影響德拜分析方法分析精度的因素

A. 大學物理實驗固體線膨脹系數的測定有哪些誤差來源

主要誤差來源於熱膨脹系數與材料的化學組成、合金元素對合金熱膨脹的影響等。

熱膨脹系數與材料的化學組成、結晶狀態、晶體結構、鍵的強度有關。組成相同，結構不同的物質，膨脹系數不相同。結構緊密的晶體，膨脹系數較大；而類似於無定形的玻璃，往往有較小的膨脹系數。鍵強度高的材料一般會有低的膨脹系數。

合金元素對合金熱膨脹有影響，簡單金屬與非鐵磁性金屬組成的單相均勻固溶體合金的膨脹系數介於內組元膨脹系數之間。而多相合金膨脹系數取決於組成相之間的性質和數量，可以近似按照各相所佔的體積百分比，利用混合定則粗略計算得到。

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實驗固體線膨消伏脹系數的測定要求規定：

1、質點間孫陵的作用力越強，質點所處的勢阱越深，升高同樣溫度，質點振幅增加得越少，相應地熱膨脹系數越小。當晶體結構類型相同時，結則橋戚合能大的材料的熔點也高，熔點高的材料膨脹系數較小。

2、由於頂桿和支持器尺寸較長，高溫爐的加熱條件難於使溫度分布均勻一致，頂桿和支持器之間的膨脹量難以相互抵消，所以膨脹的測量值需要校正。

3、測量溫度可高達2000℃，目鏡上的測微計直接測量試樣伸長量。所用試樣較長，加熱爐要有足夠的恆溫帶。

B. 影響德育方法的主要因素

1．德育方法的概念
德育方法是為達到德育目的，在德育過程中採用的教育者和受教育者相互作用的活動方式的總和。它包括教育者的施教傳道方式和受教育者的受教修養方式。影響德育方法的因素是多方面的，不僅有社會生產、、科學技術及文化發展水平，學生品德形成發展的規律和一定年齡階段學生品德發展水平及其個性差異。在德育實踐中，教育者主要是根據德育的目標和內容、德育對象的實際和一定的德育原理原則來選擇德育方法。
2．幾種主要的德育方法
(1)說理教育法
通過語言說理傳道，使學生明理曉道，分清是非，提高品德認識的方法。這是一種堅持正面理論教育和正面思想引導，增強辨別是非能力，促進道德發展的重要方法。說理的形式多種多樣，可以是具體形象、具有啟發性說服力的講解和報告，可以是主題鮮明、民主平等、誠懇熱烈的談話與討論，還可以通過指導學生認真讀書培養其獨立思考的能力。
(2)榜樣示範法
用榜樣人物的優秀品德來影響學生的思想、情感和行為的方法。由於榜樣能把社會真實的思想、政治和法紀、道德關系表現得更直接、更親切、更典型，因而能給人以極大的影響、感染和激勵，教育、帶動和鼓舞人們前進；運用榜樣示範法符合青少年學生愛好學習，善於模仿，崇拜英雄，追求上進的年齡特點，也符合人的認識由生動直觀到抽象的發展規律。
(3)陶冶教育法
它是教師利用環境和自身的教育因素，對學生進行潛移默化的熏陶和感染，使其在耳濡目染中受到感化的方法。
(4)實際鍛煉法
讓學生參加各種實際活動，在活動中鍛煉思想，增長才幹，培養優良思想和行為習慣。鍛煉的方式主要是學習活動、社會活動、生產勞動和課外文體科技活動。
(5)品德修養指導法
教師指導學生自覺主動地進行學習、自我品德反省，以實現思想轉化及行為控制。品德修養是在建立自我意識、自我評價能力發展基礎上的，是人的自覺能動性的表現。這種方法可以增強學生的主體意識，促進其自我意識及其自我修養能力的提高，調動他們自覺主動地接受教育，增強他們抵制不良思想道德影響的免疫能力，推動學校德育工作的發展以及學校德育目標、內容的實現。
(6)品德評價法
通過對學生品德進行肯定或否定的評價而予以激勵或抑制，促使其品德健康形成和發展。它包括獎勵、懲罰、評比和操行評定。運用品德評價法要注意做到目的明確；公正合理，符合實際；得到大多數學生的公認；以表揚、獎勵為主，批評、懲罰為輔。評比要發揚民主，條件要明確具體，人人皆知；評比過程中要讓大家發表意見，使學生受到教育；要定期檢查和總結，及時宣傳、表彰好人好事。

