⑴ 材料分析方法
材料分析方法:
1、化學分析:化學分析又稱經典分析,包括滴定分析和重量分析兩部分,是根據樣品的量、反應產物的量或所消耗試劑的量及反應的化學計量關系,經計算得待測組分的含量。化學分析是鑒別材料中附加成分的種類、含量,是剖析材料組成、准確定量的必要手段。
2、差熱分析:熱分析是研究熱力學參數或物理參數與溫度變化關系分析的方法,可分性材料晶型轉變、熔融、吸附、脫水、分解等物理性質,在物理、化學、化工、冶金、地質、建材、燃料、輕紡、食品、生物等領域得到廣泛應用。通過熱分析技術的綜合應用可以判斷材料種類、材料組分含量、篩選目標材料、對材料加工條件、 使用條件做出准確的預判,是材料分析過程中非常重要的組成部分。
3、元素分析:元素分析是研究被測元素原子的中外層電子由基態向激發態躍遷時吸收或者放出的特徵譜線的一種分析手段,通過特徵譜線的分析可了解待測材料的元素組成、化學鍵、原子含量及相對濃度。元素分析針對材料中非常規組分進行前期元素分析,輔助和佐證色譜分析,是材料分析中必不可少的環節。
4、光譜分析:光譜分析是通過對材料的發射光譜、吸收光譜、熒光光譜等特徵光譜進行研究以分析物質結構特徵或含量的方法,光譜分析根據光的波長分為可見、紅外、紫外、X射線光譜分析。利用光譜分析可以精確、迅速、靈敏的鑒別材料、分析材料分子結構、確定化學組成和相對含量。是材料分析過程中對材料進行定性分析首要步驟。
5、色譜分析:是材料不同組分分子在固定相和流動相之間分配平衡的過程中,不同組分在固定相上相互分離,已達到對材料定性分析、定量的目的。根據分離機制,色譜分析可以分為吸附色譜、分配色譜、離子交換色譜、凝膠色譜、親和色譜等分析類別,通過各種色譜技術的綜合運用,可實現各種材料的組分分離、定量、定性分析。
6、聯用(介面)技術:通過不同模式和類型的熱分析技術與色譜、光譜、質譜聯用(介面)技術實現對多組分復雜樣品體系的分析,可完成組分多樣性、體系多樣性的材料精確、靈敏、快捷的組分、組成測試,是非常規材料剖析過程中不可或缺分析方法。
⑵ 屋面工程找坡工程量平均厚度怎麼計算
公式:找坡層工程量(V)=屋面面積(S)*平均厚度(H),平均厚度(H)=坡寬(L)*坡度系數(i)*1/2+最薄處厚度。按2%算出工程量得出平均厚度然後在2%平均厚度基礎上按1%算出兩者相減得出就是2%-1%等的最終工程量現在的實際屋面工程量。
《屋面工程質量驗收規范》GB50207-2012規定:規范規定4. 1. 3 屋面找坡應滿足設計排水坡度要求,結構找坡不應小於3%,材料找坡宜為 2%。
控制屋面最厚處厚度的計算方法,是在保證屋面坡度不變和控制屋面最薄處厚度的前提下,能保證屋面在同一坡面內,屋脊處高度統一,各區段之間不存在高低不平、厚薄不均的現象,從而避免了各區段交接處裂縫滲漏等情況的出現。
(2)材料分析方法濾波片厚度計算擴展閱讀
一般把屋面坡度小於5%的屋頂稱為平屋頂,由於鋼筋混凝土梁、板的普遍應用和防水材料不斷革新,平屋頂已被廣泛應用。它與坡屋頂相比,具有節約材料、減少建築體積、提高預制裝配程度、便於使用與維修等諸多優點。
屋面工程量通常是按投影面積計算,對於有找坡要求時,用其找坡方向的長度乘上2%,就可以計算出因找坡形成的最高點,用這「陽高點」除2計算出平均厚度,再加上設計要求的起始厚度,這樣就是設計要求的平均厚度了,在根據定額子目套價或換算不同厚度。
⑶ 厚度是怎麼計算的
質量除密度,可以算出體積
保鮮膜通常材料聚氯乙烯,簡稱PVC
比重表中查到聚氯乙烯1.35-1.4克/立方厘米,這里取1.4
4市斤=2000克
假設厚度為X
35000*38*X=2000/1.4
厚度約為0.001074厘米(10.74微米)
⑷ 設計試驗用邁克爾遜干涉儀測量一個玻璃薄片的厚度
地址:http://..com/question/72300658.html
