觀分析。XRD(X-ray Diffraction) ，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。DSC（Differential Scanning Calorimetry），示差掃描量熱法，這項技術被廣泛應用於一系列應用，它既是一種例行的質量測試和作為一個研究工具。該設備易於校準，使用熔點低銦例如，是一種快速和可靠的方法熱分析示差掃描量熱法(DSC)是在程序控制溫度下，測量輸給物質和參比物的功率差與溫度關系的一種技術。SEM(Scanning Electron Microscope), 掃瞄式電子顯微鏡。工作原理：從電子槍陰極發出的直徑20(m～30(m的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描並且激發出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成電壓信號，最後被送到顯像管的柵極上並且調制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，並且這種掃描運動與樣品表面的電子束的掃描運動嚴格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號強度相對應的掃描電子像，這種圖象反映了樣品表面的形貌特徵。EPMA（Electron Probe MicroAnalysis），是電子探針顯微分析技術，利用聚焦電子束與試樣微米至亞微米尺度的區域相互作用，用X射線譜儀對電子激發體積內的元素進行分析的技術。
電子探針儀：EPMA(Electron Probe MicroAnalyzer) (electron probe)
一種電子束顯微分析的儀器，是通過電子束激發試樣微區產生的二次電子、背散射電子、及X射線等信息，進行試樣表面形貌觀察及成分分析。成分分析主要用波譜儀（WDS)，也可以用能譜儀（EDS)。其配置應包括一個能將電子束聚焦成微米、亞微米尺度的電子光學系統（鏡筒）。一台對試樣位置進行觀測和精密定位的光學顯微鏡和一套波譜儀， 也可以附加一套能譜儀。其電子光學系統應包括電子束掃描系統以及一個或多個電子探測器，以便具有掃描電鏡的成像功能。
如果不需要那麼嚴格的話就很簡單了：直接用手持式合金分析儀，動動手指就可以了。該儀器的價格就我接觸過的而言，大概每台在20萬元左右。
❸ 光譜分析儀在冶金方面的應用
⑴冶金分析的特點冶金分析是指冶金生產過程中各物料的化學組成及其含量的分析。它對原料的選擇，在冶煉前的爐料計算，冶煉工藝流程的控制中，產品的檢驗，新產品的試制，以及冶金工廠中環保分析都是必不可少的。特點是：①在保證生產質量的前提下，分析速度要快，特別是分析；②冶金分析物料種類繁多，有固體、粉末和液體等，因此要求分析方法適應性強；③分析數量大，任務重，並且要求日夜連續不斷進行。
X射線熒光分析技術正好能滿足冶金分析的特殊要求，一台多道X射線熒光光譜儀能在一分鍾之內分析20~30個元素，而其分析精密度完全可以和濕法化學分析相媲美，分析范圍又很寬，從幾個ppm到100%。這樣可以節省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特種化學試劑，不會污染環境。
然而X射線光譜分析法並不是一種絕對法，而是依靠用標准試樣相比較來作分析。以鋼鐵分析為例，標准試樣國際的、國內的都有，但是如果對表面效應不重視，那末最好的標准試樣，分析出來結果也會是錯誤的。金屬試樣一般可以直接從爐中取樣冷凝而成，或者從大塊金屬或原料上切取試片，這樣能用固體狀態進行分析，有速度快、方法簡便和分析精密度高的特點，缺點是不能加入內標或者進行稀釋，在痕量元素分析時，又不能採用化學分離，不容易得到合適的標准試樣，又很難人工合成。