C. 逐項比較德拜法與勞埃法特點

逐項比較德拜法與勞埃法特點可以從以下幾個方面逐項比較：
1、基本概念：德拜法和勞埃法都是描述物質中介電常數隨著電磁波頻率的變化而發生變化的數學模型。德拜法主要基於物質中極化分子的方向取向來描述介電常數的變化，而勞埃法則是基於極化電子的諧振來解釋介電常數的變化。
2、模型特點：德拜法通過亮絕將介電常數隨頻率的變化，描述為一個與頻率有關的復數，同時介電常數在高頻率范圍內向一個常數趨近。而勞埃法則則在高頻時完全可以忽敬如姿略，只適用於低頻范圍內的情況。
3、應用范圍：在材料學、光學、電子工程等領域，德拜法和勞埃法均有廣泛的應用。德拜法在光學折射率的研究中有很大應用，而勞埃法則更適用於描述金屬、半導體等材料中的復雜介電常數橡閉變化的情況。
需要說明的是，德拜法和勞埃法本身並不是兩個相互獨立的模型或理論，而是對同一物理現象的不同描述方式。

D. 德拜模型的局限性是什麼,有什麼解決辦法

主要是態密度函數在低頻的波段完美符合，而再高頻模段符合很差，在極低溫度一下，低頻動模才對熱容有貢獻，所以在低溫極限Kb*T＜2πωi時德拜模型才成立（溫度越低越符合），解決辦法就想個新的模型吧，或者低溫極限下湊合著用。
個人總結下就是，德拜模森仔檔型藉助戚此的是連續介質模型，這將導致態數目（自由度）無窮大，而現實是有限的，所以他對頻率很高的（波長很小接近量子尺寸）認為對熱容無作用，要解決也可以從這下手，設計一個更好的作用此亂模型。

E. 愛因斯坦模型，德拜模型主要假設，結論，差別原因。謝謝啦急，求高手幫助

愛因斯坦模型，
假設：1.認為晶格中的各原子都是相互獨立的
2.所有原子具有相同的頻率w0
3.晶格中每一孝談個原子可以沿三個方振動侍慎和共有3N個頻率為w0的振動
愛因斯坦理論跟經老盯典理論比改進十分顯著，能反應出Cv在低溫時下降的趨勢，但是在低溫范圍下降太陡，與實驗值不符合

德拜模型：考慮到了頻率的分布，德拜模型把晶格當成彈性介質處理，他具體分析的是各項同性的彈性介質，對於一定的波數矢量q,有一個縱波，兩個獨立的橫波。
德拜模型低溫極限是正確的，
差別原因，就是愛因斯坦認為每個原子振動頻率都是相同的，而德拜考慮到了頻率分布。
我自己理解，不一定都對

F. 德拜謝樂法衍射原理

德拜謝樂法衍射原理：照相法以光源發出的特徵X射線照射多晶樣品，並用底片記錄衍射花樣。根據樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法，其中德拜法應用最為普遍。

當一束單色X射線入射到晶體時，由於晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍芹返射分析相同數量級。

故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和沒培強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。

應用要點

掃描速度有影響，要盡可能慢。一般2度/分鍾。應用謝樂公式，需要扣除儀器寬化的影響，假設試樣中沒有晶體結構的不完整引起的寬化，則衍射線的寬化僅是由晶塊尺寸造成的，而且晶塊尺寸是均勻的。所以謝樂公式一般不能用於高分子，因為畸變嚴重。

B為積分半高寬度，在計算的過程中，如果軟體給出的是角度，嫌察飢需轉化為弧度（rad），1度=π/180 弧度。B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標准物的半峰值強度處的寬度得到。標樣必須是無應力且無晶塊尺寸細化的樣品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等。

