1. 材料近代分析測試方法習題答案，求詳解
近代材料分析測試方法習題 1.Ariy 斑如何形成? 任一光源通過凸透鏡成像在像平面上,假設凸透鏡由無數個孔組成,若取兩個孔,其 余擋住,則光在通過兩個小孔時發生衍射形成...
2. 有木有《材料現代分析方法》北京工業大學出版社答案
我有，選我最佳回答，留下郵箱，我發給你
3. 求 材料現代分析方法 課後題答案（北京工業大學出版社）！
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4. 還有《材料現代分析方法》北京工業大學出版社答案么
不了解。
5. 現代材料分析方法課後習題答案
8. 什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像？？？？與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同？？？？試用試用試用試用Ewald圖解說明圖解說明圖解說明圖解說明。。。。 答：弱束暗場像是通過入射束傾斜，使偏離布拉格條件較遠的一個衍射束通過物鏡光闌，透射束和其他衍射束都被擋掉，利用透過物鏡光闌的強度較弱的衍射束成像。 與中心暗場像不同的是，中心暗場像是在雙光束的條件下用的成像條件成像，即除直射束外只有一個強的衍射束，而弱束暗場像是在雙光闌條件下的g/3g的成像條件成像，採用很大的偏離參量s。中心暗場像的成像衍射束嚴格滿足布拉格條件，衍射強度較強，而弱束暗場像利用偏離布拉格條件較遠的衍射束成像，衍射束強度很弱。採用弱束暗場像，完整區域的衍射束強度極弱，而在缺陷附近的極小區域內發生較強的反射，形成高解析度的缺陷圖像。 圖：PPT透射電子顯微技術1頁 10. 透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中，，，，層錯層錯層錯層錯、、、、反相疇界反相疇界反相疇界反相疇界、、、、疇界疇界疇界疇界、、、、孿晶界孿晶界孿晶界孿晶界、、、、晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同？？？？用什用什用什用什麼辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來？？？？ 答：由於層錯區域衍射波振幅一般與無層錯區域衍射波振幅不同，則層錯區和與相鄰區域形成了不同的襯度，相應地出現均勻的亮線和暗線，由於層錯兩側的區域晶體結構和位相相同，故所有亮線和暗線的襯度分別相同。層錯衍襯像表現為平行於層錯面跡線的明暗相間的等間距條紋。 孿晶界和晶界兩側的晶體由於位向不同，或者還由於點陣類型不同，一邊的晶體處於雙光束條件時，另一邊的衍射條件不可能是完全相同的，也可能是處於無強衍射的情況，就相當於出現等厚條紋，所以他們的衍襯像都是間距不等的明暗相間的條紋，不同的是孿晶界是一條直線，而晶界不是直線。 反相疇界的衍襯像是曲折的帶狀條紋將晶粒分隔成許多形狀不規則的小區域。 層錯條紋 平行線 直線 間距相等 反相疇界 非平行線 非直線 間距不等 孿晶界條紋 平行線 直線 間距不等 晶界條紋 平行線 非直線 間距不等 11.什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度、、、、衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度。。。。形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯度像時度像時度像時度像時，，，，物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同？？？？為什麼為什麼為什麼為什麼？？？？ 答：質厚襯度：入射電子透過非晶樣品時，由於樣品不同微區間存在原子序數或厚度的差異，導致透過不同區域落在像平面上的電子數不同，對應各個區域的圖像的明暗不同，形成的襯度。 衍射襯度：由於樣品中的不同晶體或同一晶體中不同部位的位向差異導致產生衍射程度不同而形成各區域圖像亮度的差異，形成的襯度。 相位襯度：電子束透過樣品，試樣中原子核和核外電子產生的庫倫場導致電子波的相位發生變化，樣品中不同微區對相位變化作用不同，把相應的相位的變化情況轉變為相襯度，稱為相位襯度。 物鏡聚焦方面的不同：透射電子束和至少一個衍射束同時通過物鏡光闌成像時，透射束和衍射束相互干涉形成反應晶體點陣周期的條紋成像或點陣像或結構物象，這種相位襯度圖像的形成是透射束和衍射束相乾的結果，而衍射襯度成像只用透射束或者衍射束成像。
6. 誰有《材料現代分析方法》 北京工業大學出版社的課後題答案，謝謝了。
這個還要課後答案？考試很簡單的，我上學期就都考過了。