等厚干涉實驗誤差分析方法

❶ 邁克爾遜干涉儀的調整與使用實驗 的誤差分析

邁克爾遜干涉儀的調整與使用實驗的誤差分析

①實驗中空程沒能完全消除；

②實驗對每一百條條紋的開始計數點和計數結束點的判定存在誤差；

③實驗中讀數時存在隨機誤差；

④實驗器材受環境中的振動等因素的干擾產生偏差。

邁克爾遜干涉儀的調整與使用實驗目的

(1)了解邁克爾遜干涉儀的光學結構及干涉原理，學習其調節和使用方法；

(2)學習一種測定光波波長的方法，加深對等傾、等厚干涉的理解；

(3)測量He-Ne激光波長。

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邁克爾遜干涉儀的調整與使用實驗的實驗步驟

觀察擴展光源的等傾干涉條紋並測波長：

①點燃鈉光燈，使之與分光板G1等高並且位於沿分光板和M1鏡的中心線上，轉動粗調手輪，使M1鏡距分光板G1的中心與M1鏡距分光板G1的中心大致相等(拖板上的標志線在主大悉尺32 cm位置)。

②在光源與分光板G1之間插入針孔板，用眼睛透過G1直視M2鏡，可看到2組針孔像。細心調節M1鏡後面的3個調節螺釘，使2組針孔像重合，如果難以重合，可略微調節一下M2鏡後的3個螺釘。當2組針孔像完全重合時，就可去掉針孔板，換上毛玻璃，將看到有明暗相間的干涉圓環。

③再仔細調節M1鏡的2個拉簧螺絲，直到把干涉環中心調到視場中央，並且使干涉環中心隨觀察者的困稿眼睛左右、上下移動而移動，但干涉環不發生「湧出」或「陷入」現象，這滾尺乎時觀察到的干涉條紋才是嚴格的等傾干涉。

④測鈉光D雙線的平均波長。先調儀器零點，方法是：將微調手輪沿某一方向(如順時針方向)旋至零，同時注意觀察讀數窗刻度輪旋轉方向；保持刻度輪旋向不變，轉動粗調手輪，讓讀數窗口基準線對准某一刻度，使讀數窗中的刻度輪與微調手輪的刻度輪相互配合。

⑤始終沿原調零方向，細心轉動微調手輪，觀察並記錄每「湧出」或「陷入」100個干涉環時，M1鏡位置，連續記錄5次。

❷ 等厚干涉實驗步驟

等厚干涉實驗步驟：

工具/原料：

• 讀數顯微鏡

• 牛頓環

• 鈉燈

方法/步驟：

1、准備好儀器，了解儀器的使用方法。

2、取下讀數顯微鏡目鏡帽。打開鈉燈，如圖擺放。

注意事項：

• 實驗過程中對實驗的伏鉛調節清晰度會影響實驗的讀數。

• 在讀數的移動過程中定位不精確會對讀數造成誤差影響實驗測量的精確性。

• 讀數著本身操作的不規范性會對實驗造成誤差。

• 實驗儀器本深存在著系統誤差。

❸ 求用牛頓環測透鏡的曲率半徑實驗的誤差分析

1、R20-10 、R25-15、R30-20 會有很大的差異。

原因：在數暗環時計數錯誤或計算中帶錯數據都可導致此結果。

在轉動讀數顯微鏡副尺檔則時，有正轉、反轉交叉轉動的現象。

目鏡中的縱絲沒有壓到暗環的中央，而是與暗環內切或外切。

2、 實驗中測出的R持續偏小

原因：讀數顯微鏡中看到的明暗相間的條紋不清晰。

把中心的暗斑數做第一環。

在平凸透鏡的凸面與玻璃片之間，有一空氣薄層其厚度由中心接觸點到邊緣逐漸增大。若以平行單色光S垂直照射，則經空氣層上下表面反射的兩束光線有一光程差，在平凸透鏡凸面相遇後，將發生干涉。

用讀數顯微鏡觀察，便可以清楚的看到中心為陵閉一小暗斑，周圍是明暗相間寬度逐漸減小的許多同心圓環。此即等厚干涉條紋。這種等厚環形干涉條紋稱為牛頓環。

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實驗注意事項

1、 聚焦時，G的位置距物鏡約為1厘米處，不要盲目操作，以免壓斷反光玻璃片。

2、 測量時不能振動，讀數顯微鏡不可搖晃，且勿數錯數。

3、 不可用手撫摸牛頓環儀光學表面，若不清潔，要用專門的揩鏡紙揩試。

4、 牛頓環儀上三支螺絲不要擰得過緊，以免發生形變，嚴重時會損壞牛頓環儀。

❹ 在光的等厚干涉實驗中，測量時為避免空程誤差，應該怎麼做

1視差：光學測量儀器的視差是由於被測物的像與進行度量的標尺不處於同一平面，因此當觀察者旦宏的眼睛移動時，像與標尺之間會產生相對位移。讀數顯微鏡由目鏡和物鏡組成，標線位於目鏡與物鏡之間，為消除視差，應先調節目鏡，使十字准線的像清晰，再調節升降旋鈕，使被測物的像也清晰，移動眼睛，如果被測物的像與十字准線像沒有相對位移，則表明它們已處於同一成像面。
2螺模哪冊距誤差：由於任何螺旋測量裝置的內螺紋與外螺紋之間必有間隙，故不同旋轉方向所對應的讀數必有差別，這種差別稱為螺距誤差。因此在使用讀數顯微鏡進行長度測量時應使十字准線沿同一個緩扒方向前進，與被測物兩端對齊，中途不要倒退，從而消除螺距誤差。

❺ 等厚干涉試驗中如何避免讀數顯微鏡存在的空回誤差

測量桐念時，所有相關點的位置讀數必須在測微螺旋往某個方向的某次 轉動過岩輪檔程中逐個讀出，以消除讀數顯微鏡長度測量裝置存在的系統誤差粗亂——空回誤差。
讀數顯微鏡由於齒輪咬合純在空隙，所以有空程現象，為了避免讀數時存在的空間誤差，必須在實驗測量時向一個方向移動鏡頭，不能回頭。

讀數顯微鏡讀數顯微鏡是光學精密機械儀器中的一種讀數裝置，適用於有關計量單位，工廠的計量室或精密刻度車間對分劃尺或度盤的刻線進行對准檢查和測定工作
等厚干涉
薄膜干涉分為兩種一種叫等傾干涉，另一種稱做等厚干涉。等厚干涉是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋．薄膜厚度相同的地方形成同條干涉條紋，故稱等厚干涉．（牛頓環和楔形平板干涉都屬等厚干涉．）