⑵固體樣品的制備一般切割或直接澆鑄的試樣表面比較粗糙，通常需要進一步研磨。磨可以在磨片機上研磨，也可以在磨床上加工光潔度較高的表面。通常使用的磨料有各種顆粒度的氧化鋁（即剛玉）或碳化硅即（金鋼砂）。一般不拋光或化學腐蝕等特殊處理，在測量短波譜線如鉬、鎳、鉻等元素時，大約80~120粒度砂紙的光潔度即可滿足要求，但測量長波譜線要求試樣表面光潔度要高，特別重要的是分析試樣和標准樣品的表面一定要有一致的光潔度。
樣品在測量時，最好能自轉，以減少表面效應、顆粒度和不均勻性的影響。如果樣品沒有自轉裝置，則樣品放置位置必須使樣品的表面磨痕和入射、出射X射線所構成的平面平行，這樣吸收最小，如果相互垂直時吸收最大。
樣品在研磨過程中，有可能把樣品中夾雜物磨掉，造成某些元素分析結果偏低，或者也可能發生表面沾污。分析低鋁時，如果使用氧化鋁作磨料，表面就可能被沾污，這時最好採用碳化硅磨料，反之如果分析低硅時，應采須知氧化鋁佬磨料。對有色金屬如鋁合金、銅合金等，它們遠比鋼鐵試樣要軟，不能用砂紙研磨，而應該用車床，以保證樣品表面光潔度。
檢驗這種表面沾污的方法測量沾污元素譜線的強度比。對於原子序數60以下的元素，可測量其La1Ka強度比，對於原子序數60以上的重元素，應測量Ma/La1 強度比。試驗可以用有沾污的樣品和已知未沾污的同種合金樣品作比較，甚至還可以作為一種消除沾污的檢驗方法。
⑶生鐵X射線熒光分析生鐵中碳是以元素狀態存在。灰口鐵中的碳有的呈球狀石墨，有的呈片狀石墨，在研磨過程中表面上脫落的石墨孔也會引起其他分析元素的污染，造成分析錯誤。澆鑄的試樣是不均勻的，不適合作X射線熒光分析。而急冷試樣的晶粒很細，分布，碳生成滲碳體(Fe3C)，它是一種很脆而硬的中間化合物，表面可以利用研磨辦法加工。
⑷中低合金鋼分析用X射線熒光分析中低合金鋼有足夠靈敏度，多道X射線螢光光譜儀一般測量時間只需要20秒，最好用銠靶X射線管，監控試樣測量為60秒，以提高分析精度，必要時要扣除重迭譜線，用標准鋼樣NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。
⑸不銹鋼的分析不銹鋼X射線熒光分析是比較困難的，因為鎳、鉻、鐵三者存在著嚴重的增強和吸收效應，必須採用數學分析，校正後鉻、鎳分析結果是非常令人滿意的。
⑹非金屬材料分析非金屬材料分析包括爐渣、礦石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大類，一種是把試樣振動磨粉碎，然後壓製成直徑為40毫米的圓片，直接放在X射線熒光光譜儀上分析。這樣方法特點是速度快，一般五分鍾左右就能報出結果，適合作快速分析，但是有「顆粒度效應」和「礦物效應」，所以一定要嚴格控制試樣顆粒度大小。特別對輕元素分析，尤為嚴重，可以適當加入稀釋劑、粘結劑、重吸收劑，如硼酸、澱粉、硫酸釩等，來減少基體效應並可壓成圓片。另一種方法為熔融法，可以在試樣中加入熔劑如四硼酸鋰等，在高溫下溶融成玻璃熔珠，熔融時間一般為10~20分鍾，中間要搖動以除去氣泡，對某些試劑還要加入氧化劑，如硝酸鈉等，為了防止試片破裂，可適當加入溴化物使其容易脫模。如在鉑-黃金（5%)坩堝中熔融，冷卻脫模以後，試樣就可以直接使用。這種方法准確度高，並且能消除「顆粒度效應」和「礦物效應」，但是分析速度慢，對某些元素靈敏度差。
❹ 什麼儀器可以快速分析金屬化合物、混合物粉末中的金屬含量
金屬成分分析儀是採用XRF（熒光光譜分析）原理，對金屬材料成分進行快速檢測的儀器。由於X射線波長很短，因此是不可見的。但它照射到某些化合物如磷、鉑氰化鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時，由於電離或激發使原子處於激發狀態，原子回到基態過程中，由於價電子的能級躍遷而輻射出可見光或紫外線，這就是熒光。X射線使物質發生熒光的作用叫熒光作用，熒光強弱與X射線量成正比。該儀器能夠快速分析金屬材料成分及含量。