邁克爾遜干涉儀
一、實驗目的,
1、掌握邁克爾遜干涉儀的原理和調節方法;
2、觀察等厚干涉、等頻干涉以及白光干涉條紋;
3、測量鈉黃光D雙線的波長差;
4、測量汞燈某一條譜線的相干長度;
5、測量薄片的折射率。
二、實驗儀器:
1、邁克爾遜干涉儀 2、鈉燈;3、汞燈;4、白熾燈;5、待測薄片;
6、濾光片;7、毛玻璃
三、儀器的光學原理:
邁克爾遜干涉儀的作用在於利用分光板的反射和透射,將來自光源一束光波分成兩束,並經行不同的光路之後,又經分化板的反射和透射而會合,相互交迭滿足相干條件,使之在一定條件下產生干涉條紋。
圖(1)是邁克爾遜干涉儀的光路示意圖,其中S為一擴展光源,P1為分光板,在P2背向光源的一面半鍍銀。M1和M2是互相垂直放置且與P2成45°角的兩個平面反射鏡,來自光源的光波經P1的反射和透射分成1、2兩光束,分別經M1、M2投射後,再經P1的反射和透射而共同進入人眼睛,在一定條件下就可以看到干涉條紋。P2是一塊折射率和厚度與P1完全相同的玻璃板,稱為補償板。當光路中沒有P2時,由於光束2通過P1內部三次而光束1通過P1內部只有一次,由P2造成的兩束光的光程差在單色光情況下,可以由調節M2的位置加以消除。但在非單色光照明情況下,這個光程差隨波長不同而不同,不能由M2的位置的調節而同時加以消除,為此引入補償板P2。光束1通過P2兩次,以補償
S
M2
M1『
P1
P2
M1
光束1少通過P1兩次所造成的光程差。
圖(1)
圖中M¢1是M1經P1反射後的虛像,因而光在邁克爾遜干涉儀中自M1和M2的反射相當於自M2和M¢1的反射,於是邁克爾遜干涉儀所產生的干涉與厚度為d的空氣平行平板所產生的干涉一樣。兩反射光的光程差為
(1)
其中d為空氣平行平板的厚度,i¢為光線的入射角。亮紋條件為
(2)
暗紋條件為
(3)
當M2與M¢1嚴格平行時,可以觀察到由一系列同心圓環組成的等傾干涉條紋。
當M2與M¢1不嚴格平行且M2與M¢1足夠靠近時,M2與M¢1構成一楔形空氣薄板,可以觀察到一系列互相平行,寬度相同的等厚干涉條紋。
在干涉儀中,M2可沿著與其表面垂直的方向平移,當M2平移時,M¢1與M2之間的距離d將發生變化。對等傾條紋來說,當d逐漸增大時,同心圓環不斷向外擴展;當d逐漸減小時,同心圓環不斷向內收縮。在實驗中,我們就以等傾條紋的這一變化規律作為判斷光程差增減的依據。
當M2與M¢1相交且交角很小時,若用白光作光源,則可看到彩色的條紋。若是等厚干涉,則中央是一條白色條紋,兩側有若干彩色條紋。中央條紋對應於d=0。
測量鈉燈D雙線波長差的原理:
鈉黃光D雙線彼此很接近,設其為l1和l2且l2>l1。可以出現這樣的情況,當d為某一d1值時,l2的k2級亮條紋與l1的 級暗條紋在i¢k觀察方向上相重,即彼此的各級干涉條紋是互相錯開的,於是有:
(4)
這時由於l1和l2的光強相差不大,所以干涉條紋的可見度為零即視場中看不到干涉條紋。
逐漸移動M2增加(或減小)d的大小到某一值d2時,在同一觀察方向ik上l2的干涉級次由原來的K2級改為(K2+DK),而l1的級次若為(K1+DK+1)。則二者的亮條紋與亮條紋重合,暗條紋與暗條紋重合,此時有:
(6)
由(6)減(4)得:
(7)
且有 (當 時)
其中 ,(D雙線 Å)為兩波長平均值。
由此,可用實驗方法,在連續緩慢移動M1時,讀出兩次可見度為零的情況之間干涉條紋級次改變數DK¢來,即可由(7)式數出Dl。
測量汞燈某一條譜線相干長度的原理。
相干長度是產生可以分辨的干涉條紋的二相干光束間的最大光程差,它由光源的非單色性限定。
根據相干長度的定義,只要測得能夠分辨的條紋最高級次即可算出相干長度。為此,對於汞燈的某條譜線(通過汞燈前置一濾光片獲得),首先用白光等厚條紋的特點確定其零級條紋,然後平移反射鏡M2,增大空氣薄板厚度d,於是原零級條紋所在的位置依次由一級、二級……諸條紋取代。設K級條紋在該位置出現時,條紋開始不能分辨,則K即為能夠分辨的最高幹涉級。若譜線波長為l,則其相干長度為:
l=kl
當測量不需要十分精確時,相干長度可直接由讀數尺讀出。
測量薄片折射率的原理。
圖中在P1和P2之間放入一待測透明薄片,位置和M1平行,設薄片的折射率為n,厚度為d,則可證明,在光線的入射角i¢足夠小的條件下,由於薄片的加入,而引起光束l的光程增量為:
(3)
若在放入薄片前,兩束光的光程差接近於零,可以看到白光的等厚條紋,那麼加入薄片後由於Dl1的出現,兩束光的光程差加大,白光條紋將發生位移,甚至消失。這時如果平移M2,使M2平移產生的光程差增量Dl2與薄片產生的光程增量大小相等,符號相反,即Dl2=-Dl1,則兩束光的光程差重新取得放入薄片前的數值,於是白光的等厚條紋恢復到原來位置(以中央條紋位置定位)設此時M2的位移量為d,則當光線入射角i足夠小時,可得Dl2=2d這一關系式
由Dl2=-Dl1得到:
2d=2(n-1)h,其中h為薄片的厚度,整理後可得:
若給定薄片的厚度,則只要在儀器中讀得d即可由上式求出薄片的折射率。
若已知薄片的折射率,也可由儀器中讀得的d通過上式求出薄片的厚度。
四、儀器結構
1.導軌;2.底座;3.水平調節螺燈;4.傳動盒蓋;5.轉動手輪;6.讀數窗口;7.微調手輪;8.刻度輪;9.移動鏡拖板;10.盤頭螺燈;11.12.鏡架;13.分光鏡;14.補償鏡;15.16.反射鏡;17.18.微調彈簧。
精磨的導軌(1)固定在底座(2)上,底座上有三個調節水平的螺釘(3),用以調節儀器的水平。在導軌內部裝有一根螺距為1毫米的精密絲桿。絲桿與傳動盒蓋(4)內的齒輪系統相連,轉動大手輪即可動作齒輪系統帶動絲桿,由絲桿傳動移動鏡拖板前後移動。儀器有三個讀數尺,主尺附在導軌側面,最小分度為1毫米,讀數窗口(6)內有一個一百等分微調手輪(7)轉動一圈等於圓盤轉一小格,微調手輪有一個刻度輪(8)分為100等份,每一小格對應於拖板移動0.1微米。
五、實驗步驟
1.對照實驗講義,認識儀器的各個部件及其作用(嚴禁用手摸鏡面)。
2.調節M2使M2和M1與分光板P1的距離大致相等。其次調節M1和M2的傾斜度,使M1⊥M2,即M¢1‖M2。
調節M¢1‖M2的方法簡介如下:可用一針狀物(如小針等),放在光源與分光板之間,這時看到小針的兩個較亮的像(另有兩個較弱的像),調節M1和M2的三個盤頭螺燈,使小針的兩個像重合,這時M¢1和M2近乎平行,一般應看到干涉條紋,微動M1的微調彈簧即可看到圓形條紋,若眼睛上下左右移動時,干涉條紋隨著移動,但圓的半徑大小不變時,則得等傾干涉條紋。
3.轉動微調手輪,使M2緩慢移動,觀察可見度隨光程改變的情況,熟悉後,再開始測量視場中兩次可見度為零之間干涉條紋縮進去或長出來的條紋數△K¢。
4.在汞燈旁邊放一盞白熾燈,尋找白光等厚干涉條紋。
5.認准中央條紋,並在汞燈前放一濾光片(其中心波長與汞燈某一條譜線相同),轉動微調手輪,並數清通過中央條紋位置的條紋數目至不能分辨為止。若這時通過中央條紋位置的條紋數目為K,則K即為汞燈該譜線的最高幹涉級。
6.重新找出白光干涉的中央條紋,在P2與M1之間放入待測薄片。這時白光條紋發生位移。緩慢轉動微調手輪,直到重新出現彩色條紋,並使中央條紋恢復到原位,記下條紋移動的數目,由公式 求出d。
六、實驗記錄及結果
1.觀察現象的記錄
2.鈉雙線波長差Dl
3.汞光源某一色光的相干長度l
4.所測薄膜材料的折射率n
七、思考題
1.白光等厚,等傾干涉的同一級序條紋中,各色光的排列次序怎樣?為什麼?
2.在觀察等傾干涉時,為什麼M¢1M2間d增加時干涉同心圓環向外擴,反之則向內收縮?
3.在觀察等厚干涉時,干涉條紋怎樣隨空氣楔角的變化而變化?為什麼有這樣的變化?