G. 線膨脹系數的測量誤差主要來源有哪些

主要誤差來源：

1、若樣品總成安裝不當，如固定端固定不牢，滑動端樣品與樣品封頭之間聯結松動等，均會引起較大誤差，發現此類問題應想辦法解決，如有困難可請老師協助處理。

2、滑動端與水套的摩擦會給固定端一個反向作用力，使固定端產生微小位移引起誤差。樣品與水套的膨脹系數不一致，也會使它們之間產生摩擦，並使樣品產生微小彎曲形變引起誤差，此類咐飢胡誤差一般很小。

3、數字千分表、溫度感測器及測量儀本身的誤差，此衡攔項誤差一般小於1%。

4、測量過程中外力使固定端移動會帶來較大誤差，同學們應避免此類情況的發生。

材料膨脹或收縮的程度。分為某一溫度點的線膨脹系數和某一溫度肢納區間的線膨脹系數，後者稱為平均線膨脹系數。前者是單位長度的材料每升高一度的伸長量；平均線膨脹系數是單位長度的材料在某一溫度區間，每升高一度溫度的平均伸長量。

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線膨脹系數隨溫度變化的規律類似於熱容的變化。a值在很低溫度時很小，隨溫度升高而很快增加，在德拜特徵溫度以上時趨向於常數。線膨脹系數的絕對值與晶體結構和鍵強度密切相關。鍵強度高的材料具有低的線膨脹系數。

相對金屬材料，耐火材料的鍵強大，線膨脹系數小。一般氧化物的α值在(8～15)×10K范圍，二元硅酸鹽物質的α值一般在(5．2～10)×10K碳化物的a值為(5～7)×10K金剛石為1×1010K石英玻璃則由於其結構鬆弛。

結構中四面體的線膨脹能為結構中的空隙所容納，而具有極小的a值(0．5×1010K非等軸晶體沿不同晶軸的a值不同，尤其是石墨這類層狀結構的物質。

H. 什麼是擴散長度，德拜長度，它們由哪些因素決定

決定鏡頭解析度段茄的關鍵,一是光路設計,二是鏡片加工精度,三是鍍膜技術。首先,光路設計就決定了你的光學結構,不同的光學結構在不同光圈下的解析度表現是完全不一樣的,而且光學結構對於像場的平坦度也是有影響的,也直接影響到了解析度知燃沖。其次,鏡片加工精度也決定了成像的精度,直接影響了每一處光線搭殲聚焦的精確度,也就很直接的對成像解析度有了影響。最後,鍍膜技術影響了光線在鏡片間的反射,也增加了鏡片的通光量,裸片透光率大概只有85%左右,鍍膜玻璃透光率大概可以有98%以上,鏡片間的反射會導致對比度降低,解析度也會下降,影響成像。

I. 請問1936年諾貝爾化學獎的「因利用偶極矩理論和X 射線衍射法測定分子結構的成就而獲獎」指的是什麼

1、偶極矩理備野論指的是，電場對結構上一部分帶有正電荷而另一部分帶有負電荷的分子，在取向上的影響的量度。X射線分析不僅能適用於完整的晶體而且也適用於固體粉末，這種固體粉末是在所有可能的方面上取向的微小晶體的混合物。

2、1916年荷蘭-美國物理化學家彼得·德拜，對偶極矩理論進行了實驗和研究。德拜擴展了阿里紐斯溶液電離的研究工作。德拜認為大多數鹽（例如氯化鈉）必然是完全電離的，因為X射線分析證明它們在溶解之前就以離子的形式存在於晶體之中。

3、德拜提出，每一個正離子被負電荷占優勢的離子雲所圍繞，同時每一個負離子又被正電荷占優越的離子雲所圍繞。每一種類型的離子受到帶相反電荷離子的仿圓喊「拖引」，這樣看來溶液好象不完全離解而實際上卻不是這樣。1923年他研究出表達這個現象的數學式。

4、由於德拜在偶極矩方面的研究工作，在「通過對偶極矩以及氣體中的X射線和電子的衍射的研究來了解分子結構」方面做出的貢獻，他獲得1936年諾貝爾化學獎腔早。