主要功能
可用於檢測碳鋼中的鉻含量，檢測精度可達到0.03%的含量 - 用於評估流速促進型腐蝕(FAC)的情況。
可適應高達800° F的檢測溫度。
可用於分析鐵基合金、鎳基合金、鈷基合金、銅基合金、鈦基合金、混雜合金。
可以十分有把握地識別各種復雜的合金，例如304與321， P91與9鉻，7級鈦與純鈦。
對6061/6063鋁合金具有非凡的識別能力與分析效果。
主要優點：
便捷，友好的軟體界面：三種操作模式選擇，化學分析，等級鑒定和快速合格/不合格分類；
設計：尖嘴部分的設計符合人體工學，便於使用在一些很難測試的地方或焊接點；
通用性：交流電源，便利的操作平台，並可升級到個人電腦的桌面；
智能分析：對不規則或很小的樣品測試進行自動補償，包括焊接點的細條、縫、拐角；
快速：2-3秒內身份等級鑒定；
高效：無資源消耗及防止擴散費用，小型X-射線管技術消除了對付放射性材料的費用和麻煩；
美國伊諾斯公司是一家專業生產和製造通用型和高性能的攜帶型X-射線熒光分析儀(XRF)的全球知名公司。Alpha系列分析儀為目前市場上提供體積最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的對材料進行可靠性鑒別(PMI)和確認的攜帶型多用途掌上型X射線熒光光譜分析儀，該分析儀可適用於任何場所，從而確保材料質量，確保材料無放射性， 在對幾種常見的合金進行分析時，測試時間可持續20秒鍾。快速分析持續測試間是2至3秒。該分析儀重量輕（1.6 kg），操作簡單，一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感，可適用於-10°C至+50°C任何場所。該分析儀帶有手握把和可以延伸的探頭，因此可以用來探測管道內部、焊縫、法蘭及其它平常難以接觸的位置的合金材料。
主要特點編輯
合金分析儀的主要特點：
1.它使用極小的X射線管代替放射性同位素來解決更換資源和放射性擴散的問題。
2.無危險原料限制，可以應用到任何地方或者隨意運輸。
3.合金分析儀具有小型的電腦軟體平台，對合金分析非常靈活。用戶可自編輯升級的元數庫，用戶可自定義的分析和分類方法，多種數據輸入，直接下載結果到資料庫及擴展程序。X-射線管、小型電腦軟體，高分辯探測器使合金分析儀成為最先進，最高效，操作最簡單的合金分析系統。
4.合金分析儀能夠記憶所有元素的光譜，這個強大的分析儀能夠解決最困難的分析問題，同時它又是一個全天候直觀、快速的合金分析儀。
智能光束 (SmartBeam)技術：
智能光束 (SmartBeam)技術既X射線管專門技術和多光束過濾技術，使合金分析儀達到非凡的穩定性、檢測速度和使用壽命並具有極好的升級潛力。智能分析使其對不規則或很小的樣品測試進行自動補償，包括焊接點的細條、縫、拐角。選用智能光束技術Ti ,V 精度可達 0.05-0.5%。
復雜合金等級的鑒定：
可用於鑒定數千個不同的合金等級。標准庫包含了250種合金，用戶可自定義300種合金，可根據各種合金的通用名稱、統一標准編號（UNS）、美國機械工程師協會編號（ASME）、以及軍事規范等各種屬性進行檢索。
尖端PDA技術：
標准合金元素：
21種標准元素 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Hf, W, Ta, Re, Pb, Ag, Sn, Bi, & Sb。Innov-X ALPHA-2000合金分析儀所配置的標准元素還可以增加或更換。
合金家族：
鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼；
鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金；
鈷基合金系列：
鈦基合金系列：
銅基系列：青銅、黃銅、銅鎳合金；
高溫合金：鉬鎢合金；
鋁合金